一种存储芯片自动高速测试设备的制作方法

1.本实用新型属于芯片测试设备技术领域，具体涉及一种存储芯片自动高速测试设备。


背景技术：

2.简单来说，芯片测试就是使用专用的自动测试设备检查制造出来的芯片其功能和性能是否满足一定的要求。因此，芯片测试会包括多方面的内容，可以氛围直流参数测试，功能测试，混合信号参数测试等等，不同类型芯片对测试会有不同的要求。
3.传统的存储芯片自动测试设备上存在单个吸嘴体积过大，如图4，相邻的吸嘴之间间距和相邻存储芯片间距不对应，往往需要跨距对存储芯片实行吸取，譬如，第一次吸取第1、3、5
……
列后，第二次吸取2、4、6
……
列，导致跨距吸取精度低，影响吸取存储芯片的准确度，若增加存储芯片的排放距离，则不用跨距吸取，但最终导致同样尺寸的料盘放置的存储芯片数量减半，降低了测试的效率。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种存储芯片自动高速测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种存储芯片自动高速测试设备，包括机架和吸料机构，所述机架上分设有测试区域、上料区域和收料区域，机架顶部形成工作台面，测试区域设于工作台面上，上料区域和收料区域分别位于测试区域两侧，其中测试区域上放置若干等间隔均匀排放的料盘，料盘上放置若干等间距排放的存储芯片，所述吸料机构包括位于工作台面上方的机械臂，机械臂上设置用于吸住存储芯片的若干等间距排列的吸嘴，相邻两吸嘴的轴线间距与相邻的存储芯片中心间距对应相同。
6.进一步的，所述吸嘴的直径不超过12mm。
7.进一步的，若干个所述料盘呈多行多列的矩阵式排列方式。
8.进一步的，所述上料区域处包括在工作台面上嵌入机架内部的上料箱，上料箱内用于叠放测试前存储芯片所存放的料盘。
9.进一步的，所述收料区域处包括在工作台面上嵌入机架内部的收料箱，收料箱内用于叠放测试后存储芯片所存放的料盘。
10.进一步的，所述上料箱和收料箱一致。
11.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
12.吸嘴的直径减小，不超过12mm，具备较好的布局性，将相邻的吸嘴轴线间距设计和料盘上紧挨的存储芯片中心距对应一致，机械臂控制吸嘴一次性进行相邻存储芯片的吸取，不需要分组进行跨距吸取，从而保证吸取的精确度。
13.料盘采用多行多列的矩阵式排放布局，避免长列式的排放，从而减少机械臂的活动行程，提高吸取效率。
14.上料箱与收料箱嵌入机架内部，最大限度的缩小设备的体积，减少对测试工序的影响。
附图说明
15.为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
16.图1为本实用新型一种存储芯片自动高速测试设备的俯视示意图；
17.图2为一种存储芯片自动高速测试设备的正视示意图；
18.图3为吸嘴在吸取存储芯片时的工作位置示意图；
19.图4为现有技术吸嘴吸取存储芯片时的工作位置示意图。
具体实施方式
20.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
21.如图1和图2是本实用新型提供一种存储芯片自动高速测试设备，包括机架1和吸料机构。
22.其中，如图1，所述机架1上分设有测试区域a、上料区域b和收料区域 c，上料区域b放置测试之前的存储芯片2，测试区域a进行性能测试，测试完存储芯片2规整在收料区域c处。
23.其中，机架1顶部形成工作台面10，测试区域a设于工作台面10上，上料区域b和收料区域c分别位于测试区域a两侧，其中测试区域a上放置若干等间隔均匀排放的料盘3，料盘3上放置若干等间距排放的存储芯片2，一般，一个料盘3内放置多行多列存储芯片2，以提高料盘3的最大使用限度。
24.可以理解的，若干个所述料盘3呈多行多列的矩阵式排列方式，相比较传统的直列式排放布局来说，矩阵式很好的解决了由于直列式长度过大的问题，从而对于同数量的料盘3来说，减小了设备的尺寸和体积。
25.其中，所述吸料机构包括位于工作台面10上方的机械臂4，机械臂4上设置用于吸住存储芯片2的若干等间距排列的吸嘴5，相邻两吸嘴5的轴线间距与相邻的存储芯片2中心间距对应相同，尤其是，如图3，所述吸嘴5的直径不超过12mm，吸嘴5的直径减小，不超过12mm，具备较好的布局性，将相邻的吸嘴5轴线间距设计和料盘3上紧挨的存储芯片2中心距对应一致，机械臂4控制吸嘴5一次性进行相邻存储芯片2的吸取，不需要分组进行跨距吸取，从而保证吸取的精确度。
26.同时，料盘3采用多行多列的矩阵式排放布局，能够减少机械臂4的活动行程，提高吸取效率。
27.另外，如图2，所述上料区域b处包括在工作台面10上嵌入机架1内部的上料箱6，上
料箱6内用于叠放测试前存储芯片2所存放的料盘，所述收料区域c处包括在工作台面10上嵌入机架1内部的收料箱7，收料箱7内用于叠放测试后存储芯片2所存放的料盘，所述上料箱6和收料箱7一致，通过上料箱6与收料箱7嵌入机架1内部，最大限度的缩小设备的体积，减少对测试工序的影响。
28.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
29.以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。


技术特征：
1.一种存储芯片自动高速测试设备，其特征在于：包括机架和吸料机构，所述机架上分设有测试区域、上料区域和收料区域，机架顶部形成工作台面，测试区域设于工作台面上，上料区域和收料区域分别位于测试区域两侧，其中测试区域上放置若干等间隔均匀排放的料盘，料盘上放置若干等间距排放的存储芯片，所述吸料机构包括位于工作台面上方的机械臂，机械臂上设置用于吸住存储芯片的若干等间距排列的吸嘴，相邻两吸嘴的轴线间距与相邻的存储芯片中心间距对应相同。2.根据权利要求1所述的一种存储芯片自动高速测试设备，其特征在于：所述吸嘴的直径不超过12mm。3.根据权利要求1所述的一种存储芯片自动高速测试设备，其特征在于：若干个所述料盘呈多行多列的矩阵式排列方式。4.根据权利要求1所述的一种存储芯片自动高速测试设备，其特征在于：所述上料区域处包括在工作台面上嵌入机架内部的上料箱，上料箱内用于叠放测试前存储芯片所存放的料盘。5.根据权利要求4所述的一种存储芯片自动高速测试设备，其特征在于：所述收料区域处包括在工作台面上嵌入机架内部的收料箱，收料箱内用于叠放测试后存储芯片所存放的料盘。6.根据权利要求5所述的一种存储芯片自动高速测试设备，其特征在于：所述上料箱和收料箱一致。

技术总结
本实用新型公开了一种存储芯片自动高速测试设备，包括机架和吸料机构，机架上分设有测试区域、上料区域和收料区域，机架顶部形成工作台面，测试区域设于工作台面上，上料区域和收料区域分别位于测试区域两侧，其中测试区域上放置若干等间隔均匀排放的料盘，料盘上放置若干等间距排放的存储芯片，吸料机构包括位于工作台面上方的机械臂，机械臂上设置用于吸住存储芯片的若干等间距排列的吸嘴，相邻两吸嘴的轴线间距与相邻的存储芯片中心间距对应相同。吸嘴的直径减小，具备较好的布局性，将相邻的吸嘴轴线间距设计和料盘上紧挨的存储芯片中心距对应一致，机械臂控制吸嘴一次性进行相邻存储芯片的吸取，不需要分组跨距吸取，保证吸取的精确度。证吸取的精确度。证吸取的精确度。


技术研发人员：谭少鹏
受保护的技术使用者：深圳市德明利技术股份有限公司
技术研发日：2022.07.20
技术公布日：2023/1/30