误差测量方法、装置、系统、计算机设备及存储介质与流程

本申请实施例涉及芯片，具体涉及一种误差测量方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。

背景技术：

1、adc(analog-to-digital converter，模数转换器)用于对芯片中的信号进行数字化采样，例如adc可以对芯片中的模拟信号进行采样并转换为数字信号。为了对芯片中更高频率的信号进行数字化采样，可以使用多个adc并行交替的对模拟信号进行采样，例如，采用多个adc并行的对相同模拟信号进行采样，并且多个adc的采样时间点依次错开；这种多个adc并行交替的对模拟信号进行采样的结构称为时间交替模数转换器(tiadc)。

2、然而，由于工艺和物理实现的误差，tiadc中的adc在采样模拟信号时，adc的实际采样时间点与理想采样时间点之间可能存在误差，这种误差称为时间相位失配误差。时间相位失配误差会极大的降低tiadc的采样结果的信噪比，影响tiadc的采样精度，因此准确的测量时间相位失配误差显得尤为重要。在此背景下，如何提供误差测量方案，以提升时间相位失配误差的测量准确性，成为了本领域技术人员亟需解决的技术问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请实施例提供一种误差测量方法、装置、系统、计算机设备及存储介质，以提升时间相位失配误差的测量准确性，并降低测量局限性。

2、为实现上述目的，本申请实施例提供如下技术方案。

3、第一方面，本申请实施例提供一种误差测量方法，包括：

4、获取tiadc的各个adc的采样数据，其中，一个adc的采样数据包括一个adc的多个实际采样值；

5、根据基准adc的采样数据，确定目标adc的估算函数，所述估算函数用于表示所述目标adc的估算采样值，并且所述估算函数携带有待确定的目标adc的时间相位失配误差；其中，基准adc为tiadc中预定义的作为确定时间相位失配误差的基准的adc，目标adc为tiadc中除基准adc之外的任一adc；

6、根据目标adc的估算函数，以及所述估算函数表示的估算采样值所对应的实际采样值，

7、确定目标adc的时间相位失配误差。

8、第二方面，本申请实施例提供一种误差测量装置，包括：

9、采样数据获取单元，用于获取tiadc的各个adc的采样数据，其中，一个adc的采样数据包括一个adc的多个实际采样值；

10、估算函数确定单元，用于根据基准adc的采样数据，确定目标adc的估算函数，所述估算函数用于表示所述目标adc的估算采样值，并且所述估算函数携带有待确定的目标adc的时间相位失配误差；其中，基准adc为tiadc中预定义的作为确定时间相位失配误差的基准的adc，目标adc为tiadc中除基准adc之外的任一adc；

11、误差确定单元，用于根据目标adc的估算函数，以及所述估算函数表示的估算采样值所对应的实际采样值，确定目标adc的时间相位失配误差。

12、第三方面，本申请实施例提供一种误差测量系统，包括：

13、tiadc，用于对被采样器件进行采样；

14、如上述第二方面所述的误差测量装置；

15、数据存储模块，用于保存tiadc的采样数据；

16、失配补偿模块，用于根据tiadc的各个adc的时间相位失配误差，对各个adc进行时间相位失配误差的失配补偿。

17、第四方面，本申请实施例提供一种计算机设备，包括至少一个存储器和至少一个处理器，所述存储器存储一条或多条计算机可执行指令，所述处理器调用所述一条或多条计算机可执行指令，以执行如上述第一方面所述的误差测量方法。

18、第五方面，本申请实施例提供一种存储介质，所述存储介质存储一条或多条计算机可执行指令，所述一条或多条计算机可执行指令被执行时，实现如上述第一方面所述的误差测量方法。

19、由于本申请实施例提供的误差测量方法，可以基于tiadc中基准adc的采样数据，确定基准adc之外的目标adc的估算函数，从而使用目标adc的估算函数表示目标adc的估算采样值；并且，根据目标adc的估算函数，以及所述估算函数表示的估算采样值所对应的实际采样值，衡量目标adc的估算采样值与实际采样值之间的差异，来确定目标adc的时间相位失配误差，因此本申请实施例可以实现为tiadc中的adc测量时间相位失配误差，并且所确定的目标adc的时间相位失配误差具有较高的准确性。同时，由于本申请实施例是以tiadc中各个adc的采样数据作为源数据，来确定adc的时间相位失配误差，因此可以适用于芯片使用过程；例如，基于tiadc在芯片使用过程中多次采样的采样数据，获得tiadc的各个adc的采样数据，从而依照本申请实施例提供的误差测量方法，确定

20、tiadc中adc的时间相位失配误差。

21、可见，本申请实施例提供的误差测量方法可以在芯片使用过程，基于tiadc中adc的采样数据，确定adc的时间相位失配误差，不需向tiadc施加特定激励，能够降低测量局限性；同时，通过在芯片使用过程中，定时或实时执行本申请实施例提供的误差测量方法，并以距当前时间最近的tiadc的各个adc的采样数据，来确定tiadc中adc的时间相位失配误差，能够使得所测量的时间相位失配误差得到有效校正，从而在adc的时间相位失配误差随着芯片使用的老化而发生变化的情况下，本申请实施例也能够提供有效、准确的adc的时间相位失配误差。因此，本申请实施例提供的误差测量方法可以提升时间相位失配误差的测量准确性，并降低测量局限性。

技术特征：

1.一种误差测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据基准adc的采样数据，确定目标adc的估算函数包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据基准adc的采样数据，利用插值算法，确定目标adc的估算函数包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述构造目标adc的多个多项式包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述插值算法包括多项式插值算法。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述多项式插值算法包括拉格朗日插值算法；一个adc的多个实际采样值为2n+1个实际采样值；目标adc的多个多项式为目标adc的2n+1个多项式，并且目标adc的2n+1个多项式的序号从-n至n递增。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述目标adc为tiadc中的第m个adc；所述根据当前多项式的当前序号、多个多项式对应的多个序号中除当前序号之外的序号、目标adc在tiadc中的序号、tiadc中adc的数量、tiadc中adc之间的采样周期、以及待确定的目标adc的时间相位失配误差，确定目标adc的当前多项式包括：

8.根据权利要求3-7任一项所述的方法，其特征在于，所述根据基准adc的多个实际采样值，以及目标adc的多个多项式，确定目标adc的估算函数包括：

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据目标adc的估算函数所表示的估算采样值的序号，将各个相关联的基准adc的实际采样值和多项式进行相乘，并将各个相乘结果进行累加，以得到目标adc的估算函数包括：

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据目标adc的估算函数，以及所述估算函数表示的估算采样值所对应的实际采样值，确定目标adc的时间相位失配误差包括：

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述根据目标adc的估算函数，以及所述估算函数表示的估算采样值所对应的实际采样值，以所述估算函数表示的估算采样值趋近于对应的实际采样值为目标，确定目标adc的时间相位失配误差包括：

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述根据目标adc的估算函数，以及所述估算函数表示的估算采样值所对应的实际采样值，构造携带目标adc的时间相位失配误差的损失函数包括：

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据目标adc的估算采样值与对应的实际采样值的差的平方，构造损失函数，并且所述损失函数中目标adc的估算采样值，以目标adc的估算函数进行表示包括：

14.根据权利要求11-13任一项所述的方法，其特征在于，所述以最小化损失函数的值为目标，确定损失函数中目标adc的时间相位失配误差的值包括：

15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述利用梯度下降算法，以最小化损失函数的值为目标，确定损失函数中目标adc的时间相位失配误差的值包括：

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述时间相位失配误差达到迭代结束条件包括：上一个时间相位失配误差与下一个时间相位失配误差的差值小于预设比例，则下一个时间相位失配误差达到迭代结束条件；所述预设步长根据tiadc中adc之间的采样周期确定。

17.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

18.一种误差测量装置，其特征在于，包括：

19.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，所述采样数据获取单元、估算函数确定单元和误差确定单元设置于算法实现模块；所述装置还包括：控制模块；所述控制模块和所述算法实现模块设置于时间相位失配测量模块；

20.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，所述控制模块，用于根据被采样器件的信号频率，控制所述时间相位失配测量模块开始运行包括：

21.一种误差测量系统，其特征在于，包括：

22.一种计算机设备，其特征在于，包括至少一个存储器和至少一个处理器，所述存储器存储一条或多条计算机可执行指令，所述处理器调用所述一条或多条计算机可执行指令，以执行如权利要求1-17任一项所述的误差测量方法。

23.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储一条或多条计算机可执行指令，所述一条或多条计算机可执行指令被执行时，实现如权利要求1-17任一项所述的误差测量方法。

技术总结
本申请实施例提供一种误差测量方法、装置、系统、计算机设备及存储介质，其中方法包括：获取TIADC的各个ADC的采样数据，其中，一个ADC的采样数据包括一个ADC的多个实际采样值；根据基准ADC的采样数据，确定目标ADC的估算函数，所述估算函数用于表示所述目标ADC的估算采样值，并且所述估算函数携带有待确定的目标ADC的时间相位失配误差；其中，基准ADC为TIADC中预定义的作为确定时间相位失配误差的基准的ADC，目标ADC为TIADC中除基准ADC之外的任一ADC；根据目标ADC的估算函数，以及所述估算函数表示的估算采样值所对应的实际采样值，确定目标ADC的时间相位失配误差。本申请实施例可以提升时间相位失配误差的测量准确性，并降低测量局限性。

技术研发人员：徐祥俊
受保护的技术使用者：海光信息技术股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15