本发明涉及性能测试，尤其涉及一种长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。
背景技术：
1、现有ufs（universal flash storage，通用闪存）和emmc（embedded multi-mediacard，嵌入式多媒体卡）性能测试一般都是使用androbench（一个基准测试应用程序），侧重关注短时间性能指标，而长时间性能的稳定性也是很重要的指标，长时间运行后，存储器性能波动应该要在可以接受的范围之内。但目前暂没有可靠且有效的长时间性能测试方法。
技术实现思路
1、本发明所要解决的技术问题是：提供一种长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，能够实现可靠且有效的长时间性能测试。
2、为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
3、一种长时间性能测试方法，包括步骤：
4、基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的顺序读写性能数据，所述预设测试时长大于或等于30天；
5、计算所有所述顺序读写性能数据的中位数，并计算每一所述顺序读写性能数据与所述中位数的差值；
6、基于所有所述差值绘制生成置信级图；
7、基于所述置信级图与所述中位数确定所述待测存储器的测试结果。
8、为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
9、一种长时间性能测试装置，包括：
10、数据读写模块，用于基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的顺序读写性能数据，所述预设测试时长大于或等于30天；
11、计算模块，用于计算所有所述顺序读写性能数据的中位数，并计算每一所述顺序读写性能数据与所述中位数的差值；
12、置信级图生成模块，用于基于所有所述差值绘制生成置信级图；
13、测试结果确定模块，用于基于所述置信级图与所述中位数确定所述待测存储器的测试结果。
14、为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
15、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述长时间性能测试方法中的各个步骤。
16、为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
17、一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述长时间性能测试方法中的各个步骤。
18、本发明的有益效果在于：基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的顺序读写性能数据，预设测试时长大于或等于30天，计算所有顺序读写性能数据的中位数，并计算每一顺序读写性能数据与中位数的差值，基于所有差值绘制生成置信级图，基于置信级图与中位数确定所述待测存储器的测试结果，利用中位数可以有效反馈性能数据分布集中的趋势，通过置信级图的方式将各性能数据与中位数的差值直观展示出来，基于置信级图与中位数确定测试结果，能够有效地判断存储器的长时间性能的稳定性，从而实现可靠且有效的长时间性能测试。
1.一种长时间性能测试方法，其特征在于，包括步骤：
2.根据权利要求1所述的一种长时间性能测试方法，其特征在于，所述基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的顺序读写性能数据包括；
3.根据权利要求1所述的一种长时间性能测试方法，其特征在于，所述基于所有所述差值绘制生成置信级图包括：
4.根据权利要求3所述的一种长时间性能测试方法，其特征在于，所述从所述排序后的差值中按序抽取预设比例的差值，得到等级数据包括：
5.根据权利要求4所述的一种长时间性能测试方法，其特征在于，所述基于所述置信级图与所述中位数确定所述待测存储器的测试结果包括：
6.根据权利要求1所述的一种长时间性能测试方法，其特征在于，所述基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作之前，还包括：
7.根据权利要求5所述的一种长时间性能测试方法，其特征在于，所述根据所述绝对误差与所述中位数进行计算，得到相对误差包括：
8.一种长时间性能测试装置，其特征在于，包括：
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的一种长时间性能测试方法中的各个步骤。
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的一种长时间性能测试方法中的各个步骤。