光电子半导体器件和用于形成光电子半导体器件的方法与流程

文档序号:20274963发布日期:2020-04-03 19:31阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种光电子半导体器件(10),包括:

-具有主延伸平面的载体(11),

-至少一个半导体芯片(12),其布置在所述载体(11)上,

-框架(13),其布置在所述载体(11)上并且在平行于所述载体(11)的主延伸平面的横向方向(x,y)上围绕所述半导体芯片(12),

-覆盖所述至少一个半导体芯片(12)和框架(13)的转换层(14),其中

-所述至少一个半导体芯片(12)比所述框架(13)在竖直方向(z)上延伸得更远,其中所述竖直方向(z)垂直于所述载体(11)的主延伸平面,

-所述半导体芯片(12)被构造成在所述半导体器件(10)的操作期间发射电磁辐射,以及

-所述框架(13)和所述半导体芯片(12)在横向方向(x,y)上通过间隙(15)彼此间隔开。

2.根据权利要求1所述的光电子半导体器件(10),其中,所述框架(13)的热导率大于所述转换层(14)的热导率。

3.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述半导体芯片(12)在未被所述载体(11)覆盖的所有表面处被所述转换层(14)覆盖。

4.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述框架(13)包括玻璃。

5.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述框架(13)包括硼硅酸盐玻璃。

6.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述间隙(15)的横向宽度达到至少25μm且至多50μm。

7.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述框架(13)与所述载体(11)直接接触。

8.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述框架(13)与所述转换层(14)直接接触。

9.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述转换层(14)被构造成转换由所述半导体芯片(12)发射的电磁辐射的波长。

10.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,转换颗粒分散在所述转换层(14)的基质材料中。

11.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述基质材料包括硅树脂。

12.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述光电子半导体器件(10)包括至少两个半导体芯片(12),并且其中,所述框架(13)在横向方向(x,y)上围绕所述半导体芯片(12)中的每个。

13.根据前述权利要求中任一项所述的光电子半导体器件(10),其中,所述光电子半导体器件(10)包括至少两个半导体芯片(12),并且所述框架(13)包括至少两个子框架,其中,每个子框架在横向方向(x,y)上围绕至少一个半导体芯片(12)。

14.一种用于形成光电子半导体器件(10)的方法,所述方法包括:

-提供具有主延伸平面的载体(11),

-将至少一个半导体芯片(12)附接到所述载体(11),

-将框架(13)附接到所述载体(11),其中所述框架(13)在平行于所述载体(11)的主延伸平面的横向方向(x,y)上围绕所述半导体芯片(12),

-沉积覆盖所述半导体芯片(12)和所述框架(13)的转换层(14),其中

-所述半导体芯片(12)比所述框架(13)在竖直方向(z)上延伸得更远,其中所述竖直方向(z)垂直于所述载体(11)的主延伸平面,

-所述半导体芯片(12)被构造成在所述半导体器件(10)的操作期间发射电磁辐射,以及

-所述框架(13)和所述半导体芯片(12)在横向方向(x,y)上通过间隙(15)彼此间隔开。

15.根据前一权利要求所述的方法,其中,在沉积所述转换层(14)之前,经由引线接合来形成所述半导体芯片(12)的至少一个电气触头。

16.根据权利要求14或15所述的方法,其中,所述框架(13)的热导率大于所述转换层(14)的热导率。

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