三相电机及其温度检测方法、装置、云台、可移动平台与流程

文档序号:20013009发布日期:2020-02-22 04:41阅读:595来源:国知局
三相电机及其温度检测方法、装置、云台、可移动平台与流程

本发明涉及电机领域,尤其涉及一种三相电机及其温度检测方法、装置、云台、可移动平台。



背景技术:

三相电机工作时,若存在负载不稳定、堵转或者其他异常情况,三相电机的相线圈会在短时间内集聚大量的热量而导致三相电机烧毁,从而造成用户损失。

为防止三相电机因相线圈的温度过高损坏而造成用户损失,需要对三相电机进行温度保护。在一方案中,基于一个温度传感器直接测量其中一个相线圈的温度,当温度传感器检测的温度超出温度保护阈值时,对三相电机进行温度保护。采用该方案,在一些工况下,三个相线圈之间会存在温度差异,可能出现其它线圈已经因温度过高而烧坏,而温度传感器检测的温度还没有达到温度保护阈值。

在另一方案中,在三相电机的每一相线圈上分别设置温度传感器,从而获取每相线圈的温度。当其中任一相线圈的温度超出温度保护阈值时,对三相电机进行温度保护。这种方式需要使用三个温度传感器,成本较高,且温度传感器安装难度高。



技术实现要素:

本发明提供一种三相电机及其温度检测方法、装置、云台、可移动平台。

具体地,本发明是通过如下技术方案实现的:

根据本发明的第一方面,提供一种三相电机的温度检测方法,所述三相电机包括第一相线圈、第二相线圈和第三相线圈,每一相线圈包括一个或多个线圈,所述方法包括:

获取所述第一相线圈和所述第二相线圈之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;

根据所述第一温度以及所述每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

根据本发明的第二方面,提供一种三相电机的温度检测装置,所述三相电机包括第一相线圈、第二相线圈和第三相线圈,每一相线圈包括一个或多个线圈,所述装置包括:

存储装置和处理器,所述处理器与每一相线圈分别电连接;

所述存储装置,用于存储程序指令;

所述处理器,调用所述程序指令,当所述程序指令被执行时,用于:

获取所述第一相线圈和所述第二相线圈之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;

根据所述第一温度以及所述每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

根据本发明的第三方面,提供一种三相电机,包括:

第一相线圈、第二相线圈和第三相线圈,每一相线圈包括一个或多个线圈;以及

处理器,所述处理器与每一相线圈分别电连接;

所述处理器用于:

获取所述第一相线圈和所述第二相线圈之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;

根据所述第一温度以及所述每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

根据本发明的第四方面,提供一种云台,用于搭载负载,包括:

转动机构;

用于驱动所述转动机构转动的三相电机;以及

处理器;

所述三相电机包括第一相线圈、第二相线圈和第三相线圈,其中,每一相线圈包括一个或多个线圈,所述处理器与每一相线圈分别电连接;

所述处理器用于:

获取所述第一相线圈和所述第二相线圈之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;

根据所述第一温度以及所述每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

根据本发明的第五方面,提供一种可移动平台,包括:

机身;

搭载在所述机身上的云台;以及

处理器;

所述云台包括转动机构以及用于驱动所述转动机构转动的三相电机,所述三相电机包括第一相线圈、第二相线圈和第三相线圈,其中,每一相线圈包括一个或多个线圈,所述处理器与每一相线圈分别电连接;

所述处理器用于:

获取所述第一相线圈和所述第二相线圈之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;

根据所述第一温度以及所述每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

由以上本发明实施例提供的技术方案可见,本发明通过获取两个相线圈之间的温度和每一相线圈中一线圈的发热功,即可确定每一相线圈的温度,从而为三相电机的温度保护提供数据支撑,实现方式简单。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例中的三相电机的线圈结构示意图;

图2是本发明另一实施例中的三相电机的线圈结构示意图;

图3是本发明一实施例中的三相电机的温度检测方法的方法流程图;

图4是本发明一实施例中的三相电机的温度检测方法的一具体方法流程图;

图5是本发明一实施例中的三相电机的温度检测方法的另一具体方法流程图;

图6是本发明一实施例中的三相电机的温度检测装置的结构框图;

图7是本发明一实施例中的三相电机的结构框图;

图8是本发明一实施例中的云台的结构框图;

图9是本发明一实施例中的可移动平台的结构框图;

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

下面结合附图,对本发明的三相电机及其温度检测方法、装置、云台、可移动平台进行详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例及实施方式中的特征可以相互组合。

结合图1和图2,本发明实施例的三相电机可包括第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3,其中,每一相线圈包括一个或多个线圈,同一相线圈的多个线圈为串联关系,即同一相线圈的多个线圈在同一时刻的电流(以下称为相电流)相同。

本实施例中,第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3围绕一圆周交替间隔排布。每个相线圈所包含的线圈的数量以及三个相线圈的排布方式可根据需要设计,例如,在一实施例中,参见图1,第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3分别包括4个线圈,第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3的线圈分别分成两组,每一相线圈的每组线圈包括两个线圈,每组线圈间隔排布,且相邻组线圈的相不同。

在另一实施例中,参见图2,第一相线圈1包括2个线圈,第二相线圈2和第三相线圈3分别包括4个线圈,第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3的线圈分别分成两组,第一相线圈1的每组线圈包括一个线圈,第二相线圈2和第三相线圈3的每组线圈包括两个线圈,每组线圈间隔排布,且相邻组线圈的相不同。

可以理解,每一相线圈的线圈数量和三个相线圈的排布方式并不限于上述两个实施例的实现方式,还可以根据需要设计成其他实现方式,此处不一一列举。

实施例一将对三相电机的温度检测方法进行具体阐述。

实施例一

图3为本发明实施例一提供的一种三相电机的温度检测方法的方法流程图。参见图3,本发明实施例的三相电机的温度检测方法可以包括如下步骤:

步骤s301:获取第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;

在本实施例中,结合图1和图2,三相电机包括一温度传感器4,该温度传感器4设于第一相线圈1和第二相线圈2之间,步骤s301中的第一温度由该温度传感器4检测获得。本实施例将温度传感器4设于第一相线圈1和第二相线圈2之间即可,温度传感器4无需与相线圈固定,降低了温度传感器4的安装难度。

温度传感器4设置在第一相线圈1和第二相线圈2之间的具体位置可根据需要选择。在本实施例中,温度传感器4设于第一相线圈1和第二相线圈2的一相邻线圈之间,第一温度为相邻线圈之间的温度。本实施例中,第一温度可能近似为上述相邻线圈温度的平均温度,也可能为上述相邻线圈温度中的最高温度。

本实施例的温度传感器4可设于第一相线圈1和第二相线圈2的一相邻线圈之间的任一位置,例如,第一相线圈1和第二相线圈2的一相邻线圈的中间位置。此外,温度传感器4的类型可根据需要选择,例如,模拟温度传感器4、数字温度传感器4。

进一步的,步骤301中获取每一相线圈中一线圈的发热功的实现方式可包括但不限于以下两种方式:

第一种,获取每一相线圈的相电流、线圈电阻、驱动电压中的至少两个;根据每一相线圈的相电流、线圈电阻、驱动电压中的至少两个,确定每一相线圈中一线圈的发热功。

在根据每一相线圈的相电流、线圈电阻、驱动电压中的至少两个,确定每一相线圈中一线圈的发热功时,可采用不同的实现方式。

具体而言,在一实现方式中,首先,根据每一相线圈的相电流、线圈电阻、驱动电压中的至少两个,确定每一相线圈的瞬时功率。在确定每一相线圈的瞬时功率之后,对特定时间段内每一相线圈的瞬时功率进行积分,获得每一相线圈在特定时间段内的发热功。最后,根据每一相线圈在特定时间段内的发热功和每一相线圈的线圈数,确定每一相线圈中一线圈的发热功。本实施例中,每一相线圈中一线圈的发热功=该相线圈在特定时间段内的发热功/该相线圈的线圈数。

可根据如下任一公式来计算相线圈的瞬时功率p:

p=i*i*r(1)

p=u*u/r(2)

p=i*u(3)

上述公式(1)、(2)、(3)中,i为相电流,r为线圈电阻,u为驱动电压。

在一具体实现方式中,特定时间为t,第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3的线圈数均为4。对t时间段内每一相线圈的瞬时功率进行积分后,获得第一相线圈1的发热功4w1、第二相线圈2的发热功4w2以及第三相线圈3的发热功4w3,第一相线圈1中任一线圈的发热功为w1,第二相线圈2中任一线圈的发热功为w2,第三相线圈3中任一线圈的发热功为w3。

在另一实现方式中,首先,根据每一相线圈的相电流、线圈电阻、驱动电压中的至少两个以及每一相线圈的线圈数,确定每一相线圈中一线圈的瞬时功率。在确定每一相线圈中一线圈的瞬时功率之后,对特定时间段内每一相线圈中一线圈的瞬时功率进行积分,获得每一相线圈中一线圈的发热功。

可根据如下任一公式来每一相线圈中一线圈的瞬时功率pn:

pn=i*i*r/n(4)

pn=u*u/r/n(5)

pn=i*u/n(6)

上述公式(4)、(5)、(6)中,i为相电流,r为线圈电阻,u为驱动电压,n为线圈数。

第二种,首先,获取每一相线圈的相电流、每一相线圈中一线圈的线圈电阻、每一相线圈中一线圈的驱动电压中的至少两个。接着,根据每一相线圈的相电流、每一相线圈中一线圈的线圈电阻、每一相线圈中一线圈的驱动电压中的至少两个,确定每一相线圈中一线圈的瞬时功率。最后,对特定时间段内每一相线圈中一线圈的瞬时功率进行积分,获得每一相线圈中一线圈的发热功。

可根据如下任一公式来每一相线圈中一线圈的瞬时功率pn:

pn=i*i*rn(7)

pn=un*un/rn(8)

pn=i*un(9)

上述公式(7)、(8)、(9)中,i为相电流,rn为对应相线圈中一线圈的线圈电阻,u为对应相线圈中一线圈的驱动电压,n为线圈数。

步骤s302:根据第一温度以及每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

其中,步骤s302的实现方式可包括多种,例如,在一实施例中,参见图4,步骤s302的实现过程可包括如下步骤:

步骤s401:根据每一相线圈中一线圈的发热功、预设系数,确定第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温差、第一相线圈1和第三相线圈3之间的第二温差;

步骤s402:根据第一温度和第一温差,确定第一相线圈1的第二温度以及第二相线圈2的第二温度;

步骤s403:根据第一相线圈1的第二温度和第二温差,确定第三相线圈3的第二温度。

本实施例中,预设系数包括第一预设系数和第二预设系数。第一温差为根据第一相线圈1中一线圈的发热功与第二相线圈2中一线圈的发热功的偏移量,以及第一预设系数确定。其中,若该偏移量为第一相线圈1中一线圈的发热功与第二相线圈2中一线圈的发热功的差值,且偏移量与第一温差均为正数或负数,则第一相线圈1的第二温度为第一温度与第一温差的和值,第二相线圈2的第二温度为第一温度与第一温差的差值。若该偏移量为第一相线圈1中一线圈的发热功与第二相线圈2中一线圈的发热功的差值,且偏移量与第一温差中的一个为正数、另一个为负数,则第一相线圈1的第二温度为第一温度与第二温差的差值,第二相线圈2的第二温度为第一温度与第二温差的和值。

相应的,第二温差为根据第一相线圈1中一线圈的发热功与第三相线圈3中一线圈的发热功的偏移量,以及第二预设系数确定。若该偏移量为第一相线圈1中一线圈的发热功与第三相线圈3中一线圈的发热功的差值,且偏移量与第二温差均为正数或负数,则第三相线圈3的第二温度为第一相线圈1的第二温度与第二温差的差值。若该偏移量为第一相线圈1中一线圈的发热功与第三相线圈3中一线圈的发热功的差值,且偏移量与第二温差中的一个为正数、另一个为负数,则第三相线圈3的第二温度为第一相线圈1的第二温度与第二温差的和值。

其中,第一预设系数和第二预设系数受三相电机的散热条件、线圈电阻、线圈数的影响,故不同类型的三相电机,第一预设系数和第二预设系数会不同。在该步骤中,第一预设系数、第二预设系数是根据三相电机的类型确定的。

具体的,可通过预先实验来确定每种类型的三相电机的第一预设系数k12和第二预设系数k13。首先,在三相电机的第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3上分别设置温度传感器。接着,启动三相电机,通过三个温度传感器对应检测第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3的温度t1实验、t2实验、t3实验。再基于步骤s301确定第一相线圈1中一线圈的发热功w1、第二相线圈2中一线圈的发热功w2和第三相线圈3中一线圈的发热功w3,再根据下述公式(10)、(11)来确定第一预设系数k12和第二预设系数k13。

(t1实验-t2实验)=(w1-w2)*k12(10)

(t1实验-t3实验)=(w1-w3)*k13(11)

在确定了第一预设系数k12和第二预设系数k13之后,实际进行三相电机的温度检测时,只需在第一相线圈1和第二相线圈2之间设置温度传感器,并根据下述公式(12)来确定第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温差δt12以及第一相线圈1和第三相线圈3之间的第二温差δt13:

若(w1-w2)为正数、δt12也为正数,或者,(w1-w2)为负数、δt12也为负数,则第一相线圈1的第二温度t1=t12+δt12、第二相线圈2的第二温度t2=t12-δt12。若(w1-w2)为正数、δt12为负数,或者,(w1-w2)为负数、δt12为正数,则t1=t12-δt12、t2=t12+δt12。

若(w1-w3)为正数、δt13也为正数,或者,(w1-w3)为负数、δt13也为负数,则第三相线圈3的第二温度t3=t1-δt13。若(w1-w3)为正数、δt13为负数,或者,(w1-w3)为负数、δt13为正数,则t3=t1+δt13。

在另一实施例中,参见图5,步骤s302的实现过程可包括如下步骤:

步骤s501:根据每一相线圈中一线圈的发热功、预设系数,确定第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温差、第二相线圈2和第三相线圈3之间的第三温差;

步骤s502:根据第一温度和第一温差,确定第一相线圈1的第二温度以及第二相线圈2的第二温度;

步骤s503:根据第二相线圈2的第二温度和第三温差,确定第三相线圈3的第二温度。

其中,第一温差的解释可参见上述实施例中相应的部分,此处不再赘述。

进一步的,本实施例的预设系数还包括第三预设系数。第三温差为根据第二相线圈2中一线圈的发热功与第三相线圈3中一线圈的发热功的偏移量,以及第三预设系数确定。若该偏移量为第二相线圈2中一线圈的发热功与第三相线圈3中一线圈的发热功的差值,且偏移量与第二温差均为正数或负数,则第三相线圈3的第二温度为第二相线圈2的第二温度与第二温差的差值。若该偏移量为第二相线圈2中一线圈的发热功与第三相线圈3中一线圈的发热功的差值,且偏移量与第二温差中的一个为正数、另一个为负数,则第三相线圈3的第二温度为第二相线圈2的第二温度与第二温差的和值。

第一预设系数和第三预设系数受三相电机的散热条件、线圈电阻、线圈数的影响,故不同类型的三相电机,第一预设系数和第三预设系数会不同。在该步骤中,第一预设系数、第三预设系数是根据三相电机的类型确定的。

具体的,可通过预先实验来确定每种类型的三相电机的第一预设系数k12和第三预设系数k23。首先,在三相电机的第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3上分别设置温度传感器。接着,启动三相电机,通过三个温度传感器对应检测第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3的温度t1实验、t2实验、t3实验。再基于步骤s301确定第一相线圈1中一线圈的发热功w1、第二相线圈2中一线圈的发热功w2和第三相线圈3中一线圈的发热功w3,再根据下述公式(13)、(14)来确定第一预设系数k12和第三预设系数k23。

(t1实验-t2实验)=(w1-w2)*k12(13)

(t2实验-t3实验)=(w2-w3)*k23(14)

在确定了第一预设系数k12和第三预设系数k23之后,实际进行三相电机的温度检测时,只需在第一相线圈1和第二相线圈2之间设置温度传感器,并根据下述公式(15)来确定第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温差δt12以及第一相线圈1和第三相线圈3之间的第三温差δt23:

若(w1-w2)为正数、δt12也为正数,或者,(w1-w2)为负数、δt12也为负数,则t1=t12+δt12、t2=t12-δt12。若(w1-w2)为正数、δt12为负数,或者,(w1-w2)为负数、δt12为正数,则t1=t12-δt12、t2=t12+δt12。

若(w2-w3)为正数、δt23也为正数,或者,(w2-w3)为负数、δt23也为负数,则t3=t2-δt23。若(w2-w3)为正数、δt23为负数,或者,(w2-w3)为负数、δt23为正数,则t3=t2+δt23。

可以理解,步骤s301中获取第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温度,也可以替换成获取第一相线圈1和第三相线圈3之间的第一温度,或者替换成获取第二相线圈2和第三相线圈3之间的第一温度,对应的,温度传感器4设于第一相线圈1和第三相线圈3之间或第二相线圈2和第三相线圈3之间。替代方案的实现过程和原理与上述实施例相类似,此处不再赘述。

进一步的,在执行步骤s302之后,当任一相线圈对应的第二温度大于或者等于预设温度阈值时,对三相电机进行温度保护,防止三相电机因相线圈的温度过高而烧毁,对三相电机进行有效的温度保护。其中,预设温度阈值可根据电机类型等因素确定。

在本实施例中,可选择不同的策略来实现对三相电机进行温度保护。可选的,当任一相线圈对应的第二温度大于或者等于预设温度阈值时,切断三相电机的电源,使得三相电机停止工作,能够较快的降低相线圈的温度,防止三相电机因相线圈的温度过高而烧毁。

可选的,当任一相线圈对应的第二温度大于或者等于预设温度阈值时,减小输入至每一相线圈的驱动电压大小,从而降低相线圈的相电流,以降低相线圈的温度,防止三相电机因相线圈的温度过高而烧毁。

上述实施例的三相电机的温度检测方法可应用于三相无刷电机上,也应用于三相有刷电机上。

此外,本实施例的三相电机的温度检测方法的执行主体可以为三相电机处理器,也可以为用于驱动三相电机的装置的处理器,如电调处理器、云台处理器或可移动平台处理器。

本发明实施例的三相电机的温度检测方法,通过获取两个相线圈之间的温度和每一相线圈中一线圈的发热功,即可确定每一相线圈的温度,从而为三相电机的温度保护提供数据支撑,实现方式简单。

本发明实施例仅采用一个温度传感器4,配合温度检测算法,即可估算出每一相线圈的温度,结构简单,成本较低,能够对三相电机进行有效的温度保护。

实施例二

与上述实施例一的三相电机的温度检测方法相对应,本发明实施例二提供一种三相电机的温度检测装置。参见图6,所述装置可包括存储装置和处理器20,处理器20与每一相线圈分别电连接。存储装置用于存储程序指令,处理器20调用程序指令,当程序指令被执行时,处理器20用于执行如图3至图5的三相电机的温度检测方法。

具体的,处理器20用于:获取第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;根据第一温度以及每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

处理器20的实现过程和工作原理可参见上述实施例一的三相电机的温度检测方法的描述,此处不再赘述。

其中,存储装置可以包括易失性存储器(volatilememory),例如随机存取存储器(random-accessmemory,ram);存储装置也可以包括非易失性存储器(non-volatilememory),例如快闪存储器(flashmemory),硬盘(harddiskdrive,hdd)或固态硬盘(solid-statedrive,ssd);存储装置还可以包括上述种类的存储器的组合。

本实施例的处理器20可以是中央处理器(centralprocessingunit,cpu)。处理器20还可以进一步包括硬件芯片。上述硬件芯片可以是专用集成电路(application-specificintegratedcircuit,asic),可编程逻辑器件(programmablelogicdevice,pld)或其组合。上述pld可以是复杂可编程逻辑器件(complexprogrammablelogicdevice,cpld),现场可编程逻辑门阵列(field-programmablegatearray,fpga),通用阵列逻辑(genericarraylogic,gal)或其任意组合。

本实施例的处理器20可以为用于驱动三相电机工作的电调处理器,也可以为云台处理器,还可以为可移动平台处理器。

实施例三

参见图7,本发明实施例三提供一种三相电机,该三相电机200可包括第一相线圈1、第二相线圈2和第三相线圈3以及处理器,其中,每一相线圈包括一个或多个线圈,处理器210与每一相线圈分别电连接。本实施例的处理器210用于执行如图3至图5的三相电机的温度检测方法。

具体的,处理器210用于:获取第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;根据第一温度以及每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

处理器210的实现过程和工作原理可参见上述实施例一的三相电机的温度检测方法的描述,此处不再赘述。

本实施例的处理器210可以是中央处理器(centralprocessingunit,cpu)。处理器210还可以进一步包括硬件芯片。上述硬件芯片可以是专用集成电路(application-specificintegratedcircuit,asic),可编程逻辑器件(programmablelogicdevice,pld)或其组合。上述pld可以是复杂可编程逻辑器件(complexprogrammablelogicdevice,cpld),现场可编程逻辑门阵列(field-programmablegatearray,fpga),通用阵列逻辑(genericarraylogic,gal)或其任意组合。

实施例四

参见图8,本发明实施例四提供一种云台,该云台2000可用于搭载负载,如相机、图像传感器等拍摄装置,也可用于搭载其他负载,如射击装置。本实施例的云台2000可包括转动机构100、三相电机200以及处理器300。其中,三相电机200用于驱动转动机构100转动。

本实施例的处理器300用于执行如图3至图5的三相电机的温度检测方法。

具体的,处理器300用于:获取第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;根据第一温度以及每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

处理器300的实现过程和工作原理可参见上述实施例一的三相电机的温度检测方法的描述,此处不再赘述。

在本实施例中,处理器300可以为云台处理器,也可以为三相电机的处理器,还可以为设于云台2000上的其他处理器。

另外,本实施例的处理器300可以是中央处理器(centralprocessingunit,cpu)。处理器300还可以进一步包括硬件芯片。上述硬件芯片可以是专用集成电路(application-specificintegratedcircuit,asic),可编程逻辑器件(programmablelogicdevice,pld)或其组合。上述pld可以是复杂可编程逻辑器件(complexprogrammablelogicdevice,cpld),现场可编程逻辑门阵列(field-programmablegatearray,fpga),通用阵列逻辑(genericarraylogic,gal)或其任意组合。

本实施例的云台2000可以为单轴云台、两轴云台、三轴云台或者其他云台。

转动机构100可包括绕偏航轴转动的转动机构、绕俯仰轴转动的转动机构和绕横滚轴转动的转动机构中的至少一种,三相电机200对应包括偏航轴电机、俯仰轴电机和横滚轴电机中的至少一种。偏航轴电机、俯仰轴电机和横滚轴电机用于驱动对应的转动机构转动,具体的,偏航轴电机用于驱动绕偏航轴转动的转动机构转动,俯仰轴电机用于驱动绕俯仰轴转动的转动机构转动,横滚轴电机用于驱动绕横滚轴转动的转动机构转动。

实施例五

参见图9,本发明实施例五提供一种可移动平台,该可移动平台可包括机身1000、云台2000以及处理器3000。其中,云台2000搭载在机身1000上,云台200包括转动机构以及用于驱动转动机构转动的三相电机。三相电机包括第一相线圈、第二相线圈和第三相线圈,其中,每一相线圈包括一个或多个线圈,处理器3000与每一相线圈分别电连接。

本实施例的处理器3000用于执行如图3至图5的三相电机的温度检测方法。

具体的,处理器3000用于:获取第一相线圈1和第二相线圈2之间的第一温度,并获取每一相线圈中一线圈的发热功;根据第一温度以及每一相线圈中一线圈的发热功,确定每一相线圈的第二温度。

处理器3000的实现过程和工作原理可参见上述实施例一的三相电机的温度检测方法的描述,此处不再赘述。

在本实施例中,处理器3000可以为可移动平台处理器、云台处理器,也可以为三相电机处理器,还可以为设于可移动平台上的其他处理器。当可移动平台为无人机时,处理器3000可以为飞行控制器。

另外,本实施例的处理器3000可以是中央处理器(centralprocessingunit,cpu)。处理器3000还可以进一步包括硬件芯片。上述硬件芯片可以是专用集成电路(application-specificintegratedcircuit,asic),可编程逻辑器件(programmablelogicdevice,pld)或其组合。上述pld可以是复杂可编程逻辑器件(complexprogrammablelogicdevice,cpld),现场可编程逻辑门阵列(field-programmablegatearray,fpga),通用阵列逻辑(genericarraylogic,gal)或其任意组合。

本实施例的云台2000可以为单轴云台、两轴云台、三轴云台或者其他云台。

进一步的,云台2000的转动机构100可包括绕偏航轴转动的转动机构、绕俯仰轴转动的转动机构和绕横滚轴转动的转动机构中的至少一种,三相电机200对应包括偏航轴电机、俯仰轴电机和横滚轴电机中的至少一种。偏航轴电机、俯仰轴电机和横滚轴电机用于驱动对应的转动机构转动,具体的,偏航轴电机用于驱动绕偏航轴转动的转动机构转动,俯仰轴电机用于驱动绕俯仰轴转动的转动机构转动,横滚轴电机用于驱动绕横滚轴转动的转动机构转动。

本实施例的云台2000用于搭载负载,如拍摄装置4000和/或射击装置,还可用于搭载其他负载。在一实施例中,云台2000用于搭载拍摄装置4000并用于调节拍摄装置4000的姿态(例如:改变拍摄装置4000的高度、倾角和/或方向)和使拍摄装置4000稳定保持在确定的姿态上。其中,拍摄装置4000可以为相机,也可为图像传感器等。

本实施例的可移动平台可以为无人飞行器,如无人机,也可以为地面移动设备,如遥控小车,还可以为水面移动设备,如遥控船舶。

在一具体实现方式中,可移动平台为移动小车,云台2000用于搭载射击装置。移动小车可应用于机器人对抗赛,当移动小车由于翻车或碰撞赛场上的障碍物等导致云台2000的三相电机产生负载不稳定、堵转或者其他异常情况时,三相电机的相线圈在短时间内集聚大量的热量而导致三相电机烧毁的风险极大。本实施例通过获取三相电机中两个相线圈之间的温度和每一相线圈中一线圈的发热功,即可确定每一相线圈的温度,从而在任一相线圈温度过高时,启动三相电机的温度保护,防止三相电机因相线圈温度过高而烧毁。如此,在移动小车的对抗赛过程中,有利于避免移动小车由于三相电机的损坏而导致对抗不佳的情况发生。其中,在实现时,只需使用一个温度传感器获取两个相线圈之间的温度,实现方式简单、成本较低,并且温度传感器无需与相线圈固定,降低了温度传感器的安装难度

此外,本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述实施例一的三相电机的温度检测方法的步骤。

对于装置实施例而言,由于其基本对应于方法实施例,所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-onlymemory,rom)或随机存储记忆体(randomaccessmemory,ram)等。

以上所揭露的仅为本发明部分实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明权利要求所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。

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