一种质谱仪进样器的制作方法

本技术属于质谱仪领域，具体涉及一种质谱仪的进样装置。

背景技术：

1、质谱仪的构造大致可分为进样系统、离子源、质量分析器、检测器、真空系统和数据处理系统。其中进样系统是将气化分子或离子导入真空系统中，在电场的综合作用下按荷质比的大小依次排列，在质量分析器处和检测器处进行检测和分析，得到不同荷质比排列的谱图。目前质谱仪进样系统的进样孔通常采用直孔，但直孔会导致在进样口处浪费样品，使进样量不够，质量分析器检测不到，影响实验结果或检测限，而直接扩大进样孔的直径又会影响后续真空腔内的真空度的维持，另外直孔进样所形成的直线状样品流在真空腔内也会影响第一级的真空度。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是在现有技术的基础上，提供一种质谱仪的进样装置。

2、本实用新型的目的可以通过以下措施达到：

3、一种质谱仪进样器，它包括进样口固定装置和进样口形成装置，所述进样口固定装置安装在所述进样口形成装置的外围以固定所述进样口形成装置，在所述进样口形成装置上设有连通真空腔的进样孔，按照进样的流动顺序所述进样孔依次分为前端孔、中端孔和后端孔，所述前端孔入口处的孔径大于所述中端孔的孔径，所述中端孔的孔径小于所述后端孔出口处的孔径。

4、在一种方案中，前端孔和后端孔均为内部孔径逐渐变化的平滑孔。

5、在一种方案中，中端孔的孔径不变，或者所述中端孔为中部孔径小、两端孔径大的平滑孔。

6、在一种方案中，前端孔、中端孔和后端孔为同中心轴的孔。

7、在一种方案中，前端孔、中端孔和后端孔的孔壁，在沿孔中心轴的截面上，形成孔径前大中小后大的梯形-长方形-梯形截面或者上下均为抛物线两侧为平行线的截面。

8、在一种方案中，前端孔或后端孔为漏斗型孔，所述中端孔为圆筒形孔，或者所述前端孔和后端孔直接相连使中端孔为一圆孔。

9、在一种方案中，前端孔或后端孔为四周向中心轴凹陷的平滑曲面孔，所述中端孔为圆筒形孔，或者所述前端孔和后端孔直接相连使中端孔为一圆孔。

10、在一种方案中，进样口形成装置的进样口端为向前突出的圆台状或半球状，所述进样孔位于其尖端处。

11、在一种方案中，进样口形成装置的中部设有固定翼或固定环。

12、在一种方案中，进样口固定装置为长方体状或类长方体状，它通过所述固定翼或固定环与所述进样口形成装置固定连接。

13、本实用新型的质谱仪进样器，在进样孔处采用 “前大中小后大”的结构，加大前端孔的直径，使其有足够的大小吸收前级的样品量，极大减少了样品的浪费；进入中端孔直径变小，减少了前级和下一级的流通量，使下一级真空可以达到更好的真空度；进入后端孔直径再变大，改变了进入真空腔内的样品的流形，使样品能更快地在真空腔形成有效地分离。

技术特征：

1.一种质谱仪进样器，其特征在于它包括进样口固定装置和进样口形成装置，所述进样口固定装置安装在所述进样口形成装置的外围以固定所述进样口形成装置，在所述进样口形成装置上设有连通真空腔的进样孔，按照进样的流动顺序所述进样孔依次分为前端孔、中端孔和后端孔，所述前端孔入口处的孔径大于所述中端孔的孔径，所述中端孔的孔径小于所述后端孔出口处的孔径。

2.根据权利要求1所述的质谱仪进样器，其特征在于所述前端孔和后端孔均为内部孔径逐渐变化的平滑孔。

3.根据权利要求1所述的质谱仪进样器，其特征在于所述中端孔的孔径不变，或者所述中端孔为中部孔径小、两端孔径大的平滑孔。

4.根据权利要求1所述的质谱仪进样器，其特征在于所述前端孔、中端孔和后端孔为同中心轴的孔。

5.根据权利要求4所述的质谱仪进样器，其特征在于所述前端孔、中端孔和后端孔的孔壁，在沿孔中心轴的截面上，形成孔径前大中小后大的梯形-长方形-梯形截面或者上下均为抛物线两侧为平行线的截面。

6.根据权利要求1所述的质谱仪进样器，其特征在于所述前端孔或后端孔为漏斗型孔，所述中端孔为圆筒形孔，或者所述前端孔和后端孔直接相连使中端孔为一圆孔。

7.根据权利要求1所述的质谱仪进样器，其特征在于所述前端孔或后端孔为四周向中心轴凹陷的平滑曲面孔，所述中端孔为圆筒形孔，或者所述前端孔和后端孔直接相连使中端孔为一圆孔。

8.根据权利要求1所述的质谱仪进样器，其特征在于所述进样口形成装置的进样口端为向前突出的圆台状或半球状，所述进样孔位于其尖端处。

9.根据权利要求1所述的质谱仪进样器，其特征在于所述进样口形成装置的中部设有固定翼或固定环。

10.根据权利要求9所述的质谱仪进样器，其特征在于所述进样口固定装置为长方体状或类长方体状，它通过所述固定翼或固定环与所述进样口形成装置固定连接。

技术总结
本技术公开了一种质谱仪进样器，它包括进样口固定装置和进样口形成装置，所述进样口固定装置安装在所述进样口形成装置的外围以固定所述进样口形成装置，在所述进样口形成装置上设有连通真空腔的进样孔，按照进样的流动顺序所述进样孔依次分为前端孔、中端孔和后端孔，所述前端孔入口处的孔径大于所述中端孔的孔径，所述中端孔的孔径小于所述后端孔出口处的孔径。本技术在进样孔处采用“前大中小后大”的结构，极大减少了样品的浪费，使下一级真空可以达到更好的真空度，并能使样品更快地在真空腔形成有效地分离。

技术研发人员：孙浩帆,王振林,刘凯,张权青
受保护的技术使用者：苏州复优谱仪器科技有限公司
技术研发日：20230815
技术公布日：2024/3/31