本发明涉及集成电路,特别涉及一种并联倒比尺寸电阻。
背景技术:
1、作为一种常见的无源元件,电阻在模拟集成电路设计、数字集成电路设计技术领域应用广泛。电阻尺寸设计通常采用电阻的长度大于电阻的宽度(即l>w),这严重限制了小阻值电阻的实现,特别是当电阻的长度远大于电阻的宽度(如l/w=50/2)、电阻的方块阻值较大、电阻的方块阻值在不同工艺角下变化率较大时,这已经成为当前亟需解决的问题。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种并联倒比尺寸电阻,以解决背景技术中的问题。
2、为解决上述技术问题,本发明提供了一种并联倒比尺寸电阻,包括倒比尺寸电阻r1和倒比尺寸电阻r2,所述倒比尺寸电阻r1、所述倒比尺寸电阻r2在电学关系上并联;
3、所述倒比尺寸电阻r1和所述倒比尺寸电阻r2的功能均是分流。
4、在一种实施方式中,所述倒比尺寸电阻r1的长度l1小于所述倒比尺寸电阻r1的宽度w1,即l1<w1。
5、在一种实施方式中,所述倒比尺寸电阻r2的长度l2小于所述倒比尺寸电阻r2的宽度w2,即l2<w2。
6、在一种实施方式中,所述倒比尺寸电阻r1的长度l1等于所述倒比尺寸电阻r2的长度l2,即l1=l2;所述倒比尺寸电阻r1的宽度w1不等于所述倒比尺寸电阻r2的宽度w2,即w1≠w2。
7、在一种实施方式中,所述倒比尺寸电阻r1、所述倒比尺寸电阻r2采用同种类型电阻,电阻类型包括n型多晶电阻、p型多晶电阻、n型注入电阻、p型注入电阻。
8、在一种实施方式中,所述倒比尺寸电阻r1、所述倒比尺寸电阻r2采用同种类型电阻,并且其方块阻值r□适当,而且不同电阻工艺角下方块阻值变化率较小。
9、在一种实施方式中,所述倒比尺寸电阻r1的阻值为r1=l1/w1r□=l/w1r□,所述倒比尺寸电阻r2的阻值为r2=l2/w2r□=l/w2r□,并联形成的所述并联倒比尺寸电阻r的阻值为r=r1∥r2=r1r2/(r1+r2)=l/w1r□l/w2r□/(l/w1r□+l/w2r□)=l/(w1+w2)r□。
10、在一种实施方式中,所述并联倒比尺寸电阻的阻值r能够根据需要选用电阻类型,或调整所述倒比尺寸电阻r1的长度l1、所述倒比尺寸电阻r2的长度l2,或调整所述倒比尺寸电阻r1的宽度w1与所述倒比尺寸电阻r2的宽度w2之和灵活设计。
11、在本发明提供的一种并联倒比尺寸电阻中,包括倒比尺寸电阻r1和倒比尺寸电阻r2,所述倒比尺寸电阻r1、所述倒比尺寸电阻r2在电学关系上并联。本发明能够通过倒比尺寸电阻设计,实现可以灵活设计的小阻值电阻。
1.一种并联倒比尺寸电阻,其特征在于,包括倒比尺寸电阻r1和倒比尺寸电阻r2,所述倒比尺寸电阻r1、所述倒比尺寸电阻r2在电学关系上并联;
2.如权利要求1所述的并联倒比尺寸电阻,其特征在于,所述倒比尺寸电阻r1的长度l1小于所述倒比尺寸电阻r1的宽度w1,即l1<w1。
3.如权利要求1所述的并联倒比尺寸电阻,其特征在于,所述倒比尺寸电阻r2的长度l2小于所述倒比尺寸电阻r2的宽度w2,即l2<w2。
4.如权利要求1所述的并联倒比尺寸电阻,其特征在于,所述倒比尺寸电阻r1的长度l1等于所述倒比尺寸电阻r2的长度l2,即l1=l2;所述倒比尺寸电阻r1的宽度w1不等于所述倒比尺寸电阻r2的宽度w2,即w1≠w2。
5.如权利要求1所述的并联倒比尺寸电阻,其特征在于,所述倒比尺寸电阻r1、所述倒比尺寸电阻r2采用同种类型电阻,电阻类型包括n型多晶电阻、p型多晶电阻、n型注入电阻、p型注入电阻。
6.如权利要求5所述的并联倒比尺寸电阻,其特征在于,所述倒比尺寸电阻r1、所述倒比尺寸电阻r2采用同种类型电阻,并且其方块阻值r□适当,而且不同电阻工艺角下方块阻值变化率较小。
7.如权利要求6所述的并联倒比尺寸电阻,其特征在于,所述倒比尺寸电阻r1的阻值为r1=l1/w1r□=l/w1r□,所述倒比尺寸电阻r2的阻值为r2=l2/w2r□=l/w2r□,并联形成的所述并联倒比尺寸电阻r的阻值为r=r1∥r2=r1r2/(r1+r2)=l/w1r□l/w2r□/(l/w1r□+l/w2r□)=l/(w1+w2)r□。
8.如权利要求1所述的并联倒比尺寸电阻,其特征在于,所述并联倒比尺寸电阻的阻值r能够根据需要选用电阻类型,或调整所述倒比尺寸电阻r1的长度l1、所述倒比尺寸电阻r2的长度l2,或调整所述倒比尺寸电阻r1的宽度w1与所述倒比尺寸电阻r2的宽度w2之和灵活设计。