Sf6气体密度继电器校验仪的制作方法

文档序号:7180083阅读:338来源:国知局
专利名称:Sf6气体密度继电器校验仪的制作方法
技术领域
本发明涉及一种SF6气体密度继电器校验仪。
背景技术
SF6气体密度继电器校验仪是根据电力系统SF6开关特点,专业设计的一种分析 设备。现有的SF6气体密度继电器校验仪的温度采集精度低,即采集的校验温度与被校验 SF6密度继电器实际温度存在较大差异,校验结果偏离实际值,导致精度不高,温度补偿性 能差等缺点。

发明内容
本发明目的是提供一种通过双套温度测量系统,方便实现测试的现场校验的SF6 气体密度继电器校验仪,精度高。鉴于以上目的,本发明提供SF6气体密度继电器校验仪,包括温度测量系统,气 瓶,主机,气瓶与主机通过连接气管相连接,主机通过过滤接头与被测SF6气体密度继电器 相连,主机包括与被测SF6密度继电器相连的气体压力调节装置、单片机系统、分别与单片 机系统相连接的显示屏、打印机、压力调节阀,所述温度测量系统包括内置的传感器装置和 外置的红外线装置。本发明因采用内置传感器装置和外置红外线装置这样的双套温度测量 系统,使得测量精度更高,并且单片机可将任意环境温度下SF6气体压力自动转换至20°C 时的标准压力换算,也可以进行20°C时的标准压力到任意温度下的压力换算。所述连接气管两端配有微型快速逆止阀,使得压力控制的操作更加方便,并能防 止管路进入水分和空气。所述主机还带有支持数据分析软件RS232接口,从而可实现对采集数据的分析。所述主机还连有仪器自诊断报警器,当出现接线错误时,可以进行报警提示,以防 校验仪的损坏。所述显示屏为液晶显示屏。本发明的SF6气体密度继电器校验仪由于采用内置高精度的压力传感器和外置 红外线装置的双套温度测量系统,保证采集的校验温度的精度,使校验结果与被校验SF6 密度继电器实际温度存在差异较小,保证测试结果的准确性。


图1为本发明所述SF6气体密度继电器校验仪的结构示意图。
具体实施例方式如图1本发明所述的SF6气体密度继电器校验仪结构示意图。本发明提供SF6气 体密度继电器校验仪,包括温度测量系统,气瓶,主机,气瓶与主机通过连接气管相连接,主 机通过过滤接头与被测SF6气体密度继电器相连,主机包括与被测SF6密度继电器相连的气体压力调节装置、单片机系统、分别与单片机系统相连接的显示屏、打印机、压力调节阀, 所述温度测量系统包括内置的传感器装置和外置的红外线装置。本发明因采用内置传感器 装置和外置红外线装置这样的双套温度测量系统,使得测量精度更高,并且单片机可将任 意环境温度下SF6气体压力自动转换至20°C时的标准压力换算,也可以进行20°C时的标准 压力到任意温度下的压力换算。所述连接气管两端配有微型快速逆止阀,使得压力控制的操作更加方便,并能防 止管路进入水分和空气。所述主机还带有支持数据分析软件RS232接口,从而可实现对采集数据的分析。所述主机还连有仪器自诊断报警器,当出现接线错误时,可以进行报警提示,以防 校验仪的损坏。所述显示屏为液晶显示屏,方便进行各参数的监视和操作。本发明以上实施例仅是对于本发明技术方案的举例说明,而非用于限制本发明。 因此,本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。
权利要求
1.一种SF6气体密度继电器校验仪,包括温度测量系统,气瓶,主机,气瓶与主机通过 连接气管相连接,主机通过过滤接头与被测SF6气体密度继电器相连,主机包括与被测SF6 密度继电器相连的气体压力调节装置、单片机系统、分别与单片机系统相连接的显示屏、打 印机、压力调节阀,其特征在于所述温度测量系统包括内置的传感器装置和外置的红外线直ο
2.根据权利要求1所述的SF6气体密度继电器校验仪,其特征在于所述连接气管两 端配有微型快速逆止阀。
3.根据权利要求1所述的SF6气体密度继电器校验仪,其特征在于所述主机还带有 支持数据分析软件的RS232接口。
4.根据权利要求1所述的SF6气体密度继电器校验仪,其特征在于所述主机还连有 仪器自诊断报警器。
5.根据权利要求1所述的SF6气体密度继电器校验仪,其特征在于所述显示屏为液晶显不屏。
全文摘要
本发明提供一种SF6气体密度继电器校验仪,包括温度测量系统,气瓶,主机,气瓶与主机通过连接气管相连接,主机通过过滤接头与被测SF6气体密度继电器相连,主机包括与被测SF6密度继电器相连的气体压力调节装置、单片机系统、分别与单片机系统相连接的显示屏、打印机、压力调节阀,所述温度测量系统包括内置的传感器装置和外置的红外线装置。本发明的SF6气体密度继电器校验仪由于采用内置高精度的压力传感器和外置红外线装置的双套温度测量系统,保证采集的校验温度的精度,使校验结果与被校验SF6密度继电器实际温度存在差异较小,保证测试结果的准确性。
文档编号H01H35/36GK102103016SQ20091020134
公开日2011年6月22日 申请日期2009年12月17日 优先权日2009年12月17日
发明者吴伟, 杨文举 申请人:上海莫克电子技术有限公司
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