X技术
首页
登录
注册
使SiC表面平坦化的方法与流程
文档序号:16238390
发布日期:2018-12-11 22:50
阅读:
来源:国知局
导航:
X技术
>
最新专利
>
电气元件制品的制造及其应用技术
>
使SiC表面平坦化的方法与流程
技术特征:
技术总结
本发明公开了使SiC表面平坦化的方法。一种使SiC衬底的粗糙表面平坦化的方法,包括:在SiC衬底的粗糙表面上形成牺牲材料,所述牺牲材料具有在SiC衬底的密度的35%与120%之间的密度;穿过牺牲材料并且向SiC衬底的粗糙表面中注入离子以在SiC衬底中形成非晶区;以及通过湿法刻蚀去除牺牲材料和SiC衬底的非晶区。
技术研发人员:
H.厄夫纳;R.鲁普;H-J.舒尔策
受保护的技术使用者:
英飞凌科技股份有限公司
技术研发日:
2018.05.31
技术公布日:
2018.12.11
完整全部详细技术资料下载
当前第2页
1
2
相关技术
硼膜的除去方法和硼膜的图案形...
一种制作LED晶圆专用的硅晶...
一种电镀制程中的洗边流程的制...
氧化物半导体层的制备方法及装...
p型AlGaN半导体材料生长...
类金刚石膜表面处理工艺的制作...
制造半导体结构的方法与流程
半导体装置的形成方法与流程
半导体器件的制造方法、记录介...
半导体制程的方法与流程
网友询问留言
已有
0
条留言
还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1