一种短路径带连接器的射频测试插座的制作方法

本技术属于芯片测试，具体为一种短路径带连接器的射频测试插座。

背景技术：

1、在5g毫米波通信中，对高频插损和测试链路的驻波及隔离度性能都有比较严苛的指标要求，传统的测试方案通过测试插座连接测试电路板，然后通过测试电路板连接外部测试机台资源，因此，在测试芯片与测试插座针尖连接处、测试插座针尾与测试电路板连接处及测试电路板与外部测试机台资源连接处均存在特征阻抗不连续点，会产生造成较多的阻抗波动，对芯片的性能测试产生较大影响。

技术实现思路

1、本实用新型目的是提供一种短路径带连接器的射频测试插座。

2、本实用新型提供的短路径带连接器的射频测试插座，包括测试插座和复数个射频连接器(3)；所述测试插座上设有复数个与所述射频连接器(3)相匹配的装配孔。

3、优选的，所述测试插座包括夹持底板(2)和夹持顶盖(1)；所述夹持顶盖(1)设置在所述夹持底板(1)的顶部；所述夹持顶盖(1)中心位置开设一开口部(14)；所述开口部(14)与所述夹持底板(1)围合成一容纳槽。

4、优选的，复数个所述装配孔开设在所述容纳槽的底部。

5、优选的，所述射频连接器(3)包括夹持部(33)和限位部(31)；所述限位部(31)设置在所述夹持部(33)的顶部；所述装配孔由同轴设置的第一凹槽(12)和第一通孔(11)相连通形成；所述第一凹槽(12)开设在所述夹持底板(2)的底部；所述第一通孔(11)设置在所述第一凹槽(12)的底部；所述限位部(31)插接在所述第一通孔(11)内且所述限位部(31)的顶部与所述第一通孔(11)的顶部相平齐。

6、优选的，所述夹持部(33)插接在所述第一凹槽(12)内与所述夹持底板(2)相固定。

7、优选的，本实用新型所提供的短路径带连接器的射频测试插座，所述夹持部(33)的外壁设有外螺纹；所述第一凹槽(12)的内壁设有内螺纹。

8、优选的，所述射频连接器(3)还包括一探针(32)；所述限位部(31)的顶部设有一装配槽；所述探针(32)设置在所述装配槽内；所述探针(32)的顶端突出于所述限位部(31)的顶端。

9、优选的，所述射频连接器(3)还包括一弹簧；所述弹簧一端与所述装配槽的底部相固定，另一端与所述探针(32)底部相固定。

10、优选的，复数个所述射频连接器(3)的长度均大于所述装配孔的深度。

11、优选的，本实用新型所提供的短路径带连接器的射频测试插座，还包括四套螺栓(5)和螺母；所述夹持顶盖(1)和夹持底板(1)的四个顶角处均设有同轴设置的第二通孔(21)。

12、优选的，所述夹持顶盖(1)的底部还包括两个定位柱(13)；所述夹持底板(1)上设有两个与所述定位柱(13)相匹配的定位孔(23)。

13、优选的，所述容纳槽的底部还设有复数个第三通孔(22)。

14、优选的，所述开口部(14)呈顶部开口面积大于底部开口面积的漏斗状。

15、优选的，所述开口部(14)的底部沿垂直于所述夹持底板(1)方向向下延伸。

16、优选的，所述容纳槽的侧壁设有多个均向所述夹持顶盖(1)外壁方向延伸的第四通孔(15)。

17、本实用新型所提供的短路径带连接器的射频测试插座，相比传统方案减少了高频信号测试插座探针与测试电路板连接的一个特征阻抗不连续点，从而提高了芯片的测试性能，同时因不需使用测试电路板，从而也降低了测试成本。

技术特征：

1.一种短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，包括测试插座和复数个射频连接器(3)；所述测试插座上设有复数个与所述射频连接器(3)相匹配的装配孔。

2.如权利要求1所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，所述测试插座包括夹持底板(2)和夹持顶盖(1)；所述夹持顶盖(1)设置在所述夹持底板(1)的顶部；所述夹持顶盖(1)中心位置开设一开口部(14)；所述开口部(14)与所述夹持底板(1)围合成一容纳槽；

3.如权利要求2所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，所述射频连接器(3)包括夹持部(33)和限位部(31)；所述限位部(31)设置在所述夹持部(33)的顶部；所述装配孔由同轴设置的第一凹槽(12)和第一通孔(11)相连通形成；所述第一凹槽(12)开设在所述夹持底板(2)的底部；所述第一通孔(11)设置在所述第一凹槽(12)的底部；所述限位部(31)插接在所述第一通孔(11)内且所述限位部(31)的顶部与所述第一通孔(11)的顶部相平齐。

4.如权利要求3所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，所述夹持部(33)插接在所述第一凹槽(12)内与所述夹持底板(2)相固定。

5.如权利要求3所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，所述夹持部(33)的外壁设有外螺纹；所述第一凹槽(12)的内壁设有内螺纹。

6.如权利要求4或5任一项所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，所述射频连接器(3)还包括一探针(32)；所述限位部(31)的顶部设有一装配槽；所述探针(32)设置在所述装配槽内；所述探针(32)的顶端突出于所述限位部(31)的顶端。

7.如权利要求6所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，所述射频连接器(3)还包括一弹簧；所述弹簧一端与所述装配槽的底部相固定，另一端与所述探针(32)底部相固定。

8.如权利要求7所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，复数个所述射频连接器(3)的长度均大于所述装配孔的深度。

9.如权利要求8所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，还包括四套螺栓(5)和螺母；所述夹持顶盖(1)和夹持底板(1)的四个顶角处均设有同轴设置的第二通孔(21)；

10.如权利要求9所述的短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，所述开口部(14)呈顶部开口面积大于底部开口面积的漏斗状；

技术总结
本技术公开了一种短路径带连接器的射频测试插座，其特征在于，包括测试插座和复数个射频连接器；所述测试插座上设有复数个与所述射频连接器相匹配的装配孔。本技术所公开的短路径带连接器的射频测试插座其特征在于，相比传统方案，在保留电源数字信号和地部分的探针和电路板的基础上，减少了高频信号测试插座探针与测试电路板连接的一个特征阻抗不连续点，从而提高了芯片的测试性能，同时因不需使用测试电路板，从而也降低了测试成本。

技术研发人员：王伟君,钟程程
受保护的技术使用者：上海芯义恒科技有限公司
技术研发日：20230418
技术公布日：2024/1/13