离线定位图像传感芯片连续坏点的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其是一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法。
【背景技术】
[0002]随着智能手机、数码相机、平板电脑等消费电子、医疗影像、汽车、安全监控、空间科学、机器视觉等领域的飞速发展，市场对图像传感芯片的需求也在成倍增长。如果说CPU是系统的心脏，那图像传感芯片就是系统的眼睛。图像传感芯片中的坏点会严重影响芯片的使用，目前很多图像传感芯片通过测试可找出其坏点，并根据不同的算法将坏点进行校正，以得到更好的图像质量。但是，如果坏点是连续的，那就很难通过简单的算法予以校正。通常需要先对连续坏点进行定位，然后再判断是通过算法进行校正还是放弃该芯片。
[0003]现有技术中，通常是在在线测试过程中判断连续坏点，也就是说，当图像传感芯片在线测试时，通过对所述图像传感芯片每个坏点周围像素点进行逐个判断是否也是坏点，再依次扩大周围像素点范围，从而将整个所述图像传感芯片的每个像素点遍历一次，从而得到连续坏点的位置及数量，并进行记录，得到测试结果。但该方法耗时较长，且占用在线测试时间，占用了在线测试资源，测试效率低。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提供一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法，以解决在线测试时定位连续坏点耗时长，占用在线测试资源，测试效率低的问题。
[0005]为了达到上述目的，本发明提供了一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法，包括以下步骤:
[0006]获取被测图像传感芯片通过测试得到的一帧测试图像，并将所述测试图像存储于一离线终端上；
[0007]将所述测试图像中的坏点进行标记得到一第一二进制图像；
[0008]获取所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数；
[0009]获取所述测试图像中有(N+1)个及以上列连续坏点的位置及相应坏点的个数；
[0010]获取所述被测图像传感芯片上有(N+1)个及以上连续坏点的位置及个数；
[0011]其中，N为自然数。
[0012]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，获取所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数包括以下步骤:
[0013]将所述第一二进制图像向左移动N列，得到一第二二进制图像；
[0014]将所述第二二进制图像与所述第一二进制图像进行第一次运算，得到一第三二进制图像；
[0015]将所述第一二进制图像向右移动N列，得到一第四二进制图像；
[0016]将所述第四二进制图像与所述第一二进制图像进行第二次运算，得到一第五二进制图像；
[0017]将所述第三二进制图像和所述第五二进制图像进行第三次运算，得到一第六二进制图像；
[0018]根据所述第六二进制图像来判断所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数。
[0019]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，所述第一次运算的具体步骤为:将所述第二二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像中对应像素点的值进行与运算。
[0020]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，所述第二次运算的具体步骤为:将所述第四二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像中对应像素点的值进行与运算。
[0021]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，所述第三次运算的具体步骤为:将所述第三二进制图像中每个像素点的值与所述第五二进制图像中对应像素点的值进行或运算。
[0022]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，获取所述测试图像中有(N+1)个及以上列连续坏点的位置及相应坏点的个数包括以下步骤:
[0023]将所述第一二进制图像向上移动N行，得到一第七二进制图像；
[0024]将所述第七二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像对应像素点的值进行与运算，得到一第八二进制图像；
[0025]将所述第一二进制图像向下移动N行，得到一第九二进制图像；
[0026]将所述第九二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像对应像素点的值进行与运算，得到一第十二进制图像；
[0027]将所述第八二进制图像中每个像素点的值和所述第十二进制图像对应像素点的值进行或运算，得到一第十一二进制图像；
[0028]根据所述第十一二进制图像来判断所述测试图像中有(N+1)个及以上列连续坏点的位置及相应坏点的个数；
[0029]其中，N为自然数。
[0030]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，所述第四次运算的具体步骤为:将所述第七二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像对应像素点的值进行与运算。
[0031]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，所述第五次运算的具体步骤为:将所述第九二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像对应像素点的值进行与运算。
[0032]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，所述第六次运算的具体步骤为:所述第八二进制图像中每个像素点的值和所述第十二进制图像对应像素点的值进行或运算。
[0033]优选的，在上述的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，将所述测试图像中的坏点标记为1，其余像素点标记为0，从而得到一第一二进制图像。
[0034]在本发明提供的离线定位图像传感芯片连续坏点的方法中，通过测试机台获取一帧测试图像后，将所述测试图像存储于一离线终端上，分别获取所述测试图像中行、列连续坏点的位置及个数，从而得到被测图像传感芯片上的所有连续坏点的位置及个数，提高所述测试图像中连续坏点的定位速度，且不占用在线测试资源，提高了测试效率。
【附图说明】
[0035]图1为本发明实施例中离线定位图像传感芯片连续坏点的方法的流程图；
[0036]图2为本发明实施例中离线定位图像传感芯片行连续坏点的方法的流程图；
[0037]图3为本发明实施例中的第一二进制图像；
[0038]图4为本发明实施例中的第二二进制图像；
[0039]图5为本发明实施例中的第三二进制图像；
[0040]图6为本发明实施例中的第四二进制图像；
[0041]图7为本发明实施例中的第五二进制图像；
[0042]图8为本发明实施例中的第六二进制图像；
[0043]图9为本发明实施例中离线定位图像传感芯片列连续坏点的方法的流程图；
[0044]图10为本发明实施例中的第七二进制图像；
[0045]图11为本发明实施例中的第八二进制图像；
[0046]图12为本发明实施例中的第九二进制图像；
[0047]图13为本发明实施例中的第十二进制图像；
[0048]图14为本发明实施例中的第^^一二进制图像。
【具体实施方式】
[0049]下面将结合示意图对本发明的【具体实施方式】进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0050]如图1所示，本发明提供了一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法，包括以下步骤:
[0051]S1:获取被测图像传感芯片通过测试得到的一帧测试图像，并将所述测试图像存储于一离线终端上。
[0052]具体的，在对所述被测图像传感芯片进行在线测试时，通过测试机台获取所述被测图像传感芯片的一帧所述测试图像，然后将所