测试柜的制作方法

1.本实用新型涉及固态硬盘测试技术领域，特别涉及一种测试柜。


背景技术：

2.ssd(solid state drives，固态硬盘)作为一种采用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元组成，其被广泛应用于车载、工控、视频监控等众多领域。
3.可知的是，ssd在生产出厂之前需在仿真的各种环境下进行读取、写入测试，如将多个ssd同时放入测试柜中，以通过测试柜提供高温环境、低温环境对ssd进行老化测试，从中筛选出存在缺陷隐患、性能不稳定的产品，从而保证出厂的ssd产品的各项性能参数达到行业使用要求。
4.目前行业内所用到的测试柜结构设计简单，其内部为单向通风，即采用顶层送风或底层送风的形式，然而，因柜内从上至下依次设有若干用于搭载ssd的承载板，其对送入的热风或冷风形成层层阻挡，空气不循环，并且ssd在测试时会产生热量，故容易出现局部温度升高的现象，使得测试柜内部的模拟测试温度不均匀，从而导致测试结果不准确。


技术实现要素：

5.本实用新型通过提出一种测试柜，以解决目前ssd的测试柜内部模拟测试温度不均匀的问题。
6.具体地，本实用新型提出一种测试柜，该测试柜包括外柜和设置在所述外柜上的柜门，所述外柜中设置有内柜和位于所述内柜中的加热装置以及若干承载板，若干所述承载板从上至下依次间隔布置以用于放置ssd，所述内柜对应所述柜门的一面呈敞开设置，所述外柜与内柜的各对应柜板之间间隔布置以形成风道，所述内柜左右相对的两柜板上设有若干与所述风道连通的通风孔，所述外柜上设有与所述风道连通的进风口，所述测试柜还包括与所述进风口连接的送风装置。
7.优选地，所述外柜上还设有与所述风道连通的通风扇。
8.优选地，所述测试柜还包括设置在所述内柜中的温度传感器。
9.优选地，所述内柜与所述柜门相对的柜板上设置有若干过线孔。
10.优选地，所述内柜左右相对的两柜板上还设有若干用于搭载所述承载板的托块。
11.优选地，所述柜门上设有观察窗。
12.优选地，所述测试柜还包括柜架和设置在所述柜架上的制冷装置，所述外柜安装在所述柜架上，所述制冷装置位于所述外柜的一侧，所述制冷装置的输出端与所述风道连通。
13.优选地，所述测试柜还包括设置在所述柜架上且位于所述外柜一侧的控制箱，所述控制箱上设有控制面板。
14.优选地，所述柜架的底部设有若干脚轮和脚杯。
15.本申请技术方案与现有技术相比，其有益效果在于：本测试柜由外柜、柜门、内柜、
加热装置、承载板和送风装置组成，其中，加热装置加热使柜内测试环境升温，送风装置送风进入外柜和内柜之间的风道，并通过内柜的左右相对柜板上所设通风孔，以在各上下相邻承载板之间构成平行风向，使空气循环流动而搅动柜内各处的聚集热量，实现柜内各处的测试温度均匀平衡，从而提升测试结果的准确性。
附图说明
16.图1为本实用新型一实施例中测试柜的结构示意图；
17.图2为本实用新型另一实施例中测试柜的结构示意图。
具体实施方式
18.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
19.本实用新型提出一种测试柜，参照图1和图2，该测试柜包括外柜100和设置在外柜100上的柜门110，外柜100中设置有内柜200和位于内柜200中的加热装置以及若干承载板300，若干承载板300从上至下依次间隔布置以用于放置ssd，内柜200对应柜门110的一面呈敞开设置，外柜100与内柜200的各对应柜板之间间隔布置以形成风道10，内柜200左右相对的两柜板上设有若干与风道10连通的通风孔1，外柜100上设有与风道10连通的进风口2，测试柜还包括与进风口2连接的送风装置400。
20.本实施例所涉及的测试柜作为一种ssd测试设备，用于提供高温环境、低温环境对ssd进行老化测试，具体地，测试柜包括外柜100、柜门110、内柜200、加热装置、承载板300和送风装置400，其中：外柜100和内柜200均为方形柜体，柜门110位于外柜100的正面并且与其为铰接设置，内柜200的体积小于外柜100，内柜200设置在外柜100中并且其对应柜门110的正面呈敞开设置；内柜200的内部为ssd的测试空间，若干块承载板300水平设置于内柜200中，并且从上至下依次间隔布置，该承载板300的数量可根据实际情况选择设置。每一块承载板300上可放置多个ssd测试治具以及多个ssd，并且承载板300在内柜200中为可拆卸设置，其设置形式可为多种，比如内柜200左右相对的两柜板内侧对应设置插槽，承载板300的左右两侧对应插装至插槽中以固定。另外，外柜100与内柜200的各对应柜板之间间隔布置，从而形成处于外柜100与内柜200之间的风道10，内柜200左右相对的两柜板上设有若干与风道10连通的通风孔1，风道10中的风从左右相对的两柜板上的其中之一上的通风孔1中进入，而从另一柜板上的通风孔1中回流至风道10中，以加速内柜200中的空气流动循环。
21.其中，加热装置用于加热柜内空气，以提供测试温度。作为优设，加热装置可采用加热棒，并设置于内柜200中。送风装置400用于送风进入风道10，其设置于外柜100外。作为优设，送风装置400可为鼓风机，外柜100上对应设有进风口2，鼓风机通过管路与进风口2连通，以从进风口2处将风送入风道10。其中，送风口在外柜100上可位于其右侧面并靠近其下端设置。
22.在本测试柜中，加热装置加热使柜内测试环境升温，送风装置400送风进入外柜100和内柜200之间的风道10，并通过内柜200的左右相对柜板上所设通风孔1，以在各上下
相邻承载板300之间构成平行风向，使空气循环流动而搅动柜内各处的聚集热量，实现柜内各处的测试温度均匀平衡，从而提升测试结果的准确性。
23.在一较佳实施例中，外柜100上还设有与风道10连通的通风扇。通风扇的作用在于进行测试柜内部与外界环境的通气，以实现空气互换，使柜内测试温度恒定，不易聚热，提高ssd测试的稳定性。作为优设，通风扇可设置为多个，且布置在外柜100的顶部。
24.在一较佳实施例中，测试柜还包括设置在内柜200中的温度传感器。该温度传感器用于检测测试柜内的测试温度，并进行实时反馈，以便更好的实现温度调节。作为优设，温度传感器可为多个，且可分别设置在内柜200的不同位置处，以实现对测试柜内温度的精准检测。
25.在一较佳实施例中，参照图1，内柜200与柜门110相对的柜板上设置有若干过线孔3。若干过线孔3可根据承载板300的设置情况从上至下依次布置，该过线孔3用于供内柜200中各ssd所连接的各类测试连接线穿出，以与外部设备相连，测试连接线有序连接不错乱，走线美观，可提高ssd测试稳定性。
26.在一较佳实施例中，内柜200左右相对的两柜板上还设有若干用于搭载承载板300的托块。具体地，托块位于柜板的内侧壁且凸出设置，若干托块从上至下依次间隔设置，两柜板上相对应的托块高度一致以用于共同搭载承载板300，结构简单，承载板300放置稳固且取放方便。当然，除托块的形式以外，其还可为托板或其它。
27.在一较佳实施例中，参照图1，柜门110上设有观察窗4。该观察窗4的窗口处设置为透明玻璃，其窗口大小可根据实际情况设置。在ssd测试时，观察窗4可供测试人员观察柜内测试情况，在出现异常情况(比如测试温度异常)时，以便采取相应措施及时应对，保证测试工作的正常进行。
28.在一较佳实施例中，参照图2，测试柜还包括柜架和设置在柜架上的制冷装置500，外柜100安装在柜架上，制冷装置500位于外柜100的一侧，制冷装置500的输出端与风道10连通。其中，制冷装置500的作用在于向风道10中注入冷气，以对柜内的测试温度进行调节使之达到预设温度值。作为优设，制冷装置500包括压缩机，外柜100上对应设有进气口，压缩机的排气管与该进气口连接以与连通风道10，并且，压缩机采用水冷或风冷方式制备冷气，测试柜的测试温度范围为-60℃～120℃。具体地，制冷装置500位于外柜100的下侧，但不限于此，制冷装置500与外柜100的位置可根据实际情况选择设置。
29.进一步地，参照图1，测试柜还包括设置在柜架上且位于外柜100一侧的控制箱600，控制箱600上设有控制面板610。控制面板610上包括显示屏和开关等操作按键，该控制面板610用于实现对ssd测试的操作控制，如测试温度以及测试时间的设置等。具体地，控制箱600位于外柜100的右侧，控制面板600位于测试柜的正面，但不限于此，控制箱600与外柜100的位置可根据实际情况选择设置。测试柜通过采用上述外柜100、冷却装置500以及控制箱600的分体式设计，便于拆装和移动。
30.进一步地，柜架的底部设有若干脚轮和脚杯。作为优设，脚轮和脚杯可相应采用四个并呈方形对应设置在柜架的转角处。通过所设脚轮和脚杯，测试柜移动方便，并且放置稳固。
31.以上所述的仅为本实用新型的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围，凡是在与本实用新型一个整体的构思下，利用本实用新型
说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。