述测试图像存储于一离线终端上，对所述测试图像的其他操作均在所述离线终端上实现，所述测试机台可以继续对所述被测图像传感芯片进行其他项的测试，提高测试机台的利用率，提高了测试效率。
[0053]S2:将所述测试图像中的坏点进行标记得到一第一二进制图像。
[0054]由于所述测试图像为被测图像传感芯片将光信号转换为电信号输出得到的相应电平的数值，所以所述测试图像的每个像素均为一个具体的数字，根据获取所述测试图像时光源的照度，利用已知的照度与所述测试图像中像素值的关系，即可确定坏点。
[0055]具体的，根据已知的照度，设定阈值，所述测试图像中像素值超出所述阈值的即为坏点，将所述测试图像中坏点的像素值记为I。而对所述测试图像中像素值没有超出所述阈值的点，将其像素值记为0，从而使得所述测试图像形成一张二进制图像，即为所述第一二进制图像。
[0056]在本实施例中如图3所示，采用一张16X16的图像来做说明。
[0057]S3:获取所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数。
[0058]具体的，包括以下步骤:
[0059]S31:将所述第一二进制图像向左移动N列，得到一第二二进制图像。
[0060]具体的，N为自然数。将所述第一二进制图像向左移动N列后，将所述第二二进制图像的最后N列的像素值全部设置为O。例如当N为I时，就将所述第一二进制图像向左移动I列，所述第一二进制图像中第二列作为所述第二二进制图像的第一列，所述第二二进制图像的最后一列的像素值全部为O。
[0061]将所述图3向左移动I列后，并在最右侧补入一列O (即补入的为非坏点的标记值)，得到的所述第二二进制图像如图4所示。
[0062]同样的，当N为2时，所述第一二进制图像中第三列作为所述第二二进制图像的第一列，所述第二二进制图像的倒数第一列和倒数第二列的像素值全部为O。
[0063]根据实际测量的需要，工程师可以设定N的大小，N的最大值为所述第二二进制图像的列数的一半。
[0064]S32:将所述第二二进制图像与所述第一二进制图像进行第一次运算，得到一第二二进制图像。
[0065]由上述步骤S31可知，所述第二二进制图像与所述第一二进制图像大小相同，像素的分布、个数均相同。从而可以对像素分布及个数均相同的所述第二二进制图像与所述第一二进制图像进行第一次运算。
[0066]具体的，所述第一次运算的具体步骤为:将所述第二二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像中对应像素点的值进行与运算，并将与运算的结果作为当前像素点的值，以形成所述第三二进制图像。
[0067]也就是说，将所述第二二进制图像中第一行第一列的像素的值与所述第一二进制图像中第一行第一列的像素的值进行与运算。将所述第二二进制图像中第M行第L列的像素的值与所述第一二进制图像中第M行第L列的像素的值进行与运算。其中M的值不超过所述第一二进制图像的行数，L的值不超过所述第一二进制图像的列数。
[0068]图5示出的为图3与图4进行与运算的结果。
[0069]S33:将所述第一二进制图像向右移动N列，并在最左侧补入一列O (即补入的为非坏点的标记值)，得到一第四二进制图像。
[0070]在步骤S33中，所述第一二进制图像向右移动的列的数目和步骤S31中所述第一二进制图像向左移动的列的数目相同。也就是说，如果在步骤S31中，所述第一二进制图像向左移动了 4列，那么在步骤S33中，所述第一二进制图像也向右移动4列。
[0071]在本实施例中，在步骤S31中向左移动了 I列，在步骤S33中将所述第一二进制图像也向右移动I列，图6示出了第一二进制图像向右移动I列后得到的所述第四二进制图像。
[0072]所述第四二进制图像的获取过程与所述第二二进制图像的获取过程一致，仅仅是移动的方向相反。具体的，将所述第一二进制图像向右移动N列后，将所述第二二进制图像的最前N列的像素值全部设置为O。在步骤S31中，当N为I时，所述第四二进制图像的第一列的像素值全部为O，所述第一二进制图像中倒数第二列作为所述第四二进制图像的倒数第一列。
[0073]同样的，当N为2时，即将所述第一二进制图像向右移动2列，所述第二二进制图像的第一列和第二列的像素值全部为0，所述第一二进制图像中的倒数第三列作为所述第二二进制图像的倒数第一列。
[0074]S34:将所述第四二进制图像与所述第一二进制图像进行第二次运算，得到一第五二进制图像。
[0075]由上述步骤S33可知，所述第四二进制图像与所述第一二进制图像大小相同，像素的分布、个数均相同。从而可以对像素分布及个数均相同的所述第四二进制图像与所述第一二进制图像进行第二次运算，并将与运算的结果作为当前像素点的值，以形成所述第五二进制图像。
[0076]具体的，所述第二次运算的具体步骤为:将所述第四二进制图像中每个像素点的值与所述第一二进制图像中对应像素点的值进行与运算。具体结果如图7所示。
[0077]也就是说，将所述第四二进制图像中第一行第一列的像素的值与所述第一二进制图像中第一行第一列的像素的值进行与运算。将所述第四二进制图像中第M行第L列的像素的值与所述第一二进制图像中第M行第L列的像素的值进行与运算。其中M的值不超过所述第一二进制图像的行数，L的值不超过所述第一二进制图像的列数。
[0078]S35:将所述第三二进制图像和所述第五二进制图像进行第三次运算，得到一第六二进制图像。
[0079]同理，所述第三二进制图像和所述第五二进制图像大小相同，像素的分布、个数均相同。将所述第三二进制图像和所述第五二进制图像进行第三次运算。具体的，所述第三次运算的具体步骤为:将所述第三二进制图像中每个像素点的值与所述第五二进制图像中对应像素点的值进行或运算，并将或运算的结果作为当前像素点的值，以形成所述第六二进制图像，具体结果如图8所示。
[0080]也就是说，将所述第三二进制图像中第一行第一列的像素的值与所述第五二进制图像中第一行第一列的像素的值进行或运算。一般的，将所述第三二进制图像中第M行第L列的像素的值与所述第五二进制图像中第M行第L列的像素的值进行或运算。其中M的值不超过所述第三二进制图像的行数，L的值不超过所述第三二进制图像的列数。
[0081]S36:根据所述第六二进制图像来判断所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数。
[0082]具体的，当N为I时，即可得到所述测试图像中有2个及以上行连续坏点的位置，以及相应的坏点的个数。
[0083]当N为2时，即可得到所述测试图像中有3个及以上行连续坏点的位置，以及相应的坏点的个数。
[0084]以此类推，即可得到所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数。
[0085]在确定所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数的过程中，也可以先将所述第一二进制图像先向右移动，再向左移动相同列数，这是本领域技术人员所熟知的，在此不再赘述。
[0086]S4:获取所述测试图像中有(N+1)个及以上列连续坏点的位置及相应坏点的个数。
[0087]在确定所述测试图像中(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数之后，再对所述测试图像进行行移动，获取所述侧视图在纵向上的连续坏点及相应坏点的个数。如图9所示，具体的步骤如下:
[0088]S41:将所述第一二进制图像向上移动N行，得到一第七二进制图像。
[0089]如图10所示，也就是说，使得所述第一二进制图像的第(N+1)行作为第七二进制图像的第一行，所述第七二进制图像的最后N行全部设置为O (即非坏点的标