专利名称：测试光盘存储介质质量的方法和装置以及光盘介质的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种可以用于测试光盘存储介质的质量的方法和装置及一种光盘存储介质；更具体地说是涉及一种被提高了准确性和可靠性的方法和装置。
盘存储介质被分为两类，磁盘和光盘如只读光盘(CD)。由于光盘巨大的存储容量，对其的需要正在快速地增加。
图1A和1B所示为常规的光盘。这些磁盘的半径L1为60mm，中心孔的直径为15mm。图1A显示了一个已被预先记录的光盘。如图1A所示，光盘的记录区包括一个导入起始点BLI，一个主存储区起始点BPL，和一个导出起始点BLO。信息被写入主存储区起始点BPL与导出起始点BLO之间的主存储区MSA内。
图1B显示了一个常规的一次写入的光盘，在其上面还没有记录信息。与图1A中的光盘一样，图1B中的光盘也具有一个记录区，当信息被记录到其上时，此信息被记录在主存储区MSA中。如图1A和1B所示，记录区的一个外部区域不用于存储信息。其提供了一个对制造缺陷的裕量，因为由于所使用的制造技术，缺陷更容易出现在记录区的外部区域中。
对磁盘和磁光盘而言，常规的质量测试方法包括在盘的导入区或主存储区中记录信号，再现这些测试信号，并将测试信号与参考信号进行比较以确定质量。
这些方法已被应用于光盘的质量测试中。然而，不幸地是这些方法不能被应用于所制造的每一种光盘。例如，一旦测试数据被写入一个一次写入的光盘中，则这张光盘失去了其作为商品的价值而不可使用了。因此，一般是从所制造的一组光盘中取出一些样本并根据上述的方法进行测试。
除了使得被取样的光盘变成不可使用外，这些质量测试技术还被证明是不准确及不可靠的。因为被取样的磁盘可能具有充分好的质量而并不必然意味者其他那些没被取样的磁盘也具有充分高的质量。所以，这些测试势必会不准确且不可靠。
这些光盘存储介质还受到额外的质量测试。例如，通过监控用一个激光束对光盘表面的扫描来用一个CCD摄影机显示光盘的整个表面。使用显示器对表面进行可视地检查。
其他的测试包括推压/拉伸，串扰，和检测导入起始点BLI，主存储区起始点BPL，和导出起始点BLO的定位。
通过上述的测试过程，诸如导入起始点BLI，主存储区起始点BPL，导出起始点BLO，轨迹和索引起始点，测试速度，轨迹间隔，弯曲偏差，翘曲偏差，光盘的厚度，角偏差，垂直偏差，光盘的半径，和光盘中心孔的直径等机械特征尺寸被检测。除此之外，信号特征如径向噪声，聚焦噪声，跟踪信号的推压/拉伸，数据载波模拟信号，和载波数字信号也被检测。
本发明的一个目的是提供一种克服了上面所讨论的缺陷和缺点的用于测试一个光盘的质量的方法和装置。
本发明的另一个目的是提供一种提高了可靠性和准确度的用于测试光盘质量的方法和装置。
本发明的另外一个目的是提供一种让光盘既能被测试又能在测试之后依然可用的用于测试光盘的质量的方法和装置。
本发明的再一个目的是提供一种克服了上述缺陷与缺点的光盘存储介质。
这些及其他的目的是通过提供一种用于测试光盘的质量的方法来实现的，其包括再现上述光盘存储介质的外部区域中的测试数据以产生一个测试信号，上述光盘存储介质的上述外部区域环形地定位于主信息存储区的外侧；及根据上述再现的测试信号判断上述光盘存储介质的质量。
这些及其他的目的还通过提供一种用于测试光盘存储介质的质量的装置来实现的，其包括一个用于再现上述光盘存储介质的外部区域中的测试数据以产生一个测试信号的光学拾取器，上述光盘存储介质的上述外部区域环形地定位于主信息存储区的外侧；及用于根据上述所再现的测试信号判断上述光盘存储介质的质量的判断装置。
本发明的目的还通过提供一种光盘存储介质来实现，其包括一个主信息存储区；和一个存储了测试信号，环形地定位于主信息存储区的外侧的外部区域。
本发明的目的还通过提供一种记录测试信号到一个光盘存储介质中的方法来实现，其包括将一个光学拾取器定位在上述光盘存储介质的外部区域以产生一个测试信号，上述光盘存储介质的上述外部区域环形地定位于主信息存储区的外侧；和记录测试数据到上述外部区域中。
本发明的目的还通过提供一种记录测试信号到一个光盘存储介质中的装置来实现，其包括一个光学拾取器；一个控制装置，用于定位该光学拾取器在上述光盘存储介质的外部区域，上述光盘存储介质的上述外部区域环形地定位于主信息存储区的外侧，且通过使用上述光学拾取器记录测试数据到上述外部区域中。
本发明的其他目的，特点，和特征；方法，操作，及结构的相关元件的功能；部件的组合；和制造的经济性将从接下来对优选实施例的详细说明和附图中被进一步阐明，所有的附图构成了本说明书的一部分，其中各个图中相似的标识符指示了相对应的部件。
本发明将从接下来给出的详细说明和仅仅为了图示而并不限制本发明的附图中被完全地理解。其中图A和1B所示为常规的光盘；图2A和2B所示为根据本发明的光盘；图3A和3B所示为根据本发明再现测试数据的一种方法；图4A和4B所示为根据本发明再现测试数据的另一种方法；图5A和5B所示为根据本发明再现测试数据的另外的一种方法；图6所示为用于记录测试数据到一个光盘中并测试光盘质量的装置的方框图；图7所示为根据本发明用于记录测试数据到一个光盘的方法的流程图；图8A和8B所示为根据本发明当测试数据被写入其中时光盘的信息状态；图9根据本发明用于测试光盘的质量的方法的流程图；图10A所示为光盘上的槽模式和再现的槽模式信号之间的联系；和图10B所示为再现的模拟信号的一个样例；图6所示为根据本发明的用于记录测试数据到一个光盘上并测试光盘的质量的装置(下文中简称为“光盘质量测试装置”)。如图所示，光盘质量测试装置包括一个驱动单元31和一个拾取单元32。驱动单元31包括一个用于支撑将被使用的光盘31-1的托架31-2，一个用于夹住光盘31-1的夹具31-3，和一个用于旋转光盘31-1的主轴电机31-4。拾取单元32包括一个用于写信息到光盘3 1-1和从光盘31-1读取信息的拾取器32-2。一个滑动电机32-1相对于光盘31-1径向地移动拾取器32-2。
一个控制器36根据用户的输入和来自拾取单元32的聚焦误差及跟踪误差通过一个伺服机构37控制主轴电机和滑动电机32-1的运转。当用户指示记录测试数据到光盘31-1上时，控制器36把将被写到光盘31-1上的测试数据提供到拾取单元32，并控制测试数据的记录。
当用户指示进行关于光盘的一次质量测试时，控制器3 6控制拾取单元32以再现记录在光盘31-1上的测试数据。拾取单元32输出的再现信号被提供到一个RF放大器33和控制器36，而聚焦误差和跟踪误差信号也被提供到控制器36。根据该聚焦误差和跟踪误差信号和再现的信号，控制器36通过伺服机构37控制滑动电机31-4。RF放大器33处理来自拾取单元32的再现信号并输出被处理的用于MPEG处理的再现信号。被处理过的再现信号还被提供到一个比较器35。
比较器35比较处理过的再现信号和存储在一个存储器34中的预定数据。比较的结果被输出到控制器36，其根据比较结果确定光盘31-1是优质还是劣质。如果控制器36确定光盘31-1是劣质时，控制器36驱动一个指示器38以通知用户该光盘31-1为劣质。
根据本发明的光盘质量测试装置的操作将参照图2A到9被详细地说明。如图2A和2B所示，根据本发明的光盘质量测试装置记录测试数据STP到光盘，其包括已被预先记录的光盘(图2A)和写入的(图2B)光盘的外部区域中。此记录操作将在下面参照图6到8B被详细的讨论。
图7所示为根据本发明用于记录测试数据到一个光盘中的方法的流程图。如图所示，在步骤S10中，控制器36使光盘拾取单元32从光盘中读取内容表TOC数据。记录在光盘中心附近的TOC数据指示了例如已被预先记录的光盘中主存储区的导入起始点，主存储区，和主存储区的导出起始点的位置。仅仅出于讨论的目的，在光盘中记录测试数据的方法将根据一个已被预先记录的光盘进行说明。然而，一个本领域专业人员将会容易地理解此方法可应用在，例如，一次写入的光盘上的应用。
在从拾取单元32接收TOC数据后，控制器36确定用户是否已在步骤S20中选择了一个测试数据记录模式。如果测试数据记录模式没有被选中，则处理结束。否则，在步骤S30中，控制器36确定用户是否选择了一个由内到外记录模式。
如果在步骤S30中选择了由内到外记录模式，则在步骤S40中，控制器36以任意已知的方式确定拾取器32-2的当前位置，并根据TOC数据确定主存储区的导出起始点BLO。接着，在步骤S50中，控制器36根据所检测的拾取器32-2的当前位置和所确定的主存储区的导出起始点BLO的位置移动拾取器32-2到主存储区的导出起始点。
在步骤S60中，控制器36使拾取单元32以一个如图8A所示的由内到外的方式记录测试数据STP到光盘31-1中。测试数据能够由用户提供或是由控制器36存储的预定数据。测试数据可以是一个预定的槽模式，一个预定的位模式，或一个预定的信号如一首知名的音乐作品。下文中将根据光盘的质量测试更详细的说明测试数据。
控制器36控制拾取器32-2跟踪光盘并使其在径向上从内向外移动的同时，如图8A所示，拾取器记录一个测试数据的导入和测试数据。换句话说，在记录测试数据期间，控制器36通过滑动电机32-1和伺服机构37在光盘径向向外的方向上移动拾取器32-2。另外，如图8A所示，控制器36使拾取单元32在主存储区的导出区之后的一个预定的径向距离开始记录测试数据STP的导入区以在主存储区的导出和测试数据STP的导入之间产生一个缓冲区。
在记录完测试数据之后，在步骤S70中控制器36更新光盘中的TOC数据以指示测试数据和其导入的位置。
如果在步骤S30中没有选择由内到外记录模式，则在步骤S80中，控制器36确定用户是否选择了由外到内记录模式。如果也没有选择由外到内记录模式，则处理返回步骤S30。否则，处理进行到步骤S90。在步骤S90中，控制器36以任意已知的方式检测拾取器32-2的当前位置，并从TOC数据中确定记录区末端的位置。接着在步骤S100中，控制器36移动拾取器32-2到记录区的末端。
接下来在步骤S110中，控制器36使拾取单元32以一个图8B中所示的由外到内模式记录测试数据到光盘中。如图8B所示，测试数据STP从记录区的末端开始径向向内地朝光盘的中心记录。具体地说，如图8B所示，测试数据STP的一个导入区先被记录，然后记录的是测试数据STP，最后记录的是测试数据STP的一个导出。测试数据STP的导出被记录在主存储区的导出的开始处足够前处以在主存储区的导出和测试数据STP的导出之间留出一个缓冲区。当从外到内记录测试数据时，控制器一边跟踪光盘一边沿径向向光盘的中心移动拾取器32-2。
在步骤S110中记录完测试数据之后，处理进行到步骤S70。在步骤S70中，控制器36更新光盘中的TOC数据以指示测试数据和其导入和导出的位置。
现在将根据图3A到图6以及图9说明根据本发明的光盘质量测试装置的质量测试操作。图9所示为根据本发明用来测试光盘的质量的方法。如图9所示，在步骤S200中，控制器36控制拾取单元32以再现和输出光盘31-1的TOC数据。接下来在步骤S220中，控制器36确定用户是否已输入质量测试请求。如果没有质量测试请求被输入，则处理结束。如果输入了质量测试请求，这在步骤S230中，控制器36以任意已知的方式检测拾取器32-2的当前位置。
根据TOC数据中指示的测试数据的导入的位置和拾取器32-2的当前位置，控制器36在步骤S240中移动拾取器32-2到测试数据的导入处。除了指示测试数据的导入的位置，TOC数据还通过此位置数据指示了测试数据是被径向由内到外还是径向由外到内记录的。根据此判断结果，在步骤S250中控制器36使拾取器32-2再现测试数据。
测试数据能够如图3A所示为一个已被预先记录的光盘或如图3B所示为一个一次写入的光盘连续地再现，或者测试数据能够如图4A所示为一个已被预先记录的光盘或如图4B所示为一个一次写入的光盘以预定的间隔再现。另外，测试数据的预定选择段能够如图5A所示为一个已被预先记录的光盘或如图5B所示为一个一次写入的光盘再现。
在步骤S260中，再现的测试数据被RF放大器33处理并输出到比较器35。在控制器36的控制下。比较器将测试数据与存储器34中的预定数据进行比较，控制器36根据比较结果来判断光盘31-1的质量。比较器35和控制器36能够进行一个质量测试操作或多种质量测试操作的组合。这些质量测试模式包括一个槽模式测试，一个位模式测试，和一个模拟信号测试。
在一个CD和数字视频磁盘(或数字多功能磁盘)DVD中，最小的位模式是3T而最大的位模式对CD来说是11T而对DVD来说是14T。3T，4T等等是相对于一个预定位模式的位模式长度的测量值。图10A所示为从RF放大器33输出的信号和代表着光盘31-1中的测试数据的槽之间的关系。如图10A所示，从RF放大器33输出的信号在一个槽的开始处从，例如，一个低状态转变到一个高状态，并在该槽的整个长度上保持高状态，并在槽的末端从高状态转变为低状态。从RF放大器33输出的信号的转变代表了一个位值1，而从RF放大器33输出的信号保持高状态的时间的长度代表了0的个数。一个3T槽表示位流1001。而4T槽，比3T长一点，表示位流10001。当槽模式从3T连续地增加到11T或4T时，0的个数也相应增加。
当使用槽模式方法测试质量时，同一槽模式被一遍一遍地记录以作为测试数据。在一个优选实施例中，被记录的槽模式是3T槽模式。因为3T槽模式是最小的槽模式，所以错误更可能被检测到。
比较器35对由RF放大器输出的槽模式信号，如图10A所示，和存储在存储器34中的一个参考信号进行比较。参考信号代表了记录在光盘上的槽模式。代表了一个与参考信号相匹配的一个槽的槽模式信号的每一段对应于可识别的数据。例如，当使用3T槽模式时，每个可识别的槽模式代表了可识别数据的四个位。比较器35确定可识别的测试数据的总数，然后将可识别的测试数据的总数与一个存储在存储器34中的预定可识别数据的阈值进行比较。存储器34存储了一个与图3A-3B，4A-4B，和5A-5B(即，连续的，周期的，和选择段)中所示的每种再现方法有关的可识别数据阈值。因此，比较器35根据再现的类型(连续的，周期的，和选择段)，选择一个不同的可识别数据阈值。比较器35输出比较结果到控制器36。
如果可识别数据的数量大于可识别数据阈值，则在步骤S260中控制器36确定光盘是优质的。否则，在步骤S260中控制器36确定光盘为劣质的。
代替或除了槽模式测试，可以进行位模式测试以判断光盘31-1的质量。在位模式测试中，槽模式信号被转换为一个位流。即，每个槽被转换成其代表位。比较器35对所得的位模式和一个存储在存储器34中的位模式的参考形式进行比较。不同于槽模式测试，位模式测试不需要把同一槽模式一遍一遍的记录在光盘31-1中作为测试数据。任何预定的槽排列均可以被记录在光盘31-1中以作为测试数据。存储在存储器34中的参考位模式对应于存储在光盘31-1中的槽模式。
比较器35在槽对槽的基础上比较从槽模式信号中导出的位模式和参考位模式。换句话说，每一组对应于一个槽的位与参考位模式中的对应的一组位进行比较。如果存在一个匹配，则匹配的位被认为已被识别。比较器35对所识别数据的总数求和，并将数据的总识别数与一个存储在存储器34中的预定的识别数据阈值进行比较。比较的结果被输出到控制器36。与槽模式测试一样，存储器34存储了与连续，周期，和选择段模式的再现有关的识别数据阈值。因此，识别数据的阈值依赖于再现的模式(连续的，周期的，或分段)。
如果可识别数据的数量超过可识别数据阈值，则控制器36确定光盘是优质的。否则，控制器36确定光盘31-1为劣质的。
代替或除了槽模式测试和位模式测试两者或任一个，可以进行模拟信号测试以判断光盘31-1的质量。在此模拟信号测试中，从槽模式信号中导出的位模式被比较器35数-模转换以获得有关如图10B所示的模拟信号。随后比较器35对模拟信号进行振幅和频率测试中的任一个或两者都进行。在振幅测试中，比较器35比较模拟信号的振幅和一个在图10B中用ATH和-ATH指示的振幅阈值范围。
在频率测试中，比较器35将零交点如图10B中所示的t1和t2与对应与每一个零交点的预定时间阈值范围进行比较。更特别地，因为记录在光盘31-1上的测试数据是预定的，所以使得的模拟信号也是已知的。对这些零交点乘以一个由经验确定的误差量便产生所再现的模拟信号的每个零交点的一个时间阈值范围。每个零交点的时间阈值范围接着便被存储在存储器34中。
当然，与其他测试一样，所使用的存储的时间阈值范围依赖于再现模式(连续的，周期的，或选择的段)。
可以根据振幅测试，频率测试，或振幅测试与频率测试来判断光盘31-1的质量。如果模拟信号的振幅超过振幅阈值范围，则控制器36确定光盘31-1为劣质。另外，如果模拟信号的一个零交点在相应的时间阈值范围之外，控制器36也确定光盘31-1为劣质。如果控制器根据振幅测试，频率测试，或振幅测试与频率测试没有得到一个劣质判断，则控制器36确定光盘31-1为优质。
接下来，在步骤S270中，如果控制器36判断光盘31-1为劣质的，则处理进行到步骤S280，控制器36驱动指示器38且处理结束。以此方式，用户被警告即正在测试的光盘为一张劣质光盘。如果在步骤S270中光盘被判断为优质的，则处理结束。
如上所述，槽模式测试，位模式测试，振幅测试，和频率测试，可以被单独地或连同其他另一个使用来确定光盘的质量。除了上述的质量测试，光盘还经历了额外的机械和信号质量测试。例如，使用一个CCD摄影机，通过监控用一条激光光束进行的光盘表面的扫描来显示光盘的整个表面。
其他测试包括推压/拉伸，干扰，和检测导入起始点BLI，主存储器起始点BPL，和导出起始点BLO的定位。
通过上述的测试过程，诸如导入起始点BLI，主存储区起始点BPL，导出起始点BLO，轨迹和索引起始点，测试速度，轨迹间隔，弓曲偏差，翘曲偏差，光盘的厚度，角偏差，垂直偏差，光盘的半径，和光盘中心孔的直径等机械特征尺寸被检测。
根据本发明用于测试一个光盘的质量的方法和装置记录测试数据并从光盘的一个外部区中再现测试数据。此区在已被预先记录的光盘或一次写入的光盘中均没有被使用。因此，根据本发明每张被制造的磁盘可以进行其质量测试而不会使得光盘失去作为商品的价值。其结果是，根据本发明的质量测试更加准确与可靠。
正被如此说明的本发明，其应被清楚的是相同物可以通过许多方法变化。这样的变化不被视为背离本发明的精神和范围，且所有诸如应被技术熟练者所清楚的修正势必被包括在接下来的权利要求的范围内。
权利要求
1.一种用于测试光盘存储介质质量的方法，其特征在于包括再现上述光盘存储介质中的一个外部区域中的测试数据以产生一个测试信号，上述光盘的上述外部区域被环形地定位在一个主存储区外侧；和根据上述再现的测试信号判断上述光盘存储介质的质量。
2.权利要求1所要求的方法，其中上述光盘存储介质的外部区域分布在从上述光盘存储介质的最外点到上述光盘存储介质的一个预定点的范围内。
3.权利要求2所要求的方法，其中上述预定点被环形地定位于上述主信息存储区的一个导出区的外侧。
4.权利要求1所要求的方法，其中在上述再现步骤中连续地再现上述外部区域中的上述测试数据以产生上述测试信号。
5.权利要求1所要求的方法，其中在上述再现步骤中从上述外部区域的一个内侧段到上述外部区域的一个外侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
6.权利要求1所要求的方法，在上述再现步骤中，从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
7.权利要求1所要求的方法，在上述再现步骤中，以周期性的间隔沿上述外部区域再现上述测试数据。
8.权利要求1所要求的方法，在上述再现步骤中，从上述外部区域的各段中再现上述测试数据。
9.权利要求1所要求的方法，另外包括当上述判断步骤判断上述光盘存储介质为劣质时向操作者发出一个警报。
10.权利要求1所要求的方法，其中上述再现步骤再现一个槽模式信号作为上述测试信号，上述槽模式信号代表了上述光盘存储介质的上述外部区域中的一个预定的槽模式。上述判断步骤根据上述槽模式信号和一个表示了上述预定槽模式的参考信号来判断上述光盘存储介质的质量。
11.权利要求10所要求的方法，在其上述判断步骤中将上述槽模式信号与上述参考信号进行比较，确定在上述槽模式信号中与上述参考信号匹配的信息的数量，如果上述信息数量大于一个预定的阈值时确定上述光盘存储介质为优质。
12.权利要求10所要求的方法，其中上述预定模式为一个3T槽模式。
13.权利要求1所要求的方法，其中上述再现步骤再现上述测试信号并产生一个位模式；上述判断步骤根据上述位模式和一个预定的位模式来判断上述光盘存储介质的质量。
14.权利要求13所要求的方法，其中在上述判断步骤中将上述位模式与上述预定的位模式进行比较，确定在上述位模式信号中与上述预定的位模式匹配的信息的数量，如果上述信息数量大于一个预定的阈值时确定上述光盘存储介质为优质。
15.权利要求14所要求的方法，其中在判断步骤中，将上述位模式与在位组上对应于上述光盘存储介质的上述外部区域上的一个预定槽模式的预定位模式进行比较。
16.权利要求1所要求的方法，其中上述判断步骤首先比较上述测试信号的一个振幅与一个预定的阈值范围，并根据上述的比较确定上述光盘存储介质的质量。
17.权利要求16所要求的方法，其中在上述判断步骤中，再比较上述测试信号的频率与一个预定的信号频率，并根据第一次和第二次比较来确定上述光盘存储介质的质量。
18.权利要求1所要求的方法，在其上述判断步骤中比较上述测试信号的频率与一个预定的信号频率，并根据上述比较确定上述光盘存储介质的质量。
19.一种用于测试一个光盘存储介质的质量的装置，其特征在于包括用于再现上述光盘存储介质中的一个外部区域中的测试数据以产生一个测试信号的光学拾取器，上述光盘的上述外部区域被环形地定位在一个主存储区外侧；和用于根据上述再现的测试信号判断上述光盘存储介质的质量的判断装置。
20.权利要求19所要求的装置，其中上述光盘存储介质的外部区域分布在从上述光盘存储介质的最外点到上述光盘存储介质的一个预定点的范围内。
21.权利要求20所要求的装置，其中上述预定点被环形地定位于上述主信息存储区的一个导出区的外侧。
22.权利要求19所要求的装置，其中上述光学拾取器连续地再现上述外部区域中的上述测试数据以产生上述测试信号。
23.权利要求19所要求的装置，其中上述光学拾取器从上述外部区域的一个内侧段到上述外部区域的一个外侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
24.权利要求19所要求的装置，其中光学拾取器从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段再现上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
25.权利要求1所要求的装置，其中光学拾取器以周期性的间隔沿上述外部区域再现上述测试数据。
26.权利要求19所要求的装置，其中光学拾取器再现在上述外部区域的各段中的上述测试数据。
27.权利要求19所要求的装置，另外包括一个指示器；其中当上述光盘被判断为劣质时上述判断装置使上述指示器操作者发出一个警报。
28.权利要求19所要求的装置，其中上述光学拾取器再现一个槽模式信号作为上述测试信号，上述槽模式信号代表了上述光盘存储介质的上述外部区域中的一个预定的槽模式；且上述判断装置根据上述槽模式信号和一个表示了上述预定槽模式的参考信号来判断上述光盘存储介质的质量。
29.权利要求28所要求的装置，其中上述判断装置将上述槽模式信号与上述参考信号进行比较，确定在上述槽模式信号中与上述参考信号匹配的信息的数量，如果上述信息数量大于一个预定的阈值时确定上述光盘存储介质为优质。
30.权利要求28所要求的装置，其中上述预定模式为一个3T槽模式。
31.权利要求19所要求的装置，其中上述光学拾取器再现上述测试信号并产生一个位模式；上述判断装置根据上述位模式和一个预定的位模式来判断上述光盘存储介质的质量。
32.权利要求31所要求的装置，其中上述判断装置将上述位模式与上述预定的位模式进行比较，确定在上述位模式信号中与上述预定的位模式匹配的信息的数量，如果上述信息数量大于一个预定的阈值时确定上述光盘存储介质为优质。
33.权利要求32所要求的装置，其中判断装置将上述位模式与在位组上对应于上述光盘存储介质的上述外部区域上的一个预定槽模式的预定位模式进行比较。
34.权利要求19所要求的装置，其中上述判断装置首先比较上述测试信号的一个振幅与一个预定的阈值范围，并根据上述的该比较确定上述光盘存储介质的质量。
35.权利要求34所要求的装置，其中上述判断装置再次比较上述测试信号的频率与一个预定的信号频率，并根据第一次和第二次比较来确定上述光盘存储介质的质量。
36.权利要求19所要求的装置，其中上述判断装置比较上述测试信号的频率与一个预定的信号频率，并根据上述比较确定上述光盘存储介质的质量。
37.一种光盘存储介质，其特征在于包括一个主信息存储区；和一个存储了测试数据的外部区域，环形分布在上述主信息存储区的外侧。
38.权利要求37所要求的光盘存储介质，其中上述光盘存储介质的外部区域分布在从上述光盘存储介质的最外点到上述光盘存储介质的一个预定点的范围内。
39.权利要求38所要求的光盘存储介质，其中上述预定点被环形地定位于上述主信息存储区的一个导出区的外侧。
40.权利要求37所要求的光盘存储介质，另外包括一个环形地介于上述主信息存储区和上述外部区域之间的缓冲区。
41.权利要求37所要求的光盘存储介质，另外包括一个上述外部区域的导入区；和一个上述外部区域的导出区，上述导入区比上述导出区更靠近上述光盘存储介质的中心。
42.权利要求37所要求的光盘存储介质，另外包括一个上述外部区域的导入区；和一个上述外部区域的导出区，上述导出区比上述导入区更靠近上述光盘存储介质的中心。
43.一种用于记录一个测试数据到一个光盘存储介质中的方法，其特征在于包括定位一个光学拾取器在上述光盘存储介质的一个外部区域以产生一个测试信号，上述光盘存储介质的上述外部区域环形地位于一个主信息存储区的外侧；和记录测试数据到上述外部区域中。
44.权利要求43所要求的方法，其中上述定位步骤包括检测上述光学拾取器的一个位置；检测上述主信息存储区的一个导出区的位置；定位上述光学拾取器在上述主信息存储区的导出区的末端。
45.权利要求44所要求的方法，在上述记录步骤中，从上述外部区域的一个内侧段到上述外部区域的一个外侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
46.权利要求43所要求的方法，在上述记录步骤中，从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
47.权利要求43所要求的方法，其中上述定位步骤包括检测上述光学拾取器的一个位置；检测上述光盘存储介质的一个记录区的末端；定位上述光学拾取器在上述记录区的上述末端。
48.权利要求47所要求的方法，在上述记录步骤中，从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
49.权利要求43所要求的方法，在上述记录步骤中，从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
50.一种用于记录一个测试数据到一个光盘存储介质中的装置，其特征在于包括一个光学拾取器；用于定位上述光学拾取器在上述光盘存储介质的一个外部区域，上述光盘存储介质的上述外部区域环形地位于一个主信息存储区的外侧，和使用上述光学拾取器记录测试数据到上述外部区域中的控制装置。
51.权利要求50所要求的装置，其中上述控制装置检测上述光学拾取器的一个定位，检测上述主信息存储区的一个导出区的定位，并定位上述光学拾取器在上述主信息存储区的上述导出区的一个末端。
52.权利要求51所要求的装置，其中上述控制装置从上述外部区域的一个内侧段到上述外部区域的一个外侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
53.权利要求50所要求的方法，其中上述控制装置从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
54.权利要求50所要求的装置，其中上述控制装置检测上述光学拾取器的一个定位，检测上述光盘存储介质的记录区的一个末端，并定位上述光学拾取器在上述记录区的上述末端。
55.权利要求54所要求的装置，其中上述控制装置从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
56.权利要求50所要求的装置，其中上述控制装置从上述外部区域的一个外侧段到上述外部区域的一个内侧段记录上述测试数据，上述内侧段比上述外侧段更靠近上述光盘存储介质的中心。
全文摘要
用于测试一种光盘存储介质的方法和装置首先记录测试数据在光盘的一个外部区域中。当制造一个已被预先记录的磁盘时,光盘的此外部区域没有被使用,而其也没有被一次写入光盘的用户使用。光盘的质量是根据从光盘的外部区域中再现的测试数据中产生的测试信号来判断的。
文档编号G11B7/00GK1188314SQ9712580
公开日1998年7月22日 申请日期1997年12月18日 优先权日1996年12月19日
发明者吕运盛, 金炯奎 申请人:Lg电子株式会社