本发明涉及无线通信技术领域，更具体的说是涉及用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统及方法。
背景技术：
通信领域的飞速发展下，电磁环境日益复杂，人们对基站系统的性能表现不在局限于单个模块的性能表现，而是更为关注系统整体性能表现。同时基站天线复杂程度不断加大，出现了自适应mimo类天线(有源)，有源基站天线等设备。但是，有源基站天线这类设备其无源天线部分无法与有源控制部分分离，因此无法单独对其无源天线模块的辐射性能进行独立测试。所以有源基站天线或基站系统的无线天线模块的辐射性能测试只有通过对有源基站天线整体或基站系统整体的测试来进行。显然有必要设计一种针对有源基站或基站系统整体的测试系统及测试方法。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明的第一个目的在于提供一种用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统及方法，该测试系统可用于对有源基站或基站系统整体的测试。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统及方法，包括：探头阵列装置，包括多个探头，对被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度进行采样或对被测物进行信号照射；探头控制装置，与探头阵列装置上的探头连接并连接处理装置，控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置，与探头控制装置和处理装置连接，从探头阵列装置获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；辅助装置，连接被测物和处理装置，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；微波暗室；转台；带动被测物相对于所述探头阵列装置做旋转；处理装置，与探头控制装置信号发射与解调装置连接，对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。
通过上述方案，可以对有源基站天线或基站系统进行360度全方向数据的采样和运算得出360度全方位辐射和接收性能，也可以进行局部方位的采样和运算得出局部辐射和接收性能，该测试系统及测试方法可以对有源基站天线或基站系统做出测量评判，该方法也适用与其他类型的有源天线测试。
优选的，在上述一种用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统及方法中，所述多个探头为多个垂直交叉双极化探头。
通过上述方案，可以对有源基站天线或基站系统进行采样，探头数量越多，采样点越密集。可进行局部方位的采样，也可配合转台旋转可完成360度全方向数据的采样。
优选的，在上述一种用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统及方法中，所述信号发射与解调装置可发射调制信号和解调调制信号。
通过上述方案，信号发射与解调装置对采样到的信号进行解调分析或生成调制信号照射源，便于软件进一步的计算。
优选的，在上述一种用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统及方法中，所述辅助装置可与被测物共同构成整体基站系统的补充，且所述基站系统包含有基带、射频和天线。
通过上述方案，辅助装置控制被测物或读取被测物信息，所有的采样数据通过软件进行计算得出发射和接收性能评价数据，从而得出发射和接收性能的各项评估。
本发明的第二个目的在于提供一种有源天线或基站系统ota性能测试的方法，该方法基于前述测试系统，该测试方法应用于前述测试系统能对有源基站或基站系统整体的性能进行准确测试。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统的测试方法，包括如下步骤：(a)利用探头控制装置控制不同方向上的探头和极化使能(b)利用所述探头阵列装置对被测物进行信号采样或信号照射；(c)通过所述信号发射与解调装置对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；(d)利用所述转台来带动被测物，且相对于所述探头阵列装置做旋转；(e)通过所述辅助装置来控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；(f)将上述所有的采样数据通过软件进行计算得出发射和接收性能评价数据，完成测试；所述采样数据是采取被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度，所述计算是由软件对所述采样数据的整体或部分做微积分运算。
与现有技术相比，本发明提出的方法基于微波暗室，对有源基站天线或基站系统的发射和接收性能进行测试，使用多探头对有源基站天线或基站系统辐射信号强度、质量进行采样并进行360度球面或部分截面进行微积分计算从而得出发射性能的各项评估。使用多探头轮换向有源基站天线或基站系统发射信号，在基站端获取解调指标作为采样数据，在360度球面或部分截面进行微积分计算，从而得出接收性能的各项评估，既可进行全部数据的运算得出360度全方位辐射性能，也可进行局部方位的运算得出局部辐射性能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1附图为本发明的结构示意图。
在图中：
1为处理装置、2为探头阵列装置、3为探头控制装置、4为信号发射与解调装置、5为辅助装置、6为微波暗室、7为转台。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一：
请参阅附图1，为本发明公开的一种用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试系统及方法，该测试系统包括以下设备：
处理装置1，探头阵列装置2，探头控制装置3，信号发射与解调装置4，辅助装置5，微波暗室6，转台7。其中，探头阵列装置2包括多个探头，其用于对被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度进行采样或对被测物进行信号照射；探头控制装置3与探头阵列装置2上的探头连接并连接处理装置1，探头控制装置可以控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置4与探头控制装置3和处理装置1连接，信号发射与解调装置4从探头阵列装置获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；辅助装置5，连接被测物和处理装置1，控制被测物发射信号或读取被测物接收信号结果；微波暗室6；转台7；带动被测物相对于所述探头阵列装置2做旋转；处理装置1，与探头控制装置3信号发射与解调装置4连接，处理装置1搭载有运算软件，信号发射与解调装置4将经过解调分析的采样信号发送给处理装置1，处理装置利用其运算软件对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。其中，探头阵列装置2为多个垂直交叉双极化探头，信号发射与解调装置4可发射调制信号和解调调制信号，辅助装置5可与被测物共同构成整体基站系统的补充，且基站系统包含有基带、射频和天线。
实施例二：
一种用于有源基站天线或基站系统ota性能的测试方法，该方法基于实施例一中记载的测试系统，该方法的实施具体包括如下步骤：
(a)利用探头控制装置3控制不同方向上的探头和极化使能；
(b)利用探头阵列装置2对被测物进行信号采样或信号照射；
(c)通过信号发射与解调装置4对采样到的信号进行解调分析得到采样数据或生成调制信号照射源；
(d)利用转台7来带动被测物，且相对于探头阵列装置2做旋转；
(e)通过辅助装置5来控制被测物或读取被测物信息；
(f)将上述所有的采样数据通过软件进行计算得出发射和接收性能评价数据，完成测试；采样数据是采取被测物在空间每个点上的辐射信道功率和辐射接收灵敏度，计算是由软件对采样数据的整体或部分做微积分运算。
实施例三：对被测物发射性能的测试
在被测物发射性能测试中，被测物与辅助装置5构成完整的基站系统，可以发射出调制信号，将被测物放置在转台7上，被测物发出的调制信号被探头阵列装置2采集，转台7带动被测物进行旋转，其相对于探头阵列装置2的方向发生变化，探头阵列装置2对被测物发出的调制信号在每一个方向上进行一组采样，探头阵列装置2将采集到的信号并传至信号发射与解调装置4进行解调，解调结果包括信道功率、误差矢量幅度、频率偏差等数据；处理装置1从信号发射与解调装置4读取解调后的数据，这样，探头阵列装置2对被测物发出的调制信号在各个方向上采样得到的采样数据全部被处理装置收集，然后处理装置通过内置的运算软件对采样数据进行运算。
根据实际需要，上述运算可以进行全部数据的运算得出360度全方位辐射性能，也可以进行局部方位的运算得出局部辐射性能。
对于全向辐射信道功率，空间上某方向两个极化方向测试到的信道功率结果记′eirpθ(θi，φj)；
全向辐射功率记做trp：
其中m，n为水平和垂直两个方向上采样点数，总采样个数为m*n。θ是采样方向与球面坐标系z轴正向夹角；
对于其他发射指标，如误差矢量幅度、频率偏差等，则采用采样平均的方法得出。
实施例四：对于全向最小灵敏度的测试
在对于全向最小灵敏度的测试中，由信号发射与解调装置4产生一定强度的调制信号，传输至探头阵列装置2，探头控制装置3控制探头阵列装置2，使不同方向上的探头和极化使能，结合转台7水平旋转，使上述信号从相对被测物不同方向以不同极化方式照射被测物，被测物接收到信号后进行解调，辅助装置对解调信息经行收集和基带处理，将结果上报至处理装置1，处理装置1通过自带的软件分析上述解调信息，判断误码率是否达到限值，如未达到则处理装置1控制信号发射与解调装置4对信号强度进行调整，并重新进行上述判断，在达到要求后记录此数据为可用的采样数据；反复进行上述操作，完成全方向上接收性能数据采样；然后，处理装置1对采样数据进行运算，上述运算可以进行全部数据的运算得出360度全方位灵敏度性能，也可以进行局部方位的运算得出局部灵敏度性能。
局部灵敏度性能的算法如下：
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。