用于验证带介质中的伺服图形的方法和设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本公开内容涉及用于验证带介质中的伺服图形的方法和设备。
【背景技术】
[0002]具有预先写入的伺服图形的磁性存储介质经常被用于数据的存储和检索。磁带是用于存储大量数据的经济介质，并且穿插有数据轨道的预先记录的伺服图形使得能够在带上实现更高数据存储密度。磁带盒经常被用于在大的计算中心备份大量数据。磁带盒还应用在存储在诸如个人计算机的较小的计算机上的数据备份中。
[0003]伺服图形经常是在带制造过程期间被预先记录并验证的。这样，伺服图形在带介质被用于数据存储之前就被记录在该介质中。经常通过使用一组相对窄的读装置读取该伺服图形来完成验证，该组读装置与在带驱动中使用的读装置宽度大致相同。这种方法导致仅仅每一个伺服条带的宽度的一小部分得到验证。因此，仅覆盖伺服条带的宽度的一小部分的伺服图形缺陷可能未被检测到。
[0004]在替代的验证方法中，“全宽度”读装置可以用来读取伺服条带的整个宽度。在这样的方法中，在尝试检测覆盖伺服条带的宽度的一部分的缺陷时可以测量幅度。虽然这种方法确实允许扫描伺服条带的全部宽度，但这种方法在其检测因伺服图形中固有的典型幅度变化而引起的窄的伺服缺陷的能力上是受限的。此外，读装置的异常大的宽度可能阻碍伺服图形的解调和能够检测窄的缺陷的许多质量度量的评价。
[0005]伺服图形的验证可以阻止有错误的带盒被装运到消费者。在消费者尝试使用该有缺陷的盒进行数据存储和随后的检索时，伺服图形错误可以造成永久的数据错误。
【发明内容】
[0006]用于验证带介质中的伺服图形的系统和方法包括带驱动单元，该带驱动单元在长度方向上跨读头移动带。该带驱动单元适合于使用包括至少一个伺服条带的带，每个伺服条带包括至少一个伺服图形。该带驱动单元移动读头，以在相对于带的宽度方向上跨伺服条带进行扫描。该系统和方法还包括适合于验证该伺服图形的电子控制单元。
[0007]在系统的实施例中，控制单元适合于解调该伺服图形和验证解调后的伺服图形。在系统的各种实施例中，验证解调后的伺服图形可以包括一个或多个以下度量:计算帧丢失率，测量解调后的伺服图形的峰值幅度之间的幅度变化，计算多个峰值幅度的峰值幅度的平均移动范围，以及计算多个峰值幅度的变化系数。
[0008]在系统的一个实施例中，读头被可操作地连接到伺服写装置设备。在一些实施例中，带可以是光学带。
[0009]在另一实施例中，用于验证伺服图形的方法包括在平行于带的长度的方向上跨读头移动带。带包括至少一个伺服条带，并且每个伺服条带包括伺服图形。该方法还包括在平行于带介质的宽度的方向上跨伺服条带扫描该读头，并且读取伺服图形。该方法还包括验证该至少一个伺服图形。
[0010]在一个实施例中，该方法还包括解调该至少一个伺服图形并验证解调后的伺服图形。在该方法的各种实施例中，验证解调后的伺服图形可以包括一个或多个以下度量:计算帧丢失率，测量解调后的伺服图形的峰值幅度之间的幅度变化，计算多个峰值幅度的峰值幅度的平均移动范围，以及计算多个峰值幅度的变化系数。在一个实施例中，该方法包括与负峰值的幅度变化分开地评估正峰值的幅度变化。
[0011]在另一实施例中，该方法包括定位读头以读取伺服图形，其中该伺服图形被写在作为光学带或磁带的一部分的伺服条带上。该方法还包括跨读头移动带，并且在垂直于带的运动方向的方向上跨该伺服条带扫描该读头。该方法还包括读取和解调该伺服图形。该方法还包括基于解调后的伺服图形生成统计分析，并基于该统计分析验证该伺服图形。
[0012]在一个实施例中，该带包括磁带。在各种实施例中，生成该统计分析包括生成相对于跨带位置的帧丢失率或者生成相对于跨带位置的多个峰值幅度的变化系数。
[0013]根据本公开内容的实施例可以提供众多优势。例如，本公开内容提供用于检测伺服轨道中的窄的缺陷的系统和方法，该缺陷可能不被其它方法检测到。该方法阻止具有以其他方式不被检测到的缺陷的带盒被装运到消费者。
[0014]根据结合附图的以下详细说明，本公开内容的以上优势以及其它优势和特征将是很清楚的。
【附图说明】
[0015]图1示出了代表性的带100，其可以结合根据本公开内容的各种实施例而被使用。
[0016]图2是示出根据本公开内容的一个实施例用于验证伺服图形的系统或方法的操作的流程图。
[0017]图3是示出根据本公开内容用于验证伺服图形的系统的实施例的简化示意图。
[0018]图4是示出根据本公开内容用于验证伺服图形的系统的替代实施例的简化示意图。
[0019]图5a_5d示出基于相对于跨带位置的伺服图形信号的代表性统计分析，其中该统计分析可用于根据本公开内容的各种实施例来验证伺服图形。
【具体实施方式】
[0020]按照需要，本文公开了本发明的详细实施例；但是，应当理解，所公开的实施例仅仅是本发明的示例，本发明可以以各种和替代的形式来被体现。附图不一定成比例；一些特征可能被夸大或最小化以显示特定部件的细节。因此，本文公开的具体结构和功能细节不应被解释成限制性的，而仅仅作为用于教导本领域技术人员以各种方式利用本发明的代表性基础。
[0021]参考图1-5，将说明用于验证记录在带介质中的伺服图形的系统和方法。为了描述方便以及为了有利于理解，本文中对贯穿附图中的相似部件和特征使用相似的附图标记。
[0022]正如本领域技术人员将理解的，参照任一附图所示出和描述的本发明的各种特征可以与在一个或多个其它附图中示出的特征相组合，以产生本公开内容的未被明确示出或描述的实施例。示出的特征的组合提供了对于典型应用的代表性实施例。但是，对于特定的应用或实现方式，可能希望与本公开内容的教导一致的特征的各种组合和修改。
[0023]诸如在图1中示出并在以下更详细描述的数据存储带可以包括特殊的预先写入条带，该条带被用来通过使用闭环反馈或伺服控制精确定位读/写头。因此，这些条带一般被称为伺服条带。伺服条带可以包括定位在伺服条带内的多个伺服轨道。伺服条带可以由读头上的相应伺服读装置读取，允许该读/写头在带移动通过带路径时定位到希望的轨道并在任何未预期的横向带运动期间停留在轨道上。伺服条带之间的区域被用于数据存储，并且可以包含大量数据轨道。例如，代表性的磁带可以包括以交替方式布置的八个(8)数据条带和九个(9)伺服条带。每个数据条带可以包括多个数据轨道，比如448个轨道。类似地，每个伺服条带可以包括用于读取伺服图形的多个位置。
[0024]有时在制造过程中伺服图形未被正确写入。当这种错误发生时，未正确写入的伺服图形可能不足以使得能够实现对带介质上的位置的识别。作为未正确写入的伺服图形的结果，带在其数据存储性能方面可能是低质量的。未正确写入的伺服图形可能甚至造成有缺陷的或不可使用的产品。伺服写入中的错误可能由伺服写入部件上灰尘或碎片的聚集所导致。该碎片可以堵塞伺服写头中的间隙，或使得带介质的相对于写头的高度变化。在任一情况下，可能发生可使被写入到介质的信号降级的写入错误。伺服写入中的错误还可能由伺服写头的腐蚀导致。与基于定时的伺服图形结合使用的写头包括伺服写头中的两个或更多个间隙，并且一个间隙的腐蚀造成峰值幅度变化误差。
[0025]如之前所描述的，现有技术的伺服图形验证方法包括使用相对窄的读装置，该读装置与在带驱动中使用的读装置宽度大致相同。在这样的方法中，读装置被实现在相对于伺服条带大体上恒定的位置中，并且因此读取和验证伺服条带的宽度的仅仅一小部分。照此，使用固定的窄的读装置的方法不能检测未定位在伺服条带的验证部分上的伺服缺陷。在替代的方法中，宽的读装置可以被用来读取伺服条带的整个宽度。这样的读装置可能缺乏解调伺服图形的精确性，但它可以被用来在尝试检测仅仅覆盖伺服条带的宽度的一部分的缺陷时测量幅度。然而，这种方法在其检测因正常的幅度变化而引起的窄的伺服缺陷的能力上是受限的。
[0026]虽然参照基于定时的伺服图形描述了各种代表性的实施例，但是所描述的系统和方法不限于用于基于定时的伺服图形。例如，通过使用如参照基于定时的伺服图形所描述的类似扫描策略，包括基于幅度的伺服图形的带介质也可以被验证。
[0027]如本文所使用的，解调可以包括从伺服图形中提取横向的介质位置。本文所描述的各种度量，包括帧丢失率和峰值幅度变化测量，也可以基于伺服图形的“部分解调”而被评估，在该“部分解调”期间，相关信息可以从伺服图形中被提取，而无需完全地提取横向介质位置。
[0028]现在参考图1，示出了代表性的带介质100，其可以结合根据本公开内容的用于伺服图形验证的系统或方法而被使用。在示例性的实施例中，带介质100包括磁带。带介质100具有从带介质100的相应端部延伸的长度L和宽度W。带介质100包括多个伺服条带
101。作为示例，带介质可以包括九个伺服条带101。每个伺服条带101可以包括伺服图形
102。每个伺服图形102可以包括多个帧103。
[0029]现在参考图2，示出了说明用于验证伺服图形的系统或方法的操作的流程图。该系统或方法可以包括定位读头以读取伺服图形，如块200所表示的。伺服图形可以被写在如图1所示的光学带或磁带的伺服条带上。该系统或方法还可以包括跨读头移动带，如块201所表示的。附加地，该方法还包括在大体上垂直于带的运动方向的方向上跨伺服条带的宽度扫描或移动该读头，如块202所表示的。该系统或方法还可以包括读取和解调该伺服图形，如块203所表示的。该系统或方法还可以包括生成解调后的伺服图形的统计分析，如块204所表示的。该系统或方法还可以包括基于相对于跨带位置的伺服图形的一个或多个统计分析来验证该伺服图形，如块205所表示的。