技术特征：
技术总结
本发明提供一种相控阵天线的近场校准测试方法及装置，所述相控阵天线的近场校准测试方法包括步骤：若探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。所述相控阵天线的近场校准测试装置包括：通道控制模块，用于在探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。数据获取模块，用于通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。通过本发明所提供的相控阵天线的近场校准测试方法及装置，在对相控阵天线中的各个通道进行测试时，通过对各个通道的控制，消除通道耦合的能量，提高对相控阵天线的近场校准测试精度和收敛速度。
技术研发人员：苏道一
受保护的技术使用者：广东曼克维通信科技有限公司
技术研发日：2017.07.07
技术公布日：2017.11.03