本技术涉及极耳错位检测,特别是涉及一种极耳错位检测校正方法、装置、系统、计算机设备、存储介质以及计算机程序产品。
背景技术:
1、极耳错位是电池制造过程中需要注意的一个问题。极耳是电池内部的关键部件,负责收集和转移电流。如果极耳错位,可能会导致电池性能下降,甚至出现安全问题。
2、极耳错位的原因可能包括制造过程中的各种因素,例如极片尺寸、卷绕张力、设备精度等。为了解决这个问题,常规采取的措施主要包括:1、在卷针上贴铁氟龙,增加卷针直径;但是该方法需要调试经验丰富,不然需要多次试错,才能调好;2、调整p辊压力;但是这样会增加隔膜打皱,极片打皱的风险;3、调整模切处极耳间距;但是这种方式就为了不出现极耳错位,改变极耳间距的工艺,可能会影响电芯品质。
3、可见,在传统技术中并没有一种有效的极耳错位检测校正方案。
技术实现思路
1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种有效的极耳错位检测校正方法、装置、系统、计算机设备、存储介质以及计算机程序产品。
2、第一方面,本技术提供了一种极耳错位检测校正方法。所述方法包括:
3、获取电芯卷绕的第一极耳图像,所述第一极耳图像包括卷绕开始后形成的第一层极耳图像、预设测量基准图像、或卷绕过程中第i层极耳的图像中的至少一种;
4、获取电芯卷绕的第二极耳图像,所述第二极耳图像包括卷绕过程中每层极耳的图像、或卷绕结束前形成的第二层极耳图像中的至少一种;
5、根据所述第一极耳图像和所述第二极耳图像,确定待测电芯的极耳错位状态,所述极耳错位状态包括极耳错位类型和相对错位量;
6、基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数。
7、在其中一个实施例中,所述根据所述第一极耳图像和所述第二极耳图像,确定待测电芯的极耳错位状态包括:
8、基于所述每层极耳的图像和选择的任意一种所述第一极耳图像,计算得到多组与第i层极耳对应的相对错位量;
9、或,基于所述第二层极耳图像和所述第一层极耳的图像,计算得到卷绕过程中极耳总的相对错位量;
10、对所述多组与第i层极耳对应的相对错位量或所述极耳总的相对错位量进行分析,确定待测电芯的极耳错位类型。
11、在其中一个实施例中,所述对所述多组与第i层极耳对应的相对错位量进行分析,确定待测电芯的极耳错位类型包括:
12、对所述多组与第i层极耳对应的相对错位量进行数据拟合,得到数据拟合曲线;
13、基于数据拟合曲线,确定待测电芯的极耳错位类型。
14、在其中一个实施例中,所述极耳错位类型包括第一错位类型、第二错位类型、以及第三错位类型;
15、所述第一错位类型为相邻两层极耳的相对错位量等值的错位类型,所述第二错位类型为极耳相对错位量随卷绕层数增加而增大的错位类型;所述第三错位类型为极耳相对错位量随卷绕层数增加先增加后减小的错位类型。
16、在其中一个实施例中,每一错位类型分别包括两种极耳朝向子类型中的至少一种,所述极耳朝向子类型包括:向阳极错位和向阴极错位,所述向阳极错位为所述第二层极耳图像中极耳朝向阳极的错位类型,所述向阴极错位为所述第二层极耳图像中极耳朝向阴极的错位类型。
17、在其中一个实施例中,所述基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数包括:
18、所述极耳错位类型为第三错位类型,调整所述电芯卷绕设备的工作参数,以使极耳错位类型由所述第三错位类型变为所述第一错位类型或所述第二错位类型中的任一种;
19、针对所述第一错位类型或所述第二错位类型,调整所述电芯卷绕设备工作参数,消除极耳错位。
20、在其中一个实施例中,所述调整所述电芯卷绕设备的工作参数,以使极耳错位类型由所述第三错位类型变为所述第一错位类型或所述第二错位类型中的任一种,包括:
21、调整所述电芯卷绕设备中卷针周长或所述电芯卷绕设备中压力辊压力值,以使极耳错位类型由所述第三错位类型变为所述第一错位类型或所述第二错位类型中的任一种。
22、在其中一个实施例中,所述基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数包括:
23、所述极耳错位类型为第三错位类型,分析每层极耳的相对错位量,确定相对错位量先增加后减小的第k层极耳的拐点数据;
24、基于所述第k层极耳的拐点数据,分别计算得到消除所述第三错位类型所需调整所述电芯卷绕设备的卷针周长的调整值和所述压力辊压力修正值。
25、在其中一个实施例中,所述基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数包括:
26、所述极耳错位类型为第一错位类型,基于与所述第一错位类型对应的相对错位量,增大或减小一定数值的所述电芯卷绕设备中卷针周长。
27、在其中一个实施例中,所述第一错位类型包括向阳极第一错位类型和向阴极第一错位类型,向阳极错位为所述第二层极耳图像中极耳朝向阳极,向阴极错位为所述第二层极耳图像中极耳朝向阴极;
28、所述基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数包括:
29、所述极耳错位类型为向阳极第一错位类型,增大所述电芯卷绕设备中卷针周长;
30、所述极耳错位类型为向阴极第一错位类型,减小所述电芯卷绕设备中卷针周长。
31、在其中一个实施例中,所述基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数包括:
32、所述极耳错位类型为第二错位类型,基于与所述第二错位类型对应的相对错位量,增大或减小一定值的所述电芯卷绕设备中压力辊压力值。
33、在其中一个实施例中,所述第二错位类型包括向阳极第二错位类型和向阴极第二错位类型,向阳极错位为所述第二层极耳图像中极耳朝向阳极,向阴极错位为所述第二层极耳图像中极耳朝向阴极;
34、所述基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数包括:
35、所述极耳错位类型为向阳极第二错位类型,增大所述电芯卷绕设备中压力辊压力值;
36、所述极耳错位类型为向阴极第二错位类型,减小所述电芯卷绕设备中压力辊压力值。
37、第二方面,本技术还提供了一种极耳错位检测校正装置。所述装置包括:
38、第一图像获取模块,用于获取电芯卷绕的第一极耳图像,所述第一极耳图像包括卷绕开始后形成的第一层极耳图像、预设测量基准图像、或卷绕过程中第i层极耳的图像中的至少一种;
39、第二图像获取模块,用于获取电芯卷绕的第二极耳图像,所述第二极耳图像包括卷绕过程中每层极耳的图像、或卷绕结束前形成的第二层极耳图像中的至少一种;
40、检测模块,用于根据所述第一极耳图像和所述第二极耳图像,确定待测电芯的极耳错位状态,所述极耳错位状态包括极耳错位类型和相对错位量;
41、校正模块,用于基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数。
42、第三方面,本技术还提供了一种极耳错位检测校正系统。所述系统包括图像采集设备和控制器,所述图像采集设备采集电芯卷绕过程中每层极耳的图像,并发送所述每层极耳的图像至所述控制器,所述控制器采用上述的极耳错位检测校正方法对电芯卷绕设备工作参数进行调整。
43、第四方面,本技术还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:
44、获取电芯卷绕的第一极耳图像,所述第一极耳图像包括卷绕开始后形成的第一层极耳图像、预设测量基准图像、或卷绕过程中第i层极耳的图像中的至少一种;
45、获取电芯卷绕的第二极耳图像,所述第二极耳图像包括卷绕过程中每层极耳的图像、或卷绕结束前形成的第二层极耳图像中的至少一种;
46、根据所述第一极耳图像和所述第二极耳图像,确定待测电芯的极耳错位状态,所述极耳错位状态包括极耳错位类型和相对错位量;
47、基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数。
48、第五方面,本技术还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
49、获取电芯卷绕的第一极耳图像,所述第一极耳图像包括卷绕开始后形成的第一层极耳图像、预设测量基准图像、或卷绕过程中第i层极耳的图像中的至少一种;
50、获取电芯卷绕的第二极耳图像,所述第二极耳图像包括卷绕过程中每层极耳的图像、或卷绕结束前形成的第二层极耳图像中的至少一种;
51、根据所述第一极耳图像和所述第二极耳图像,确定待测电芯的极耳错位状态,所述极耳错位状态包括极耳错位类型和相对错位量;
52、基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数。
53、第六方面,本技术还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
54、获取电芯卷绕的第一极耳图像,所述第一极耳图像包括卷绕开始后形成的第一层极耳图像、预设测量基准图像、或卷绕过程中第i层极耳的图像中的至少一种;
55、获取电芯卷绕的第二极耳图像,所述第二极耳图像包括卷绕过程中每层极耳的图像、或卷绕结束前形成的第二层极耳图像中的至少一种;
56、根据所述第一极耳图像和所述第二极耳图像,确定待测电芯的极耳错位状态,所述极耳错位状态包括极耳错位类型和相对错位量;
57、基于所述极耳错位状态,调整电芯卷绕设备工作参数。
58、上述极耳错位检测校正方法、装置、系统、计算机设备、存储介质和计算机程序产品,获取电芯卷绕的第一极耳图像以及第二极耳图像,第一极耳图像包括卷绕开始后形成的第一层极耳图像、预设测量基准图像、或卷绕过程中第i层极耳的图像中的至少一种;第二极耳图像包括卷绕过程中每层极耳的图像、或卷绕结束前形成的第二层极耳图像中的至少一种;基于第一极耳图像和第二极耳图像进行分析,确定待测电芯的极耳错位类型和相对错位量,最后基于极耳错位状态调整电芯卷绕设备工作参数。整个过程中,通过对第一极耳图像和第二极耳图像进行分析,准确识别出极耳错位状态,并针对不同的极耳错位状态对应调整电芯卷绕设备工作参数,可以有效消除电芯卷绕的极耳错位。