一种单晶片成品检测设备及其检测方法与流程

本发明涉及单晶片成品检测，具体为一种单晶片成品检测设备及其检测方法。

背景技术：

1、单晶片，一种用于制作半导体的材料。硅是地球上储藏最丰富的材料之一，从19世纪科学家们发现了晶体硅的半导体特性后，它几乎改变了一切，甚至人类的思维。直到20世纪60年代开始，硅材料就取代了原有锗材料。硅材料，因其耐高温和抗辐射性能较好，特别适宜制作大功率器件的特性而成为应用最多的一种半导体材料，集成电路半导体器件大多数是用硅材料制造的。

2、在对单晶片进行制造过程中，需要对其成品进行质量检测，进而判断其结构的完整性；现有技术中，在对单晶片体的检测过程中，需要人工手动一个一个上料，造成人工参与程度较大，不具自动化，且无法根据要求进行检测程度的调节，使用不便。

技术实现思路

1、（一）解决的技术问题

2、针对现有技术的不足，本发明提供了一种单晶片成品检测设备及其检测方法，解决了自动化程度低且使用不便的问题。

3、（二）技术方案

4、为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种单晶片成品检测设备，包括箱体、下料机构和检测机构；

5、所述箱体的左侧内壁固定连接有固定板，所述下料机构包括下料框和连接板，所述下料框贯穿于箱体的上表面左侧，所述连接板固定连接于箱体的左侧外表面，所述连接板的上表面设置有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出端固定连接有推板，所述推板推动下料框内部所放置的单晶片体的移动；

6、所述箱体的内部滑动连接有斜板，所述检测机构包括套筒，所述套筒固定连接于箱体的内底壁右侧，所述套筒的上端驱动有套杆，所述套杆的上端固定连接有弹簧，所述弹簧的上端与斜板的底部固定连接，所述箱体的右侧外表面开设有第一排料口，所述箱体的右侧外表面且位于第一排料口的下方开设有第二排料口；

7、所述箱体的正面设置有观察窗，所述箱体的正面底部铰接有箱门。

8、优选的，所述下料框的底部两侧均固定连接有垫块，所述下料框通过两个垫块与固定板固定连接。

9、优选的，所述箱体的内壁固定连接有隔板，所述隔板的中部开设有通口。

10、优选的，所述斜板的底部固定连接有滑块，所述斜板通过滑块与隔板所开设的滑槽滑动连接。

11、优选的，所述斜板的上表面两侧均固定连接有挡板。

12、优选的，所述套筒的内底壁转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆的底部外壁固定套接有第一锥齿轮，所述第一锥齿轮的侧壁啮合连接有第二锥齿轮，所述第二锥齿轮的右侧固定连接有转动轴，所述转动轴的右端贯穿至套筒的外部，且固定连接有旋钮，所述螺纹杆的外壁螺纹连接有螺纹块，所述套杆固定连接于螺纹块的上表面。

13、优选的，所述螺纹块的两侧均固定连接有限位块，所述套筒的两侧内壁均开设有限位槽，所述限位块与该限位槽滑动连接。

14、优选的，所述螺纹块的正面固定连接有导杆，所述导杆的外端贯穿至套筒的外部，且固定连接有定位块，所述套筒的正面且位于定位块的右侧设置有刻度线。

15、本发明进一步公开了一种单晶片成品检测设备的检测方法，包括以下步骤：

16、步骤一：将若干待检测的单晶片体置于下料框内，打开电动伸缩杆的开关，电动伸缩杆推动推板右移，并将最底部的单晶片体推出，并形成往复循环；

17、步骤二：单晶片体依次被推出，并落在斜板上，在单晶片体自身重力的作用下，压缩弹簧，并根据压缩量的不同，斜板会下落不同的高度，即可通过第一排料口和第二排料口排出不同等级质量的单晶片体，完成质量的检测和分类。

18、（三）有益效果

19、本发明提供了一种单晶片成品检测设备及其检测方法。具备以下有益效果：

20、1、设置有下料机构，通过将若干个单晶片体放置于下料框内，并在电动伸缩杆的往复推动作用下，推动推板右移，即可将最底部的单晶片体依次推出，并形成往复循环，完成单晶片体的依次下料，实现自动化。

21、2、通过单晶片体被推出，并落在斜板上，在单晶片体自身重力的作用下，压缩弹簧，并根据压缩量的不同，斜板会下落不同的高度，即可通过第一排料口和第二排料口排出不同等级质量的单晶片体，完成质量的检测和分类。

22、3、设置有检测机构，通过转动旋钮，在第一锥齿轮和第二锥齿轮的转动作用下，带动螺纹杆转动，进而带动螺纹块进行移动调节，即可压缩弹簧，使得弹簧最有初始势能，进而可对不同等级质量的单晶片体进行检测和分类。

技术特征：

1.一种单晶片成品检测设备，其特征在于：包括箱体（1）、下料机构（2）和检测机构（3）；

2.根据权利要求1所述的一种单晶片成品检测设备，其特征在于：所述下料框（21）的底部两侧均固定连接有垫块（26），所述下料框（21）通过两个垫块（26）与固定板（4）固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种单晶片成品检测设备，其特征在于：所述箱体（1）的内壁固定连接有隔板（5），所述隔板（5）的中部开设有通口（6）。

4.根据权利要求1所述的一种单晶片成品检测设备，其特征在于：所述斜板（7）的底部固定连接有滑块（11），所述斜板（7）通过滑块（11）与隔板（5）所开设的滑槽（12）滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种单晶片成品检测设备，其特征在于：所述斜板（7）的上表面两侧均固定连接有挡板（8）。

6.根据权利要求1所述的一种单晶片成品检测设备，其特征在于：所述套筒（31）的内底壁转动连接有螺纹杆（32），所述螺纹杆（32）的底部外壁固定套接有第一锥齿轮（36），所述第一锥齿轮（36）的侧壁啮合连接有第二锥齿轮（37），所述第二锥齿轮（37）的右侧固定连接有转动轴（38），所述转动轴（38）的右端贯穿至套筒（31）的外部，且固定连接有旋钮（39），所述螺纹杆（32）的外壁螺纹连接有螺纹块（33），所述套杆（34）固定连接于螺纹块（33）的上表面。

7.根据权利要求6所述的一种单晶片成品检测设备，其特征在于：所述螺纹块（33）的两侧均固定连接有限位块（13），所述套筒（31）的两侧内壁均开设有限位槽（14），所述限位块（13）与该限位槽（14）滑动连接。

8.根据权利要求6所述的一种单晶片成品检测设备，其特征在于：所述螺纹块（33）的正面固定连接有导杆（15），所述导杆（15）的外端贯穿至套筒（31）的外部，且固定连接有定位块（16），所述套筒（31）的正面且位于定位块（16）的右侧设置有刻度线（17）。

9.根据权利要求1所述的一种单晶片成品检测设备的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

技术总结
本发明提供一种单晶片成品检测设备及其检测方法，涉及单晶片成品检测技术领域。该单晶片成品检测设备，包括箱体、下料机构和检测机构，所述箱体的左侧内壁固定连接有固定板，所述下料机构包括下料框和连接板，所述连接板的上表面设置有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出端固定连接有推板，所述推板推动下料框内部所放置的单晶片体的移动，所述箱体的内部滑动连接有斜板，所述检测机构包括套筒，所述套筒的上端驱动有套杆，所述套杆的上端固定连接有弹簧，所述弹簧的上端与斜板的底部固定连接，所述箱体的右侧外表面开设有第一排料口和第二排料口。本发明，可对单晶片体的质量进行检测和分类，自动化程度高。

技术研发人员：李充,郭英云
受保护的技术使用者：济南科盛电子有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15