一种基于小型闪存的测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种基于小型闪存的测试装置及方法。
【背景技术】
[0002]Nand Flash从芯片供应商出货至各销售渠道，等级差异很大，另外以次充好的现象比比皆是，Nand Flash的检测设备一般只有大型企业才具备，而且设备体积庞大，操作复杂，测试效率低，不具有便携性。对于企业而言，需要采购大量的测试设备来测试购买的Nand Flash芯片的品质，测试设备占用空间小、操作简单、测试效率高，同时具备可靠性至关重要。针对Nand Flash芯片等级和坏块测试，一种体积小、操作简单、测试效率高的NandFlash检测设备，能为Nand Flash的检测提供较好的解决方案。
[0003]有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的基于小型闪存的测试装置，使其更具有产业上的利用价值。
【实用新型内容】
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种基于小型闪存的测试装置及方法。
[0005]为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0006]—种基于小型闪存的测试装置，包括测试基座，所述测试基座上安装有第一测试座和第二测试座，所述测试基座上还设置有闪存检测控制单元，所述第一测试座的输出端和第二测试座的输出端都与闪存检测控制单元的检测端相连，所述闪存检测控制单元的控制端与闪存测试模式配置单元输入端相连，还与闪存型号配置单元的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元的输入端相连，所述闪存检测控制单元的反馈端与闪存测试模式配置单元的输出端，还与闪存型号配置单元的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元的输出端相连，所述闪存检测控制单元的输出端通过测试基座输出单元与PC的输入端相连。
[0007]再进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第一测试座为薄型小尺寸封装测试座。
[0008]更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第二测试座为焊球阵列封装测试座。
[0009]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元均为独立的单元布置。
[0010]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座输出单元为USB接口。
[0011]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述第一测试座和第二测试座为独立的测试座布置。
[0012]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座的长度范围在10?15厘米，宽度范围在6?8厘米，高度范围在2?4厘米。
[0013]再更进一步地，所述的基于小型闪存的测试装置，其中，所述测试基座的长度优选为12厘米，宽度优选为6.5厘米，高度优选为2.5厘米。
[0014]一种基于小型闪存测试的方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0015]S1:将未被检测的闪存放置于第一测试座和/或第二测试座内；
[0016]S2:闪存检测控制单元检测到SI中放置的未被检测的闪存；
[0017]S3:在经过S2后，闪存检测控制单元中的控制端分别控制闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元对未被检测的闪存卡进行检测；
[0018]S4:经过S3检测后，闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元各自的输出端反馈到闪存检测控制单元中间；
[0019]S5:通过S4中闪存检测控制单元得到的反馈数据通过测试基座输出单元传输至PC中；
[0020]S6:通过PC显示被检测的闪存的所有需要的数据。
[0021]进一步地，一种基于小型闪存测试的方法，其中，所述步骤S2同时检测到第一测试座2和第二测试座3内的闪存时，以预先设定的程序对其中之一的第一测试座2或第二测试座3进彳丁先检测。
[0022]借由上述方案，本实用新型至少具有以下优点:
[0023]本实用新型将测试基座的尺寸变小，使之占用空间小，小区域内可以部署上百个测试装置，同时具有极高的便携性，方便使用者随时能携带，提高检测的工作效率，同时通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性;通过便携式的装置及可及时获取的数据，使该装置具备高效性，从而提高工作效率。
[0024]上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
【附图说明】
[0025]为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0026]图1是本实用新型的结构不意图；
[0027]图2是本实用新型的连接关系图。
【具体实施方式】
[0028]下面结合附图和实施例，对本实用新型的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
[0029]为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0030]实施例
[0031]如图1、图2所示，一种基于小型闪存的测试装置，包括测试基座I，所述测试基座I上安装有第一测试座2和第二测试座3，所述测试基座I上还设置有闪存检测控制单元4，所述第一测试座2的输出端和第二测试座3的输出端都与闪存检测控制单元4的检测端相连，所述闪存检测控制单元4的控制端与闪存测试模式配置单元5输入端相连，还与闪存型号配置单元6的输入端相连，还与闪存测试状态指示单元7的输入端相连，并且还与闪存分类指示单元8的输入端相连，所述闪存检测控制单元4的反馈端与闪存测试模式配置单元5的输出端，还与闪存型号配置单元6的输出端相连，还与闪存测试状态指示单元7的输出端相连，并且还与闪存分类指示单元8的输出端相连，所述闪存检测控制单元4的输出端通过测试基座输出单元9与PC的输入端相连。通过闪存检测控制单元与闪存测试模式配置单元、闪存型号配置单元、闪存测试状态指示单元及闪存分类指示单元之间的配合使用能及时的获取闪存的具体数据，具备更高的可靠性。
[0032]进一步的，所述闪存测试模式配置单元5、闪存型号配置单元6、闪存测试状态指示单元7及闪存分类指示单元8均为独立的单元布置，上述4个单元相互之间也不产生影响它们依据自行设定的程序对未被检测的闪存卡进行检测，并将其检测后得到的数据反馈到闪存检测控制单元4。
[0033]其中，所述测试基座输出单元9为USB接口。
[0034]而所述测试基座I的长度优选为