烹饪器具的制作方法

本技术的实施例涉及生活电器，具体而言，涉及一种烹饪器具。

背景技术：

1、目前，常规的高硼硅玻璃无法应用在电磁灶上面，因为高硼硅玻璃耐温通常<380℃，而锅具干烧时锅底温度能达到500℃以上，容易造成玻璃破裂。

2、相关技术中，在高硼硅玻璃底部设置ntc(也可以是其他测温组件)，在锅具发生干烧的时候，锅底温度能够快速的传寄给ntc，ntc从而切断电磁加热避免高硼硅玻璃破裂，为了解决在电磁加热任意区域均可快速保护高硼硅玻璃破裂，需要在玻璃底部设置大量的ntc。

3、然而，大量的ntc需要和主控板连接进行稳定的数据交换，而ntc下方即为电磁加热区域，电磁场非常强，且较强的电磁场会对ntc与主控板的连接线产生干扰，导致ntc不能及时检测锅具的干烧情况，增加高硼硅玻璃面板破裂的风险。

技术实现思路

1、本实用新型的实施例旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

2、为此，本实用新型的实施例的第一方面提供了一种烹饪器具。

3、有鉴于此，根据本实用新型的实施例的第一方面，提供了一种烹饪器具，烹饪器具包括：器具本体；面板，设于器具本体，并与器具本体围设形成安装腔；电磁线圈加热件，设于安装腔内，电磁线圈加热件包括线圈盘；以及多个测温元件，设于面板朝向安装腔的一侧，每个测温元件包括第一引出线和第二引出线；其中，至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距小于第一预设间距；或至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘的中轴线之间的间距小于第二预设间距。

4、本实用新型实施例提供的烹饪器具包括器具本体、面板、电磁线圈加热件和多个测温元件，具体而言，面板设置在器具本体上，且面板与器具本体围合形成安装腔，电磁线圈加热件设置在安装腔内。能够理解的是，导磁锅具可取放地设于面板上，其中，烹饪器具可以包括导磁锅具，当然，也可以是用户家用的导磁锅具。

5、电磁线圈加热件在启动工作时，能够产生电磁场，电磁场作用在导磁锅具上，从而使导磁锅具产生涡流而发热，进而实现对导磁锅具内食材的烹饪。其中，电磁线圈加热件包括线圈盘。

6、可以理解的是，当导磁锅具发生干烧时，锅底温度能够达到500℃以上，而面板一般采用高硼硅玻璃面板，相较于采用微晶玻璃材料制造的面板而言，降低烹饪器具的生产成本。但是高硼硅玻璃面板的耐热温度通常小于380℃，当导磁锅具发生干烧时，易导致高硼硅玻璃面板因受热过高而具有破裂的风险。

7、通过在面板的内表面设置多个测温元件，当锅具发生干烧时，锅底温度能够传递给测温元件，以使烹饪器具的主控板根据测温元件的测温数据降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止工作，进而防止锅具持续干烧的同时，降低面板因受热过高而破裂的风险，延长烹饪器具的使用寿命。

8、在实际应用中，多个测温元件相互间隔设置，从而增大测温元件的测温区域，以在面板的任意局部区域发生干扰都能被及时检测到，进一步降低面板开裂的风险。

9、烹饪器具还包括主控板，主控板与测温元件的引出线相连，以使测温元件能够将测得的温度数据传递给主控板，即多个测温元件通过引出线与主控板进行稳定的数据交换。由于多个测温元件的下方即为电磁线圈加热件的线圈盘，当电磁线圈加热件开始工作时，线圈盘产生的电磁场非常强，会对多个测温元件的引出线产生干扰，降低测温元件对锅具测得温度的准确性，增加面板开裂的风险。

10、第一种方案，每个测温元件包括第一引出线和第二引出线，其中，多个测温元件中至少一个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距小于第一预设间距，也就是说，将至少一个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小。能够理解的是，第一引出线与第二引出线阻抗接近，将至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距设置的较小，可以使第一引出线和第二引出线的磁场干扰强度接近，从而使第一引出线与第二引出线之间的共膜磁场噪音被消除，即消除了电磁场对第一引出线和第二引出线的干扰，提高测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。

11、值得说明的是，每个测温元件的第一引出线和第二引出线的延伸方向相同，并小于第一预设间距，即将每个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小，进而能够提高多个测温元件测温的准确性，进一步降低面板锅具干烧而受热过高，进而发生开裂的风险。

12、第二种方案，每个测温元件包括第一引出线和第二引出线，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘中轴线之间的间距小于第二预设间距，也就是说，将至少一个第一引出线或第一引出线的延长线与线圈盘的中轴线之间的间距较小，近乎相交，从而使得第一引出线的延伸方向与线圈盘产生的电磁场近乎垂直，从而使得电磁场对第一引出线不做功或做较少的功，进而减小电磁场对第一引出线的干扰，提高测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。

13、进一步地，至少一个第二引出线沿线圈盘的周向并靠近面板的外边缘设置，也就是说，将至少一个第二引出线尽可能地远离电磁场进行绕设，进而降低电磁场对至少一个第二引出线的干扰，进一步提高至少一个测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，进一步降低面板开裂的风险。

14、在实际应用中，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线经过中轴线，也就是说，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘中轴线之间的间距等于0，以使至少一个第一引出线与电磁场垂直，进而消除电磁场对第一引出线的干扰，进一步提高测温元件测温的准确性。

15、此外，每个测温元件的第一引出线或第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线，以进一步降低电磁场对每个测温元件的第一引出线的干扰，进一步提高多个测温元件测温的准确性。

16、可以理解的是，线圈盘的横截面形状为圆形，线圈盘的中轴线即为沿线圈盘轴向方向并穿过该圆形圆心的唯一的一条线。

17、另外，根据本实用新型上述技术方案提供的烹饪器具，还具有如下附加技术特征：

18、在一种可能的技术方案中，第一引出线与第二引出线之间的间距d1满足d1＜1cm。

19、在该技术方案中，第一引出线与第二引出线之间的间距小于1cm，也就是说，将至少一个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小。能够理解的是，第一引出线与第二引出线阻抗接近，将至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距设置的较小，可以使第一引出线和第二引出线的磁场干扰强度接近，从而使第一引出线与第二引出线之间的共膜磁场噪音被消除，即消除了电磁场对第一引出线和第二引出线的干扰，提高测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。

20、值得说明的是，每个测温元件的第一引出线和第二引出线的延伸方向相同，且第一引出线与第二引出线之间的间距小于1cm，即将每个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小，进而能够提高多个测温元件测温的准确性，进一步降低面板锅具干烧而受热过高，进而发生开裂的风险。

21、在一种可能的技术方案中，每个测温元件的第一引出线与第二引出线的延伸方向相同，每个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距小于第一预设间距。

22、在该技术方案中，每个测温元件的第一引出线和第二引出线的延伸方向相同，且每个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距小于第一预设间距，即将每个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小。进而能够提高多个测温元件测温的准确性，进一步降低面板锅具干烧而受热过高，进而发生开裂的风险。

23、能够理解的是，第一引出线与第二引出线阻抗接近，将至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距设置的较小，可以使第一引出线和第二引出线的磁场干扰强度接近，从而使第一引出线与第二引出线之间的共膜磁场噪音被消除，即消除了电磁场对第一引出线和第二引出线的干扰，提高多个测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。

24、在一种可能的技术方案中，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线。

25、在该技术方案中，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线，也就是说，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘中轴线之间的间距等于0，以使至少一个第一引出线与电磁场垂直，进而消除电磁场对第一引出线的干扰，进一步提高测温元件测温的准确性。

26、在实际应用中，每个测温元件的第一引出线或第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线，以进一步降低电磁场对每个测温元件的第一引出线的干扰，进一步提高多个测温元件测温的准确性。

27、在一种可能的技术方案中，烹饪器具还包括连接端，连接端与多个第一引出线相连，至少一个第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线。

28、在该技术方案中，限定了烹饪器具还包括连接端，具体而言，连接端与多个第一引出线连接，能够理解的是，连接端可以通过一个公共线与接线端子连接。通过将多个第一引出线连接后与接线端子连接，相较于多个第一引出线和多个第二引出线直接与接线端子相连而言，能够有效减少接线端上引脚的数量，降低接线端子的制造难度，进而降低烹饪器具的生产成本。

29、至少一个第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线，也就是说，至少一个第一引出线的延长线与线圈盘中轴线之间的间距等于0，以使至少一个第一引出线与电磁场垂直，进而消除电磁场对第一引出线的干扰，进一步提高测温元件测温的准确性。

30、在实际应用中，每个测温元件的第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线，以进一步降低电磁场对每个测温元件的第一引出线的干扰，进一步提高多个测温元件测温的准确性。

31、值得说明的是，连接端的横截面形成为圆弧，且圆弧的圆心位于线圈盘的中轴线上，至少一个第一引出线的延长线经过连接端的圆心，以使至少一个第一引出线与电磁场垂直。具体可以根据实际需要进行设置。

32、在一种可能的技术方案中，至少一个第二引出线沿线圈盘的周向并靠近面板的外边缘设置。

33、在该技术方案中，至少一个第二引出线沿线圈盘的周向并靠近面板的外边缘设置，也就是说，将至少一个第二引出线尽可能地远离电磁场进行绕设，进而降低电磁场对至少一个第二引出线的干扰，进一步提高至少一个测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，进一步降低面板开裂的风险。

34、在实际应用中，每个测温元件的第二引出线沿线圈盘的周向并靠近面板的外边缘设置。也就是说，将每个第二引出线尽可能地远离电磁场进行绕设，进而降低电磁场对每个第二引出线的干扰，进一步提高多个测温元件测温的准确性。

35、在一种可能的技术方案中，烹饪器具还包括接线端子，接线端子与每个测温元件的第一引出线和第二引出线相连。

36、在该技术方案中，限定了烹饪器具还包括接线端子，具体而言，接线端子与每个测温元件的第一引出线和第二引出线连接，能够理解的是，接线端子与烹饪器具的主控板相连，从而使得每个测温元件的测温数据能够传递给主控板，以使主控板根据测温元件的测温数据判断导磁锅具是否发生干烧，进而在导磁锅具发生干烧时，主控板控制电磁线圈加热件降低加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止锅具损坏以及面板开裂，延长烹饪器具的使用寿命。

37、需要说明的是，每个测温元件的第一引出线为公共线，每个测温元件的第二引出线为信号线。具体可以根据实际需要进行设置。

38、在一种可能的技术方案中，每个测温元件的第一引出线相连后与接线端子相连。

39、在该技术方案中，每个测温元件的第一引出线连接后与接线端子连接，相较于多个第一引出线和多个第二引出线直接与接线端相连而言，能够有效减少接线端子上引脚的数量，降低接线端子的制造难度，进而降低烹饪器具的生产成本。

40、在一种可能的技术方案中，接线端子的数量为至少两个，至少两个接线端子包括第一接线端子和第二接线端子；多个测温元件中一部分测温元件的第一引出线和第二引出线与第一接线端子相连，多个测温元件中另一部分测温元件的第一引出线和第二引出线与第二接线端子相连。

41、在该技术方案中，限定了接线端子的数量为至少两个，针对第一种方案，至少两个接线端子包括第一接线端子和第二接线端子，多个测温元件中一部分测温元件的第一引出线和第二引出线与第一接线端子连接，另一部分测温元件的第一引出线和第二引出线与第二接线端子连接。

42、通过设置至少两个接线端子，可以减少每个接线端子上引脚的数量，降低每个接线端子的制造难度，进而降低烹饪器具的生产成本。

43、在一种可能的技术方案中，烹饪器具还包括多个安装槽，多个安装槽相互间隔地设于面板朝向安装腔的一侧，多个测温元件一一对应地设于多个安装槽内。

44、在该技术方案中，限定了烹饪器具还包括多个安装槽，具体而言，多个安装槽设置在面板朝向安装腔的一侧上，也就是说，在面板的内表面上开设多个安装槽，且多个安装槽相互间隔设置，多个测温元件一一对应地设置在多个安装槽内。

45、能够理解的是，测温元件用于测量导磁锅具的温度，从而可根据多个测温元件的测温数据判断导磁锅具是否发生干烧，并在导磁锅具发生干烧时及时控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止加热，提高烹饪器具使用的安全性，避免面板因温度过高而开裂，延长烹饪器具以及导磁锅具的使用寿命。

46、而且，通过将多个测温元件分别嵌入多个安装槽内，相较于相关技术中将热敏电阻或热电偶设置在面板的内表面而言，能够有效减小多个测温元件与面板外表面之间的间距，即减小多个测温元件与导磁锅具之间的间距，降低由于测温延时而导致面板存在开裂的风险，延长面板的使用寿命。此外，相较于相关技术中利用凸出式测温技术而言，能够及时判断导磁锅具是否发生干烧的同时，保证面板表面的完整性。

47、值得说明的是，测温元件可以为热电偶或热敏电阻，具体可以根据实际需要进行设置。

48、安装槽的槽深与面板的厚度之间的关系满足25％h≤h≤90％h，也就是说，在面板上的打孔深度h满足25％h≤h≤90％h，从而在确保面板结构强度的同时，提高多个测温元件的测温精度，进而及时判断锅具是否发生干烧，防止面板因温度过高而开裂，延长面板的使用寿命。

49、能够理解的是，若安装槽的槽深小于25％h，测温元件距离面板上表面距离过远，测温延迟大，当导磁锅具干烧时，与导磁锅具接触的玻璃表面温度迅速升高，而测温元件由于测温延时无法及时控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止加热，导致面板因温度过高而破裂。

50、若安装槽的槽深大于90％h，测温元件距离面板上表面距离过近，降低了面板的结构强度，当导磁锅具与面板上表面发生磕碰时面板容易破碎，降低面板，特别是硼硅玻璃材料制成的面板的使用寿命。

51、在一种可能的技术方案中，面板朝向安装腔的一侧设有安装区域，安装区域的正投影不超出线圈盘的外边缘，多个测温元件设于安装区域内。

52、在该技术方案中，面板朝向安装腔的一侧设置有安装区域，且安装区域的正投影不超出线圈盘的外边缘，也就是说，安装区域位于线圈盘的电磁加热区域内，将多个测温元件设置在安装区域内，能够对锅具位于电磁加热区域内的各个位置温度进行检测，确保锅具出现干烧情况时能够被及时检测到，进一步降低面板由于受热过高而发生开裂的风险。

53、在一种可能的技术方案中，烹饪器具还包括电源和主控板，其中，电源用于输出交流电压，主控板设于器具本体，并与电源和多个测温元件相连，主控板包括采样电路，采样电路用于在交流电压的过零处采集多个测温元件的测温数据。

54、在该技术方案中，限定了烹饪器具还包括电源和主控板，具体而言，主控板设置在器具本体上，且主控板与电源和多个测温元件电连接，电源用于输出交流电压。进一步地，主控板包括采样电路，采样电路在交流电压的过零处采集多个测温元件的测温数据，能够理解的是，交流电压的过零处电磁场最弱，进而降低采样电路采样时电磁场对测温数据的影响，进一步提高测温元件测温的准确性，进而及时判断干烧情况的同时，降低面板开裂的风险。

55、在一种可能的技术方案中，测温元件的数量n满足1＜n＜50。

56、在该技术方案中，限定了测温元件数量的取值范围。具体地，测温元件的数量大于1并小于50。多个测温元件相互间隔设置，从而增大测温元件的测温区域，以在面板的任意局部区域发生干扰都能被及时检测到，进一步降低面板开裂的风险。

57、能够理解的是，若测温元件的数量大于50，即将测温元件的数量设置的较多，多个测温元件的测温区域相互重叠，测温效果没有明显提高，且增加了烹饪器具的生产成本。

58、在一种可能的技术方案中，烹饪器具还包括电路板，电路板设于面板朝向安装腔的一侧，每个测温元件的第一引出线和第二引出线在电路板上排布。

59、在该技术方案中，限定了烹饪器具还包括电路板，具体而言，电路板设置在面板朝向安装腔的一侧，也就是说，电路板设置在面板朝向电磁线圈加热件的一侧，且每个测温元件的第一引出线和第二引出线在电路板上排布，进而便于对每个测温元件的第一引出线和第二引出线的走线进行排布。

60、在实际应用中，电路板可以为pcb，具体可以根据实际需要进行设置。

61、需要说明的是，接线端子可以设置在pcb上，以便于每个测温元件的第一引出线和第二引出线通过接线端子与主控板电连接，以实现信号的传输。

62、根据本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述部分中给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。