一种半导体封装良品检测装置的制作方法

本实用新型涉及半导体领域，具体涉及一种半导体封装良品检测装置。

背景技术：

目前，对半导体封装产品的检测一般是通过人工目测进行的，虽然申请号为201120024347.1的中国专利，公开了一种自动去除半导体封装不良品的机台，该机台能够自动切除半导体封装不良品，使导线架条上仅留存半导体封装良品，因此能相对降低单颗外观目视检测作业所需的人机比及提高整体设备效率。但是，其在实际使用过程中，仍需要人工目测半导体是否封装良好，而人工目测难免出现漏检，同时检测效率也不高。

技术实现要素：

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种半导体封装良品检测装置，以解决现有技术中传统的半导体封装良品检测依靠人工目测实用性不强，容易漏检，检测效率低，人力花费成本高等问题。本实用新型提供的诸多技术方案中优选的技术方案能够实现自动对半导体封装进行良品检测，无需人工目测，大大降低人力成本，而且不会出现漏检问题，检测效率高，实用性好等技术效果，详见下文阐述。

为实现上述目的，本实用新型提供了以下技术方案：

本实用新型提供的一种半导体封装良品检测装置，包括机架和设置在机架下端的带式输送机，所述带式输送机上沿着输送带的移动方向一字型排列有多个待检品；所述机架上端竖直固定安装有滑轨，所述滑轨内上下滑动安装有用于对待检品进行超声扫描检测的超声扫描检测装置，通过该超声扫描检测装置检测出待检品中的不良品和良品；所述滑轨上端固定安装有用于推动超声扫描检测装置沿着滑轨上下滑动的电液推杆；

所述机架下端安装有用于检测待检品是否来到超声扫描检测装置正下方的光电开关和用于剔除检测到的不良品的剔除机构，该光电开关与电液推杆和带式输送机电连接，当待检品来到超声扫描检测装置正下方时，光电开关控制带式输送机暂停使待检品停留在超声扫描检测装置正下方，然后，光电开关控制电液推杆动作推动超声扫描检测装置下降对待检品进行超声扫描检测；

所述机架上还固定安装有用于显示超声扫描检测装置的检查结果的显示器和与超声扫描检测装置电连接的上位机，所述上位机一侧电连接有微电脑时控开关；超声扫描检测装置将检测结果显示在显示器上并传递给上位机，上位机根据该检测数据给微电脑时控开关发送控制指令，微电脑时控开关根据指令控制剔除机构动作将不良品从带式输送机上剔除掉。

作为本案的重要设计，所述带式输送机的输送带上安装有多个检测座，每个检测座上放置有一个待检品；

超声扫描检测装置下端安装有检测罩，检测罩下端与检测座接触，通过检测罩和检测座将待检品与外界隔离后再进行超声扫描检测，以提升超声扫描检测装置的信噪比；

所述检测罩下表面安装有多个与超声扫描检测装置电连接的按压开关，当检测罩下表面与检测座接触时，按压开关受压，并接通超声扫描检测装置的电路连接，超声扫描检测装置便开始对待检品进行超声扫描检测。

作为本案的优化设计，所述检测座的上表面开设有卡槽，所述检测罩下端插入卡槽内并与检测座密封连接。

作为本案的优化设计，所述剔除机构包括与机架固定连接的安装架和水平安装在安装架上的推杆电机，所述推杆电机与微电脑时控开关电连接，所述推杆电机的推杆头上安装有推板，所述推板在推杆电机的推动下将不良品从带式输送机上推掉。

采用以上技术方案，使用时，先启动带式输送机将待检品向超声扫描检测装置输送，然后通过超声扫描检测装置对待检品进行超声扫描检测，同时超声扫描检测装置将检测结果显示在显示器上并传递给上位机，上位机根据该检测数据给微电脑时控开关发送控制指令(若检测显示为良品，则给微电脑时控开关发送剔除机构不动作的控制指令，若检测显示为不良品，则给微电脑时控开关发送剔除机构动作的控制指令)，微电脑时控开关根据指令控制剔除机构动作将不良品从带式输送机上剔除掉；具体工作步骤为：当待检品来到超声扫描检测装置正下方时，光电开关检测到待检品，然后，光电开关控制带式输送机暂停使待检品停留在超声扫描检测装置正下方，之后，光电开关控制电液推杆动作推动超声扫描检测装置下降，按压开关触碰到检测座时，说明检测罩已经插入卡槽中并与接触座密封连接，此时按压开关接通超声扫描检测装置的电路连接，超声扫描检测装置便开始对待检品进行超声扫描检测，检测所需时间由微电脑时控开关进行控制，操作者可提前操作微电脑时控开关将检测时间设定好，这样，当检测完成后，微电脑时控开关能够自动控制超声扫描检测装置停止检测并使电液推杆带动超声扫描检测装置上升离开待检品，而超声扫描检测装置上升速度和距离均属于已知定值，因此可提前将超声扫描检测装置上升所需时间输入微电脑时控开关中，这样，当超声扫描检测装置上升至规定高度后，微电脑时控开关自动控制超声扫描检测装置停止上升，同时微电脑时控开关控制带式输送机继续转动带动检测过的待检品从超声扫描检测装置正下方离开，而待检品的移动速度固定，因此其从超声扫描检测装置正下方移动至剔除机构所花费的时间是固定的，故可提前将该时间输入到微电脑时控开关中，这样，当待检品移动至剔除机构正前方时，微电脑时控开关控制推杆电机动作推动推板将不良品从带式输送机上推掉。

有益效果在于：本实用新型所述的一种半导体封装良品检测装置能够实现自动对半导体封装进行良品检测，无需人工目测，大大降低人力成本，而且不会出现漏检问题，检测效率高，实用性好。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型的主视图；

图2是本实用新型的图1的局部放大图；

图3是本实用新型的检测座的俯视图；

图4是本实用新型的检测座的主视图的内部结构图；

图5是本实用新型的检测罩的内部结构图。

附图标记说明如下：

1、机架；2、带式输送机；3、检测座；4、待检品；5、卡槽；6、滑轨；7、电液推杆；8、超声扫描检测装置；9、检测罩；10、按压开关；11、光电开关；12、剔除机构；13、推杆电机；14、推板；15、安装架；16、显示器；17、上位机；18、微电脑时控开关。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本实用新型所保护的范围。

参见图1所示，本实用新型提供的一种半导体封装良品检测装置，包括机架1和设置在机架1下端的带式输送机2，带式输送机2上沿着输送带的移动方向一字型排列有多个待检品4；机架1上端竖直固定安装有滑轨6，滑轨6内上下滑动安装有用于对待检品4进行超声扫描检测的超声扫描检测装置8，通过该超声扫描检测装置8检测出待检品4中的不良品和良品；滑轨6上端固定安装有用于推动超声扫描检测装置8沿着滑轨6上下滑动的电液推杆7；

参见图1-图5所示，机架1下端安装有用于检测待检品4是否来到超声扫描检测装置8正下方的光电开关11和用于剔除检测到的不良品的剔除机构12，该光电开关11与电液推杆7和带式输送机2电连接，当待检品4来到超声扫描检测装置8正下方时，光电开关11控制带式输送机2暂停使待检品4停留在超声扫描检测装置8正下方，然后，光电开关11控制电液推杆7动作推动超声扫描检测装置8下降对待检品4进行超声扫描检测；

参见图1所示，机架1上还固定安装有用于显示超声扫描检测装置8的检查结果的显示器16和与超声扫描检测装置8电连接的上位机17，上位机17一侧电连接有微电脑时控开关18；超声扫描检测装置8将检测结果显示在显示器16上并传递给上位机17，上位机17根据该检测数据给微电脑时控开关18发送控制指令，微电脑时控开关18根据指令控制剔除机构12动作将不良品从带式输送机2上剔除掉。

作为可选的实施方式，带式输送机2的输送带上安装有多个检测座3，每个检测座3上放置有一个待检品4；

超声扫描检测装置8下端安装有检测罩9，检测罩9下端与检测座3接触，通过检测罩9和检测座3将待检品4与外界隔离后再进行超声扫描检测，以提升超声扫描检测装置8的信噪比；

检测罩9下表面安装有多个与超声扫描检测装置8电连接的按压开关10，当检测罩9下表面与检测座3接触时，按压开关10受压，并接通超声扫描检测装置8的电路连接，超声扫描检测装置8便开始对待检品4进行超声扫描检测。

检测座3的上表面开设有卡槽5，检测罩9下端插入卡槽5内并与检测座3密封连接，这样设计，方便检测罩9与检测座3密封连接。

剔除机构12包括与机架1固定连接的安装架15和水平安装在安装架15上的推杆电机13，推杆电机13与微电脑时控开关18电连接，推杆电机13的推杆头上安装有推板14，推板14在推杆电机13的推动下将不良品从带式输送机2上推掉。

采用以上技术方案，使用时，先启动带式输送机2将待检品4向超声扫描检测装置8输送，然后通过超声扫描检测装置8对待检品4进行超声扫描检测，同时超声扫描检测装置8将检测结果显示在显示器16上并传递给上位机17，上位机17根据该检测数据给微电脑时控开关18发送控制指令(若检测显示为良品，则给微电脑时控开关18发送剔除机构12不动作的控制指令，若检测显示为不良品，则给微电脑时控开关18发送剔除机构12动作的控制指令)，微电脑时控开关18根据指令控制剔除机构12动作将不良品从带式输送机2上剔除掉；具体工作步骤为：当待检品4来到超声扫描检测装置8正下方时，光电开关11检测到待检品4，然后，光电开关11控制带式输送机2暂停使待检品4停留在超声扫描检测装置8正下方，之后，光电开关11控制电液推杆7动作推动超声扫描检测装置8下降，按压开关10触碰到检测座3时，说明检测罩9已经插入卡槽5中并与接触座密封连接，此时按压开关10接通超声扫描检测装置8的电路连接，超声扫描检测装置8便开始对待检品4进行超声扫描检测，检测所需时间由微电脑时控开关18进行控制，操作者可提前操作微电脑时控开关18将检测时间设定好，这样，当检测完成后，微电脑时控开关18能够自动控制超声扫描检测装置8停止检测并使电液推杆7带动超声扫描检测装置8上升离开待检品4，而超声扫描检测装置8上升速度和距离均属于已知定值，因此可提前将超声扫描检测装置8上升所需时间输入微电脑时控开关18中，这样，当超声扫描检测装置8上升至规定高度后，微电脑时控开关18自动控制超声扫描检测装置8停止上升，同时微电脑时控开关18控制带式输送机2继续转动带动检测过的待检品4从超声扫描检测装置8正下方离开，而待检品4的移动速度固定，因此其从超声扫描检测装置8正下方移动至剔除机构12所花费的时间是固定的，故可提前将该时间输入到微电脑时控开关18中，这样，当待检品4移动至剔除机构12正前方时，微电脑时控开关18控制推杆电机13动作推动推板14将不良品从带式输送机2上推掉。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。