技术特征：
技术总结
本发明公开了一种多通道并行的光器件频谱响应测量方法，包括：步骤1、将微波信号调制于第一光频梳信号，生成多通道载波抑制光双边带信号；然后将其与第二光频梳信号耦合，生成多通道非对称光双边带信号，即为探测光信号；第一、第二光频梳信号的梳齿频率间隔不同；步骤2、令探测光信号通过待测光器件后进行光电转换，然后从中并行提取出待测光器件在每个通道的频谱响应；步骤3、将待测光器件在每个通道上的频响组合为待测光器件完整的频谱响应。本发明还公开了一种多通道并行的光器件频谱响应测量装置。本发明可同时实现高分辨率、大范围的快速高精度测量，杜绝了不同通道的相互串扰，有效消除接收机的频率依赖性及调制非线性引起的测量误差。
技术研发人员：潘时龙;卿婷;李树鹏;薛敏
受保护的技术使用者：南京航空航天大学
技术研发日：2018.04.20
技术公布日：2018.09.21