光检测装置和电子设备的制作方法

本发明涉及光检测装置和电子设备。

背景技术：

1、通常，提出了具有允许四个相邻的光电转换单元共用一个微透镜的结构的光检测装置(例如，参照专利文献1)。在专利文献1所述的光检测装置中，能够根据四个光电转换单元的信号电荷之间的差异来计算距被摄体的距离。因此，所有像素可以用作自动对焦传感器。

2、引用文献列表

3、专利文献

4、专利文献1：日本专利申请第2013-211413特开号

技术实现思路

1、本发明要解决的问题

2、然而，在这种光检测装置中，例如在发生微透镜的重叠未对准(制造误差)时，入射光的会聚光斑的中心与四个光电转换单元的中心未对准，并且有可能在光电转换单元之间产生受光灵敏度差异(同色间灵敏度差异(inter-same-color sensitivitydifference))。

3、本发明的目的是提供一种能够减小同色间灵敏度差异的光检测装置和电子设备。

4、问题的解决方案

5、根据本发明的光检测装置包括：(a)基板，其具有布置成二维阵列的多个光电转换单元；(b)微透镜层，其布置在所述基板的靠近受光面的一侧，并且包括多个微透镜，所述多个微透镜形成为对应于包括所述导轨光电转换单元之中的至少两个相邻的光电转换单元的光电转换单元组；(c)滤色器层，其布置在所述基板和所述微透镜层之间，并且包括多个滤色器，所述滤色器透射由所述微透镜会聚的光中包含的预定波长分量的光；以及(d)低折射率层，其至少部分地布置在所述滤色器之间，并且包含空气或低折射率材料，所述低折射率材料的折射率低于相邻层的材料的折射率，(e)所述低折射率层在靠近所述微透镜的一侧具有第一宽度，并且在比具有所述第一宽度的部分更靠近所述基板的一侧具有比所述第一宽度小的第二宽度。

6、本发明的电子设备包括光检测装置，所述光检测装置包括：(a)基板，其具有布置成二维阵列的多个光电转换单元；(b)微透镜层，其布置在所述基板的靠近受光面的一侧，并且包括多个微透镜，所述多个微透镜形成为对应于包括所述导轨光电转换单元之中的至少两个相邻的光电转换单元的光电转换单元组；(c)滤色器层，其布置在所述基板和所述微透镜层之间，并且包括多个滤色器，所述滤色器透射由所述微透镜会聚的光中包含的预定波长分量的光；以及(d)低折射率层，其至少部分地布置在所述滤色器之间，并且包含空气或低折射率材料，所述低折射率材料的折射率低于相邻层的材料的折射率，(e)所述低折射率层在靠近所述微透镜的一侧具有第一宽度，并且在比具有所述第一宽度的部分更靠近所述基板的一侧具有比所述第一宽度小的第二宽度。

技术特征：

1.一种光检测装置，其包括：

2.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，

3.根据权利要求2所述的光检测装置，其中，

4.根据权利要求3所述的光检测装置，其中，

5.根据权利要求3所述的光检测装置，其中，

6.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

7.根据权利要求6所述的光检测装置，其还包括：

8.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

9.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

10.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

11.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

12.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

13.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

14.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

15.根据权利要求5所述的光检测装置，其还包括：

16.根据权利要求6所述的光检测装置，其中，

17.根据权利要求8所述的光检测装置，其中，

18.根据权利要求2所述的光检测装置，其中，

19.根据权利要求2所述的光检测装置，其中，

20.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，

21.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，

22.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，

23.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，

24.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，

25.一种包括光检测装置的电子设备，所述光检测装置包括：

技术总结
提供了一种能够降低同色间灵敏度差异的光检测装置。该装置设置有：滤色器层，其包括多个滤色器，滤色器透射由微透镜会聚的光中的预定波长分量的光；以及低折射率层，其至少部分地布置在滤色器之间并且包含低折射率材料或空气，该低折射率材料的折射率低于相邻层的材料的折射率。低折射率层在微透镜侧具有第一宽度，并且在比具有第一宽度的部分更靠近基板的一侧具有比第一宽度小的第二宽度。

技术研发人员：金圣基,守屋雄介
受保护的技术使用者：索尼半导体解决方案公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15