具体实施例做详细的说明。
[0047]继续参考图2，本发明实施例涉及的充电控制电路I包括:电流电压控制端Cl、防倒灌控制端C2、电压采样端SI和电流采样端S2、电压调节端IN、防倒灌控制电路11、电流控制环路12、电压控制环路13、第一电阻Rl和第二电阻R2。
[0048]防倒灌控制电路11连接防倒灌控制端C2。
[0049]电流控制环路12的第一输入端连接电流采样端S2，电流控制环路12的第二输入端连接电压采样端SI和第一电阻Rl的第一端。电流控制环路12的输出端连接电流电压控制端Cl。
[0050]电压控制环路13的第一输入端适于输入基准电压Vref，电压控制环路13的第二输入端连接第一电阻Rl的第二端和第二电阻R2的第一端，电压控制环路13的输出端连接电流电压控制端Cl。第二电阻R2的第二端接地。通过电压调节端IN输入的测试数据可以设置第二电阻R2的电阻值。本实施例涉及的充电控制电路I也可以采用其他现有架构，此处不做限制。
[0051 ] 所述充电控制电路I适于输入充电电压。
[0052]如图3所示，本发明实施例提供一种充电控制电路的校准方法，包括:
[0053]步骤S11，施加目标电压至所述电压采样端SI ；
[0054]步骤S12，通过电压调节端IN依次输入N个测试数据，N > 2，第η个测试数据大于第η-1个测试数据，N彡η彡2;
[0055]步骤S13，测量所述电流电压控制端Cl的检测电压以获得每个测试数据对应的检测电压；
[0056]步骤S14，将突变测试电压对应的测试数据作为所述充电控制电路的校准数据，所述突变测试电压为检测电压中的第一个电压值小于或等于电压阈值的检测电压，所述电压阈值为所述充电电压的电压值的一半。
[0057]所述目标电压为充电控制电路I正常工作(非测试阶段)时电压采样端SI所需的电压，即电池所需的电压。
[0058]所述测试数据可以为二进制数据，所述二进制数据的最小值为第I个测试数据，所述第η个测试数据和第η-1个测试数据的差值为I。例如，测试数据为六位二进制数据，则第I个测试数据为六位二进制数据的最小值000000，将第I个测试数据加I后作为第2个测试数据，即第2个测试数据为000001，以此类推。
[0059]所述N个测试数据可以是从每一位都为O到每一位都为I的全部二进制数据。例如，测试数据为六位二进制数据，则测试数据包括从000000至111111的全部二进制数据。在该情况下，需要在测量到的全部检测电压中确定突变测试电压，即第一个电压值小于或等于电压阈值的检测电压。
[0060]所述N个测试数据也可以是从每一位都为O到每一位都为I的部分二进制数据，突变测试电压所对应的测试数据为最后一个测试数据。在该情况下，测量到突变测试电压后，不再继续输入测试数据，校准方法结束。
[0061]测试数据按照从小到大的顺序被依次输入时，第二电阻R2的电阻值会逐渐变小。在该情况下，检测电压先保持在与充电电压相同的电压值，然后在某个测试数据输入后突然变为小于或等于充电电压的电压值的一半，此时的检测电压即为突变测试电压，而该测试数据为校准数据。
[0062]所述充电电压可以为5-9V，所述充电电压为适配器输入充电控制电路I的电压。
[0063]充电控制电路I通常集成在芯片中，其他元件都是外立元件。本实施例提供的校准方法仅利用充电控制电路I的三个端口，即电压采样端S1、电压调节端IN和电流电压控制端Cl，无需电压采样端S1、电压调节端IN和电流电压控制端Cl连接其他电路，避免了在充电控制电路I的测试过程中损坏其他电路元件。
[0064]下面通过举例对本实施例提供的校准方法做进一步说明。
[0065]假设电池所需的电压为4.2V，适配器输出的充电电压为5V，电压阈值为2.5V，测试数据为六位二进制数据。
[0066]执行步骤SI I，施加电压值为4.2V的目标电压至电压采样端SI。
[0067]执行步骤S12，通过电压调节端IN依次输入第I个测试数据000000、第2个测试数据000001、第3个测试数据000010、第4个测试数据000011.....第64个测试数据111111 ;
[0068]执行步骤S13，测量电流电压控制端Cl的检测电压，获得第I个测试数据000000对应的检测电压为5V、第2个测试数据000001对应的检测电压为5V、第3个测试数据000010对应的检测电压为2.5V、第4个测试数据000011对应的检测电压为OV……第64个测试数据111111对应的检测电压为OV ；
[0069]执行步骤S14，电压值小于或等于2.5V的检测电压包括第3个测试数据000010对应的检测电压、第4个测试数据000011对应的检测电压……第64个测试数据111111对应的检测电压，其中，电压值为2.5V的检测电压为所有检测电压中第一个电压值小于或等于2.5V的检测电压，所述电压值为2.5V的检测电压为突变测试电压，所述电压值为2.5V的检测电压对应的第3个测试数据000010作为充电控制电路I校准数据。
[0070]在上述步骤S13中，测试数据和检测电压还可能存在一种情况??第I个测试数据000000对应的检测电压为5V、第2个测试数据000001对应的检测电压为5V、第3个测试数据000010对应的检测电压为0V、第4个测试数据000011对应的检测电压为OV……第64个测试数据111111对应的检测电压为0V。在该情况下，电压值小于或等于2.5V的检测电压包括第3个测试数据000010对应的检测电压、第4个测试数据000011对应的检测电压……第64个测试数据111111对应的检测电压，其中，第一个电压值小于或等于2.5V的检测电压为第3个测试数据000010对应的检测电压，则所述电压值为OV的检测电压为突变测试电压，第3个测试数据000010为充电控制电路I校准数据。
[0071]在上述举例中，也可以不将全部六位二进制测试数据全部输入，而是在确定突变检测电压后停止输入测试数据，具体包括如下步骤:
[0072]通过电压调节端IN输入第I个测试数据000000 ；
[0073]测量电流电压控制端Cl的检测电压为5V，第I个测试数据000000对应的检测电压的电压值大于电压阈值；
[0074]通过电压调节端IN继续输入第2个测试数据000001 ；
[0075]测量电流电压控制端Cl的检测电压为5V，第2个测试数据000001对应的检测电压的电压值大于电压阈值；
[0076]通过电压调节端IN继续输入第3个测试数据000010 ；
[0077]测量电流电压控制端Cl的检测电压为2.5V，第3个测试数据000010对应的检测电压的电压值等于电压阈值，则停止继续输入测试数据，第3个测试数据000010为最后一个测试数据，将第3个测试数据000010作为校准数据。
[0078]如图4所示，本发明实施例还提供一种充电控制电路的校准方法，包括:
[0079]步骤S21，施加目标电压至所述电压采样端SI ；
[0080]步骤S22，通过电压调节端IN依次输入N个测试数据，N > 2，第η个测试数据小于第η-1个测试数据，N彡η彡2;
[0081]步骤S23，测量所述电流电压控制端Cl的检测电压以获得每个测试数据对应的检测电压；
[0082]步骤S24，将突变测试电压对应的测试数据作为所述充电控制电路的校准数据，所述突变测试电压为检测电压中的第一个电压值大于或等于电压阈值的检测电压，所述电压阈值为所述充电电压的电压值的一半。
[0083]所述测试数据可以为二进制数据，所述二进制数据的最大值为第I个测试数据，所述第η-1个测试数据和第η个测试数据的差值为I。例如，测试数据为六位二进制数据，则第I个测试数据为六位二进制数据的最大值111111，将第I个测试数据减I后作为第2个测试数据，即第2个测试数据为111110，以此类推。
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