专利名称：消除lcm关机残影的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及检测技术，特别涉及液晶模组性能测试的装置。
背景技术：
液晶模组LCM在关机时会有残影，其主要是由模组的显示电极放电过慢造成电场残留引起的。虽然现有的驱动1C，在关机时，会把所有的GATE线路置高，以打开TFTdEM示电极上的电荷通过SOURCE电路放出去，但是速度过慢。这种残存的电场,对显示电极间的液晶材料是极其有害的，然而在LCM生产过程中的测试阶段，现在还没有比较可靠的设 备对该性能进行测试。
发明内容本实用新型提供一种测试设备，解决现有技术中不能有效测试关机残影的技术问题。本实用新型为解决上述技术问题而提供的这种一种消除LCM关机残影的测试装置，其特征在于该测试装置包括连接被测液晶模组LCM的测试单元，该测试单元至少第一至第五、输出端口，其中第一输出端口连接液晶模组LCM，第二输出端口通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入，所述电阻R还并联有电容C，该第二输出端口还通过第一电子开关S1以及复位开关K2接地；第三输出端口连接有双掷开关K1，该双掷开关K1的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；该测试装置还包括有或门芯片U，该或门芯片U的一个输入端连接第四输出端口，另外的一个输入端连接第三输出端口，或门芯片U的输出端连接第一电子开关S1的控制端；所述第五输出端口连接第二电子开关S3，该第二电子开关S3串联在液晶模组LCM的电源输入上。本实用新型的有益效果是通过将传统的模组关机模式做了修改，通过程序，在LCM驱动IC断电前，使显示电极上的电荷尽量的少，以有效的消除LCM的关机残影，达到保护LCM的目的。
图I是本实用新型测试装置的电路原理图。
具体实施方式
结合上述附图说明本实用新型的具体实施例。由图I中可知，这种消除LCM关机残影的测试装置包括连接被测液晶模组LCM的测试单元10，测试单元10为芯片或单板机，该测试单元至少第一至第五、输出端口，其中第一输出端口 11连接液晶模组LCM，第二输出端口 12通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入，所述电阻R还并联有电容C，该第二输出端口 12还通过第一电子开关S1以及复位开关1(2接地；第三输出端口 13连接有双掷开关K1，该双掷开关K1的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；该测试装置还包括有或门芯片U，该或门芯片U的一个输入端连接第四输出端口 14，另外的一个输入端连接第三输出端口 13，或门芯片U的输出端连接第一电子开关S1的控制端；所述第五输出端口 15连接第二电子开关S3,该第二电子开关S3串联在液晶模组LCM的电源输入上。本实用新型改变了 LCM的关机模式，并不像传统方式那样，立即关掉LCM的电源，而是利用延时程序，在关机时，将各个显示单元写入最低灰度(以16位显示数据为例，常白模组为FFFFH，常黑模组为0000H)，使显示电极与COMMON电极间的电势差最小，显示电极上的电荷尽量的少，再关掉电源，这样，关机后的放电过程会进行的很快，达到消除残影的目的。大部分的LCM测试电路板都是由单片机来控制的，如图I所示，在单片机的外部中断接上一个单刀双掷开关，分别连接IOVCC和GND，中断模式选择边沿触发，开关则设定为按下时，接通I0VCC，弹开时，接通GND，正常工作为按下状态，此时外部中断位检测到的信号为高电平，单片机正常工作，提供LCM驱动所需信号，当需要关闭LCM时，把开关掷向GND，此时外部中断位变为低电平，中断位检测到由高到低的电平变化，中断开始响应，开始执行 中断程序。中断程序为三个部分I、从第一行第一列的像素开始，为显示单元送入FFFHl信号(这里指常白显示模组，对于常黑显示模组，送入信号为0000H)，当送到最后一行最后一列的像素时为止，即送入一巾贞信号。这样可以使各个显不电极与COMMON电极的电压最小,便于最终的放电。2、单片机把控制信号2置低(在单片机开始工作时，通过程序把此位置高)，通过电子开关，关掉LCM驱动IC电源。由于第一步的作用，关掉电源后，残影会很快消失。3、把控制信号I置低(单片机开始工作时，通过程序把此位置高)，此时，或门因为输入信号全部变低电平，输出信号变低电平，进而所控制的开关S1断开，电容C在经历了短暂的放电后，使RESET位变为高电平，RESET位检测到高电平后，进入复位操作，单片机停止工作。此时可以换下测试好的模组，换另一片，然后将开关K1掷向I0VCC，或门输出高电平，S1连通，RESET位检测到低电平，复位操作正式开始，单片机重起开始工作，为模组送入驱动信号，如些反复(图中的K2为手动复位之用，正常运行时需闭合)。经过上述改进，在LCM生产测试过程中，关机残影可有效消除，且操作简单。以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
权利要求1.一种消除LCM关机残影的测试装置，其特征在于该测试装置包括连接被测液晶模组LCM的测试单元(10)，该测试单元至少第一至第五、输出端口，其中第一输出端口(11)连接液晶模组LCM，第二输出端口( 12)通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入，所述电阻R还并联有电容C，该第二输出端口( 12)还通过第一电子开关S1以及复位开关K2接地；第三输出端口( 13)连接有双掷开关K1，该双掷开关K1的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；该测试装置还包括有或门芯片U，该或门芯片U的一个输入端连接第四输出端口(14)，另外的一个输入端连接第三输出端口(13)，或门芯片U的输出端连接第一电子开关S1的控制端；所述第五输出端口(15)连接第二电子开关S3，该第二电子开关S3串联在液晶模组LCM的电源输入上。
2.根据权利要求I所述消除LCM关机残影的测试装置，其特征在于所述测试单元(10)为芯片。
3.根据权利要求I所述消除LCM关机残影的测试装置，其特征在于所述测试单元(10)为单板机。
专利摘要一种消除LCM关机残影的测试装置包括连接液晶模组LCM的测试单元，测试单元第一输出端口连接液晶模组LCM，第二输出端口通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入；第三输出端口连接有双掷开关K1，该双掷开关K1的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；或门芯片U的两个输入端分别连接第四输出端口和第三输出端口，或门芯片U的输出端连接第一电子开关S1的控制端；所述第五输出端口连接第二电子开关S3，该第二电子开关S3串联在液晶模组LCM的电源输入上。在LCM驱动IC断电前，使显示电极上的电荷尽量的少，以有效的消除LCM的关机残影，达到保护LCM的目的。
文档编号H04N17/00GK202385228SQ20112044551
公开日2012年8月15日 申请日期2011年11月11日 优先权日2011年11月11日
发明者丁学文 申请人:星源电子科技(深圳)有限公司