云手机硬件质量批量测试方法与系统与流程

文档序号:16815563发布日期:2019-02-10 14:26阅读:403来源:国知局
云手机硬件质量批量测试方法与系统与流程

本发明涉及网络技术领域,特别涉及一种云手机硬件质量批量测试方法与系统。



背景技术:

云手机,是一个基于云计算强大虚拟应用和移动互联网的智能手机应用云平台。基于云计算在大规模计算、强大的存储能力、虚拟化应用等方面突出的优势,云平台为智能手机用户提供多元化、全方位的虚拟手机应用和服务,全面支持各种手机应用程序的展示、下载、应用与管理服务,并卓越实现全天候云端智能托管应用,让用户脱离移动终端的状态下,也能将各种应用程序托管到到云端,保持全天候在线状态,全面实现智能手机应用虚拟化。

普通的云手机硬件检测方法是将单台云手机与显示器连接后,再通电单个测试,最后将结果显示到屏幕上由人工记录,效率较低并容易出错。



技术实现要素:

本发明的实施方式旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明的实施方式需要提供一种云手机硬件质量批量测试方法与系统。

本发明实施方式的一种云手机硬件质量批量测试方法,其特征在于,包括:

步骤1,连接包括若干台云手机的云手机集群;

步骤2,设置用于对云手机集群硬件测试的测试参数;

步骤3,对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试;

步骤4,获取云手机集群每台云手机的最终硬件测试结果;

步骤5,对云手机集群中每台云手机的pcb板进行扫描并结合最终硬件测试结果判断该云手机是否通过硬件测试直至扫描完毕,完成云手机集群的硬件质量批量测试。

一种实施方式中,步骤2包括:将包括cpu,ddr,emmc,gpu,网络通讯器在内的任意一项或多项的硬件质量设置为用于对云手机集群硬件测试的测试参数。

一种实施方式中,预设时间包括第三时间、第四时间和第五时间,则步骤3包括:对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为通过则按第四时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为通过则按第五时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;

其中,第三时间大于第四时间,第四时间大于第五时间。

一种实施方式中,预设时间还包括第一时间和第二时间,则步骤3包括:对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为不通过则按第二时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为不通过则按第一时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;

其中,第一时间大于第二时间,第二时间大于第三时间。

一种实施方式中,步骤5包括:对云手机集群中每台云手机的pcb板上预设的标识码进行扫描,若当前扫描的云手机的最终硬件测试结果为通过硬件质量测试则扫描下一台云手机直至扫描完毕;否则,记载该云手机的故障原因并将该云手机当做不良品处理;其中,故障原因为该云手机存在包括内存、存储芯片和网卡芯片中的任意一种硬件故障。

本发明还提出一种云手机硬件质量批量测试系统,其特征在于,包括:

连接模块,用于连接包括若干台云手机的云手机集群;

设置模块,用于设置用于对云手机集群硬件测试的测试参数;

测试模块,用于对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试;

结果获取模块,用于获取云手机集群每台云手机的最终硬件测试结果;

扫描判断模块,用于对云手机集群中每台云手机的pcb板进行扫描并结合最终硬件测试结果判断该云手机是否通过硬件测试直至扫描完毕,完成云手机集群的硬件质量批量测试。

一种实施方式中,设置模块具体用于将包括cpu,ddr,emmc,gpu,网络通讯器在内的任意一项或多项的硬件质量设置为用于对云手机集群硬件测试的测试参数。

一种实施方式中,预设时间包括第三时间、第四时间和第五时间,则测试模块具体用于对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为通过则按第四时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为通过则按第五时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;

其中,第三时间大于第四时间,第四时间大于第五时间。

一种实施方式中,预设时间还包括第一时间和第二时间,则测试模块具体用于对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为不通过则按第二时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为不通过则按第一时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;

其中,第一时间大于第二时间,第二时间大于第三时间。

一种实施方式中,扫描判断模块具体用于对云手机集群中每台云手机的pcb板上预设的标识码进行扫描,若当前扫描的云手机的最终硬件测试结果为通过硬件质量测试则扫描下一台云手机直至扫描完毕;否则,记载该云手机的故障原因并将该云手机当做不良品处理;其中,故障原因为该云手机存在包括内存、存储芯片和网卡芯片中的任意一种硬件故障。

本发明实施方式的云手机硬件质量批量测试方法与系统,可以批量自动检测云手机,通过网络自动测试云手机的各项硬件质量,并结合扫码检测方式将不良品挑出,确定硬件质量批量测试结果。

本发明的附加方面的优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的实施方式的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解,其中:

图1是本发明实施方式的云手机硬件质量批量测试方法的流程示意图;

图2是本发明实施方式的云手机硬件质量批量测试系统的组成示意图;

图3是本发明实施方式的云手机硬件质量批量测试系统的工作流程图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施方式,实施方式的示例在附图中示出,其中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的,仅可用于解释本发明的实施方式,而不能理解为对本发明的实施方式的限制。

请参阅图1,本发明实施方式的云手机硬件质量批量测试方法,包括:

步骤1,连接包括若干台云手机的云手机集群。

步骤2,设置用于对云手机集群硬件测试的测试参数。

步骤3,对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试。

步骤4,获取云手机集群每台云手机的最终硬件测试结果。

步骤5,对云手机集群中每台云手机的pcb板进行扫描并结合最终硬件测试结果判断该云手机是否通过硬件测试直至扫描完毕,完成云手机集群的硬件质量批量测试。

步骤1中,云手机集群可以视作若干台云手机的集合,可以通过有线连接或者无线网络连接的方式来连接整个云手机集群。本实施例中,以无线网络连接的方式来连接整个云手机集群。每台云手机则以pcb板插入的方式与整个云手机集群连接。

步骤2中,具体包括:将包括cpu,ddr,emmc,gpu,网络通讯器在内的任意一项或多项的硬件质量设置为用于对云手机集群硬件测试的测试参数。在本实施例中,还可以根据实际硬件质量测试的要求设置其他测试参数,在此不做限制。

步骤3中,对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试。即依据设置好的测试参数,结合预设的时间来进行硬件测试。本实施例中,预设的时间可以是固定的一个时间段,可以是好几个时间。下面分情况来介绍:

一种情况中,预设时间包括第三时间、第四时间和第五时间,则步骤3包括:对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为通过则按第四时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为通过则按第五时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;其中,第三时间大于第四时间,第四时间大于第五时间。

例如,将第三时间设置为72小时、第四时间设置为48小时、第五时间设置为24小时,首先可以根据设置好的测试参数对云手机集群中每台云手机先进行第一轮持续时间为72小时的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为通过则进行第二轮持续时间为48小时的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为通过则进行第三轮持续时间为24小时的硬件测试,若第三轮的硬件测试结果为通过,则输出该云手机的最终硬件测试结果为各项测试参数的测试都通过。即改变传统统一测试时间的做法,由于云手机需要不间断地使用,如果依据传统方式统一设置一个时间例如100小时测试,则容易出现云手机的使用需求不能够满足,并且测试轮次较低也可能存在测试不足的情况。本实施例中将测试时间和测试结果两者相结合,若测试结果好则逐步缩短测试时间,并增加测试轮次来保证测试结果。

一种情况中,预设时间还包括第一时间和第二时间,则步骤3包括:对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为不通过则按第二时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为不通过则按第一时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;其中,第一时间大于第二时间,第二时间大于第三时间。

例如,将第一时间设置为120小时,第二时间设置为96小时,第三时间依旧为72小时,首先可以根据设置好的测试参数对云手机集群中每台云手机先进行第一轮持续时间为72小时的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为不通过则进行第二轮持续时间为96小时的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果还是为不通过则进行第三轮持续时间为120小时的硬件测试,若第三轮的硬件测试结果为不通过,则输出该云手机的最终硬件测试结果为该云手机具体某项测试参数的测试不通过。即改变传统统一测试时间的做法,由于云手机需要不间断地使用,如果依据传统方式统一设置一个时间例如100小时测试,则容易出现云手机的使用需求不能够满足,并且测试轮次较低也可能存在测试不足的情况。本实施例中将测试时间和测试结果两者相结合,若测试结果不好则逐步延长测试时间,并增加测试轮次来保证测试结果。

步骤4是获取的每台云手机的最终硬件测试结果包括:该云手机各项测试参数的测试都通过,或者该云手机具体某项或者全部测试参数的测试都不通过。当然,还可以根据需要预先设置需要获得的最终硬件测试结果的内容。

步骤5中,具体包括:对云手机集群中每台云手机的pcb板上预设的标识码进行扫描,若当前扫描的云手机的最终硬件测试结果为通过硬件质量测试则扫描下一台云手机直至扫描完毕;否则,记载该云手机的故障原因并将该云手机当做不良品处理;其中,故障原因为该云手机存在包括内存、存储芯片和网卡芯片中的任意一种硬件故障。

预设的标识码可以是成本较低的条码,也可以是二维码,或者其他形式的标识码,在此不做限定。以条码为例,通过扫描云手机的pcb板上预先贴好的条码,可以根据条码来确定该云手机的名称,例如条码显示aa-001,则依据条码结合云手机的最终硬件测试结果,得到信息:名称为“aa-001”的云手机各项测试参数的测试都通过;然后继续扫描下一台云手机。

如果扫描后依据条码结合云手机的最终硬件测试结果,得到信息:名称为“aa-001”的云手机存在内存硬件故障,则将该云手机的pcb板拔下,并在记载完该云手机的具体故障原因后,将该云手机登记为不良品。

本实施例可以批量自动检测云手机,通过网络自动测试云手机的各项硬件质量,并结合扫码检测方式将不良品挑出,确定硬件质量批量测试结果,既保证了检测效率也保证了检测的结果,改变了人工检测带来的效率低下和易出错的问题。

实施例2

如图2所示,本实施例提出一种云手机硬件质量批量测试系统,包括:连接模块、设置模块、测试模块、结果获取模块和扫描判断模块,其中,各个模块的介绍如下:

连接模块,用于连接包括若干台云手机的云手机集群。

设置模块,用于设置用于对云手机集群硬件测试的测试参数。

测试模块,用于对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试。

结果获取模块,用于获取云手机集群每台云手机的最终硬件测试结果。

扫描判断模块,用于对云手机集群中每台云手机的pcb板进行扫描并结合最终硬件测试结果判断该云手机是否通过硬件测试直至扫描完毕,完成云手机集群的硬件质量批量测试。

云手机集群可以视作若干台云手机的集合,连接模块可以通过有线连接或者无线网络连接的方式来连接整个云手机集群。本实施例中,以无线网络连接的方式来连接整个云手机集群。每台云手机则以pcb板插入的方式与整个云手机集群连接。

具体地,设置模块具体用于将包括cpu,ddr,emmc,gpu,网络通讯器在内的任意一项或多项的硬件质量设置为用于对云手机集群硬件测试的测试参数。在本实施例中,还可以根据实际硬件质量测试的要求设置其他测试参数,在此不做限制。

测试模块对云手机集群中每台云手机按预设时间进行硬件测试。即测试模块依据设置好的测试参数,结合预设的时间来进行硬件测试。本实施例中,预设的时间可以是固定的一个时间段,可以是好几个时间。下面分情况来介绍:

一种情况中,预设时间包括第三时间、第四时间和第五时间,则测试模块具体用于对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为通过则按第四时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为通过则按第五时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;其中,第三时间大于第四时间,第四时间大于第五时间。

例如,将第三时间设置为72小时、第四时间设置为48小时、第五时间设置为24小时,首先测试模块可以根据设置好的测试参数对云手机集群中每台云手机先进行第一轮持续时间为72小时的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为通过则进行第二轮持续时间为48小时的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为通过则进行第三轮持续时间为24小时的硬件测试,若第三轮的硬件测试结果为通过,则测试模块输出该云手机的最终硬件测试结果为各项测试参数的测试都通过。即改变传统统一测试时间的做法,由于云手机需要不间断地使用,如果依据传统方式统一设置一个时间例如100小时测试,则容易出现云手机的使用需求不能够满足,并且测试轮次较低也可能存在测试不足的情况。本实施例中将测试时间和测试结果两者相结合,若测试结果好则逐步缩短测试时间,并增加测试轮次来保证测试结果。

一种情况中,预设时间还包括第一时间和第二时间,则测试模块具体用于对云手机集群中每台云手机先按第三时间进行第一轮的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为不通过则按第二时间进行第二轮的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果为不通过则按第一时间进行第三轮的硬件测试;根据第三轮的硬件测试结果输出该云手机的最终硬件测试结果;其中,第一时间大于第二时间,第二时间大于第三时间。

例如,将第一时间设置为120小时,第二时间设置为96小时,第三时间依旧为72小时,首先测试模块可以根据设置好的测试参数对云手机集群中每台云手机先进行第一轮持续时间为72小时的硬件测试,若第一轮的硬件测试结果为不通过则进行第二轮持续时间为96小时的硬件测试,若第二轮的硬件测试结果还是为不通过则进行第三轮持续时间为120小时的硬件测试,若第三轮的硬件测试结果为不通过,则测试模块输出该云手机的最终硬件测试结果为该云手机具体某项测试参数的测试不通过。即改变传统统一测试时间的做法,由于云手机需要不间断地使用,如果依据传统方式统一设置一个时间例如100小时测试,则容易出现云手机的使用需求不能够满足,并且测试轮次较低也可能存在测试不足的情况。本实施例中将测试时间和测试结果两者相结合,若测试结果不好则逐步延长测试时间,并增加测试轮次来保证测试结果。

结果获取模块获取的每台云手机的最终硬件测试结果包括:该云手机各项测试参数的测试都通过,或者该云手机具体某项或者全部测试参数的测试都不通过。当然,还可以根据需要预先设置需要获得的最终硬件测试结果的内容。

如图3所示,具体地,扫描判断模块对云手机集群中每台云手机的pcb板上预设的标识码进行扫描,若当前扫描的云手机的最终硬件测试结果为通过硬件质量测试则扫描下一台云手机直至扫描完毕;否则,记载该云手机的故障原因并将该云手机当做不良品处理;其中,故障原因为该云手机存在包括内存、存储芯片和网卡芯片中的任意一种硬件故障。

预设的标识码可以是成本较低的条码,也可以是二维码,或者其他形式的标识码,在此不做限定。以条码为例,扫描判断模块通过扫描云手机的pcb板上预先贴好的条码,可以根据条码来确定该云手机的名称,例如条码显示aa-001,则依据条码结合云手机的最终硬件测试结果,得到信息:名称为“aa-001”的云手机各项测试参数的测试都通过;然后继续扫描下一台云手机。

如果扫描后扫描判断模块依据条码结合云手机的最终硬件测试结果,得到信息:名称为“aa-001”的云手机存在内存硬件故障,则将该云手机的pcb板拔下,并在记载完该云手机的具体故障原因后,将该云手机登记为不良品。

本实施例可以批量自动检测云手机,通过网络自动测试云手机的各项硬件质量,并结合扫码检测方式将不良品挑出,确定硬件质量批量测试结果,既保证了检测效率也保证了检测的结果,改变了人工检测带来的效率低下和易出错的问题。

在本说明书的描述中,参考术语“一个实施方式”、“一些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合所述实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理模块的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或多个布线的电连接部(电子装置),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(ram),只读存储器(rom),可擦除可编辑只读存储器(eprom或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序,然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解,本发明的实施方式的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(pga),现场可编程门阵列(fpga)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外,在本发明的各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

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