专利名称：耐压测试仪漏电保护电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及漏电保护，用于耐压测试仪的漏电保护，连接耐压测试仪测，防止 仪器外壳带电，消除测试仪安全隐患，为一种耐压测试仪的漏电保护电路。
背景技术：
耐压测试是指对各种低压电器装置，绝缘材料和绝缘结构的耐压能力进行测试。 耐压测试的基础理论是将一个产品暴露在非常恶劣的环境之下，如果产品能够在这种恶劣 的环境之下还能维持正常状况，就可以确定在正常的环境之下工作，也一定可以维持正常 的状况。不同的产品有不同的技术规格，基本上在耐压测试时是将一个高电压加在产品上 测试，这个电压必须持续一段规定的时间。如果一个零组件在规定的时间内，其击穿电流亦 保持在规定的范围内，就可以确定这个零组件在正常的条件下运转非常安全。优良的设计 和选择良好的绝缘材料可以保护使用者。测试是通过如图1所示的电路进行测试的，被测物连接在高压端与测试端两端。测试时，吸合继电器将市电加到自耦调压器Bl上，经调压器Bl升压给高压发生器 B2的初级再由给高压发生器B2的次极输出高压给被测物。用户一股被测物的标准要求，设 定漏电流值，测试过程中只要检测到漏电流值超过设定值，仪器就会切断输出电压同时发 出声光报警。当被测物要求漏电流特别低、精度高，耐压测试仪在测量回路中低端悬浮，而低端 悬浮带来即使外壳带电再高，电流表也没有电流显示的弊端，在实际使用过程中经常会发 生高压接触到外壳的情况，在维修过程中也经常发现由于高压线老化及脱落造成高压对外 壳放电，存在安全隐患。
发明内容本实用新型要解决的问题是现有耐压测试仪在测量回路中低端悬浮，而低端悬 浮带来即使外壳带电再高，电流表也没有电流显示的弊端，存在安全隐患。本实用新型的技术方案为耐压测试仪漏电保护电路，与耐压测试仪连接，耐压测 试仪包括提供高压的高压发生器和用于处理测试数据的CPU，漏电保护电路包括取样模块、 电压跟随器、检波器、比较器和光耦隔离电路，在耐压测试仪高压发生器的电压输出低端连 接一取样电阻RX再接地，取样电阻RX即为取样模块，取样电阻RX的电压经电压跟随器、检 波器输入比较器的输入端，比较器的参考电压端连接一电位器VP，比较器的输出经光耦隔 离电路输入耐压测试仪的CPU。本实用新型设计了高压对外壳漏电保护电路，在高压发生器低端接取样电阻RX 对地，通过取样、比较，控制耐压测试仪的CPU输出电压通断，从而消除测试仪安全隐患。
图1为耐压测试仪的电路示意图。[0010]图2为本实用新型漏电保护电路的电路示意图。
具体实施方式
本实用新型针对现有技术中存在的问题，设计了高压对外壳漏电保护电路，原理 图如图2所示，漏电保护电路包括取样模块1、电压跟随器2、检波器3、比较器4和光耦隔离 电路5，在耐压测试仪高压发生器的电压输出低端连接一取样电阻RX再接地，取样电阻RX 即为取样模块1，取样电阻RX的电压经电压跟随器2、检波器3输入比较器4的输入端，比 较器4的参考电压端连接一电位器VP，比较器4的输出经光耦隔离电路5输入耐压测试仪 的 CPU。
具体实施方式
如下在高压发生器低端接取样电阻RX对地，通过取样，取样电阻RX的电压经电压跟随 器2、检波器3，再经一个电压跟随电路送入比较器4的输入端。在调试时根据耐压测试仪 各型号电流的大小，调节电位器VP，调节的电压信号由电压跟随电路送入比较器4的参考 电压输入端，获得比较器4的比较电压。当输入的取样信号大于比较电压时，比较器4的输 出端电压翻转，电压由高变低，信号经光耦隔离电路5隔离后送入CPU，CPU接收低电平信号 后，执行停止测试命令，耐压测试仪输出电压切断，从而消除测试仪安全隐患。
权利要求1.耐压测试仪漏电保护电路，与耐压测试仪连接，耐压测试仪包括提供高压的高压发 生器和用于处理测试数据的CPU，其特征是漏电保护电路包括取样模块(1)、电压跟随器 O)、检波器(3)、比较器(4)和光耦隔离电路(5)，在耐压测试仪高压发生器的电压输出低 端连接一取样电阻RX再接地，取样电阻RX即为取样模块(1)，取样电阻RX的电压经电压 跟随器O)、检波器C3)输入比较器的输入端，比较器的参考电压端连接一电位器 VP，比较器⑷的输出经光耦隔离电路(5)输入耐压测试仪的CPU。
专利摘要耐压测试仪漏电保护电路，与耐压测试仪连接，耐压测试仪包括提供高压的高压发生器和用于处理测试数据的CPU，漏电保护电路包括取样模块、电压跟随器、检波器、比较器和光耦隔离电路，在耐压测试仪高压发生器的电压输出低端连接一取样电阻RX再接地，取样电阻RX即为取样模块，取样电阻RX的电压经电压跟随器、检波器输入比较器的输入端，比较器的参考电压端连接一电位器VP，比较器的输出经光耦隔离电路输入耐压测试仪的CPU。本实用新型设计了高压对外壳漏电保护电路，在高压发生器低端接取样电阻RX对地，通过取样、比较，控制耐压测试仪的CPU输出电压通断，从而消除测试仪安全隐患。
文档编号H02H3/14GK201893538SQ20102065562
公开日2011年7月6日 申请日期2010年12月13日 优先权日2010年12月13日
发明者李求龙 申请人:南京民盛电子仪器有限公司