图像显示装置及其控制方法与流程

本申请可能涉及，例如，图像显示装置和所述图像显示装置的控制方法。

背景技术：

一般而言，需要高质量的显示装置。

现有技术中，有几种方法用于评估聚焦i-v(电流-电压)特性或电容的显示装置像素的退化。例如，如下文所示：

(1)美国专利申请出版物第20090184901a1号(有机发光显示及其驱动方法)

(2)美国专利第8026876b2号(oled亮度退化补偿)

(3)美国专利第7079091b2号(补偿oled设备老化)

但是，可以理解的是，这些先前的文档公开了直接测量dc(直流)分量的提议，因此，考虑到噪声，这些文档可能没有实用性。

技术实现要素：

下文的解释仅仅是示例，并不限定和/或约束本申请。

第一方面是图像显示装置，包括：多个像素要素，用于显示图像；第一电源，用于对所述多个像素要素施加电压；计数器，用于输出计数器信号；斜坡生成器，用于接收所述计数器信号并根据所述计数器信号输出斜坡信号；第二电源，用于根据所述斜坡信号对所述多个像素要素施加电压；放大器，用于在所述多个像素要素中的第一像素要素输出电流时输出触发信号；数据驱动器，用于根据所述计数器信号和所述触发信号输出计数器值；缓冲区，用于存储所述计数器值。

第二方面是根据所述第一方面的所述图像显示装置，其中所述第二电源还用于扫描根据所述斜坡信号施加到所述多个像素要素的所述电压。

第三方面是根据所述第一方面的所述图像显示装置，其中所述多个像素要素设置在包括预定行数和预定列数的矩阵上，其中所述数据驱动器用于输出所述带有列号的计数器值，列号上设置有第一像素要素，所述缓冲区用于存储带有所述列号的所述计数器值。

第四方面是根据所述第三方面的所述图像显示装置，其中所述放大器设置成对应所述多个像素要素的每一列。

第五方面是根据所述第一方面的所述图像显示装置，其中所述多个像素要素设置在包括预定行数和预定列数的矩阵上，其中所述放大器设置成对应所述多个像素要素的每一行。

第六方面是根据所述第四方面的所述图像显示装置，还包括：控制设备，用于选择所述矩阵的行，其中所述第一电源和所述第二电源对所选择的行上的像素要素施加电压。

第七方面是根据所述第一方面的所述图像显示装置，其中所述放大器包括发射极和基极，所述发射极用于接收来自所述第一电源的电流，所述基极用于输出所述电流，其中所述第一像素要素接收从所述基极输出的所述电流。

第八方面是根据所述第六方面的所述图像显示装置，其中所述控制设备以串行方式重复选择所述矩阵的行，所述数据驱动器在所述缓冲区中存储每行的像素要素的所述计数器值和列号。

第九方面是根据所述第一方面的所述图像显示装置，其中所述装置还包括处理器，所述处理器用于根据所述计数器值检测所述多个像素要素的误差。

第十方面是根据所述第一方面的所述图像显示装置，其中所述装置还包括处理器，所述处理器用于在所述触发信号没有在预定的时间间隔内输出时检测所述多个像素要素之一的误差。

第十一方面是图像显示装置的控制方法，包括：第一电源对多个像素要素施加电压；第二电源根据参考计数器信号生成的斜坡信号对所述多个像素要素施加电压；放大器在所述多个像素要素包含的第一像素要素输出电流时输出触发信号；数据驱动器根据所述计数器信号和所述触发信号输出计数器值；当接收到来自所述数据驱动器的所述计数器值时，缓冲区存储所述计数器值。

第十二方面是根据所述第十一方面的所述图像显示装置的所述控制方法，其中所述第二电源扫描根据所述斜坡信号施加到所述多个像素要素的所述电压。

第十三方面是根据所述第十一方面的所述图像显示装置的控制方法，其中所述多个像素要素设置在包括预定行数和预定列数的矩阵上，所述数据驱动器输出带有列号的所述计数器值，其中列号上设置有所述第一像素要素，其中所述缓冲区存储带有所述列号的所述计数器值。

第十四方面是根据所述第十三方面的所述图像显示装置的所述控制方法，其中所述放大器设置成对应所述多个像素要素的每一列。

第十五方面是根据所述第十一方面的所述图像显示装置的所述控制方法，其中所述多个像素要素设置在包括预定行数和预定列数的矩阵上，其中所述放大器设置成对应所述多个像素要素的每一行。

第十六方面是根据所述第十四方面的所述图像显示装置的所述控制方法，还包括控制设备选择所述矩阵的行，其中所述第一电源和所述第二电源对所选择的行上的像素要素施加电压。

第十七方面是根据所述第十一方面的所述图像显示装置的所述控制方法，其中所述放大器包括从所述第一电源接收电流的发射极以及输出所述电流的基极，其中所述第一像素要素接收从所述基极输出的所述电流。

第十八方面是根据所述第十六方面的所述图像显示装置的所述控制方法，其中所述控制设备以串行方式重复选择所述矩阵的行，所述数据驱动器在所述缓冲区中存储每行的像素要素的所述计数器值和列号。

第十九方面是根据所述第十一方面的所述图像显示装置的所述控制方法，还包括处理器根据存储在所述缓冲区的所述计数器值来检测所述多个像素要素的误差。

第二十方面是根据第十一方面的所述图像显示装置的所述控制方法，还包括处理器在所述触发信号没有在预定的时间间隔内输出时检测所述多个像素要素之一的误差。

第二十一方面是图像显示装置，包括：多个像素要素，用于显示图像；第一电源，用于对所述多个像素要素施加电压；计数器，用于输出计数器信号；斜坡生成器，用于接收所述计数器信号并根据所述计数器信号输出斜坡信号；第二电源，用于根据所述斜坡信号对所述多个像素要素施加电压；放大装置，用于在所述多个像素要素包含的第一像素要素输出电流时输出触发信号；数据驱动器，用于根据所述计数器信号和所述触发信号输出计数器值；缓冲区，用于接收和存储所述计数器值。

附图说明

图1是显示亮度补偿前后显示屏的图形；

图2是显示装置的概要图；

图3是补偿显示装置的系统的概要图；

图4是显示亮度和时间之间关系的图形；

图5是像素阵列的概要图；

图6是显示电流和亮度之间关系以及电流和电压之间关系的图；

图7示出了三张图，其中oled的电流输出由晶体管放大；

图8示出了一对图，其中施加到oled上的电压降低了；

图9是用于放大触发信号的额外元件的概要图；

图10是带有放大器电路的oled像素阵列的概要图；

图11是图像显示装置的概要图；

图12是从像素中检测触发信号的系统的概要图；

图13示出了四张图，指示了来自像素的触发信号；

图14示出了触发信号的计数器值的图；

图15是示出了初始tet误差和初始oled误差之间关系的概要图；

图16是示出了tet误差和oled误差之间关系的概要图。

具体实施方式

对于显示设备，维持每个像素的亮度均衡性可能是重要的问题。例如，安装在移动设备上的小型显示器的像素可能有同样的问题。对于显示装置，补偿亮度的不均衡性可能是重要的问题。例如，对用于移动设备的oled(有机发光二极管)显示设备和高清晰度的显示器，这是重要的问题。

一般而言，通过使用摄像头数据补偿初始问题和/或像素/像素要素的误差是可能的。图1示出了图像亮度不均衡性的示例。左边显示的是补偿之前的示例，而右边显示的是补偿后的示例。图1中，补偿了亮度不平等。

图2示出了一个蜂窝电话系统上的补偿操作示例的概要图。图2中，“100”是蜂窝电话系统。“101”是显示设备。“102”是处理器，例如，它在补偿操作中执行计算操作。“103”是存储补偿数据的rom(只读存储器)。“105”是ip电路(ip(知识产权)核心)，包括集成在一个包中的一组不同的电路。“106”是加法电路或者加法器，对各种补偿值进行加法/积分运算。

补偿数据可以在出厂时从外部提供并存储在所述rom103中。所述加法器106可以从伽玛补偿电路104和所述ip电路105接收所述补偿数据，将屏幕上的每个像素的补偿值进行加法/积分运算，以将所述补偿值应用于所述图像数据，并将所述图像数据输出到所述显示设备101。所述显示设备101从所述加法器106输入/接收所述补偿后的图像数据，并在屏幕上显示所述图像数据。

所述补偿数据可以由外部计算机(例如个人计算机)根据外部组件(例如获取所述显示设备101的所述屏幕图像的ccd(电荷耦合器件)摄像头捕获的捕获屏幕)生成。例如，所述外部计算机根据所述捕获的图像检测亮度的不均匀性，并生成指示补偿的数据，例如，增加施加在低亮度部分像素上的电流，减少施加在高亮度部分像素上的电流。

图3示出了使用ccd摄像头进行初始补偿的电流测量方法/系统。“100”是图2的蜂窝电话系统。“110”是ccd摄像头。“120”是附着到pc(个人计算机)130上的监测器。“140”是在pc130中安装和执行的计算机程序，包括用于生成所述补偿数据的算法。

像素初始误差可以根据从所述ccd摄像头110输出的所述摄像头数据得到补偿。该补偿可以包括各种操作，例如，计算所有像素亮度的平均值，以增加电流的方式增加包含在比平均值低的亮度区域内的像素要素的电流，使其与所述平均值的亮度差成正比，并以减少电流的方式减少包含在比平均值高的亮度区域内的像素要素的电流，使其与所述平均值的亮度差成正比。

所述ccd摄像头110安装在所述蜂窝电话系统100的生产线上。该系统/方法有可能进行准确的补偿。由于使用了多个外部设备，因此该系统/方法可用于所述蜂窝电话系统100的制造过程中。

通过使用外部设备的系统/方法有可能补偿初始像素亮度误差。然而，所述蜂窝电话系统100在所述制造过程之后可能有其它像素误差。图4是显示由于，例如老化等原因造成的像素误差图。

图4的纵轴对应亮度(坎德拉)。横轴表示时间。所述像素亮度随着所述显示设备的使用总时间的增加而下降，例如1000小时、2000小时。图4包括一对曲线。在同一显示设备上的所述像素亮度可以具有不均匀性和/或分散性。图4中的这对曲线分别表示高亮度像素和低亮度像素。如图4所示，当使用的总时间增加时，所述像素的亮度可能下降大约10％至20％。此外，当使用的总时间增加时，目前亮度较高的像素的亮度可能低于当前亮度较低的所述像素的初始亮度。

图4所示的由老化引起的像素误差可以由图3中所示的同一方法补偿。然而，图3的方法使用了所述外部设备(例如ccd摄像头)，因此以独立方式应用该方法可能并不容易。

如果在图4之外还有其它的方法和/或系统，那这样的方法或系统通常更可取，因为它可以测量所述老化，并且不需要外部设备。

一般而言，有高分辨率显示器的移动设备可能具有小像素。此外，在许多情况下，移动设备是在不稳定环境中使用的，因此来自oled像素的信号通常对噪声敏感。信号值是有意义的，有必要了解像素误差的测量操作的意义，足够准确地测量dc(直流)分量可能需要较长的测量时间和复杂的传感器。

图5示出了oled像素的驱动电流。在图5中，多个像素要素的每一个由电路(包括，例如二极管和晶体管)组成。将电流施加到该电路上，使oled发光。elvss(低电平电源)可以连接到所述oled的阴极上。

例如，图5所示的所述驱动电流大约在几纳安到100纳安之间，对于高分辨率的显示器，这可能会更小。因此，为了测量oled像素的所述驱动电流的值，例如，在驱动所述oled时，可能有必要将具有高增益、高阻抗和偏移调节功能的高度复杂的放大器安置到所有列(1080×3fhd(全高清)和rgb(红、绿、蓝))。此外，在一个基本稳定的环境中，例如实验室，有可能进行这样的测量操作。然而，这和实际使用蜂窝电话的环境不同。此外，可能需要几分钟才能获得所有像素的可靠测量值。

一般而言，最好能够预测oled像素的退化程度。而且，一般而言，如果能准确地、快速地且经济有效地获得例如这种预测操作的值，可能更好。

下文将解释第一实施例。

在本实施例中，根据来自oled像素的信号直接生成数字值。在本实施例中，例如，产生了对所述噪声具有容忍度的数字值。此外，在本实施例中，可以减少所述测量时间，因为在每一行的所有像素上的操作是同时执行的。

如上文所述，i-v特性可能指示oled像素的亮度的下降。

这里，图6示出了所述电流(“i”，纵轴)和亮度(“l”，左边横轴)之间的关系以及当出厂时(“初始”、虚线曲线)和老化后(“退化”、曲线)，所述oled像素的所述电流(“i”)和电压(“v”，右边纵轴)之间的关系。

在图6中，当将电流施加到oled上时，可以理解的是，有dv(deltav，图中使用了delta符号)指示电压差和dl(deltal，图中使用了delta符号)指示从产品出厂到产品老化之间的亮度差。可以理解的是，这些dv和dl在所述电流中广泛存在于所述图纸中。

此外，可以理解的是，所述曲线上有一点，这一点上的所述oled像素在输出电流之后开始增加所述电流，也就是类似拐点的点，可以理解，从产品出厂到老化之后之间是有差异的(图中使用了dvth、deltavth、delta符号)。可以用该拐点作为评估所述oled亮度退化程度的指标。

该拐点可指示所述oled开始输出和增加所述电流的时间。当对所述oled施加电压时，如果所述电压小，所述oled就不会输出所述电流。随着电压增加，所述oled可能输出所述电流。当所述oled开始输出和增加所述电流时，施加到所述oled的所述电压不是固定的或者预定的，并且可能在oled器件之间波动。

指示该拐点的信号可能与数字信号(开/关的触发)以同一方式处理或解决。在所述oled流动的所述电流可能是小值(例如，大约几纳安)，因此，为了直接测量oled输出的所述电流，需要昂贵的线性放大器、无噪声环境和很长的测量时间。然而，鉴于所述拐点，如果通过常用放大器放大指示所述拐点的所述信号，可观察或检测指示所述拐点的所述信号，同时避免如噪声和寄生电容等造成的负面影响。这是因为它只是检测所述oled是否有输出所述电流，而不需要测量所述oled输出的所述电流。

没必要使用带有线性输出特性的放大器，因为常用放大器适于检测所述oled是否有输出所述电流。可以使用简单的构成要素(例如常用晶体管)作为放大器，这可能会降低所述装置的成本。图7示出了oled通过晶体管输出电流的放大操作。

图7中的左上图，横轴指示了施加到所述oled的电压，纵轴指示了在所述oled上流动的所述电流。施加到所述oled上的电压变大，通过所述oled的所述输出电流开始流动。

图7的右上图示出了施加到集电极(ic，纵轴)上的电流和通常使用的晶体管的基极(ib，施加在oled上的电流，横轴)的电流之间的关系。可以理解，当所述集电极的所述电流增加时，所述基极的所述电流也增加。

图7中的底图示出了根据施加到所述oled上的所述电压增加而产生的校正器电流(ic，纵轴)。横轴表示时间。根据时间增大对oled施加的电压，产生并增加所述oled的输出电流。因此，所述校正器电流增大。

图8是观察到的所述oled的输出电流的示例。上图和图7的底图相同，示出了oled的输出电流，该输出电流由晶体管放大。如图8底图所示，在监测oled输出电流(即触发信号)时，可以扫描施加到所述oled(voled)的所述电压，以便其与所述时间成正比。这种扫描操作可以通过降低施加到所述oled阴极上的所述电压来实现。在此操作过程中，正如图8上图和底图所示，所述触发信号可能与所述拐点出现在同一电压下。也就是说，图8的底图中，当所述扫描电压增大时，施加到所述oled的所述电压变大，所述oled开始在所述拐点处输出所述电流。如果所述电压扫描比恒定(斜坡输入，电压随时间降低)，根据所述触发信号出现的时间，可以计算出检测拐点的阈值电压(thresholdvoltage，简称vth)。

这里，图9是放大器电路(放大器)将模拟信号转换成触发信号的示例。图9包括一个oled。然而，在具体情况下，可以将多个oled器件安置在包括行和列的矩阵上。晶体管(trd，901)添加到ddic(显示驱动器ic(集成电路))并连接到tft(薄膜晶体管)像素阵列。radj(电阻)调节晶体管的驱动电压。来自电源vdd的电流通过所述晶体管901的发射极-基极提供给oled像素。所有的开关和/或tft晶体管都保持“开”，以提供所述oled像素的所述驱动电流，并将所述电流施加到oled像素的普通阴极elvss(低电平电源)上。

根据所选择的数据线设置所述ddic和tft像素阵列之间的开关(switch，简称sw)，以便指示提供给所述oled像素的图像数据。在图9中，所述开关连接到ddic。当扫描所述阈值电压(vth)时，所述开关(sw)连接到所述晶体管(trd)901。这如图中所示，在所述图像数据(imagedata)和所述ddic之间的开关连接到所述ddic。

来自所述电源vdd的所述电流通过所述晶体管901的发射极-基极提供给所述oled像素。所述elvss上的扫描操作逐行进行，当所述oled像素输出所述电流时，晶体管902通过所述晶体管901打“开”，并输出触发信号(trigger)。也就是说，当所述电流流过所述oled像素时，所述晶体管902是生成开/关信号(即所述触发信号)的放大器。所述晶体管902可以是不昂贵的晶体管。

如图10所示，将图9的放大器(1010)添加到oled像素(1020)阵列的每一列，使其垂直方向跨行连接到oled像素上。电流(图9的vdd)由所述ddic提供给每一列的所有oled像素(1020)。以串行方式选择显示tft阵列的每一行，所述oled像素(1020)的所述晶体管被打“开”，所述电流施加到所选行的所述oled上。扫描操作下的行以串行方式改变或切换。因此，可以扫描所有行。针对每一行，此扫描操作在所有列上执行，所述屏幕上的所有像素都可以在，例如约6秒内进行扫描。扫描一行的时间可能是，例如约6/1920(秒)。进行此扫描操作的时间可能取决于，例如oled像素的数量和/或组成所述系统的硬件。例如，此扫描操作可以在接收来自蜂窝电话等设备用户的关机指令后进行。

图9的所述放大器可设置在每一行上。有可能将本实施例的行改为列。

图11是本实施例图像处理装置的示例。

oled阵列1100包括oled像素1120(图10的1020)。所述oled像素1120设置在并连接到扫描线s1到sn的交叉部分，以及数据线d1到dm的交叉部分(m和n为自然数)。所述oled像素1120设置在预定列数和预定行数上。例如，所述列数是1080，所述行数是1920。所述行数和列数可能大于和/或小于这些数量。

所述oled像素1120连接到第一电源(如图9所示的所述电源vdd)和第二电源(elvss)。所述第一电源通过所述oled像素1120提供至elvss的所述电流的数量基于所述数据信号得到控制。在所述oled像素1120处，产生根据所述数据信号亮度的光。

扫描驱动器1170根据来自定时器1152/计数器1151的计数器信号，在扫描线s1到sn上输出扫描信号。

数据驱动器1161根据来自所述定时器1152/计数器1151的计数器信号，在所述数据线d1到dm上输出数据信号。

所述数据驱动器1161可选择所有列。所述扫描驱动器1170选择一行，并可驱动所选行的所有oled像素1120。所述扫描驱动器1170可以串行方式选择所述oled阵列1100的每一行。因此，都能以串行方式选择所有行，都可以驱动所有像素。所述扫描驱动器1170可以是控制电路或者处理器。

斜坡生成器1180通常连接到所有oled像素1120的阴极上。所述斜坡生成器1180输入/接收来自所述计数器1151/定时器1152的所述计数器信号，并参照所述计数器信号将斜坡信号输出到oled阵列1100的每一个oled像素1120。也就是说，所述定时器1152/计数器1151和所述斜坡生成器1180根据同一时钟信号进行操作。缓冲区1140也输入/接收来自所述计数器1151/定时器1152的所述计数器信号。elvss连接到所述oled阵列1100的阴极上。

将来自所述晶体管阵列1190(设置在图10的ddic上)的电流施加到所述oled阵列1100(d1到dm)的每个oled像素1120上。当使用设备(例如蜂窝电话，包括通常条件下的oled阵列1100)时，d1至dm的线可用作图像的数据线。

根据来自所述斜坡生成器1180的所述信号，有可能降低elvss的电压。

当生成所述oled触发信号时，oled阈值电压(vth)可能和elvss的电压相同。当所述晶体管902在扫描如图8所示的elvss时，生成所述触发信号时，位变化监测器1162输入/检测此触发信号。所述数据驱动器1161包含的所述位变化监测器1162同时输出以下两者：与输出所述触发信号的所述oled像素相对应的线d1至dm的列数中的一个；向所述缓冲区1140指示生成所述触发信号的标志。所述缓冲区1140可以是包括非易失性存储器的电路/处理器。

此外，所述缓冲区1140输入/接收来自所述计数器1151/定时器1152的所述计数器信号。当所述触发信号生成时，所述缓冲区1140在输入/接收来自所述计数器信号的所述触发信号时获得指示定时器时钟的计数器值，并将所述计数器值存储在所述缓冲区1140的非易失性存储器中。所述扫描操作开始后所经过的时间对应所述计数器值，或者可以通过将预定值和所述计数器值相乘得到。可得到从所述扫描操作开始到生成图8所示的所述触发信号/拐点之间的时间。

elvss和所述斜坡生成器1180也与所述计数器1151/定时器1152生成的时钟信号同步。因此，存储在所述缓冲区1140中的所述计数器值表示所述触发信号/拐点(时间戳)生成之前的时间。此外，所述计数器值，即所述时间戳表示所述oled阈值电压(vth)，因为所述电压扫描比是恒定的。通过将所述电压扫描比和所述拐点生成时间相乘，可以计算出降低的电压量，从而也可以得到所述oled阈值电压(vth)。

每一列都有一个共同的elvss电力轨(图11)。因此，可同时检查或扫描每个oled像素阵列上的所有oled像素。此外，oled像素阵列的行在扫描或检查操作下的行以串行方式改变或切换，因此可快速扫描整体像素。例如，有可能在6秒内扫描所有oled像素行。对于全hd(高清晰度)屏幕，扫描一行像素可能需要6/1920秒。在这时间内，对图8所示的单行进行所述电压扫描操作。

图12示出了图11的构成要素的一部分。当从所述oled像素输出电流后，生成所述触发信号时，缓冲区(存储器)1140存储与每一个触发信号相对应的计数器(1151)值/定时器时钟(1152)。elvss的斜坡生成器1180执行操作，同时同步所述计数器1151/定时器1152的时钟。如图13左图所示，施加到oled(voled)上的电压与所述计数器1151/定时器1152成比例地扫描，并在所述oled阈值电压(vth)下生成触发信号。

因此，所述时间戳表示所述oled阈值电压(vth)。如果所述缓冲区(1140)存储所述时间戳或所述计数器值，所述缓冲区可实质上记录所述oled阈值电压(vth)。由于所述elvss电力轨通常由每一列的像素共享(图10)，因此可以同时检测oled像素阵列每行上(选择用于检查或扫描)的所有oled像素的所述oled阈值电压(vth)。此外，所有行都是串行扫描的，因此可快速扫描所有像素。

如图13右侧四张图所示，所述oled像素间的所述oled阈值电压可以不同。参考图14，可以理解的是，在所述oled像素之间，所述触发信号输出时间对应的所述计数器值可能是不同的。标识符h0到1440表示一行的oled像素。随着时间增加，所述计数器从t0增加到t255。在与所述计数器的增加成比例的情况下，如图13的左图所示，扫描施加到oled像素的所述电压。由于电压上的扫描操作，所述oled像素可输出所述电流。

在图9的所述电路中，当所述oled像素输出所述电流时，所述晶体管902被打“开”，所述电路输出所述触发信号(trigger)。在图14中，可以检测的是，当所述计数器值是t4时，附图中心的oled像素输出所述电流(生成触发信号(trigger))。数据驱动器1161/位变化监测器1162接收来自晶体管阵列1162的所述触发信号并检测所述触发信号的生成。所述数据驱动器1161/位变化监测器1162输出所述列号，如“h100”(和行号，如“500”)。缓冲区1140接收并存储所述列号(行号)和时间戳/计数器。

此外，所述oled阈值电压在产品出厂时和老化后之间可能存在差异。由于老化，所述oled阈值电压可能更大。例如，右侧四张图之间，第四张图中最迟检测所述oled阈值电压，这可能表明oled像素的亮度较产品出厂时有所恶化。此外，例如，如果没检测到触发信号，有可能所述oled像素遭到破坏。此种情况下，可能所述oled像素的二极管是损坏的，和/或可能其它外围元件(如晶体管)是损坏的。

此后，下文将解释本实施例中oled像素退化程度的评估方法。

基于oled阈值电压(vth)的值，可能有几种方法来评估每个oled像素的所述退化程度。在图15和图16中，“l”是oled像素的亮度。dl(deltal，图中使用了delta符号)表示亮度变化/差异。dvth(deltavth，图中使用了delta符号)表示oled阈值电压(vth)的变化/差异。最简单的解决方法可能是预先提供dl和dvth之间的简单预定计算模型。例如，dl和dvth之间可以假定成比例关系。

然而，实际使用中的计算模型可能更复杂。所述oled材料(r/g/b，红色、绿色和蓝色)之间的所述退化程度可能不同。此外，一般而言，由于，例如气相沉积条件不同，由相同材料构成的像素之间的所述退化程度可能是不同的。而且，dl不仅由oled误差引起，还可由tft误差引起。

还有另一种方案，将存储在所述缓冲区1140中的所述定时器/计数器从产品出厂时到老化后的时间差值用作dvth，取代所述oled阈值电压(vth)的变化/差值。

图15示出了在产品出厂时计算初始误差的方法概要图。oled像素的初始误差可同时包括所述oled(二极管)本身的初始误差，以及tft等的初始误差。如图3所示，这种oled像素的初始误差可通过外部设备(如ccd)得到补偿。

对于所述oled像素的初始误差(包含tft误差)和oled(二极管)本身的误差之间的差异，所述oled阈值电压(vth)的值可间接用于评估初始tft误差。

一般而言，tft误差很大程度上可遵循基于时间的计算模型。因此，根据设备的操作小时数，tft误差的可能性可能会增大。与oled误差的计算模型相比，此tft误差模型可能更稳定、更简单。

有可能计算所述像素的总发光时间。例如，在图11中，所述数据驱动器1161有可能测量所述像素的发光时间，并将所测量的发光时间存储/更新到所述缓冲区1140中。通过上文所述的操作可获得初始参数，因此有可能通过老化模型(包括tft和oled组合)评估所述退化程度。有可能将所述oled阈值电压(vth)用于oled退化估计而不是tft误差估计，其退化不依赖于只受时间或老化影响的计算模型。

例如，在图15中，假设产品出厂时的所述oled阈值电压(vth)同时包括tft误差的初始值和oled误差的初始值。此外，在图16中，假设老化后的tft误差可能和每个像素的发光时间成比例。所述oled阈值电压(vth)可能同时受到tft误差和oled误差的初始值的影响。

假设tft误差引起的所述老化对dvth的负面影响与操作小时数成比例。这里，可以理解的是，当生成所述触发信号时，dvth对应图13所示的所述定时器/计数器的值。可以计算tft误差引起的老化对dvth的负面影响量，根据oled阈值电压(vth)在产品出厂时的初始值乘以总发光时间和比例常数的计算。

例如，如果假设与oled误差的所述初始值相比，tft误差的所述初始值大约是10％，而且如果假设所述设备操作10000个小时引起tft误差，即tft误差的所述初始值的3％，通过利用公式“dvth×0.1×(操作时间/10000)×0.03”，可以估计由所述tft误差引起的所述负面影响。基于此估计的tft误差，有可能通过计算差异以估计由老化引起的所述oled误差。

上述的公式和解释仅仅是示例。有可能使用oled阈值电压(vth)作为补充参数，进一步估计由于退化引起的误差。

可参考所述缓冲区1140使用处理器进行上述的估计操作。例如，该处理器可以是移动设备的处理器。该处理器可以是所述数据驱动器1161。对于所述数据驱动器1161，有可能在所述缓冲区1140中存储所述像素要素的总操作时间。这里，可以将dvth计算为存储在所述缓冲区1140中的所述计数器/定时器在当前vth和产品出厂时测量的所述初始值之间的差值。所述数据驱动器1161可以将dvth与加权因子相乘，将加权后的dvth与所述总操作时间相加。例如，如果像素的总操作时间是5000个小时，且如果dvth是0.01毫秒，则可进行5000+0.01×10000(加权因子)的计算以评估退化情况。如果该计算结果大于实际总操作时间(例如大30％)，有可能确定所述像素退化。

如果所述像素要素的所述总操作时间较长，所述数据驱动器1161在显示图像时有可能增大施加到所述像素要素上的电压。例如，如果所述总操作时间是1000个小时，所述数据驱动器1161可将电压增加1000×0.001(％)，其中“0.001”是预定因子。可通过dvth修改所述像素要素的所述总操作时间，例如将dvth×10000加到所述总操作时间上。

此外，例如，在图13的左图中，如果所述数据驱动器1161检测到在预定时间间隔内(例如，6毫秒)没有发起触发信号的像素，所述数据驱动器1161可以确定所述像素是损坏的，在所述缓冲区1140上存储误差记录并决定不再施加电流。

根据上述实施例，即使产品出厂后，也有可能获取/检查键值以估计每个像素在可行成本下的老化程度。此外，本实施例可补偿所述图像老化，并提高所述oled显示器的图像均匀性。

上述实施例可应用于蜂窝电话。上述实施例可应用于移动设备，例如个人计算机。此外，上述实施例可应用于，例如汽车导航系统、电视机、户外广告、室内使用的显示设备(如列车、飞行器和/或电梯)和/或医疗设备。