针脚自锁紧组件、电连接装置及其使用方法与流程

1.本发明涉及一种针脚自锁紧组件、电连接装置及其使用方法。


背景技术：

2.电子产品的快速发展使其在各个领域的应用越来越广泛，更多的产品引入电子元件以完成其多种多样的功能，导致电子元件在产品中的占比逐渐增加，功能上趋于多样，结构上也越来越复杂。所以为了判断电子元件是否可以完成其设计功能，对其性能的检测就尤为重要。检测过程中，连接结构作为测试设备与电子件互连互通的接触点，具有供电导通、传输信号等重要作用。插接式是常见的测试连接结构，但是在插拔过程中针脚会划伤器件表面，同时也容易因为插拔操作不当造成针脚弯折等损坏，这都使现有的测试连接结构不能满足测试要求。


技术实现要素：

3.本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中插接式的测试连接结构，无法做到电子器件的无伤测试缺陷，提供一种针脚自锁紧组件、电连接装置及其使用方法。
4.本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
5.本发明公开了一种针脚自锁紧组件，用于固定电子元件的针脚，所述针脚自锁紧组件包括：夹紧件，所述夹紧件具有开口，所述开口用于插入所述针脚，所述夹紧件能夹紧或松开所述针脚；锁紧件，所述锁紧件被设置成能在第一位置和第二位置切换，在所述第一位置，所述夹紧件夹紧所述针脚；在所述第二位置，所述夹紧件松开所述针脚。
6.在本方案中，针脚插入夹紧件的开口内，并且通过改变开口的大小，使得夹紧件夹紧或松开针脚。当锁紧件处于第一位置时，夹紧件保持夹紧针脚的状态；当锁紧件处于第二位置时，夹紧件可以松开针脚，使得针脚可以从夹紧件上取下。采用上述结构形式，可以防止在插拔针脚的过程中，因插拔操作不当造成针脚弯折等损坏，并且可以防止针脚划伤器件表面。
7.较佳地，所述针脚自锁紧组件还包括调节件，所述调节件具有调节孔，所述夹紧件设于所述调节孔内，所述夹紧件能相对所述调节件沿所述调节孔的轴向移动并改变所述开口的大小。
8.在本方案中，通过夹紧件与调节孔相对运动，来改变夹紧件开口的大小。采用上述结构形式，提高了夹紧件开口的可控性。
9.较佳地，所述夹紧件包括第一夹紧片和第二夹紧片，所述第一夹紧片与所述第二夹紧片连接形成v形结构。
10.在本方案中，采用上述结构形式，第一夹紧片和第二夹紧片连接形成v形结构，并且第一夹紧片可以相对第二夹紧片向靠近或远离第二夹紧片的方向运动，以改变v形结构开口的大小。
11.较佳地，所述第一夹紧片和/或所述第二夹紧片位于所述v形结构的开口端具有凹
槽，所述凹槽与所述针脚的直径相适配；
12.和/或，所述第一夹紧片自所述v形结构的闭合端到开口端的长度大于所述第二夹紧片自所述v形结构的闭合端到开口端的长度。
13.在本方案中，通过与针脚相适配的凹槽，增加了第一夹紧片和/或第二夹紧片与针脚的接触面积。采用上述结构形式，提高了夹紧件夹紧针脚的稳定性；第一夹紧片的长度大于第二夹紧片的长度，可以防止v形结构的两个开口端在贴合时，还无法将针脚夹紧。采用上述结构形式，提高了夹紧件夹紧针脚的牢固性。
14.较佳地，所述针脚自锁紧组件还包括壳体，所述夹紧件远离开口的一端伸入所述壳体内，所述锁紧件设于所述壳体内，所述锁紧件与所述夹紧件连接，所述壳体内具有第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽设于所述第一位置，所述第二卡槽设于所述第二位置，所述第一卡槽和所述第二卡槽之间通过导滑槽连通，所述锁紧件能在所述导滑槽内滑动。
15.在本方案中，壳体可以为夹紧件和锁紧件提供支撑与固定，同时保证了夹紧件和锁紧件与外界绝缘。导滑槽将第一卡槽和第二卡槽连通，通过导滑槽方便了锁紧件在第一卡槽和第二卡槽之间的切换。锁紧件与夹紧件连接，当锁紧件在导滑槽内滑动时，夹紧件产生沿调节孔轴向方向的运动，使得调节孔通过挤压或松开v形结构，调节v形结构的开口。锁紧件向靠近第一卡槽的位置运动时，调节孔挤压v形结构，v形结构的开口变小。当锁紧件处于第一卡槽时，夹紧件夹紧针脚，并可以保持夹紧状态；锁紧件向靠近第二卡槽的位置运动时，调节孔松开v形结构，v形结构的开口变大，最后v形结构恢复到初始开口的大小。当锁紧件处于第二卡槽时，夹紧件松开针脚，针脚可以从夹紧件上取下。采用上述结构形式，壳体在保护夹紧件和锁紧件的前提下，可以为锁紧件的运动提供导滑槽，并且锁紧件还可以锁紧于壳体上，无需额外的导滑槽和卡槽即可实现锁紧件的锁紧以及针脚的夹紧，提高了针脚自锁紧组件的紧凑性。
16.较佳地，所述针脚自锁紧组件还包括弹性件，所述弹性件用于对所述锁紧件施加从所述第一卡槽滑动到所述第二卡槽的作用力。
17.在本方案中，在锁紧件向第一卡槽运动的过程中，弹性件可以存储能量，并且锁紧件处于第一卡槽位置时，弹性件存储的能量达到了最大值；在锁紧件向第二卡槽运动时，弹性件可以将存储的能量释放出来，保证了锁紧件能够回到第二卡槽位置，使得夹紧件松开针脚。
18.较佳地，所述弹性件为弹片，所述弹片的一端与所述夹紧件连接，所述弹片的另一端连接所述壳体。
19.在本方案中，采用上述结构形式，夹紧件向靠近与弹片抵接的壳体端面运动，弹片被压缩，并且在弹片的作用下可以使得夹紧件回弹到第二位置。
20.较佳地，所述导滑槽包括第一导滑槽和第二导滑槽，所述第一导滑槽用于所述锁紧件自所述第二卡槽滑向所述第一卡槽，所述第二导滑槽用于所述锁紧件自所述第一卡槽滑向所述第二卡槽，所述第一导滑槽和所述第二导滑槽组成闭合回路。
21.在本方案中，第一导滑槽和第二导滑槽组成闭合回路。采用上述结构形式，可以使得锁紧件循环运动于第一卡槽和第二卡槽之间，进而使得夹紧件可以循环进行夹紧和松开针脚的运动。
22.较佳地，所述导滑槽包括内导滑面和外导滑面，所述内导滑面包括首尾依次相连
的第一内曲面、第一内平面、第二内曲面、第二内平面和第三内曲面，所述第三内曲面与所述第一内曲面连接，所述第一内平面与所述第二内平面平行，所述第二内曲面与所述第二内平面连接并形成所述第一卡槽；所述外导滑面包括首尾依次相连的第一外曲面、第一外平面、第二外曲面、第二外平面、第三外曲面、第三外平面、第四外曲面，所述第四外曲面与所述第一外曲面连接形成所述第二卡槽，所述第一外平面与所述第一内平面平行且相对设置形成通道，所述第二外平面设于所述第二内曲面的中部下方且与所述第一外平面平行，所述第二外曲面和所述第三外曲面均向远离所述第二卡槽的方向延伸。
23.在本方案中，采用上述结构形式，在本方案中，第一内曲面和第一外曲面组成了向下凹陷的圆弧状导滑槽，方便了锁紧件的滑动；第一内平面和第一外平面组成了竖直状导滑槽，可以为锁紧件的运动提供较大的动能；锁紧件自竖直状导滑槽进入第二外曲面与内导滑面间的间隙组成的导滑槽中。由于圆弧状导滑槽呈平滑的向下凹陷的圆弧状，并且锁紧件在上一阶段运动产生了动能，使得锁紧件可以顺利滑动到第二外曲面和第二外平面的连接处。停止按压锁紧件，锁紧件在弹性件的作用下沿第二外平面，进入第二内曲面中，并沿第二内曲面滑入第一卡槽内。继续按压锁紧件，锁紧件沿第二内平面滑动后并滑入第三外曲面上，然后沿着第三外曲面滑到第三外曲面与第三外平面连接处，停止按压锁紧件，锁紧件在弹性件的作用下，从第三外平面以及第四外曲面与第三内曲面所组成的圆弧状导滑槽后滑入第二卡槽。
24.较佳地，所述锁紧件包括导杆，所述导杆的一端与所述夹紧件铰接，所述导杆的另一端与所述导滑槽滑动连接。
25.在本方案中，采用上述结构形式，由于第一导滑槽和第二导滑槽组成闭合回路，而导杆与夹紧件转动连接，使得导杆可以在导滑槽滑动，不会出现导杆卡死的现象。
26.较佳地，所述针脚自锁紧组件还包括电连接件，所述电连接件的一端与所述夹紧件内的针脚电连接，所述电连接件的另一端用于与外部测试设备电连接。
27.在本方案中，采用上述结构形式，通过电连接件实现夹紧件内针脚与外部测试设备的电连接，进而对针脚进行性能测试。
28.较佳地，所述夹紧件与所述针脚接触的表面具有导电层，所述电连接件与所述夹紧件电连接。
29.在本方案中，采用上述结构形式，通过导电层，增加了针脚与夹紧件的导电性。
30.本发明还公开了一种用于电子元件测试的电连接装置，包括多个针脚自锁紧组件，多个所述针脚自锁紧组件的位置与所述电子元件的多个所述针脚的位置一一对应。
31.在本方案中，每一个针脚自锁紧组件都可以独立完成锁紧连接功能，不会受到针脚形状、数量、位置的限制，只需按照针脚的各项特征进行排布针脚自锁紧组件，并且两者相互配合即可。采用上述结构形式，解决了由于针脚多样性造成的测试不便的问题。
32.本发明继续公开了一种电连接装置的使用方法，采用电连接装置连接所述电子元件和测试设备，所述使用方法包括以下步骤：s1、将电子元件的多个针脚分别插入所述电连接装置对应的多个所述针脚自锁紧组件中，将所述锁紧件切换至所述第一位置使所述夹紧件夹紧所述针脚；s2、将每个所述针脚对应的电连接件与外部测试设备电连接，对所述电子元件进行测试；s3、测试结束后，将所述电连接件从外部测试设备上移除，将所述锁紧件切换至所述第二位置使所述夹紧件松开所述针脚，将电子元件从所述电连接装置上取下。
33.在本方案中，采用上述结构形式，将电子元件的多个针脚分别插入所述电连接装置对应的多个所述针脚自锁紧组件中，按压电子元件，使得导杆自第二卡槽位置向第一卡槽位置移动。在运动过程中，夹紧件沿调节孔的轴向向下运动，进而调节孔按压夹紧件，使得v形结构的开口变小。当导杆到达第一卡槽时，夹紧件夹紧针脚，进而可以对电子元件进行测试。测试完成后，继续按压电子元件，导杆脱离第一卡槽，在弹性件的作用下，导杆回到第二卡槽位置，夹紧件松开针脚。
34.本发明的积极进步效果在于：
35.通过将锁紧件被设置成可以在第一位置和第二位置之间来回切换，并使锁紧件处于第一位置时，夹紧件保持夹紧针脚的状态，锁紧件处于第二位置时，夹紧件可以松开针脚，使得针脚可以从夹紧件上轻松取下。采用上述结构形式，可以防止在插拔针脚的过程中，因插拔操作不当造成针脚弯折等损坏，并且可以防止针脚划伤器件表面。
附图说明
36.图1为本发明实施例提供的一种针脚自锁紧组件的示意图；
37.图2为本发明实施例提供的一种壳体示意图；
38.图3为本发明实施例提供的一种弹性件示意图；
39.图4为本发明实施例提供的一种用于电子元件测试的电连接装置；
40.图5为本发明实施例提供的另一种用于电子元件测试的电连接装置。
41.附图标记说明：
42.针脚自锁紧组件1
43.夹紧件11
44.开口111
45.第一夹紧片112
46.第二夹紧片113
47.凹槽114
48.锁紧件12
49.导杆121
50.调节件13
51.调节孔131
52.壳体14
53.导滑槽141
54.内导滑面1411
55.第一内曲面14111
56.第一内平面14112
57.第二内曲面14113
58.第二内平面14114
59.第三内曲面14115
60.外导滑面1412
61.第一外曲面14121
62.第一外平面14122
63.第二外曲面14123
64.第二外平面14124
65.第三外曲面14125
66.第三外平面14126
67.第四外曲面14127
68.第一卡槽1413
69.第二卡槽1414
70.弹性件15
71.弹片151
72.电连接件16
73.电连接装置100
具体实施方式
74.下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在以下的实施例范围之中。
75.本实施例提供了一种针脚自锁紧组件1，用于固定电子元件的针脚。解决了插接式的测试连接结构在插拔过程中划伤器件表面，同时也容易因为插拔操作不当造成针脚弯折等损坏的问题。
76.如图1至图3所示，针脚自锁紧组件1包括夹紧件11和锁紧件12。夹紧件11具有针脚可以插入的开口111，并且开口111的大小改变，使得夹紧件11夹紧或松开针脚。当锁紧件12处于第一位置时，夹紧件11保持夹紧针脚的状态；当锁紧件12处于第二位置时，夹紧件11可以松开针脚，使得针脚而可以自夹紧件11上取下。采用上述结构形式，可以防止在插拔针脚的过程中，因插拔操作不当造成针脚弯折等损坏，并且可以防止针脚划伤器件表面。本实施例作为一种示意性表达，采用上述结构形式实现针脚的夹紧。在其他可替代的实施例中，也可以采用任何适用于此的方式。
77.在具体使用时，针脚可以插入夹紧件11的尺寸应小于针脚长度，避免了夹紧件11与针脚之外的结构接触。夹紧件11具有夹紧和连接导通针脚的作用，并且夹紧件11的材料可以为高性能的弹性金属材料。
78.针脚自锁紧组件1还包括调节件13，并且调节件13具有调节孔131。夹紧件11设于调节孔131内，并且夹紧件11能相对调节件13沿调节孔131的轴向移动以改变开口111的大小。采用上述结构形式，提高了夹紧件11开口111的可控性。
79.在具体使用时，调节孔131可以限制夹紧件11开口111角度和松紧程度，并且调节孔131的大小可以根据针脚形状和尺寸而确定。
80.请参阅图3进行理解，夹紧件11包括第一夹紧片112和第二夹紧片113，并且第一夹紧片112与第二夹紧片113连接形成v形结构。采用上述结构形式，第一夹紧片112可以相对第二夹紧片113向靠近或远离第二夹紧片113的方向运动，以改变v形结构开口111的大小。
81.在具体使用时，第一夹紧片112和第二夹紧片113可以一体成型。即，夹紧件11通过折弯形成v形结构。当然，在其他实施例中，也可以通过第一夹紧片112和第二夹紧片113为
分体设置，并且第一夹紧片112和第二夹紧片113连接形成v形结构。
82.为了提高夹紧件11夹紧针脚的稳定性，v形结构的开口端可以有以下几种情况。第一、第一夹紧片112位于v形结构的开口端具有凹槽114，并且第二夹紧片113位于v形结构的开口端没有凹槽114；第二、第二夹紧片113位于v形结构的开口端具有凹槽114，并且第一夹紧片112位于v形结构的开口端没有凹槽114；第三、第一夹紧片112和第二夹紧片113位于v形结构的开口端均具有凹槽114。以上几种情况中所提及的凹槽114均可以与针脚的直径相匹配。
83.在具体使用时，优选第一夹紧片112和第二夹紧片113位于v形结构的开口端均具有凹槽114。采用上述结构形式，提高了夹紧件11夹紧针脚的稳定性。
84.请参阅图3进行理解，为了提高夹紧件11夹紧针脚的稳定性，第一夹紧片112自v形结构的闭合端到开口端的长度大于第二夹紧片113自v形结构的闭合端到开口端的长度。采用上述结构形式，可以防止v形结构的两个开口端在贴合时，还无法将针脚夹紧。本实施例作为一种示意性表达，采用上述结构形式提高夹紧针脚的稳定性。在其他可替代的实施例中，也可以采用任何适用于此的方式。例如，第二夹紧片113自v形结构的闭合端到开口端的长度大于第一夹紧片112自v形结构的闭合端到开口端的长度。
85.在具体使用时，v形结构设于调节孔131内，当v形结构的开口端向靠近调节孔131靠近时，v形结构的开口111会由于调节孔131的挤压而变小；当v形结构的开口端向远离调节孔131的方向运动时，调节孔131对于v形结构的挤压的作用力变小，v形结构的开口111变大，直至v形结构的开口111回至初始开口111大小。
86.请参阅图1和图2进行理解，针脚自锁紧组件1还包括壳体14，并且夹紧件11远离开口111的一端伸入壳体14内。锁紧件12设于壳体14内，并且锁紧件12与夹紧件11连接。当锁紧件12在导滑槽141内滑动时，夹紧件11相对调节孔131产生沿调节孔131轴向方向的运动，使得调节孔131可以通过挤压或松开v形结构，调节v形结构开口111的大小。壳体14内具有设置于第一位置的第一卡槽1413和设置于第二位置的第二卡槽1414，并且导滑槽141将第一卡槽1413和第二卡槽1414连通。通过导滑槽141方便了锁紧件12在第一卡槽1413和第二卡槽1414之间切换。锁紧件12与夹紧件11连接，锁紧件12向靠近第一卡槽1413的位置运动时，调节孔131挤压v形结构，v形结构的开口111变小。锁紧件12向靠近第二卡槽1414的位置运动时，调节孔131松开v形结构，v形结构的开口111变大，最后v形结构可以恢复初始开口111大小。当锁紧件12处于第二卡槽1414时，夹紧件11松开针脚，针脚可以自夹紧件11上取下。采用上述结构形式，壳体14在保护夹紧件11和锁紧件12的前提下，还可以为锁紧件12的运动提供导滑槽141，并且锁紧件12还可以锁紧于壳体14上，无需额外的导滑槽141和卡槽即可实现针脚的夹紧，提高了针脚自锁紧组件1的紧凑性。通过壳体14可以为夹紧件11和锁紧件12提供支撑与固定，同时也保证夹紧件11和锁紧件12与外界绝缘。
87.在具体使用时，壳体14的材料不限于树脂、尼龙。壳体14的延伸方向与调节孔131轴向方向相同，可以方便锁紧件12在壳体14内运动的同时，调节孔131也可以调节v形结构的开口111大小。
88.请参阅图1和图3进行理解，针脚自锁紧组件1还包括弹性件15，并且弹性件15可以用于对锁紧件12施加从第一卡槽1413滑动到第二卡槽1414的作用力。在锁紧件12向第一卡槽1413运动的过程中，弹性件15可以存储能量，并且锁紧件12处于第一卡槽1413位置时，弹
性件15存储的能量达到了最大值；在锁紧件12向第二卡槽1414运动时，弹性件15可以将存储的能量释放出来，提供了弹性件15回弹的能量。采用上述结构形式，保障了弹性件15顺利完成回弹。本实施例作为一种示意性表达，通过弹性件15提供从第一卡槽1413回到第二卡槽1414的作用力。在其他可替代的实施例中，也可以采用任何适用于此的方式。
89.弹性件15为弹片151，并且弹片151的一端与夹紧件11连接，弹片151的另一端连接壳体14。采用上述结构形式，夹紧件11向靠近与弹片151抵接的壳体14端面运动，弹片151被压缩，并且在碳片151的作用下夹紧件11回弹到初始位置。弹片151的长度、弧度等特征根据针脚插入深度确定。
90.在具体使用时，弹片151的数量为一个，也可以为多个。弹片151的数量增加，稳定性增加，但挤压弹片151的难度也会增加。优选弹片151的数量为两个，两个弹片151围成环形。
91.请参阅图1和图2进行理解，导滑槽141包括第一导滑槽和第二导滑槽。第一导滑槽用于锁紧件12自第二卡槽1414滑向第一卡槽1413，而第二导滑槽用于锁紧件12自第一卡槽1413滑向第二卡槽1414，并且第一导滑槽和第二导滑槽组成闭合回路。采用上述结构形式，可以使得锁紧件12可以循环运动于第一卡槽1413和第二卡槽1414之间，进而使得夹紧件11可以循环进行夹紧和松开针脚的运动。本实施例作为一种示意性表达，将第一导滑槽和第二导滑槽组成闭合回路。在其他可替代的实施例中，也可以采用任何适用于此的方式。例如，第一导滑槽和第二导滑槽未组成闭合回路，在使用时，可以将夹紧件11由导滑槽141的末端调到导滑槽141的始端，继续进行夹紧和松开针脚的运动；也可以将夹紧件11由导滑槽141的末端运动到始端，进行夹紧和松开针脚的运动。
92.请参阅图2进行理解，导滑槽141包括内导滑面1411和外导滑面1412，内导滑面1411包括首尾依次相连的第一内曲面14111、第一内平面14112、第二内曲面14113、第二内平面14114和第三内曲面14115。第三内曲面14115与第一内曲面14111连接，第一内平面14112与第二内平面14114平行，并且第二内曲面14113与第二内平面14114连接并形成第一卡槽1413。外导滑面1412包括首尾依次相连的第一外曲面14121、第一外平面14122、第二外曲面14123、第二外平面14124、第三外曲面14125、第三外平面14126、第四外曲面14127。第四外曲面14127与第一外曲面14121连接形成第二卡槽1414，第一外平面14122与第一内平面14112平行且相对设置形成通道。第二外平面14124设于第二内曲面14113的中部下方且与第一外平面14122平行。第二外曲面14123和第三外曲面14125均向远离第二卡槽1414的方向延伸。在本方案中，第一内曲面14111和第一外曲面14121组成了向下凹陷的圆弧状导滑槽，方便了锁紧件12的滑动；第一内平面14112和第一外平面14122组成了竖直状导滑槽，可以为锁紧件12的运动提供较大的动能；锁紧件12自竖直状导滑槽进入第二外曲面14123与内导滑面1411间的间隙组成的导滑槽中。由于圆弧状导滑槽呈平滑的向下凹陷的圆弧状，并且锁紧件12在上一阶段运动产生了动能，使得锁紧件12可以顺利滑动到第二外曲面14123和第二外平面14124的连接处。停止按压锁紧件12，锁紧件12在弹性件15的作用下沿第二外平面14124，进入部分第二内曲面14113中，并沿第二内曲面14113滑入第一卡槽1413内。继续按压锁紧件12，锁紧件12沿第二内平面14114滑动后并滑入第三外曲面14125上，然后沿着第三外曲面14125滑到第三外曲面14125与第三外平面14126连接处，停止按压锁紧件12，锁紧件12在弹性件15的作用下，从第三外平面14126以及第四外曲面14127与第三内
曲面14115所组成的圆弧状导滑槽后滑入第二卡槽1414。
93.请参阅图1进行理解，锁紧件12包括导杆121。导杆121的一端与夹紧件11铰接，并且导杆121的另一端与导滑槽141滑动连接。采用上述结构形式，由于第一导滑槽和第二导滑槽组成闭合回路，而导杆121与夹紧件11铰接，使得夹紧件11可以在导滑槽141滑动，保证了导杆121不出现卡死的现象。
94.在具体使用时，导杆121包括铰接部分、连接部分和滑动部分，并且铰接部分、连接部分和滑动部分依次连接。其中，铰接部分与夹紧件11铰接，并且滑动部分与导滑槽141滑动连接。导杆121在针脚插入过程中往复于壳体14内壁上的导滑槽141中，交替卡在高低两个卡位处，从而实现自锁紧功能。
95.请参阅图1和图3进行理解，针脚自锁紧组件1还包括电连接件16，并且电连接件16的一端与夹紧件11内的针脚电连接，电连接件16的另一端用于与外部测试设备电连接。采用上述结构形式，通过电连接件16实现夹紧件11内针脚与外部测试设备的电连接，进而对针脚进行性能测试。
96.在具体使用时，夹紧件11、弹性件15以及电连接件16可以一体成型，省去了焊接工艺，提高了连接的稳定性。
97.夹紧件11与针脚接触的表面具有导电层，并且电连接件16与夹紧件11电连接。采用上述结构形式，通过导电层，增加了针脚与夹紧件11的导电性。
98.在具体使用时，由于夹紧件11、弹性件15以及电连接件16可以一体成型，需要弹性件15可以导电。采用上述结构形式，提高了弹性件15结构的紧凑性。
99.本实施例还提供了一种用于电子元件测试的电连接装置100，如图4和图5所示。电连接装置包括多个针脚自锁紧组件1，并且多个针脚自锁紧组件1的位置与电子元件的多个针脚的位置一一对应。每一个针脚自锁紧组件1都可以独立完成锁紧连接功能，不会受到针脚形状、数量、位置的限制，只需按照针脚的各项特征进行排布针脚自锁紧组件1，并且两者相互配合即可。采用上述结构形式，解决了由于针脚多样性造成的测试不便的问题。
100.在具体使用时，针脚自锁紧组件1在水平方向上的尺寸，应不大于针脚排布的间距，以保证每个单元之间互补影响，且能够独立完成锁紧功能。
101.本实施例继续提供了一种电连接装置的使用方法，采用电连接装置连接电子元件和测试设备。使用方法包括以下步骤：s1、将电子元件的多个针脚分别插入电连接装置对应的多个针脚自锁紧组件1中，将锁紧件12切换至第一位置使夹紧件11夹紧针脚；s2、将每个针脚对应的电连接件16与外部测试设备电连接，对电子元件进行测试；s3、测试结束后，将电连接件16从外部测试设备上移除，将锁紧件12切换至第二位置使夹紧件11松开针脚，将电子元件从电连接装置上取下。采用上述结构形式，将电子元件的多个针脚分别插入电连接装置对应的多个针脚自锁紧组件1中，按压电子元件，使得导杆121自第二卡槽1414位置向第一卡槽1413位置移动。在运动过程中，夹紧件11沿调节孔131的轴向向下运动，进而调节孔131按压夹紧件11，使得v形结构的开口111变小。该过程中弹性件15被压缩。当导杆121到达第一卡槽1413时，夹紧件11夹紧针脚，进而可以对电子元件进行测试。测试完成后，继续按压电子元件，使导杆121脱离第一卡槽1413，弹性件15被解除限制产生回弹带动导杆移动，使得导杆121回到第二卡槽1414位置，夹紧件11松开针脚。
102.请参阅图4进行理解，针对ingaas面阵探测器的性能测试，根据针脚特征进行锁紧
结构的配置。其中探测器的针脚数量为21针，单针直径φ0.45mm，双排10+11错位分布，排间距1.27mm，针间距1.6mm；本实施例中配置的自锁紧结构水平是尺寸为1.6
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1.27mm，壳体14材料为高韧性树脂，采用3d打印方式制成，弹片151最大开口111间距0.55mm，材料采用高性能弹簧钢，表面镀ni/au，最外层au的厚度不小于0.75μm。
103.请参阅图5进行理解，在clcc/fpa封装形式下ingaas面阵探测器的连接锁紧结构的应用情况。本实施例中，针对ingaas面阵探测器的性能测试，根据针脚特征进行锁紧结构的配置。其中探测器的针脚数量为36针，单针直径0.6mm，单排9针、围绕探测器四周分布，针间距2.54,。本实施例中配置的自锁结构，每单元的水平是尺寸为2.4
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2.4mm，，壳体14材料为高韧性树脂，采用3d打印方式制成，弹片151最大开口111间距0.55mm，材料采用高性能弹簧钢，表面镀ni/au，最外层au的厚度不小于0.75μm。按照2.54mm的间距排列，外围使用环氧树脂填充固定，形成图中所示外形结构。
104.虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。