显示面板、测试方法、显示模组及显示装置与流程

本技术属于显示，尤其涉及一种显示面板、测试方法、显示模组及显示装置。

背景技术：

1、随着显示技术的飞速发展，有机发光二极管(oled，organic light emittingdiode)显示面板、微型发光二极管(micro led，micro light emitting diode)显示面板以及有源矩阵有机发光二极体(amoled，active-matrix organic light emitting diode)显示面板等新型显示面板层出不穷，全面屏显示已经成为手机等移动显示装置的发展趋势，如何进一步增加显示面板市场竞争力已成为显示技术领域中的热点问题之一。

技术实现思路

1、本技术实施例提供了一种显示面板、测试方法、显示模组及显示装置，能够有效增强显示面板市场竞争力。

2、第一方面，本技术实施例提供了一种显示面板，该显示面板包括显示区和位于显示区的至少一侧的非显示区；显示区包括沿第一方向按序依次并排排布的多条数据线；

3、非显示区包括：

4、绑定焊盘，绑定焊盘用于与驱动芯片绑定连接；

5、点屏测试电路，点屏测试电路用于对显示区中的子像素进行测试；在点屏测试阶段，点屏测试电路的多条走线与多条数据线对应电连接；

6、其中，绑定焊盘和点屏测试电路沿第二方向排布，且点屏测试电路的至少部分设置于绑定焊盘远离显示区的一侧；第一方向与第二方向相交。

7、根据本技术第一方面的实施方式，本技术发明人考虑到不同颜色子像素在进行点屏测试时对应的相关测试线不同。因此，为了便于相关测试线能够更为合理分布及复用，本实施例结合具体点屏测试工作原理对具体点屏测试电路的拆分方式进行限定。具体地，点屏测试电路包括沿第二方向排布的第一点屏测试电路和第二点屏测试电路；第一点屏测试电路设置于绑定焊盘靠近显示区的一侧；第二点屏测试电路设置于绑定焊盘远离显示区的一侧。

8、根据本技术第一方面的实施方式，进一步地，显示区包括沿第二方向间隔排布的多个子像素列，一个子像素列包括沿第一方向排布的多个子像素；一个子像素列中的子像素与一条数据线电连接；多个子像素列中至少包括第一类子像素列和第二类子像素列；第一类子像素列中子像素的颜色不同于第二类子像素列中子像素的颜色；在点屏测试阶段，第一点屏测试电路的走线与第一类子像素列对应的数据线电连接；以及，第二点屏测试电路的走线与第二类子像素列对应的数据线电连接。

9、根据本技术第一方面的实施方式，在如上述基于所测试的子像素列颜色不同对点屏测试模块进行拆分的情形下，为了更为合理地分散静电带来的击伤问题，可以考虑将易被静电击伤的部分点屏测试电路设置于绑定焊盘远离显示区的一侧。基于此，第二类子像素列中的多个子像素包括绿色子像素。

10、根据本技术第一方面的实施方式，第一类子像素列中的多个子像素包括红色子像素，和/或，蓝色子像素。

11、根据本技术第一方面的实施方式，点屏测试电路中包括至少一个第一开关模块；任一第一开关模块设置于绑定焊盘远离显示区的一侧；第一开关模块的控制端与第一点屏控制信号线电连接，第一开关模块的第一端与第一开关模块对应的第一走线电连接，第一开关模块的第二端与第一测试信号线电连接；在点屏测试阶段，第一开关模块通过第一走线与多条数据线中对应的第一数据线电连接。

12、根据本技术第一方面的实施方式，第一走线包括第一子走线和第二子走线；在点屏测试阶段，绑定焊盘和第一数据线之间通过第一子走线连接；绑定焊盘和第一开关模块的第一端之间通过第二子走线连接。

13、根据本技术第一方面的实施方式，在非点屏测试阶段，第二子走线呈切断状态。

14、根据本技术第一方面的实施方式，点屏测试电路中还包括至少一个第二开关模块，任一第二开关模块设置于绑定焊盘靠近显示区的一侧；第二开关模块的控制端与第二点屏控制信号线电连接，第二开关模块的第一端与第二开关模块对应的第二走线电连接，第二开关模块的第二端与第二测试信号线电连接；在点屏测试阶段，第二开关模块通过第一走线与多条数据线中对应的第二数据线电连接。

15、根据本技术第一方面的实施方式，绑定焊盘与第二数据线通过第二走线电连接。

16、根据本技术第一方面的实施方式，显示面板在非显示区设置有第一绑定区，第一绑定区用于与柔性电路板进行绑定；第一绑定区中设置有点屏控制焊盘和测试焊盘；点屏控制焊盘与第二点屏控制信号线电连接，测试焊盘与第二测试信号线电连接。

17、根据本技术第一方面的实施方式，在非点屏测试阶段，驱动芯片和点屏控制焊盘之间设置有第一非使能走线，驱动芯片用于通过第一非使能走线向点屏控制焊盘提供非使能信号；驱动芯片和第二测试焊盘之间设置有第二非使能走线，驱动芯片用于通过第二非使能走线向测试焊盘提供非使能信号。

18、根据本技术第一方面的实施方式，非显示区还包括第二绑定区，第二绑定区用于与驱动芯片进行绑定，绑定焊盘设置于第二绑定区。

19、根据本技术第一方面的实施方式，第二绑定区的多个绑定焊盘沿第一方向依次排布；在点屏测试阶段，多个绑定焊盘与点屏测试电路中的多条走线对应电连接。

20、根据本技术第一方面的实施方式，点屏测试电路包括第二点屏测试电路，第二点屏测试电路设置于绑定焊盘远离显示区的一侧；显示面板在非显示区还设置有静电防护电路；静电防护电路、绑定焊盘以及第二点屏测试电路沿第二方向排布。

21、根据本技术第一方面的实施方式，静电防护电路设置于第二点屏测试电路靠近显示区的一侧。

22、根据本技术第一方面的实施方式，静电防护电路设置于绑点焊盘与第二点屏测试电路之间；在点屏测试阶段，静电防护电路的第一侧与绑定焊盘之间通过走线电连接，静电防护电路的另一侧与第二点屏测试电路之间通过走线电连接；在非点屏测试阶段，静电防护电路与第二点屏测试电路之间的走线呈切断状态。

23、根据本技术第一方面的实施方式，静电防护电路包括多个晶体管；晶体管的第一端与控制端短接形成二极管，连接于对应的走线和高电位信号线之间，或者，连接于对应的走线和低电位信号线之间。

24、根据本技术第一方面的实施方式，非显示区包括第一扇出区，第一扇出区中设置有多条第一扇出线；绑定焊盘位于第一扇出区远离显示区的一侧；在点屏测试阶段，点屏测试电路的多条走线与多条数据线之间经多条第一扇出线对应电连接。

25、根据本技术第一方面的实施方式，点屏测试电路中包括至少一个第一开关模块；任一第一开关模块设置于绑定焊盘远离显示区的一侧；绑定焊盘位于第一扇出区与第一开关模块之间；在点屏测试阶段，第一开关模块对应的第一走线经对应的第一扇出线与多条数据线中的第一数据线电连接。

26、根据本技术第一方面的实施方式，第一走线包括第一子走线和第二子走线；在点屏测试阶段，第一数据线、第一扇出线、第一子走线以及绑定焊盘之间顺次连接；绑定焊盘经第二子走线与第一开关模块连接。

27、根据本技术第一方面的实施方式，显示面板中还包括电源线路，电源线路至少位于非显示区；电源线路与电源芯片电连接，用于向显示区中的子像素提供电源电压信号；电源线路中包括：第一走线部，第一走线部沿第一方向延伸，且第一走线部设置于点屏测试电路靠近显示区的一侧；第一走线部用于与显示区中的子像素电连接；第二走线部和第三走线部，第二走线部和第三走线部分别设置于第一走线部两端，且第二走线部和第三走线部的走线延伸方向与第一方向相交；第一走线部和第三走线部之间设置有点屏测试电路。

28、根据本技术第一方面的实施方式，第二走线部等宽，和/或，第三走线部等宽。

29、基于相同的发明构思，第二方面，本技术实施例提供了一种显示面板的测试方法，显示面板包括显示区和位于显示区的至少一侧的非显示区；显示区包括沿第一方向按序依次并排排布的多条数据线；

30、非显示区包括：

31、绑定焊盘，绑定焊盘用于与驱动芯片绑定连接；

32、点屏测试电路，点屏测试电路用于对显示区中的子像素进行测试；其中，绑定焊盘和点屏测试电路沿第二方向排布，且点屏测试电路的至少部分设置于绑定焊盘远离显示区的一侧；第一方向与第二方向相交；

33、该显示面板的测试方法包括：

34、在点屏测试阶段，控制点屏测试电路的多条走线与多条数据线对应电连接。

35、基于相同的发明构思，第三方面，本技术实施例提供了一种显示模组，该显示面板包括如本技术第一方面前述任一实施方式提供的显示面板。

36、基于相同的发明构思，第四方面，本技术实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括如本技术第三方面的实施方式提供的显示模组。

37、通过上述描述可知，本技术实施例提供的一种显示面板、测试方法、显示模组及显示装置，该显示面板包括显示区和位于显示区的至少一侧的非显示区。显示区包括沿第一方向按序依次并排排布的多条数据线。非显示区包括用于与驱动芯片进行绑定连接的绑定焊盘，以及用于对显示区中的子像素进行测试的点屏测试电路，在点屏测试阶段，该点屏测试电路的多条走线与多条数据线对应电连接。上述绑定焊盘和点屏测试电路沿第二方向排布，且点屏测试电路的至少部分设置于绑定焊盘远离显示区的一侧。

38、相较于现有技术，本技术实施例提供的一种显示面板、测试方法、显示模组及显示装置，通过将现有点屏测试电路进行拆分，将至少部分点屏测试电路移置于驱动芯片的绑定焊盘下方以分散静电带来的击伤问题。以及，本技术实施例通过将至少部分点屏测试电路移位置于驱动芯片的绑定焊盘下方，除了能够分散静电带来的击伤问题之外，还能够间接减少下边框中点屏测试电路的占据宽度，如此有助于实现对信号线布线空间的有效利用，从而有利于进一步实现显示面板窄边框，最终能够综合达到增强显示面板市场竞争力的目的。