1.一种基于PLZT调谐啁啾光纤光栅的方法，其特征在于，方法步骤如下：
步骤一：搭建基于PLZT陶瓷片调谐啁啾光纤光栅的实验装置：
所述基于PLZT陶瓷片调谐啁啾光纤光栅的实验装置包括宽光谱激光器（1）、光环行器（2）、光谱分析仪（3）、紫外灯（4）、PLZT陶瓷片（5）和线性啁啾光纤光栅（6）；
通过环氧树脂胶将线性啁啾光纤光栅（6）沿PLZT陶瓷片（5）的长度方向水平粘于PLZT陶瓷片（5）上表面的正中位置；将紫外灯（4）置于PLZT陶瓷片（5）上表面正上方，使光源输出端口正对PLZT陶瓷片（5）的上表面；将宽光谱激光器（1）的输出端接入光环形器（2）的1端口，光环行器（2）的2端口接线性啁啾光纤光栅（6）的输入端，光环行器的3端口接光谱分析仪（3）；其中PLZT陶瓷片（5）的长度尺寸大于线性啁啾光纤光栅（6）的长度尺寸；
步骤二：打开宽光谱激光器（1）和光谱分析仪（3），观察并记录无紫外灯（4）照射PLZT陶瓷片（5）的情况下，宽光谱激光器（1）输出的宽光束光源经由线性啁啾光纤光栅（6）反射后，在光谱分析仪（3）上的光谱分布，包括反射谱起始波长、终止波长和谱宽范围；其中宽光谱激光器（1）的波长范围要覆盖线性啁啾光纤光栅（6）的反射波长范围，并保证宽光谱激光器（1）的半高谱宽大于线性啁啾光纤光栅（6）的反射谱宽；
步骤三：打开紫外灯（4），设置紫外灯（4）的光照强度和光照时间，观察并记录该光照强度和光照时间下，宽光谱激光器（1）输出的宽光束光源经由线性啁啾光纤光栅（6）反射后，在光谱分析仪（3）上的光谱分布，同时记录此时相对之前反射谱的平移方向、平移量、反射谱宽的变化值；
步骤四：按照100mW/cm2的增量，继续增大紫外灯（4）的光照强度，保持光照时间与步骤三相同，观察并记录该光照强度和光照时间下，宽光谱激光器（1）输出的宽光束光源经由线性啁啾光纤光栅（6）反射后，在光谱分析仪（3）上的光谱分布，同时记录此时相对步骤二的反射谱的平移方向、平移量、反射谱宽的变化值；
步骤五：重复步骤四，记录到光照强度超过6000mW/cm2停止；
步骤六、根据上述记录的反射谱起始波长、终止波长、谱宽范围、相对步骤二的反射谱的平移方向、平移量、反射谱宽的变化值，绘制线性啁啾光纤光栅（6）在PLZT陶瓷片（5）调谐下的反射谱，从而获得线性啁啾光纤光栅（6）的反射谱特性。
2.根据权利要求1所述的基于PLZT调谐啁啾光纤光栅的方法，其特征在于：PLZT陶瓷片（5）的长度超出线性啁啾光纤光栅（6）长度范围为6mm~20mm。
3.根据权利要求1所述的基于PLZT调谐啁啾光纤光栅的方法及装置，其特征在于：上述步骤一中，将紧邻线性啁啾光纤光栅（6）两端的光纤部分涂上环氧树脂胶，沿PLZT陶瓷片（5）的长度方向，平直地粘于PLZT陶瓷片（5）上表面正中位置，并确定粘贴牢固。
4.根据权利要求1所述的基于PLZT调谐啁啾光纤光栅的方法及装置，其特征在于：上述宽光谱激光器（1）的半高谱宽超出线性啁啾光纤光栅（6）的反射谱宽超出谱宽的范围为20nm~100 nm。
5.根据权利要求1所述的基于PLZT调谐啁啾光纤光栅的方法及装置，其特征在于：上述步骤二中，保证PLZT陶瓷片（5）的上表面完全沐浴在紫外灯（4）的光源中。
6.根据权利要求1所述的基于PLZT调谐啁啾光纤光栅的方法及装置，其特征在于：上述步骤三中，紫外灯（4）的照射时间不宜过长，保证该照射时间下，PLZT陶瓷片（5）的形变量没有达到饱和。