一种扩散后硅片电压检测装置的制作方法

本发明涉及太阳能电池生产技术领域，特别涉及一种扩散后硅片电压检测装置。

背景技术：

目前，随着太阳能电池片工艺技术的日趋成熟，高效太阳能电池工艺技术发展迅速，扩散为电池工艺技术的核心，高效电池工艺均在探索如何进一步降低扩散后硅片表面“死层”厚度，以获取更优的电池转化效率。而降低硅片扩散后表面磷硅玻璃浓度，就是一种可有效降低扩散后硅片表面“死层”厚度的可行性方法，但导致扩散后硅片扩散面与非扩散面区别不明显，容易把未扩散在制硅片流到下游工序导致批量低效片产生。本发明在四探针测试方块电阻的基础上，对四探针方阻测试仪进行改造，可同时用所述万用表测试其硅片扩散后电池电压，在制硅片用万用表测试有电压则说明是已扩散，电压为“0”则是未扩散，检测硅片电压目的是用以区分在制硅片有无扩散。避免在制未扩散电池片流到下一工序，导致批量低效电池片产生。

技术实现要素：

为了克服现有技术中无法判断硅片有无扩散的缺陷，本发明提供一种扩散后硅片电压检测装置。

为了实现上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种扩散后硅片电压检测装置，其特征在于，包括四探针方阻测试仪，探头卡槽、表笔、弹簧顶针、万用表、铜板底座和导线，所述探头卡槽为双探头卡槽，其左侧卡槽固定安装表笔，右侧卡槽固定安装四探针方阻测试仪，所述表笔与四探针方阻测试仪为同一水平高度；所述表笔顶端笔针下端接触硅片，所述表笔另一端用所述导线连接并插入到所述万用表“+”号插孔中；所述四探针方阻测试仪的探头接触硅片，硅片放置在水平的铜板底座上，所述铜板底座一端用导线连接并插入到所述万用表“-”号插孔中，把所述万用表调到“2v”电压档，正常测试硅片方块电阻与硅片的扩散后电压差值，判断其是否扩散。

进一步的，所述所述探头卡槽，材质为金属合金，主要用于定位安装四探针测试探头和所述表笔，把两者固定在同一水平位置。

进一步的，所述锥形加强辐板通过模具挤压成型，与轮毂和圆筒都采用焊接连接。

进一步的，所述表笔顶端笔针为弹簧顶针，在测试硅片方块电阻的过程中，四探针方阻测试仪的四探针下压的同时，所述表笔同时下压，所述弹簧顶针与硅片表面接触，测试其电压差值。

进一步的，所述弹簧顶针，材质为纯铜，安装在所述表笔笔头位置，主要起缓冲作用，避免所述表笔在下压过程中没有缓冲导致测试硅片碎裂。

进一步的，所述铜板底座，为正方形纯铜铜板，长度为20x20cm，厚度为1cm。

进一步的，所述导线，为纯铜内芯，主要用于连接所述表笔和所述万用表，以及所述铜板底座和所述万用表。

本发明所带来的有益效果是：将四探针方阻测试仪、表笔、万用表与铜板底座行程一条完成的回路，在铜板底座上放置待测试硅片，可同时测试硅片方块电阻与硅片电池电压，当万用表测试有电压时说明硅片已扩散，电压为“0”则是未扩散，可快速区分在制硅片有无扩散，避免未扩散电池片流到下一工序，导致批量低效电池片产生；整个装置结构简单，操作方便，测量精确。

附图说明

图1是本发明整体结构图。

图2是本发明探头卡槽的前后对比示意图。

图3是本发明表笔和弹簧顶针示意图。

图中标号：

1、四探针方阻测试仪；2、探头卡槽；3、表笔；4、弹簧顶针；5、万用表；6、铜板底座；7、导线。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

如图1-3所示，一种扩散后硅片电压检测装置，其特征在于，包括四探针方阻测试仪1，探头卡槽2、表笔3、弹簧顶针4、万用表5、铜板底座6和导线7，所述探头卡槽2为双探头卡槽，该双探头卡槽是在原有单个卡槽的基础上做出的改进，方便同时卡接表笔3与四探针方阻测试仪1，所述探头卡槽2左侧卡槽固定安装表笔3，右侧卡槽固定安装四探针方阻测试仪1，所述表笔3与四探针方阻测试仪1为同一水平高度；所述表笔3顶端笔针下端接触硅片，所述表笔3另一端用所述导线7连接并插入到所述万用表5“+”号插孔中；所述四探针方阻测试仪1的探头接触硅片，硅片放置在水平的铜板底座6上，所述铜板底座6一端用导线7连接并插入到所述万用表5“-”号插孔中，把所述万用表5调到“2v”电压档，正常测试硅片方块电阻与硅片的扩散后电压差值，判断其是否扩散。

所述探头卡槽2，材质为金属合金，主要用于定位安装四探针测试探头和所述表笔3，把两者固定在同一水平位置。

所述锥形加强辐板1通过模具挤压成型，与轮毂2和圆筒4都采用焊接连接。

所述表笔3顶端笔针为弹簧顶针4，在测试硅片方块电阻的过程中，四探针方阻测试仪1的四探针下压的同时，所述表笔3同时下压，所述弹簧顶针4与硅片表面接触，测试其电压差值。

所述弹簧顶针4，材质为纯铜，把所述表笔原笔头去除，笔头位置安装弹簧顶针，弹簧行程为1cm，主要起缓冲作用，避免所述表笔在下压过程中没有缓冲导致测试硅片碎裂。

所述铜板底座6，为正方形纯铜铜板，长度为20x20cm，厚度为1cm。

所述导线7，为纯铜内芯，主要用于连接所述表笔3和所述万用表5，以及铜板底座6和万用表5。

下面结合附图和工作原理对本发明进一步说明。

本装置的四探针方阻测试仪1、表笔3、万用表5与铜板底座6通过导线与导电探头卡槽2连接成一个完整的回路，其中，表笔3一端用导线7连接并插入到所述万用表5“+”号插孔中，铜板底座6一端用导线7连接并插入到所述万用表5“-”号插孔中，把所述万用表5调到“2v”电压档，完成整改装置的设置；

在铜板底座6上放置硅片，下压四探针方阻测试仪1，使四探针接触硅片，同时在探头卡槽2的作用下，表笔3一同向下运动，弹簧顶针4与硅片表面接触，通过读取万用表的数值，来判断硅片是否已经扩散，当万用表测试有电压时说明硅片已扩散，电压为“0”则是未扩散，可快速区分在制硅片有无扩散，避免未扩散电池片流到下一工序，导致批量低效电池片产生。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本发明所揭露的技术范围内，可不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

技术特征：

技术总结
本发明提供了一种扩散后硅片电压检测装置，其特征在于，包括四探针方阻测试仪，探头卡槽、表笔、弹簧顶针、万用表、铜板底座和导线，所述探头卡槽为双探头卡槽，其左侧卡槽固定安装表笔，右侧卡槽固定安装四探针方阻测试仪，所述表笔与四探针方阻测试仪为同一水平高度；所述表笔顶端笔针下端接触硅片，所述表笔另一端用所述导线连接并插入到所述万用表“+”号插孔中；所述四探针方阻测试仪的探头接触硅片，硅片放置在水平的铜板底座上，所述铜板底座一端用导线连接并插入到所述万用表“‑”号插孔中，把所述万用表调到“2V”电压档，正常测试硅片方块电阻与硅片的扩散后电压差值，判断其是否扩散，整个装置结构简单，操作方便，测量精确。

技术研发人员：袁磊;常宇峰
受保护的技术使用者：江苏彩虹永能新能源有限公司
技术研发日：2018.10.25
技术公布日：2019.03.01