本技术涉及一种分选装置,尤其是一种芯片测试分选装置。
背景技术:
1、电机芯片是集成有cmos控制电路和dmos功率器件的芯片,利用它可以与主处理器、电机和增量型编码器构成一个完整的运动控制系统,可以用来驱动直流电机、步进电机和继电器等感性负载。目前,在电机芯片在进行测试中,有部分芯片因其特殊的测试要求无法使用自动化测试设备进行测试,当测试人员在对这类芯片测试时,需要根据测试机测试芯片后显示在屏幕上的测试结果将芯片放置于对应测试结果的集装箱内,在将合格的芯片放进集装箱内的过程往往会对芯片造成损坏。因此本实用新型目的在于提供一种芯片测试分选装置。
技术实现思路
1、本实用新型的目的是通过提出一种芯片测试分选装置,以解决上述背景技术中提出的缺陷。
2、本实用新型采用的技术方案如下:
3、提供一种芯片测试分选装置,包括操作台和安装在操作台内进行物体输送的放置机构,所述放置机构包括筒体,所述筒体内固定安装有固定杆,所述筒体与固定杆之间固定安装有螺旋梯,还包括:
4、升降机构,所述升降机构包括丝杆,所述丝杆上滑动安装有固定板,所述丝杆一端固定安装有电机。
5、作为本实用新型的一种优选技术方案:所述操作台顶部一侧的两端开设有凹槽,其中一个所述的凹槽内滑动安装有放置机构。
6、作为本实用新型的一种优选技术方案:所述其中一个所述的凹槽两侧开设有槽体,所述槽体内转动安装有丝杆,所述其中一个所述的凹槽顶部两侧固定安装有电机,所述丝杆一端转动安装在槽体底部,所述丝杆另一端贯穿槽体顶部与电机输出轴同轴连接。
7、作为本实用新型的一种优选技术方案:所述筒体外壁两侧固定安装有固定板,所述固定板上表面一端贯穿开设有通孔,所述通孔内固定安装有丝杆螺母,所述丝杆螺母内螺纹安装有丝杆。
8、作为本实用新型的一种优选技术方案:所述操作台两侧靠近底部贯穿开设与凹槽相通的第一滑槽,所述第一滑槽内滑动安装有放置箱,所述放置箱两侧开设有手握口。
9、作为本实用新型的一种优选技术方案:所述筒体底部开设有腔体,所述固定杆底端长度高于筒体底端长度。
10、作为本实用新型的一种优选技术方案:所述筒体外壁一侧上方贯穿开设与腔体相通的第二滑槽,所述螺旋梯顶部一端穿过第二滑槽安装在操作台顶部上,所述螺旋梯两侧固定安装有挡板,所述挡板设置于螺旋梯顶部一端到固定杆之间。
11、作为本实用新型的一种优选技术方案:所述操作台顶部另一侧一端固定安装有测试口,所述操作台中心处靠近另一侧固定安装有指示灯。
12、与现有技术相比,本实用新型的有益效果:
13、1、一种芯片测试分选装置中,通过设置放置机构,从而使合格的芯片通过放置机构中的螺旋梯顶端滑到螺旋梯的底端,从而使合格芯片放入到放置箱内,减少了芯片在放置过程中产生损坏。
14、2、一种芯片测试分选装置中,通过设置升降机构,使得放置机构能够进行上下滑动,从而方便拿出和安放放置箱。
1.一种芯片测试分选装置,包括操作台(1)和安装在操作台(1)内进行物体输送的放置机构(2),其特征在于:所述放置机构(2)包括筒体(25),所述筒体(25)内固定安装有固定杆(26),所述筒体(25)与固定杆(26)之间固定安装有螺旋梯(29),还包括:
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置,其特征在于:所述操作台(1)顶部一侧的两端开设有凹槽(11),其中一个所述的凹槽(11)内滑动安装有放置机构(2)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置,其特征在于:所述其中一个所述的凹槽(11)两侧开设有槽体(24),所述槽体(24)内转动安装有丝杆(22),所述其中一个所述的凹槽(11)顶部两侧固定安装有电机(21),所述丝杆(22)一端转动安装在槽体(24)底部,所述丝杆(22)另一端贯穿槽体(24)顶部与电机(21)输出轴同轴连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置,其特征在于:所述筒体(25)外壁两侧固定安装有固定板(23),所述固定板(23)上表面一端贯穿开设有通孔,所述通孔内固定安装有丝杆螺母,所述丝杆螺母内螺纹安装有丝杆(22)。
5.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置,其特征在于:所述操作台(1)两侧靠近底部贯穿开设与凹槽(11)相通的第一滑槽(12),所述第一滑槽(12)内滑动安装有放置箱(5),所述放置箱(5)两侧开设有手握口(51)。
6.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置,其特征在于:所述筒体(25)底部开设有腔体,所述固定杆(26)位于腔体顶部中心处,所述固定杆(26)底端长度高于筒体(25)底端长度。
7.根据权利要求6所述的一种芯片测试分选装置,其特征在于:所述筒体(25)外壁一侧上方贯穿开设与腔体相通的第二滑槽(27),所述螺旋梯(29)顶部一端穿过第二滑槽(27)安装在操作台(1)顶部上,所述螺旋梯(29)两侧固定安装有挡板(28),所述挡板(28)设置于螺旋梯(29)顶部一端到固定杆(26)之间。
8.根据权利要求7所述的一种芯片测试分选装置,其特征在于:所述操作台(1)顶部另一侧一端固定安装有测试口(4),所述操作台(1)中心处靠近另一侧固定安装有指示灯(3)。