专利名称：一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及网络通信领域，特别涉及一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法和装置。
背景技术：
目前很多产品为了提高产品可靠性都采用双主控冗余设计，当检测到主用主控板出现问题后，可以将设备控制权交给备用主控板进行管理控制。一般都是由主控板上的一个EPLD(Erasable Programmable Logic Device，可擦除可编程逻辑器件)完成整个单板的各种杂散控制功能，如故障检测，复位控制、主备倒换等。该逻辑芯片失效后，整个单板乃至整个系统的控制将处于一片混乱状况，最终将导致系统瘫痪。由此可以看出，该逻辑控制芯片对系统正常工作的重要性，所以要对其进行检测，当发现芯片异常时立即进行主备倒换，不致影响系统后续正常工作。
该逻辑芯片的故障模式包含以下几种芯片整体失效、部分失效，逻辑芯片的工作时钟异常。由于逻辑芯片负责主控板上的故障检测，所以它本身出现以上三种故障均无法进行检测。
目前系统优选的主备倒换策略为主倒备方式，即主用主控板通过复位方式降为备用，原备用主控板才能升为主用。后退一步，就算目前可以对其故障进行检测，但由于逻辑芯片也负责复位控制和主备倒换，所以其失效后也无法进行复位和主备倒换操作，无法完成恢复故障，导致整个系统处于瘫痪状态，影响产品的可靠性。
参见图1，为控制路径失效串联模型框图，逻辑芯片的失效率一般为20fit(failure rate，失效率)左右，晶振的失效率一般可以达到60fit左右，时钟驱动器失效率为10fit左右。晶振、时钟驱动器和逻辑芯片三者组成了串联模型，串联系统的可用度小于系统中任一单元的可用度，当它出现故障时系统无法进行检测，更无法进行故障恢复，属于系统I类故障，任何一个点出现故障均可能导致系统的瘫痪，所以对于主控板控制逻辑失效问题的检测和补偿措施应当引起足够的重视。
发明内容
为了解决现有主备倒换方案中因没有针对逻辑控制芯片进行检测导致系统瘫痪的问题，本发明提供了一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法和装置。所述技术方案如下本发明提供了一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法，所述方法包括以下步骤步骤A主控板上的指定逻辑控制芯片对所述主控板上的主逻辑控制芯片进行检测；步骤B当所述指定逻辑控制芯片检测出所述主逻辑控制芯片有异常时，触发主备板倒换。
所述步骤A还包括所述主逻辑控制芯片对所述指定逻辑控制芯片进行检测，相应地，所述步骤B还包括所述主逻辑控制芯片将所述指定逻辑控制芯片的检测结果写入原有的故障检测逻辑。
所述步骤B具体包括所述指定逻辑控制芯片检测所述主逻辑控制芯片是否有异常，如果没有异常，打开主备状态信号输出使能，如果有异常，关闭主备状态信号输出使能，进行主备板倒换。
所述步骤B具体还包括当发现所述指定逻辑控制芯片出现异常时，上报告警，触发主备板倒换。
所述主控板没有信号输入时，该主控板为备用状态。
所述主逻辑控制芯片和所述指定逻辑控制芯片选用不同频率的工作时钟。
本发明还提供了一种对主控板逻辑控制芯片检测的装置，所述装置包括以下模块检测模块，用于主控板上的指定逻辑控制芯片对所述主控板上的主逻辑控制芯片进行检测；检测结果处理模块，用于当所述指定逻辑控制芯片检测出所述主逻辑控制芯片有异常时，触发主备板倒换。
所述装置还包括指定逻辑控制芯片检测模块，用于所述主逻辑控制芯片对所述指定逻辑控制芯片进行检测，并将检测结果写入原有的故障检测逻辑。
所述指定逻辑控制芯片检测模块还用于当所述主逻辑控制芯片发现所述指定逻辑控制芯片出现异常时，上报告警，触发主备板倒换。
所述主逻辑控制芯片和所述指定逻辑控制芯片选用不同频率的工作时钟。
本发明提供的技术方案带来的有益效果是通过设计单板的硬件达到对主板的逻辑控制芯片进行检测，防止了因为逻辑控制芯片出现异常而导致系统出现异常的情况。
图1是现有技术中控制逻辑失效串联模型示意图；图2是本发明实施例1提供的EPLD1和EPLD2/FPGA进行互检的示意图；图3是本发明实施例2提供的对主控板逻辑控制芯片检测的装置。
具体实施例方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为对本发明的限定。
本发明主要通过主控板上的主逻辑控制芯片和另一片逻辑控制芯片(EPLD或FPGA)进行互检达到检测主逻辑控制芯片是否失效的目的。
实施例1参见图2所示，EPLD1和EPLD2/FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)进行互检。其中，EPLD1是原负责整个主控板杂散控制功能的主逻辑控制芯片。主备倒换处理仍然由EPLD1完成，EPLD2/FPGA不参与主备倒换，作为指定的逻辑控制芯片对EPLD1进行检测。EPLD2/FPGA通过输出MST_OE信号控制本板输出到对板的主备状态信号的输出使能。
具体互检过程如下1)EPLD1将对EPLD2/FPGA检测结果写入到EPLD1原有的故障检测逻辑，检测到异常情况后，EPLD1上报告警触发复位倒换。这样可以防止由于EPLD2/FPGA器件的故障影响主备倒换执行。
需要注意的是无需单纯为了提高可靠性而特意添加EPLD2/FPGA器件，那样会增加设计复杂程度，并引入新的器件失效率，因为目前的单板基本有两个逻辑芯片，可以直接借用现有的逻辑芯片进行互检。
2)EPLD2/FPGA对EPLD1进行故障检测。当EPLD2/FPGA没有发现EPLD1出现异常时，打开主备状态信号输出使能；当检测出EPLD2/FPGA异常时，关闭主备状态信号的输出使能，导致备板看到的主板为备用，触发备板升为主用。
MST_OE主备状态使能信号在单板上进行上拉处理，使其保持默认关闭状态，可以提高设计的可靠性。
在主控板上分别将接收到对板的主备状态差分信号进行上下拉处理，使其在无输入状态下默认对板为备用主控板；需要说明的是，双主控系统是对于两个主控板而言，每个主控板看到的另外一个主控板即成为对板，在图中对于主控板来讲备板即为对板；对于备板来讲主控板即为对板。在子卡上也将收到的两个主控板的主备状态差分信号进行上下拉处理，在主控板无输入的情况下，默认该主控板为备用状态。需要说明的是，子卡是除主控板外的其它单板。这样当发现控制逻辑出现故障时，可以通过关闭主控板的主备状态信号输出使能，对板和子卡都将默认其为备用板。此方案可以通过硬件保证备用主控板升为主用，子卡也可以接收正常主控板下发的命令。
在上述设计中如果EPLD1和EPLD2/FPGA采用相同频率的工作时钟和时钟驱动器，会出现工作时钟出现异常使系统主备倒换混乱，所以在逻辑器件选型中最好选用不同频率的工作时钟，提高故障检测率和主备倒换成功率。
实施例2参见图3，本发明还提供了一种对主控板逻辑控制芯片检测的装置，包括以下模块检测模块，用于主控板上的指定逻辑控制芯片对主控板上的主逻辑控制芯片进行检测；检测结果处理模块，用于当指定逻辑控制芯片检测出主逻辑控制芯片有异常时，触发主备板倒换。
为了增加系统的可靠性，该装置还包括指定逻辑控制芯片检测模块，用于主逻辑控制芯片对指定逻辑控制芯片进行检测，并将检测结果写入原有的故障检测逻辑。
指定逻辑控制芯片检测模块还用于当主逻辑控制芯片发现指定逻辑控制芯片出现异常时，上报告警，触发主备板倒换。
主逻辑控制芯片和指定逻辑控制芯片选用不同频率的工作时钟。
以上所述的实施例，只是本发明较优选的具体实施方式
的一种，本领域的技术人员在本发明技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤步骤A主控板上的指定逻辑控制芯片对所述主控板上的主逻辑控制芯片进行检测；步骤B当所述指定逻辑控制芯片检测出所述主逻辑控制芯片有异常时，触发主备板倒换。
2.如权利要求1所述的对主控板逻辑控制芯片检测的方法，其特征在于，所述步骤A还包括所述主逻辑控制芯片对所述指定逻辑控制芯片进行检测，相应地，所述步骤B还包括所述主逻辑控制芯片将所述指定逻辑控制芯片的检测结果写入原有的故障检测逻辑。
3.如权利要求1所述的一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法，其特征在于，所述步骤B具体包括所述指定逻辑控制芯片检测所述主逻辑控制芯片是否有异常，如果没有异常，打开主备状态信号输出使能，如果有异常，关闭主备状态信号输出使能，进行主备板倒换。
4.如权利要求2所述的一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法，其特征在于，所述步骤B具体还包括当发现所述指定逻辑控制芯片出现异常时，上报告警，触发主备板倒换。
5.如权利要求1至4任一权利要求所述的一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法，其特征在于，所述主控板没有信号输入时，该主控板为备用状态。
6.如权利要求5所述的一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法，其特征在于，所述主逻辑控制芯片和所述指定逻辑控制芯片选用不同频率的工作时钟。
7.一种对主控板逻辑控制芯片检测的装置，其特征在于，所述装置包括以下模块检测模块，用于主控板上的指定逻辑控制芯片对所述主控板上的主逻辑控制芯片进行检测；检测结果处理模块，用于当所述指定逻辑控制芯片检测出所述主逻辑控制芯片有异常时，触发主备板倒换。
8.如权利要求7所述的对主控板逻辑控制芯片检测的装置，其特征在于，所述装置还包括指定逻辑控制芯片检测模块，用于所述主逻辑控制芯片对所述指定逻辑控制芯片进行检测，并将检测结果写入原有的故障检测逻辑。
9.如权利要求8所述的一种对主控板逻辑控制芯片检测的装置，其特征在于，所述指定逻辑控制芯片检测模块还用于当所述主逻辑控制芯片发现所述指定逻辑控制芯片出现异常时，上报告警，触发主备板倒换。
10.如权利要求7所述的一种对主控板逻辑控制芯片检测的装置，其特征在于，所述主逻辑控制芯片和所述指定逻辑控制芯片选用不同频率的工作时钟。
全文摘要
本发明提供了一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法和装置，属于网络通信领域。为了解决现有技术中没有对逻辑控制芯片进行检测的问题，本发明提供了一种对主控板逻辑控制芯片检测的方法，所述方法包括主控板上的指定逻辑控制芯片对所述主控板上的主逻辑控制芯片进行检测，当所述指定逻辑控制芯片检测出所述主逻辑控制芯片有异常时，触发主备板倒换的步骤。本发明还提供了一种对主控板逻辑控制芯片检测的装置，所述装置包括检测模块和检测结果处理模块。采用本发明所述方案的解决了因主控板逻辑控制芯片出现异常导致系统瘫痪的问题。
文档编号H04M3/24GK1968031SQ20061014589
公开日2007年5月23日 申请日期2006年11月22日 优先权日2006年11月22日
发明者金敬 申请人:华为技术有限公司