一种芯片双面AOI检测分选设备的制作方法

本技术涉及aoi检测，特别涉及一种芯片双面aoi检测分选设备。

背景技术：

1、芯片在生产过程中通常放置在料盘上，料盘尺寸有2寸、3寸和4寸。料盘正反面都设计有和芯片适配的料槽凹槽。芯片出货前需要对芯片进行锡球面和镜面进行外观检测。

2、目前国内部分工厂对芯片外观的检测主要依赖人工目检，需要大量的人力，而且工人长时间用肉眼检测，用眼疲劳、视力下降，人员流动性大，还容易出现误叛和遗漏。

3、少部分工厂使用半自动化设备进行检测，这种半自动化检测设备采用自动光学，替代人眼完成制造过程的视觉检查工作。改善原有目检工站需要投入大量人力的现状，完成产品的缺陷检测。但该方式需要人工对芯片两面检测。芯片的两面分别为锡球面和镜面；在芯片的两面检测时，需要先人工将芯片的锡球面朝上放入治具内，通过视觉设备检测；然后人工从治具内取出芯片，人工将芯片翻转使得镜面朝上，再放入到治具内进行镜面的检测，多次上料人工操作多，检测的效率慢。

4、故此有必要设计出一种能够自动实现芯片双面检测的aoi检测分选设备。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种芯片双面aoi检测分选设备。

2、为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

3、本实用新型所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，它包括有台面板、多个将料盘夹持固定的载具和固定在台面板上的循环输送线；循环输送线用于带动在载具在循环输送线上运动；所述台面板上固定有用于将带有芯片的料盘输送至载具内的上料机械机构、用于对载具上芯片锡球面检测的锡球面aoi检测机构、用于芯片翻面的翻面机构、对芯片表面进行清洗的干式超声波清洗机构、用于对载具上芯片镜面检测的镜面aoi检测机构和用于将带有芯片的料盘从载具内取出的下料机械机构；上料机械机构、锡球面aoi检测机构、翻面机构、干式超声波清洗机构、镜面aoi检测机构和下料机械机构沿循环输送线的输送方向依次排列。

4、进一步地，载具由空盘载具和成品盘载具组成；空盘载具用于装夹空的料盘；成品盘载具用于装夹内有芯片的料盘；所述翻面机构由空料盘翻转组件和满料盘翻转组件组成；所述空料盘翻转组件用于将空盘载具上的料盘抓起并转动至料盘开口朝下后盖到成品盘载具上的料盘上；所述满料盘翻转组件用于将盖到成品盘载具上的料盘和成品盘载具上装有芯片的料盘一起夹住后翻转一百八十度。

5、进一步地，所述空料盘翻转组件由空盘升降模组、空盘旋转夹持模块和空料盘平移模组组成；所述空盘升降模组连接在空料盘平移模组上；所述空盘旋转夹持模块连接在空盘升降模组上；

6、进一步地，所述满料盘翻转组件由料盘旋转夹持模块和料盘升降模组组成；料盘升降模组用于带动料盘旋转夹持模块做升降运动。

7、进一步地，所述空盘载具的侧表面开设有空盘过夹爪槽；所述成品盘载具的侧表面开设有成品盘过夹爪槽。

8、进一步地，所述成品盘载具固定有载具底板；所述载具底板连接在循环输送线上；所述成品盘载具上设置有多个限位组件；所述限位组件在成品盘载具升呈圆周分布；所述限位组件由固定在载具底板上的导轨、滑动连接在导轨上的滑块、固定在滑块上的滑动座和一端固定在滑动座上的定位块；定位块另一端伸出成品盘载具的上表面。

9、进一步地，所述载具底板上固定有限位块；所述循环输送线的支架上固定有定位气缸；定位气缸的顶部固定有能够将限位块卡紧定位的定位叉；所述限位块为滚轮。

10、进一步地，所述载具底板上转动连接有圆盘；所述圆盘上连接有拨杆；所述圆盘的表面上开设有多条凸轮槽；所述滑动座上转动连接有随动轮；所述随动轮的轮身贴合在凸轮槽的表面上。

11、进一步地，所述干式超声波清洗机构包括有清洗平移模组、连接在清洗平移模组上的清洗升降模组和固定在清洗升降模组上的超声波清洗机；所述超声波清洗机的下方设置有压盖升降组件；压盖升降组件上连接有压盖；所述压盖的表面上均布有多个通孔。

12、进一步地，下料机械机构与镜面aoi检测机构之间设置有补料机构；所述补料机构包括有补料横移模组、料盘放置板和连接在补料横移模组上的补料上纵移模组、连接在补料上纵移模组上的补料升降模组；所述补料升降模组上固定有吸嘴和第三相机；所述料盘放置板上设置有多个能够用于料盘定位的定位件。

13、采用上述结构后，本实用新型有益效果为：本实用新型所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，在使用本实用新型时，第一步，上料机械机构的上料平移模组、上料升降模组和上料启动夹爪配合动作从上料仓将装有芯片的料盘送入到循环输送线上的载具夹持固定；第二步，循环输送线带动载具运动将装夹有带有芯片的料盘输送至锡球面aoi检测机构上；锡球面aoi检测机构上的第一光源开启光源，第一相机获取芯片上带有锡球面的图像，并将采集的图像数据输送至计算机上进行比对；第三步，完成锡球面oi检测后，循环输送线带动载具运动至翻面机构上，通过翻面机构将料载具中的芯片翻面，使得芯片的镜面一侧朝上，带有锡球面一侧朝下；第四步，芯片翻面后，循环输送线带动载具运动至干式超声波清洗机构上，通过超声波对芯片进行超声波清洗除尘；第五步，超声除尘后的芯片被循环输送线输送至镜面aoi检测机构的工位处，第二光源打开，第二相机获取芯片上带有镜面的图像，并将采集数据输送至计算机上进行比对；检测完毕后通过下料机械机构将带有芯片的料盘从载具内取出，下料机械机构将检测有问题的芯片取出，再将预先检测好的芯片补入；该结构中，通过在锡球面aoi检测机构与镜面aoi检测机构之间设置翻面机构，使得芯片自动翻面过渡，通过锡球面aoi检测机构与镜面aoi检测机构分别对芯片的锡球面和镜面进行视觉检测，实现芯片表面检测的自动化，提高检测效率，降低劳动强度。

技术特征：

1.一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：它包括有台面板（2）、多个将料盘（b）夹持固定的载具（a）和固定在台面板（2）上的循环输送线（6）；循环输送线（6）用于带动在载具（a）在循环输送线（6）上运动；所述台面板（2）上固定有用于将带有芯片的料盘（b）输送至载具（a）内的上料机械机构（1）、用于对载具（a）上芯片锡球面检测的锡球面aoi检测机构（3）、用于芯片翻面的翻面机构（4）、对芯片表面进行清洗的干式超声波清洗机构（5）、用于对载具（a）上芯片镜面检测的镜面aoi检测机构（7）和用于将带有芯片的料盘（b）从载具（a）内取出的下料机械机构（9）；上料机械机构（1）、锡球面aoi检测机构（3）、翻面机构（4）、干式超声波清洗机构（5）、镜面aoi检测机构（7）和下料机械机构（9）沿循环输送线（6）的输送方向依次排列。

2.根据权利要求1所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：载具（a）由空盘载具（a1）和成品盘载具（a2）组成；空盘载具（a1）用于装夹空的料盘（b）；成品盘载具（a2）用于装夹内有芯片的料盘（b）；所述翻面机构（4）由空料盘翻转组件和满料盘翻转组件组成；所述空料盘翻转组件用于将空盘载具（a1）上的料盘（b）抓起并转动至料盘（b）开口朝下后盖到成品盘载具（a2）上的料盘（b）上；所述满料盘翻转组件用于将盖到成品盘载具（a2）上的料盘（b）和成品盘载具（a2）上装有芯片的料盘（b）一起夹住后翻转一百八十度。

3.根据权利要求2所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：所述空料盘翻转组件由空盘升降模组（401）、空盘旋转夹持模块（402）和空料盘平移模组（405）组成；所述空盘升降模组（401）连接在空料盘平移模组（405）上；所述空盘旋转夹持模块（402）连接在空盘升降模组（401）上。

4.根据权利要求2所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：所述满料盘翻转组件由料盘旋转夹持模块（403）和料盘升降模组（404）组成；料盘升降模组（404）用于带动料盘旋转夹持模块（403）做升降运动。

5.根据权利要求2所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：所述空盘载具（a1）的侧表面开设有空盘过夹爪槽（a101）；所述成品盘载具（a2）的侧表面开设有成品盘过夹爪槽（a201）。

6.根据权利要求2所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：所述成品盘载具（a2）固定有载具底板（a9）；所述载具底板（a9）连接在循环输送线（6）上；所述成品盘载具（a2）上设置有多个限位组件；所述限位组件在成品盘载具（a2）升呈圆周分布；所述限位组件由固定在载具底板（a9）上的导轨（a6）、滑动连接在导轨（a6）上的滑块（a5）、固定在滑块（a5）上的滑动座（a4）和一端固定在滑动座（a4）上的定位块（a8）；定位块（a8）另一端伸出成品盘载具（a2）的上表面。

7.根据权利要求6所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：所述载具底板（a9）上固定有限位块（a7）；所述循环输送线（6）的支架上固定有定位气缸（601）；定位气缸（601）的顶部固定有能够将限位块（a7）卡紧定位的定位叉（602）；所述限位块（a7）为滚轮。

8.根据权利要求6所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：所述载具底板（a9）上转动连接有圆盘（a10）；所述圆盘（a10）上连接有拨杆（a3）；所述圆盘（a10）的表面上开设有多条凸轮槽（a1001）；所述滑动座（a4）上转动连接有随动轮（a11）；所述随动轮（a11）的轮身贴合在凸轮槽（a1001）的表面上。

9.根据权利要求7所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：所述干式超声波清洗机构（5）包括有清洗平移模组（501）、连接在清洗平移模组（501）上的清洗升降模组（502）和固定在清洗升降模组（502）上的超声波清洗机（503）；所述超声波清洗机（503）的下方设置有压盖升降组件（505）；压盖升降组件（505）上连接有压盖（504）；所述压盖（504）的表面上均布有多个通孔。

10.根据权利要求1所述的一种芯片双面aoi检测分选设备，其特征在于：下料机械机构（9）与镜面aoi检测机构（7）之间设置有补料机构（8）；所述补料机构（8）包括有补料横移模组（802）、料盘放置板（804）和连接在补料横移模组（802）上的补料上纵移模组（805）、连接在补料上纵移模组（805）上的补料升降模组（806）；所述补料升降模组（806）上固定有吸嘴（801）和第三相机（807）；所述料盘放置板（804）上设置有多个能够用于料盘（b）定位的定位件（804a）。

技术总结
本技术涉及AOI检测技术领域，特别涉及一种芯片双面AOI检测分选设备，台面板上固定有用于将带有芯片的料盘输送至载具内的上料机械机构、用于对载具上芯片锡球面检测的锡球面AOI检测机构、用于芯片翻面的翻面机构、对芯片表面进行清洗的干式超声波清洗机构、用于对载具上芯片镜面检测的镜面AOI检测机构和用于将带有芯片的料盘从载具内取出的下料机械机构。在使用本技术时，该结构中，通过在锡球面AOI检测机构与镜面AOI检测机构之间设置翻面机构，使得芯片自动翻面过渡，通过锡球面AOI检测机构与镜面AOI检测机构分别对芯片的锡球面和镜面进行视觉检测，实现芯片表面检测的自动化，提高检测效率，降低劳动强度。

技术研发人员：阳启华,陈康稳,郭鹏志
受保护的技术使用者：广东涌固科技有限公司
技术研发日：20230424
技术公布日：2024/1/15