专利名称：光纤特性测量方法和光模块的制作方法
技术领域：
本发明涉及光纤通信领域，特别涉及一种光纤特性测量方法和光模块。
背景技术：
光时域反射计(OpticalTime Domain Reflectometer, 0TDR)是测量光纤特性的首选仪器，通过OTDR可以评估单根光纤或完整链路的特性，通过OTDR的测量曲线可以一目了然地看到损耗故障和事件间距离。OTDR以类似雷达的模式工作，OTDR的激光器向被测光纤中发射一个测试信号，测试信号经光纤传输时会由于光纤本身的特性(介质不均匀)形成后向散射信号或光纤链路的事件(连接、断裂、光纤尾端)形成反射信号，OTDR的检测器检测到后向散射信号或反射信号的强度和到达的时间，计算获得沿光纤长度分布的线路衰减情况及线路上的事件曲线。现有基于的光纤特性测量中，不但需要测量线路的衰减和反射事件，还需要能够识别线路上的弯曲，而现有的OTDR光纤特性测量是基于单波长光进行，无法对线路上的弯曲事件进行识别，测量精确度较低。
发明内容
本发明实施例提供了一种光纤特性测量方法和光模块。所述技术方案如下:一种光纤特性测量方法，所述方法包括:光时域反射计集成电 路OTDR ASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光(1490nm)，所述耦合器透射所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分，由光纤耦合器将所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分耦合至待测量光纤链路，使得所述待测量光纤链路对所述第一波长光的第一指定部分进行反射或散射，返回承载第一后向信号的第一波长光；耦合器将所述承载第一后向信号的第一波长光的第二指定部分反射到ro上，由所述ro转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第一测试曲线；OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光(1310nm),分光器对所述第二波长光的第三指定部分进行反射，使得将所述第二波长光的指定部分通过耦合器耦合至待测量光纤链路，由所述待测量光纤链路对所述第二波长光进行反射或散射，返回承载第二后向信号的第二波长光；分光器对所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分进行透射，由耦合器将所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分反射到ro上，由所述ro转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第二测试曲线；根据所述第一测试曲线和所述第二测试曲线，得到所述待测量光纤链路的光纤特性曲线。
光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光，包括:所述OTDR ASIC驱动第一波长LD向稱合器发送承载第一测试信号的第一波长光；或，OTDR ASIC向LDD发送所述第一测试信号，由LDD驱动第一波长LD向I禹合器发送
承载第一测试信号的第一波长光；相应地，OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光，包括:所述OTDR ASIC驱动第二波长LD向耦合器发送承载第二测试信号的第二波长光；或，OTDR ASIC向LDD发送所述第二测试信号，由LDD驱动第二波长LD向耦合器发送
承载第二测试信号的第二波长光。
所述承载第一测试信号的第一波长光还承载下行数据信号，和/或，所述承载第二测试信号的第二波长光还承载下行数据信号。所述第一指定部分为10%，所述第二指定部分为90%，所述第三指定部分为10%，所述第四指定部分为90%。一种光模块，包括:跨阻放大器TIA、光探测器APD、限幅放大器LA、光时域反射计集成电路OTDR ASIC、激光驱动器LDD、第一波长LD、第二波长LD、光接口、耦合器，所述耦合器对第一波长光的第一指定部分进行反射，对所述第一波长光的所述第一指定部分以外的部分进行透射，对第二波长光进行全反射。所述光模块还包括:与所述APD设置于同一光路的可调滤波器，所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光和所述第二波长光；或，所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光，滤除所述第二波长光；或，所述可调滤波器用于在正常通信阶段透射所述接收模块接收到的第一波长光和所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光，滤除所述第二波长光。所述TIA为双速率跨阻放大器，其中，低速TIA用于接收测试信号，高速TIA用于接收对端发送的数据信号。第一指定部分为10%。本发明实施例提供的技术方案的有益效果是:在对待测量光纤链路进行测试时，通过光模块所包含的探测器接收和发送承载测试信号的两种波长光，使得能够获取到两种波长光的测试曲线，而由于两种波长光在传输过程中各自的特性，增强了在对链路上的弯曲事件进行识别的能力，提高测量精确度。
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是PON系统的结构示意图；图2是现有技术中光模块的结构示意图；图3是现有技术中单纤双向光模块中BOSA的结构示意图；图4是本发明实施例提供的一种光纤特性测量方法的流程图；图5是本发明实施例提供的一种光模块的结构示意图；图6是本发明实施例提供的一种光模块的结构示意图。
具体实施例方式为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。为了便于对本发明的理解，对本发明所涉及的技术常识进行简单描述:(一) PON (Passive Optical Network,无源光网络)图1是PON系统的结构示意图。通常而言，一个无源光网络系统包括一个位于中心局的0LT(0ptical Line Terminal,光线路终端),一个用于分支/稱合或者复用/解复用的ODN (Optical Distribution Network,光分配网)以及若干 ONU (Optical Network Unit,光网络单元)。OLT为PON系统提供网络侧接口，连接一个或多个0DN。ODN是无源分光器件，将OLT下行的数据分路传输到各个0NU，同时将多个ONU的上行数据汇总传输到0LT。ONU为PON系统提供用户侧接口，上行与ODN相连。ODN—般分成三部分，Splitter (无源光分路器)、主干光纤(Feed Fiber)、分布光纤(Distribute Fiber)和分路光纤(Drop Fiber),其中分布光纤和分路光纤可以统称为分支光纤。在PON系统中，从OLT到ONU称为下行,反之为上行，一般地，上行采用1310nm的波长光，下行采用1490nm的波长光。下行数据因为光的特性是广播到各ONU的，各ONU的上行数据发送由OLT分配发送区间。(二)光模块 在光通信系统中，光模块主要用来实现光电、电光转换，即把发送的数据信号转换成光信号并通过光纤发送给对端，及从光纤接收对端发送的光信号并把光信号转换成电信号之后，从电信号中恢复接收数据。在单纤双向系统(单根光纤同时传输双向数据信号)中，图2是现有技术中光模块的结构示意图，参见图2，该光模块主要由BOSA(Bidirectoinal Optical Subassebly,双向光组件)光组件、LA (limiting Amplifier,限幅放大器)和LDD (Laser diode Driver,激光驱动器)组成。其中，发送的数据信号由TX端口输入到单纤双向光模块，经LDD输出到LD (Laser Diode，激光二极管)，由LD进行电光转换把数据信号转换成波长为λ I的光信号。图中的WDM (Wavelength DivisionMultiplexing,波分复用)器件对波长为λ I的光信号透射，对波长为λ 2光信号反射。发射的λ I光信号经过WDM进入光纤适配器，并经过光纤适配器耦合到光纤。对接收端，对端发送的光信号λ 2，经过光纤适配器到达WDM后，被WDM反射后，进入接收光组件，被探测器PD (Photo-diode)转换成电信号，经TIA (Transimpedance)放到后从BOSA光组件输出，TIA输出的电信号继续被LA (Limiting Amplifier)进行放大，转换成O、I数字电平信号，从Rx端口输出。单纤双向光模块中BOSA的结构如图3所示。光收发组件B0SA200可以包括底座
10、WDM20、发送模块30、接收模块40和光纤设配器50。底座10包括腔体和三个端口，三个端口可以分别为第一水平端口、第二水平端口和垂直端口，腔体和第一水平端口、第二水平端口和垂直端口相连通。其中，第一水平端口和第二水平端口的中心可以相互对准并沿光收发组件200的水平光轴设置，垂直端口的中心沿光收发组件200的垂直光轴设置。波分复用器20可以为WDM滤波片，其一般沿水平光轴大约45度方向设置在底座10的腔体内部，且波分复用器20的中心位于水平光轴和垂直光轴的交叉点。一般在底座10的腔体内部可以设置有支撑体60，支撑体60具有一个45度斜面。波分复用器20可以设置在支撑体的45度斜面，从而可以与水平光轴保持45度的夹角。波分复用器20对第一波长λ 进行透射，对第二波长λ2进行反射。其中接收模块40，一般包括光探测器(PD)和跨阻放大器(ΤΙΑ)，Η)可以为PIN光探测器或APD光探测器。发送模块30，一般封装有激光器LD，接收模块40和发送模块30 —般为TO-CAN封装。本发明实施例所基于的光模块支持两种工作模式，正常数据通信模式和测试模式，正常数据通信模式下，OTDR ASIC处于待机或低功耗模式。OLT设备发送到对端的数据报文通过TX发送给OLT光模块，在光模块内部经LDD驱动第一波长LD转换成1490nm光信号，经耦合器和光纤耦合器耦合到待测量光纤链路即ODN网络传递给0ΝΤ。对端发送的数据信号1310nm波长的光信号经过光纤稱合器和稱合器被F1D转换成电信号，再经TIA放大和LA放大后变成数字信号通过Rx从光模块输出给OLT设备。图4是本发明实施例提供的一种光纤特性测量方法的流程图。该测量方法应用于OLT端的光模块的测试模式下，参见图4，该实施例包括:401、光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光，所述耦合器透射所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分，由光纤耦合器将所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分耦合至待测量光纤链路，使得所述待测量光纤链路对所述第一波长光的第一指定部分进行反射或散射，返回承载第一后向信号的第一波长光；其中，第一波长光可以为1490nm的光，而承载第一测试信号的第一波长光光信号的第一指定部分，以y%为例，会由耦合器透射，后经光纤耦合器耦合到待测量光纤链路上，也即是OLT和ONT相连的 ODN。测试模式下，分第一波长测试和第二波长测试。该第一波长(1490nm)测试可以由OLT通知OTDR ASIC触发，具体地，OLT设备首先停止对端ONT的数据报文发送，接着OLT通知OTDR ASIC (信号处理功能)启动测试，该通知具体可以为通过光模块的I2C接口下发命令或通过控制信号线控制OTDR ASIC启动测试；当OTDR ASIC收到启动测试的命令后，光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过第一波长LD向稱合器发送承载第一测试信号的第一波长光。402、耦合器将所述承载第一后向信号的第一波长光的第二指定部分反射到H)上，由所述H)转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述0TDRASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第一测试曲线；具体地，承载第一后向信号的第一波长光(1490nm)会由待测量光纤链路经光纤耦合器耦合到光模块Triplex，经过分光器，到达耦合器时，第一波长光的第二指定部分被反射到PD，由H)转换成电信号，再经TIA进行放大。0TDRASIC对放大的信号进行处理，其处理包括放大，采样，数字处理等，得到所述待测量光纤链路的第一测试曲线。
403,OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光(1310nm)，分光器对所述第二波长光的第三指定部分进行反射，使得将所述第二波长光的指定部分通过耦合器耦合至待测量光纤链路，由所述待测量光纤链路对所述第二波长光进行反射或散射，返回承载第二后向信号的第二波长光； 发送的测试信号会经过分光器(对第二波长光，X2%反射，Y2%透射，优选10%反射，90%透射)，有Χ2%的第测试信号会被分光器反射后进入光纤耦合器，再通过光纤耦合器耦合进光纤。其中，第二波长测试(1320nm)可以由OLT通知OTDR ASIC触发，具体地，OLT设备首先停止对端ONT的数据报文发送，接着OLT通知OTDR ASIC (信号处理功能)启动测试，该通知具体可以为通过光模块的I2C接口下发命令或通过控制信号线控制OTDR ASIC启动测试;当OTDR ASIC收到启动测试的命令后，光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过第二波长LD向稱合器发送承载第二测试信号的第二波长光。404、分光器对所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分进行透射，由耦合器将所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分反射到ro上，由所述ro转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第二测试曲线；具体地，第二波长光(1310nm)在待测量光纤链路中会发生后向散射或反射，承载第二后向信号的第二波长光会由待测量光纤链路经光纤耦合器耦合到光模块Triplex，经过分光器，分光器透射承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分，当承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分到达耦合器时，被耦合器反射到ro，再被ro转换成电信号，之后再经TIA进行放大。OTDR ASIC对放大的信号进行处理，该处理包括放大，采样，数字处理等，得到所述待测量光纤链路的第二测试曲线。
405、根据所述第一测试曲线和所述第二测试曲线，得到所述待测量光纤链路的特性曲线。优选地，该步骤405具体包括:由于第一波长(1490nm)对弯曲事件更敏感，第一个测试曲线上更容易反映出光纤链路上的弯曲事件；第二波长(1310nm)更容易在对端ONT的位置形成反射(0ΝΤ对1310nm的测试信号反射更大)，第二测试曲线更容易反映光纤链路上ONT的位置信息，则当第一测试曲线中的某一点的弯曲事件的衰减大于第一预设值时，将该第一测试曲线的该点的弯曲事件的衰减作为所述待测量光纤链路的特性曲线中的该点的弯曲特征，当所述第二测试曲线中某一点的反射峰的相对高度(相对噪声区或者相对衰减曲线)大于第二预设值时，将该第二测试曲线中该点的反射峰作为待测量光纤链路的特性曲线中该点的发射特征。如，以通过第一和第二测试曲线计算得到待测量光纤链路特性曲线时，当第一个测试曲线上的某一点(A点，例如2Km处)弯曲事件的衰减大于某个值(例如大于0.2dB)，即使第二曲线上在A点(与第一个测试曲线上的相同位置)的衰减呈现不出来，以第一个测试曲线上的A的衰减作为待测量光纤链路特性曲线上A的特征；当第二个测试曲线上靠近ONT的位置B点有一个反射，只要这个反射的相对高度(相对噪声区或者相对衰减曲线)大于某一个值(例如大于3dB)，即使第一个测试曲线上的B点无反射峰，以第二个测试曲线上的B的反射峰作为待测量光纤链路特性曲线上B的特征。与现有技术的不同之处在于，本发明通过在基于三向光组件的光模块中使用同一个ro完成承载测试信号的双波长光的接收和发送，增强内置OTDR功能，为内置OTDR功能提供了弯曲事件检测能力。在对待测量光纤链路进行测试时，通过光模块所包含的探测器接收和发送承载测试信号的两种波长光，使得能够获取到两种波长光的测试曲线，而由于两种波长光在传输过程中各自的特性，增强了在对链路上的弯曲事件进行识别的能力，提高测量精确度。可选地，在图1所示实施例的技术方案的基础上，该步骤401 “光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过激光二极管LD向稱合器发送承载第一测试信号的第一波长光”,包括下述步骤4011或4012:4011、所述OTDR ASIC驱动第一波长LD向稱合器发送承载第一测试信号的第一波长光;4012、OTDR ASIC向LDD发送所述第一测试信号，由LDD驱动第一波长LD向耦合
器发送承载第一测试信号的第一波长光。相应地，该步骤403 “OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光”，包括下述步骤4031和4032:4031、所述OTDR ASIC驱动第二波长LD向耦合器发送承载第二测试信号的第二波长光;4032、OTDR ASIC向LDD发送所述第二测试信号，由LDD驱动第二波长LD向耦合
器发送承载第二测试信号的第二波长光。可选地,在图1所不实施例的技术方案的基础上，所述承载第一测试信号的第一波长光还承载下行数据信号，和/或，所述承载第二测试信号的第二波长光还承载下行数据信号。需要说明的是，第一测试信号可以有两种形式，第一种是:停止下行数据发送，在第一波长光中只承载第一测试信号。第二种方式是:不停止下行数据发送，在第一波长光中同时承载第一测试信号和下行数据信号，把第一测试信号通过幅度调制的方式调制到下行数据信号上来发送。第二测试信号也可以有两种形式，第一种是:停止下行数据发送，在第二波长光中只承载第二测试信号。第二种方式是:不停止下行数据发送，在第二波长光中同时承载第二测试信号和下行数据信号，把第二测试信号通过幅度调制的方式调制到下行数据信号上来发送。其中，停止下行数据发送可以在LDD上关闭数据部分的驱动，也可以OLT设备停止TX发送。可选地，用双速率TIA代替现有光模块中用于接收承载数据报文的第一波长光的TIA，其中，低速TIA用于接收测试信号；高速TIA用于接收对端发送的数据信号。测试模式下，OLT设备停止对端发送数据后，启动测试。Triplex在控制信号控制下选择低速TIA，按前述方式接收测试信号，并把测试信号发送给OTDRASIC。BOSA的双速率控制信号可以由OTDR ASIC提供，也可以由光模块内部其他功能提供，甚至可以直接由OLT设备通过硬件接口控制。当由OTDR ASIC提供时，数据接收模式下，OTDR ASIC输出信号选择高速TIA ;测试模式下，OTDR ASIC输出信号选择低速TIA。数据接收模数下，光模块提供控制信号给Triplex的TIA选择高速TIA。对端发送的信号以前述的数据接收流程进行接收。通过使用双速率TIA代替现有光模块中用于接收承载数据报文的第一波长光的TIA，避免了噪声跟带成正比导致的噪声强的问题，以及由于数据接收机的线性度不好而影响OTDR测试曲线。可选地，在图1所示实施例的技术方案的基础上，第一指定部分为10%，所述第二指定部分为90% ;第三指定部分为10%，第四指定部分为90%。图5是本发明实施例提供的一种光模块的结构示意图。参见图5，该光模块包括:跨阻放大器TIA、光探测器APD、限幅放大器LA、光时域反射计集成电路OTDR ASIC、激光驱动器LDD、第一波长LD、第二波长LD、光接口、稱合器,其特征在于，所述稱合器对第一波长光(1490)的第一指定部分进行反射，对所述第一波长光的所述第一指定部分以外的部分进行透射，对第二波长光(1310)进行全反射。可选地，本发明实施例提供的一种光模块，其具体结构如图6所示，在图5所示实施例的基础上，所述光模块还包括:与所述APD设置于同一光路的可调滤波器。所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光和所述第二波长光；或，所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光，滤除所述第二波长光；或，所述可调滤波器用于在`正常通信阶段透射所述接收模块接收到的第一波长光和所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光，滤除所述第二波长光。正常数据通信时，由于OLT发送给对端的数据信号1490nm光信号在光纤中也会产生后向散射或反射信号，这些信号会返回到OLT光模块，经光纤耦合器，到达耦合器，1490m数据信号的后向信号有一部分经耦合器反射到PD，这部分反射的1490nm的光信号会与对端发过来的1310nm的数据信号叠加在一起，被H)接收。对数据接收来讲，这部分1490nm的后向光相当于噪声信号，影响数据接收的性能。同时，在测试模式下，如果对端ONT发送1310nm的光信号，这部分信号到达H)后比1490nm的测试信号强得多，对测试信号来讲，对端ONT发送得1310nm的光信号，相当于噪声信号。因此，为了能在数据通信时滤除1490nm后向信号，在测试时滤除对端发送的1310nm光信号，同时提高数据接收的性能和OTDR测试性能，可以在Triplex的接收机前即接收模块(PD+TIA)内增加可调滤波器，增加可调滤波器后，相对前述的数据接收模式和测试模式，需要增加对可调滤波的控制。以第二种选择为例说明，数据接收模式时，控制可调滤波器滤除1490nm光信号，通过1310nm光信号；测试模式时，控制可调滤波器滤除1310nm光信号，通过1490nm光信号。该控制可以由OLT下发。可选地，在所述TIA为双速率跨阻放大器，其中，低速TIA用于接收测试信号，高速TIA用于接收对端发送的数据信号。测试模式下，OLT设备停止对端发送数据后，启动测试。Triplex在控制信号控制下选择低速TIA，按前述方式接收测试信号，并把测试信号发送给OTDR ASIC0 BOSA的双速率控制信号可以由OTDR ASIC提供，也可以由光模块内部其他功能提供,甚至可以直接由OLT设备通过硬件接口控制。当由OTDR ASIC提供时，数据接收模式下，OTDR ASIC输出信号选择高速TIA ;测试模式下，OTDR ASIC输出信号选择低速TIA。数据接收模数下，光模块提供控制信号给Triplex的TIA选择高速TIA。对端发送的信号以前述的数据接收流程进行接收。通过使用双速率TIA代替现有光模块中用于接收承载数据报文的第一波长光的TIA，避免了噪声跟带成正比导致的噪声强的问题，以及由于数据接收机的线性度不好而影响OTDR测试曲线。第一指定部分为10%。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修 改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种光纤特性测量方法，其特征在于，所述方法包括: 光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光，所述耦合器透射所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分，由光纤耦合器将所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分耦合至待测量光纤链路，使得所述待测量光纤链路对所述第一波长光的第一指定部分进行反射或散射，返回承载第一后向信号的第一波长光； 耦合器将所述承载第一后向信号的第一波长光的第二指定部分反射到ro上，由所述PD转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第一测试曲线； OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光，分光器对所述第二波长光的第三指定部分进行反射，使得将所述第二波长光的指定部分通过耦合器耦合至待测量光纤链路，由所述待测量光纤链路对所述第二波长光进行反射或散射，返回承载第二后向信号的第二波长光； 分光器对所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分进行透射，由耦合器将所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分反射到ro上，由所述ro转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第二测试曲线； 根据所述第一测试曲线和所述第二测试曲线，得到所述待测量光纤链路的光纤特性曲线。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，光时域反射计集成电路OTDRASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光，包括: 所述OTDR ASIC驱动 第一波长LD向稱合器发送承载第一测试信号的第一波长光； 或， OTDR ASIC向LDD发送所述第一测试信号，由LDD驱动第一波长LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光； 相应地，OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光，包括: 所述OTDR ASIC驱动第二波长LD向耦合器发送承载第二测试信号的第二波长光；或，OTDR ASIC向LDD发送所述第二测试信号，由LDD驱动第二波长LD向耦合器发送承载第二测试信号的第二波长光。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述承载第一测试信号的第一波长光还承载下行数据信号，和/或， 所述承载第二测试信号的第二波长光还承载下行数据信号。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一指定部分为10%，所述第二指定部分为90%，所述第三指定部分为10%，所述第四指定部分为90%。
5.一种光模块，包括:跨阻放大器TIA、光探测器APD、限幅放大器LA、光时域反射计集成电路OTDR ASIC、激光驱动器LDD、第一波长LD、第二波长LD、光接口、耦合器，其特征在于，所述耦合器对第一波长光的第一指定部分进行反射，对所述第一波长光的所述第一指定部分以外的部分进行透射，对第二波长光进行全反射。
6.根据权利要求5所述的光模块，其特征在于，所述光模块还包括:与所述APD设置于同一光路的可调滤波器，所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光和所述第二波长光; 或，所述可调滤波器用于在正常通信阶段滤除所述接收模块接收到的第一波长光，透射所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光，滤除所述第二波长光； 或，所述可调滤波器用于在正常通信阶段透射所述接收模块接收到的第一波长光和所述第二波长光，并在测试阶段透射所述第一波长光，滤除所述第二波长光。
7.根据权利要求5所述的光模块，其特征在于，所述TIA为双速率跨阻放大器，其中，低速TIA用于接收测试信号，高速TIA用于接收对端发送的数据信号。
8.根据权利要求5所述的光模块`,其特征在于,第一指定部分为10%。
全文摘要
本发明实施例提供了一种光纤特性测量方法和光模块，涉及光纤通信领域。本发明在对待测量光纤链路进行测试时，通过光模块所包含的探测器接收和发送承载测试信号的两种波长光，使得能够获取到两种波长光的测试曲线，而由于两种波长光在传输过程中各自的特性，增强了在对链路上的弯曲事件进行识别的能力，提高测量精确度。
文档编号H04B10/071GK103229432SQ201280002492
公开日2013年7月31日 申请日期2012年12月24日 优先权日2012年12月24日
发明者杨素林, 殷锦蓉 申请人:华为技术有限公司