一种智能卡断电测试方法、装置以及存储介质与流程

本发明涉及智能卡，尤其涉及一种智能卡断电测试方法、装置及存储介质。

背景技术：

1、智能卡在使用过程中总是不可避免断电的情况，如果在cos(chip operatingsystem，片内操作系统)针对eeprom(electrically erasable programmable read-onlymemory，电可擦可编程只读存储器)的擦写出现处理不当的情况就会出现坏卡或者卡片内部数据混乱的情况。智能卡的断电测试，如防插拔测试，其目的是检测智能卡的片内操作系统与终端交互过程中意外断电时对数据完整性的保护和自动回滚的能力。

2、传统的断电测试根据不同的测试平台编写不同的测试用例，对智能卡重新上电复位，然后由终端对智能卡的数据进行逐一读取，测试周期长，测试速度过慢，测试效率过低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明实施例的目的是提供一种智能卡断电测试方法、装置及存储介质，提高断电测试的效率以及测试速度，减少测试周期。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种智能卡断电测试方法，应用于智能卡，所述智能卡设置有应用，所述应用包括第一数据区域和第二数据区域，所述第一数据区域存储有第一数据，所述第二数据区域存储有第二数据，所述智能卡与终端通信连接，所述方法包括：

3、接收所述终端发送的第一选择应用指令；

4、根据所述第一选择应用指令选择所述应用；

5、接收所述终端发送的断电测试信息；

6、通过所述应用响应所述断电测试信息以进行断电测试处理，得到测试反馈信息，所述断电测试处理表征将所述第一数据区域的数据传输至所述第二数据区域以替换所述第二数据的过程中进行的断电测试处理；

7、将所述测试反馈信息发送至所述终端，以使所述终端根据所述测试反馈信息确定断电测试结果。

8、第二方面，本发明实施例提供了一种智能卡断电测试方法，应用于终端，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域、备份区和第二数据区域，所述第一数据区域存储有第一数据，所述第二数据区域存储有第二数据，所述备份区缓存有所述第二数据，所述智能卡与终端通信连接，所述方法包括：

9、获取所述智能卡所发送的复位成功信息；

10、发送第一选择应用指令至所述智能卡，以使所述智能卡根据所述第一选择应用指令选择所述应用；

11、接收所述智能卡所发送的选择成功响应；

12、根据所述选择成功响应向所述智能卡发送断电测试信息，以使所述智能卡接收所述断电测试信息后，通过所述应用响应所述断电测试信息以进行断电测试处理，得到测试反馈信息，所述断电测试处理表征对所述第一数据区域的数据通过所述备份区传输至所述第二数据区域以替换所述第二数据的过程中进行的断电测试处理；

13、接收所述智能卡所发送的所述测试反馈信息；

14、根据所述测试反馈信息确定断电测试结果。

15、第三方面，本发明实施例提供了一种智能卡断电测试方法，应用于终端，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域和第二数据区域，所述第一数据区域存储有第一数据，所述第二数据区域存储有第二数据，所述智能卡与终端通信连接，所述方法包括：

16、获取所述智能卡所发送的复位成功信息；

17、发送第一选择应用指令至所述智能卡，以使所述智能卡根据所述第一选择应用指令选择所述应用；

18、接收所述智能卡所发送的选择成功响应；

19、根据所述选择成功响应向所述智能卡发送断电测试信息，以使所述智能卡接收所述断电测试信息后，通过所述应用响应所述断电测试信息以进行断电测试处理，得到测试反馈信息，所述断电测试处理表征将所述第一数据区域的所述第一数据传输至所述第二数据区域以替换所述第二数据的过程中进行的断电测试处理；

20、接收所述智能卡所发送的所述测试反馈信息；

21、根据所述测试反馈信息确定断电测试结果。

22、第四方面，本发明实施例提供了一种智能卡断电测试装置，应用于智能卡，所述装置包括：

23、至少一个处理器；

24、至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

25、当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如上所述的智能卡断电测试方法。

26、第五方面，本发明实施例提供了一种智能卡断电测试装置，应用于终端，所述装置包括：

27、至少一个处理器；

28、至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

29、当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如上所述的智能卡断电测试方法。

30、第六方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如上所述的智能卡断电测试方法。

31、实施本发明实施例包括以下有益效果：本发明实施例提供一种智能卡断电测试方法，包括：接收终端发送的第一选择应用指令；根据第一选择应用指令选择应用；接收终端发送的断电测试信息，通过应用响应断电测试信息以进行断电测试处理，得到测试反馈信息，断电测试处理表征将第一数据区域的数据传输至第二数据区域以替换第二数据的过程中进行的断电测试处理；将测试反馈信息发送至终端，以使终端根据测试反馈信息确定断电测试结果。在本实施例的技术方案中，通过选择应用对智能卡进行断电测试，减少了终端的数据交互，测试速度快，测试周期短。

技术特征：

1.一种智能卡断电测试方法，其特征在于，应用于智能卡，所述智能卡设置有应用，所述应用包括第一数据区域和第二数据区域，所述第一数据区域存储有第一数据，所述第二数据区域存储有第二数据，所述智能卡与终端通信连接，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述应用包括第一数据区域、备份区和第二数据区域，所述第一数据区域存储有第一数据，所述第二数据区域存储有第二数据，所述备份区缓存有所述第二数据，所述智能卡与终端通信连接，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，在所述终端设置的断电时间为第一断电时间的情况下，接收所述终端发送的所述断电测试信息，所述接收所述终端发送的断电测试信息，通过所述应用响应所述断电测试信息以进行断电测试处理，得到测试反馈信息，包括：

4.根据权利要求1所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，在所述终端设置的断电时间为第一断电时间的情况下，接收所述终端发送的所述断电测试信息，所述接收所述终端发送的断电测试信息，通过所述应用响应所述断电测试信息以进行断电测试处理，得到测试反馈信息，包括：

5.根据权利要求3或4所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述第一断电时间根据第一断电循环次数确定，所述第一断电循环次数为在到达所述第一断电时间、且所述智能卡未完成所述第一写入指令的情况下，所述终端将所述第一断电循环次数进行加处理得到的，所述第一断电时间等于第一初始时间加上所述第一断电循环次数与第一时间步长的乘积。

6.根据权利要求3或4所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述获取所述终端所发送的第一写入指令之前，包括：

7.根据权利要求6所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述获取所述终端所发送的第一写入指令之前，包括：

8.根据权利要求3所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.根据权利要求8所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述根据所述数据还原指令将所述第二数据区域的数据还原为所述第二数据之后，包括：

10.根据权利要求3所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述根据所述第一写入指令将所述第一数据区域的第一数据写入所述第二数据区域，包括：

11.根据权利要求4所述的智能卡断电测试方法，其特征在于，所述根据所述第一写入指令将所述第一数据区域的第一数据写入所述第二数据区域，包括：

12.一种智能卡断电测试方法，其特征在于，应用于终端，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域、备份区和第二数据区域，所述第一数据区域存储有第一数据，所述第二数据区域存储有第二数据，所述备份区缓存有所述第二数据，所述智能卡与终端通信连接，所述方法包括：

13.一种智能卡断电测试方法，其特征在于，应用于终端，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域和第二数据区域，所述第一数据区域存储有第一数据，所述第二数据区域存储有第二数据，所述智能卡与终端通信连接，所述方法包括：

14.一种智能卡断电测试装置，其特征在于，应用于智能卡，所述装置包括：

15.一种智能卡断电测试装置，其特征在于，应用于终端，所述装置包括：

16.一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-11任一项所述的智能卡断电测试方法，和/或，用于执行如权利要求12所述的智能卡断电测试方法，和/或，用于执行如权利要求13所述的智能卡断电测试方法。

技术总结
本发明公开了一种智能卡断电测试方法、装置及存储介质，方法包括：接收终端发送的第一选择应用指令；根据第一选择应用指令选择应用，并向终端发送选择成功响应；接收终端发送的断电测试信息，通过应用响应断电测试信息以进行断电测试处理，得到测试反馈信息，断电测试处理表征将第一数据区域的数据传输至第二数据区域的过程中进行的断电测试处理；将比较结果信息发送至终端，以使终端根据比较结果信息确定断电测试结果。通过在智能卡上设置的应用进行断电测试，能够减少终端的数据交互，测试速度快，测试周期短，多次进行断电测试，测试精度高，可广泛应用于智能卡技术领域。

技术研发人员：程冉,杨黄林,袁外平,梁雪焕,黄卫文,孙奥,陈宇英
受保护的技术使用者：星汉智能科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/5/10