一种DDR5内存测试治具的制作方法

本发明涉及ddr5内存测试治具，尤其涉及一种ddr5内存测试治具。

背景技术：

1、在内存厂商的生产制作或者是中断用户的电脑维修过程中，需要用万用表测量主板上的各个测试点的电压及电阻，但这些测试点的分布很分散，且不容易记住。往往需要查阅大量资料来寻找各种关键测试点，且花费大量时间来记住各个测试点，这样操作起来比较费时费力，测试工作非常繁琐，因此，需要通过ddr5内存测试治具对其进行测试，系统采用cortex-m3 32bit mcu最高频率96m主控单元，产品配有丰富的外部接口集成有rs232接口、iic接口、spi接口、rj45接口等。系统使用176pin_io接口；可兼容测试三种内存封装rdimm、udimm、sodimm。

2、现有的ddr5内存测试治具，在长时间使用后，治具内部箱温度会升高，一般会设置有散热网，但是自然散热效率慢，降低了工作效率。

技术实现思路

1、本发明的目的是为了解决了现有的ddr5内存测试治具，在长时间使用后，治具内部箱温度会升高，一般会设置有散热网，但是自然散热效率慢，降低了工作效率的缺点，而提出的一种ddr5内存测试治具。

2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

3、一种ddr内存测试治具，包括测试箱，所述测试箱上固定安装有两个固定座，测试箱上且位于两个固定座之间固定设有插槽，两个固定座上均转动连接有两个弧形架，四个弧形架上均固定设有固定滚座，两个弧形架上均设有弹力件，所述测试箱的一侧内壁上固定安装有托板，托板的底部固定连接有吊板，吊板的一侧固定安装有连接箱，所述测试箱的一侧设有散热网，连接箱内设有散热机构。

4、优选的，所述测试箱的一侧设有两个固定块，测试箱内设有两个复位弹簧，两个复位弹簧的一端均连接有滑板，两个滑板的底部均固定连接有固定销，两个滑板上均连接有拉板。

5、优选的，所述测试箱内设有第一电路板和第二电路板，测试箱的一侧设有rs232接口和iic接口，测试箱的另一侧设有spi接口和rj45接口，测试箱的前侧设有测试按键，测试箱的前侧且位于测试按键上设有防护壳。

6、优选的，所述散热机构包括驱动轴、第一锥齿轮、水平转杆、第二锥齿轮和扇叶，驱动轴与托板转动连接，第一锥齿轮与驱动轴的一端固定连接，水平转杆与连接箱转动连接，第二锥齿轮与水平转杆固定连接，第二锥齿轮与第一锥齿轮相啮合，驱动轴可通过第一锥齿轮带动第二锥齿轮转动，扇叶与水平转杆的一端固定连接。

7、优选的，所述托板上固定安装有马达箱，马达箱内固定设有电动马达，电动马达的输出轴与驱动轴固定连接。

8、与现有技术相比，本发明的优点在于：

9、(1)本方案由于设置了驱动轴通过第一锥齿轮带动第二锥齿轮转动，第二锥齿轮带动水平转杆转动，水平转杆带动扇叶旋转，并将测试箱内的热气通过散热网吹出，实现了快速散热的目的。

10、(2)本方案由于设置了两个拉板带动两个滑板移动，并压缩两个复位弹簧，两个滑板带动两个固定销相互远离，并远离散热网，即可将散热网拆除，实现了便于对散热网进行拆卸的目的。

11、本发明结构简单，在治具内部箱温度升高时，通过散热机构，可对其快速散热，提高了工作效率，方便人们使用。

技术特征：

1.一种ddr5内存测试治具，包括测试箱(1)，其特征在于，所述测试箱(1)上固定安装有两个固定座(2)，测试箱(2)上且位于两个固定座(2)之间固定设有插槽(3)，两个固定座(2)上均转动连接有两个弧形架(4)，四个弧形架(4)上均固定设有固定滚座(5)，两个弧形架(4)上均设有弹力件(6)，所述测试箱(1)的一侧内壁上固定安装有托板(7)，托板(7)的底部固定连接有吊板(8)，吊板(8)的一侧固定安装有连接箱(9)，所述测试箱(1)的一侧设有散热网(10)，连接箱(9)内设有散热机构。

2.根据权利要求1所述的一种ddr5内存测试治具，其特征在于，所述测试箱(1)的一侧设有两个固定块(11)，测试箱(1)内设有两个复位弹簧(12)，两个复位弹簧(12)的一端均连接有滑板(13)，两个滑板(13)的底部均固定连接有固定销(14)，两个滑板(13)上均连接有拉板(15)。

3.根据权利要求1所述的一种ddr5内存测试治具，其特征在于，所述测试箱(1)内设有第一电路板(16)和第二电路板(17)，测试箱(1)的一侧设有rs232接口(18)和iic接口(19)，测试箱(1)的另一侧设有spi接口(20)和rj45接口(21)。

4.根据权利要求1所述的一种ddr5内存测试治具，其特征在于，所述测试箱(1)的前侧设有测试按键(22)，测试箱(1)的前侧且位于测试按键(22)上设有防护壳(23)。

5.根据权利要求1所述的一种ddr5内存测试治具，其特征在于，所述散热机构包括驱动轴(24)、第一锥齿轮(25)、水平转杆(26)、第二锥齿轮(27)和扇叶(28)，驱动轴(24)与托板(7)转动连接，第一锥齿轮(25)与驱动轴(24)的一端固定连接，水平转杆(26)与连接箱(9)转动连接。

6.根据权利要求5所述的一种ddr5内存测试治具，其特征在于，所述第二锥齿轮(27)与水平转杆(26)固定连接，第二锥齿轮(27)与第一锥齿轮(25)相啮合，扇叶(28)与水平转杆(26)的一端固定连接。

7.根据权利要求5所述的一种ddr5内存测试治具，其特征在于，所述托板(7)上固定安装有马达箱(29)，马达箱(29)内固定设有电动马达(30)，电动马达(30)的输出轴与驱动轴(24)固定连接。

技术总结
本发明属于DDR5内存测试治具技术领域，尤其是一种DDR5内存测试治具，用于DDR5内存的电性能测试，同时根据经验，并针对之前版本的测试治具，在长时间使用后，治具内部箱温度会升高，一般会设置有散热网，但是自然散热效率慢，降低了工作效率的问题，现提出如下方案，其包括测试箱，所述测试箱上固定安装有两个固定座，测试箱上且位于两个固定座之间固定设有插槽，两个固定座上均转动连接有两个弧形架，四个弧形架上均固定设有固定滚座，两个弧形架上均设有弹力件，所述测试箱的一侧内壁上固定安装有托板，托板的底部固定连接有吊板。本发明结构简单，在治具内部箱温度升高时，通过散热机构，可对其快速散热，提高了工作效率，方便人们使用。

技术研发人员：张兴明,邹东全
受保护的技术使用者：广东三木森智能装备有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/29