专利名称：测试数据处理方法及装置的制作方法
技术领域：
本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种基站功能测试过程中的测试数据处理方法及装置。
背景技术：
随着移动通信技术的发展，通信网络越来越庞大和复杂，通信网络的运行质量也越来越受到人们的关注。通信网络的运行质量不仅影响客户的满意度、而且关系到运营成本问题，影响运营维护商的利益。保障通信网络的运行质量的手段之一是对通信网络的基站进行功能测试。其中，在对基站的L2 (层2，即数据链路层，其又被进一步细分为媒体接入控制MAC、无线电广播链接控制RLC以及分组数据汇聚协议HXP三个子层。)功能测试中，打桩测试是一种常用的 方法。打桩测试通过把某个参数设定为一个固定的值，检测基站针对此固定参数输入值，得出的输出是否正确。进一步地，根据打桩测试的结果，可以分析得出相应的基站功能是否正
堂
巾O目前，基站L2功能测试中的打桩测试的正常调度流程包括(I)基站调度一个下行TB (传输块);(2)终端收到此TB，将其译码，得到ACK/NACK (Acknowledgement/NegativeAcknowledgement,确认应答/否定应答)的值；(3)终端通过PUCCH信道(物理上行控制信道)，在空口上报ACK/NACK的值；(4)基站物理层对空口信号解调并译码，得到终端上报的ACK/NACK值，存放于内存中；(5)物理层通过层间接口消息，将ACK/NACK发给L2。而现在针对下行数据的ACK/NACK反馈，常用的打桩方法是通过DSP (数字信号处理器)的函数调用，修改上述步骤⑷中，存放ACK的内存中的值(使其固定为某个值)，在每次物理层上报ACK/NACK的时刻，即从此内存中取值，通过层间消息，发送给L2。具体的修改打桩变量方法为通过函数调用，将一个二进制bit流(以下称打桩数据)发给相应DSP。根据调用函数的消息原型，打桩数据的某bit位承载上报的ACK/NACK内容(以下称此bit位为ACK比特位)，1表示ACK，0表示NACK ;其他bit位有各自的用途，需按照消息原型填写。目前的打桩操作，是使修改后变量为固定值，结果表现为下行传输全对或全错。而实际的环境中，反馈的ACK/NACK值会实时更新，因此，现有的打桩操作使用场景有局限性，不能有效地模仿实际环境中反馈的ACK/NACK值，进而导致基站功能测试不够准确、有效。
发明内容
本申请所要解决的技术问题是提供一种测试数据处理方法及装置，以解决现有的打桩操作使用场景有局限性，不能有效地模仿实际环境中反馈的ACK/NACK值，进而导致基站功能测试不够准确、有效的问题。为了解决上述问题，本申请公开了一种测试数据处理方法，包括调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值；根据调整后的所述二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流。优选地，所述调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值的步骤包括使用脚本程序，调整向所述基站发送的所述模拟终端 上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整所述设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值。优选地，所述调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率的步骤包括向数字信号处理器DSP发送设定的时间间隔的参数，使所述DSP按照所述设定的时间间隔，调整向所述基站发送的所述模拟终端上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率。优选地，所述在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值的步骤包括向DSP发送概率参数，使所述DSP按照所述概率参数，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值，使发送给所述基站的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值满足所述概率参数指示的概率。优选地，所述设定次数少于所述多次。为了解决上述问题，本申请还公开了一种测试数据处理装置，包括调整模块，用于调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值；发送模块，用于根据调整后的所述二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流。优选地，所述调整模块，用于使用脚本程序，调整向所述基站发送的所述模拟终端上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整所述设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值。优选地，所述调整模块设置于数字信号处理器DSP中；所述装置还包括第一参数模块，用于向所述DSP的调整模块发送设定的时间间隔的参数，使所述DSP的调整模块按照所述设定的时间间隔，调整向所述基站发送的所述模拟终端上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率。优选地，所述调整模块设置于数字信号处理器DSP中；所述装置还包括第二参数模块，用于向所述DSP的调整模块发送概率参数，使所述DSP的调整模块按照所述概率参数，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值，使发送给所述基站的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值满足所述概率参数指示的概率。优选地，所述设定次数少于所述多次。
与现有技术相比，本申请具有以下优点本申请基于目前ACK/NACK打桩测试方法，通过控制上报打桩参数的次数，和/或根据实际场景修改上报的ACK/NACK值，满足不同测试用例的需求，扩展打桩测试的应用范围。比如，可以通过控制打桩数据中表示ACK比特位的值，使其出现I的概率为设定概率，如90%，即可模仿下行BLER(Block Error Ratio，块误码率/误块率)10的场景，满足BLERlO场景下的测试用例的需求。可见，通过本申请的方案，有效解决了现有的打桩操作使用场景有局限性，不能有效地模仿实际环境中反馈的ACK/NACK值，进而导致基站功能测试不够准确、有效的问题，达到了满足不同测试用例的需求，扩展打桩测试的应用范围的效果。
图I是根据本申请实施例一的一种测试数据处理方法的步骤流程图；图2是根据本申请实施例二的一种测试数据处理方法的步骤流程图； 图3是根据本申请实施例三的一种测试数据处理方法的步骤流程图；图4是根据本申请实施例四的一种测试数据处理装置的结构框图。
具体实施例方式为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式
对本申请作进一步详细的说明。实施例一参照图1，示出了根据本申请实施例一的一种测试数据处理方法的步骤流程图。本实施例的测试数据处理方法包括以下步骤步骤S102 :调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向基站发送打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值。基站获得模拟终端上报的ACK/NACK值后，根据实际场景，调整包含此值的打桩数据二进制比特流的发送频率，和/或，调整设定次数的发送的打桩数据二进制比特流中ACK比特位的值，构造打桩测试的测试场景。其中，在多次向基站发送打桩数据的二进制比特流的过程中，可以每次都对打桩数据的二进制比特流进行调整，也可以仅对其中部分次数(即设定次数)的打桩数据的二进制比特流进行调整。步骤S104 :根据调整后的二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向基站发送打桩数据的二进制比特流。在对打桩数据二进制比特流进行调整后，向基站发送，以判断基站对实际场景的打桩数据的反映情况，进而获得基站的打桩测试的测试结果，根据测试结果对基站进行调
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iF. O通过本实施例，基于目前ACK/NACK打桩测试方法，通过控制上报打桩参数的次数，和/或根据实际场景修改上报的ACK/NACK值，满足不同测试用例的需求，扩展打桩测试的应用范围，有效解决了现有的打桩操作使用场景有局限性，不能有效地模仿实际环境中反馈的ACK/NACK值，进而导致基站功能测试不够准确、有效的问题。
实施例二参照图2，示出了根据本申请实施例二的一种测试数据处理方法的步骤流程图。本实施例的测试数据处理方法包括以下步骤步骤S202 :基站调度一个下行TB。步骤S204 :终端收到此TB，将其译码，得到ACK/NACK的值。步骤S206 :终端通过PUCCH信道，在空口上报ACK/NACK的值。步骤S208 :基站物理层对空口信号解调并译码，得到终端上报的ACK/NACK的值。需要说明的是，上述测试步骤S202-S208均可参照现有技术实现，在此不再赘述。
步骤S210 :基站使用脚本程序，调整向基站发送(模拟)终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向基站发送打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数向基站发送的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值。本实施例中，使用脚本程序对打桩数据的二进制比特流进行调整。脚本程序使用简单，实现成本低，能够方便、灵活地实现对打桩数据二进制比特流的控制。当然，不限于此，在实际使用中，本领域技术人员还可以采用任意其它适当形式调整控制打桩数据的二进制比特流。通过调整打桩数据的二进制比特流，可以模仿不同的场景，实现不同场景下基站的打桩测试。例如，需要模仿下行BLER = 10%的场景，可以通过编程的方法，使打桩数据中，表示ACK比特位的值，出现I的概率为90%，即可达到目的。在此过程中，可以每次都调整打桩数据中ACK比特位的值，使出现I的概率为90% ;为了提高效率，也可以仅对部分ACK比特位的值进行调整，而另一部分保护不变，使ACK比特位的值出现I的概率为90%。再如，需要TA(时间调整)重传的场景，可以发送一次包含ACK比特位=I的打桩消息，持续一段时间Tl (无要求)后，发送一次包含ACK比特位=O的打桩消息，持续一段时间X (此时间需经过计算，不要超过TA重传达到最大次数所需时间)，然后发送一次包含ACK比特位=I的打桩消息。按照以上的要求做成脚本程序，按需发送，即可构造测试TA重传的场景。可见，多数常见的需要反馈ACK/NACK值的测试场景，都可以很容易的使用脚本程序，通过控制打桩数据的发送频率和修改ACK比特位的值，简单实现。步骤S212 :基站的物理层，通过层间接口消息，根据调整后的二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向基站的L2发送打桩数据的二进制比特流。本实施例针对目前打桩测试的局限性，即不能模仿实际环境中，反馈的ACK/NACK值实时更新的特点，通过脚本程序，发送打桩数据，通过控制发送的频率(如每5ms发送一次)，以及每次或多次发送的打桩数据中ACK比特位的值，模仿不同的场景，实现了根据不同测试场景，构造不同的动态打桩数据，进而实现了更加有效、准确的基站功能测试。实施例三参照图3，示出了根据本申请实施例三的一种测试数据处理方法的步骤流程图。本实施例中，将多种测试场景的类型归纳为两种类型，S卩，(I)高频率发送的固定BLER (编程控制的随机ACK比特位)类型，如BLER = 10%场景；(2)低频率发送指定ACK比特位的值，如TA少量重传场景(连续重传次数不超过最大重传次数，需要在连续反馈正确的情况下，期间夹杂少数(可控的)连续错误的反馈)。为了提高执行效率，本实施例使用DSP实现前述打桩测试，如可将具有前述打桩测试功能的模块内置于DSP中，只要打桩开始时传递参数给DSP即可。对于第一种类型，向DSP传递的参数可以包括发送频率(如设定的时间间隔)、概率参数(如在设定次数中，需要ACK比特位为I的百分比等)；对于第二种类型，可以一次性传递一系列参数，如BLER1，持续时间1，BLER2，持续时间2，……等，其中，BLER1、BLER2等为待发送的打桩数据的二进制比特流中，ACK比特位为O的长时间统计的概率值，表现为数值BLERl = 5%,BLER2 =95%等，而持续时间1、2等为相邻的二个打桩数据之间的发送间隔时间。如上所述，打桩测试时，做一次参数传递，之后的操作都有DSP内部完成，避免了脚本程序频繁发送打桩数据，提高了执行效率。具体地，本实施例的测试数据处理方法包括以下步骤 步骤S302 :基站调度一个下行TB。步骤S304 :终端收到此TB，将其译码，得到ACK/NACK的值。步骤S306 :终端通过PUCCH信道，在空口上报ACK/NACK的值。步骤S308 :基站物理层对空口信号解调并译码，得到终端上报的ACK/NACK的值。需要说明的是，上述测试步骤S302-S308均可参照现有技术实现，在此不再赘述。步骤S310 :基站向DSP发送测试参数。比如,对于第一种类型,发送的参数中包括参数(5ms, 80% ),表示每隔5ms向基站的L2发送一次打桩数据，在规定次数的发送中(如系统默认如10次，或程序设定为10次)，ACK比特位为I的比例要占到80% (当然，也可以是ACK比特位为O的比例要占到80%，由系统或程序设定)。再比如，对于第二种类型，发送的参数中包括参数(BLERl，2ms，BLER2，3ms，BLER3，5ms，BLER4)，表示向基站的L2发送四次打桩数据，第一次与第二次之间间隔2ms，第二次与第三次之间间隔3ms，第三次与第四次之间间隔5ms。步骤S312:DSP根据测试参数，调整打桩数据的二进制比特流并向基站的L2发送，进行基站的打桩测试。根据测试参数，一次即可完成一种场景下的打桩测试，无须频繁调整打桩数据。当然，在实际使用中，本领域技术人员也可以针对某种实际测试场景，设定固定的测试参数，则后续相同测试场景的打桩测试均可使用该测试参数完成，无须再次进行调整或变动，由此进一步提闻了打粧测试效率。需要说明的是，本实施例中的DSP实现打桩测试仅为示例性说明，实际应用中，本领域技术人员也可以采用其它任意适当元件或功能模块实现打桩测试。实施例四参照图4，示出了根据本申请实施例四的一种测试数据处理装置的结构框图。本实施例的测试数据处理装置包括调整模块402，用于调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向基站发送打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值；发送模块404，用于根据调整后的打桩数据的二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向基站发送打桩数据的二进制比特流。
优选地，调整模块402，用于使用脚本程序，调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向基站发送打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值。优选地，调整模块402设置于数字信号处理器DSP中；本实施例的测试数据处理装置还包括第一参数模块406，用于向DSP的调整模块402发送设定的时间间隔的参数，使DSP的调整模块402按照设定的时间间隔，调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率。优选地，在调整模块402设置于中时，本实施例的测试数据处理装置还包括第二参数模块408，用于向DSP的调整模块402发送概率参数，使DSP的调整模块402按照概率参数，在多次向基站发送打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值，使发送给基站的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值满足概率参数指示的概率。优选地，所述设定次数少于所述多次。优选地，本实施例的测试数据处理装置可以全部设置于DSP中，也可以在DSP中仅设置部分模块，如调整模块402和/或发送模块404，而其它模块可以设置于基站中的其它部件中，或由基站中其它相应的功能模块实现等。本实施例的测试数据处理装置用于实现前述多个方法实施例中的测试数据处理方法，并具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。通过本申请，实现了根据不同测试场景，构造不同的动态打桩数据，进行基站的打桩测试。通过本申请的方案实现的打桩测试更接近真实测试环境；对于真实环境中不易模拟的异常流程，也可以轻易地通过打桩完成。本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上对本申请所提供的一种基站打桩测试中的测试数据处理方法和装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依 据本申请的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
权利要求
1.一种测试数据处理方法，其特征在于，包括 调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值； 根据调整后的所述二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流。
2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值的步骤包括 使用脚本程序，调整向所述基站发送的所述模拟终端上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整所述设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值。
3.根据权利要求I或2所述的方法，其特征在于，所述调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率的步骤包括 向数字信号处理器DSP发送设定的时间间隔的参数，使所述DSP按照所述设定的时间间隔，调整向所述基站发送的所述模拟终端上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率。
4.根据权利要求I或2所述的方法，其特征在于，所述在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值的步骤包括 向DSP发送概率参数，使所述DSP按照所述概率参数，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值，使发送给所述基站的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值满足所述概率参数指示的概率。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述设定次数少于所述多次。
6.一种测试数据处理装置，其特征在于，包括 调整模块，用于调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值； 发送模块，用于根据调整后的所述二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述调整模块，用于使用脚本程序，调整向所述基站发送的所述模拟终端上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整所述设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值。
8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述调整模块设置于数字信号处理器DSP 中； 所述装置还包括第一参数模块，用于向所述DSP的调整模块发送设定的时间间隔的参数，使所述DSP的调整模块按照所述设定的时间间隔，调整向所述基站发送的所述模拟终端上报的所述打桩数据的二进制比特流的发送频率。
9.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述调整模块设置于数字信号处理器DSP 中； 所述装置还包括第二参数模块，用于向所述DSP的调整模块发送概率参数，使所述DSP的调整模块按照所述概率参数，在所述多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值，使发送给所述基站的打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值满足所述概率参数指示的概率。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设定次数少于所述多次。
全文摘要
本申请提供了一种测试数据处理方法及装置，其中，测试数据处理方法包括调整向基站发送的模拟终端上报的打桩数据的二进制比特流的发送频率，和/或，在多次向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流的过程中，调整设定次数的所述打桩数据的二进制比特流中ACK比特位的值；根据调整后的所述二进制比特流的发送频率和/或ACK比特位的值，向所述基站发送所述打桩数据的二进制比特流。通过本申请，满足了不同测试用例的需求，扩展了打桩测试的应用范围。
文档编号H04L1/00GK102664714SQ20121013422
公开日2012年9月12日 申请日期2012年5月2日 优先权日2012年5月2日
发明者杜红飞 申请人:大唐移动通信设备有限公司