技术特征：
技术总结
本发明公开一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片，该方法包括步骤：接收图像原始数据，将图像原始数据的每一像素值减去预设的偏移电平，得到该像素点偏移校正后的偏移校正值；根据M帧图像内全像素点的所述偏移校正值的累加值，得到第一误差值；根据M帧图像内单一像素点的偏移校正值的累加值，得到第二误差值；根据所述偏移校正值与所述第二误差值的均值的差值的绝对值，得到第一绝对误差值，通过该第一绝对误差值是否超出预设的第一阈值，判断该像素点是否为坏点。本发明通过计算多重帧内和帧间的像素误差，使最终得到的误差绝对值准确地反映了像素点是否损坏，以及损坏的程度。
技术研发人员：袁扬智;刘俊秀;韦毅;石岭
受保护的技术使用者：深圳开阳电子股份有限公司
技术研发日：2017.11.22
技术公布日：2018.04.20