一种测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质与流程

本技术涉及电子器件测试领域，特别涉及一种测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、ddr(double data rate，双倍速率)控制器是一种硬件设备，用于管理dram(dynamic random access memory，动态随机存取存储器)的读取和写入操作。dram作为一种常见的计算机内存，广泛应用于各种电子设备。硬盘中的ddr训练是对dram进行初始化和校准的重要过程，旨在确保dram能够正常工作并提高硬盘的读写性能和可靠性。然而，目前ddr训练只能在芯片贴片后通过自检过程进行，无法主动测试，并且在通过ddr训练发现问题之后的处理步骤繁琐。

技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质，通过测试装置可以主动测试待测试器件，而不是只依赖于自检过程，可以更早地发现待测试器件的异常，进而避免在之后的处理步骤中浪费时间和资源；将其应用在dram中时，可以确保dram能够正常工作，从而提高硬盘的读写性能和可靠性。

2、为解决上述技术问题，本技术提供了一种测试方法，应用于测试装置，包括：

3、在测试条件被触发时，驱动待测试器件对应的控制器，所述待测试器件为固态硬盘中的动态随机存取存储器；

4、触发所述控制器控制所述待测试器件进行测试训练，以测试所述待测试器件是否异常。

5、在一个实施例中，在测试条件被触发时，驱动待测试器件对应的控制器，包括：

6、在识别到所述待测试器件存在上电操作时，驱动待测试器件对应的控制器。

7、在一个实施例中，还包括：

8、预先设定预设测试次数；

9、触发所述控制器控制所述待测试器件进行测试训练，以测试所述待测试器件是否异常之后，还包括：

10、若判定所述待测试器件异常，则停止对所述待测试器件测试；

11、否则，判断所述待测试器件的测试次数是否达到所述预设测试次数，若未达到所述预设测试次数，则重新进入在测试条件被触发时，驱动待测试器件对应的控制器的步骤。

12、在一个实施例中，在测试条件被触发时，驱动待测试器件对应的控制器，包括：

13、在当前测试过程为非首次测试时，若当前时间与上次测试结束的时间之间的时间间隔达到预设时间时，驱动待测试器件对应的控制器。

14、在一个实施例中，所述待测试器件为动态随机存取器时，所述待测试器件进行测试训练的过程包括：

15、向所述动态随机存取器中发送若干个不同的时钟信号，确定时钟边缘；

16、根据所述时钟信号和确定的时钟边缘进行时钟延迟校准和时钟相位校准。

17、在一个实施例中，所述待测试器件为动态随机存取器时，所述待测试器件进行测试训练的过程包括：

18、向所述动态随机存取器中发送若干个不同的数据信号，确定数据边缘；

19、根据所述数据信号和确定的数据边缘进行数据延迟校准和数据相位校准。

20、在一个实施例中，所述待测试器件进行测试训练的过程包括：

21、向所述待测试器件发送预设电信号；

22、读取并分析所述待测试器件基于所述预设电信号产生的电气特性；

23、判断所述电气特征是否符合预期，若不符合，则对所述待测试器件进行电气校准。

24、在一个实施例中，所述待测试器件为动态随机存取器时，所述待测试器件进行测试训练的过程包括：

25、将预设码字写入所述动态随机存取器中；

26、读取所述动态随机存取器中写入的预设码字；

27、根据读取出来的预设码字与预期码字的匹配程度确定所述待测试器件的码字功能是否故障。

28、在一个实施例中，控制所述待测试器件进行测试训练之前，还包括：

29、对所述待测试器件初始化。

30、在一个实施例中，触发所述控制器控制所述待测试器件进行测试训练，以测试所述待测试器件是否异常，包括：

31、触发所述控制器控制所述待测试器件进行测试训练，打印并输出测试日志，根据所述测试日志确定所述待测试器件是否异常。

32、在一个实施例中，测试所述待测试器件是否异常之后，还包括：

33、将异常的待测试器件分类为故障器件，将正常的待测试器件分类为非故障器件。

34、为解决上述技术问题，本技术还提供了一种测试系统，包括：

35、驱动单元，用于在测试条件被触发时，驱动待测试器件对应的控制器，所述待测试器件为固态硬盘中的动态随机存取存储器；

36、测试单元，用于触发所述控制器控制所述待测试器件进行测试训练，以测试所述待测试器件是否异常。

37、在一个实施例中，驱动单元，具体用于在识别到所述待测试器件存在上电操作时，驱动待测试器件对应的控制器。

38、在一个实施例中，还包括：

39、次数设定单元，用于预先设定预设测试次数；

40、判定单元，用于在判定所述待测试器件异常时，停止对所述待测试器件测试；否则，判断所述待测试器件的测试次数是否达到所述预设测试次数，若未达到所述预设测试次数，则重新进入在测试条件被触发时，驱动待测试器件对应的控制器的步骤。

41、在一个实施例中，驱动单元，具体用于在当前测试过程为非首次测试时，若当前时间与上次测试结束的时间之间的时间间隔达到预设时间时，驱动待测试器件对应的控制器。

42、在一个实施例中，所述待测试器件为动态随机存取器时，还包括：

43、时钟边缘确定单元，应用于向所述动态随机存取器中发送若干个不同的时钟信号，确定时钟边缘；

44、时钟校准单元，用于根据所述时钟信号和确定的时钟边缘进行时钟延迟校准和时钟相位校准。

45、在一个实施例中，所述待测试器件为动态随机存取器时，还包括：

46、数据边缘确定单元，用于向所述动态随机存取器中发送若干个不同的数据信号，确定数据边缘；

47、数据校准单元，用于根据所述数据信号和确定的数据边缘进行数据延迟校准和数据相位校准。

48、在一个实施例中，还包括：

49、电信号发送单元，用于向所述待测试器件发送预设电信号；

50、读取单元，用于读取并分析所述待测试器件基于所述预设电信号产生的电气特性；

51、电气校准单元，用于判断所述电气特征是否符合预期，若不符合，则对所述待测试器件进行电气校准。

52、在一个实施例中，所述待测试器件为动态随机存取器时，还包括：

53、写入单元，用于将预设码字写入所述动态随机存取器中；

54、码字读取单元，用于读取所述动态随机存取器中写入的预设码字；

55、故障确定单元，应用于根据读取出来的预设码字与预期码字的匹配程度确定所述待测试器件的码字功能是否故障。

56、在一个实施例中，还包括：

57、初始化单元，用于对所述待测试器件初始化。

58、在一个实施例中，测试单元，具体用于触发所述控制器控制所述待测试器件进行测试训练，打印并输出测试日志，根据所述测试日志确定所述待测试器件是否异常。

59、在一个实施例中，还包括：

60、分类单元，用于将异常的待测试器件分类为故障器件，将正常的待测试器件分类为非故障器件。

61、为解决上述技术问题，本技术还提供了一种测试装置，包括：

62、存储器，用于存储计算机程序；

63、处理器，用于在存储计算机程序时，实现如上述所述的测试方法的步骤。

64、为解决上述技术问题，本技术还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述所述的测试方法的步骤。

65、本技术提供了一种测试方法，涉及电子器件测试领域。该方案应用于测试装置，在测试条件被触发时，驱动待测试器件对应的控制器；触发控制器控制待测试器件进行测试训练，以测试待测试器件是否异常。可见，本技术中通过测试装置可以主动测试待测试器件，而不是只依赖于自检过程，可以更早地发现待测试器件的异常，进而避免在之后的处理步骤中浪费时间和资源；将其应用在dram中时，可以确保dram能够正常工作，从而提高硬盘的读写性能和可靠性。

66、本技术还提供了一种测试系统、装置及计算机可读存储介质，与上述描述的测试方法具有相同的有益效果。