技术特征：
1.一种模拟量采样控制方法，其特征在于，包括步骤：fpga接收ad采样芯片发出的状态信息，根据状态信息判断ad采样芯片的状态是否正常；若状态正常，则将采样数据对应的标识位置1；若状态不正常，则将采样数据对应的标识位置0，并启动复位逻辑对ad采样芯片进行复位；将采样数据及其状态信息进行封装组成数据帧，将该数据帧通过gmac发送至处理器；通过gmac接口获取采样数据，并做二级缓存，实时判断缓存区空间，若空间不够判为溢出，则将本次发送数据丢弃并进行溢出累计；若未发生溢出则对ad中断寄存器进行配置，ad采样完成；cpu接收采样数据后，针对crc校验和数据传输间隔进行有效性判别，若crc校验通过且数据传输间隔不超差则认为数据有效，反之，有任一错误时认为数据异常。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述状态信息包括芯片状态信号busy和第一组采样信号指示信号frstdata。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据状态信息判断ad采样芯片的状态是否正常，包括：芯片状态信号busy的高电平状态持续时间t1大于第一预设时间t
thrd
；或者，在采样使能信号有效后，第二组采样时钟脉冲信号开始之前，第一组采样信号指示信号frstdata未出现上升沿和下降沿；ad采样芯片的状态不正常。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在启动复位逻辑对ad采样芯片进行复位后，至少间隔第二预设时间t
delay
进行下一次采样。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对发送至处理器的数据帧进行crc校验和数据传输间隔检查，如果crc校验不通过或数据间隔超差，则将数据帧丢弃。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述crc校验包括crc码错误校验、通道特征码校验、通道个数校验。7.一种模拟量采样控制装置，其特征在于，包括ad采样芯片状态判断模块、ad采样芯片状态处理模块、ad采样数据传输模块、ad采样数据传输溢出处理模块、ad数据有效判别模块；其中，所述ad采样芯片状态判断模块，接收ad采样芯片发出的状态信息，根据状态信息判断ad采样芯片的状态是否正常；所述ad采样芯片状态处理模块，若状态正常，则将采样数据对应的标识位置1，若状态不正常；则将采样数据对应的标识位置0，并启动复位逻辑对ad采样芯片进行复位；所述ad采样数据传输模块，将采样数据及其状态信息进行封装组成数据帧，将该数据帧通过gmac发送至处理器；所述ad采样数据传输溢出处理模块，通过gmac接口获取采样数据，并做二级缓存，实时判断缓存区空间，若空间不够判为溢出，则将本次发送数据丢弃并进行溢出累计；若未发生溢出则对ad中断寄存器进行配置，ad采样完成；所述ad数据有效判别模块，在cpu接收采样数据后，针对crc校验和数据传输间隔进行有效性判别，若crc校验通过且数据传输间隔不超差则认为数据有效，反之，有任一错误时
认为数据异常。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述状态信息包括芯片状态信号busy和第一组采样信号指示信号frstdata。9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述ad采样芯片状态判断模块，根据状态信息判断ad采样芯片的状态是否正常，包括：芯片状态信号busy的高电平状态持续时间t1大于第一预设时间t
thrd
；或者，在采样使能信号有效后，第二组采样时钟脉冲信号开始之前，第一组采样信号指示信号frstdata未出现上升沿和下降沿；ad采样芯片的状态不正常。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，在启动复位逻辑对ad采样芯片进行复位后，至少间隔第二预设时间t
delay
进行下一次采样。