一种产品在线回波损耗监控及回波损耗光路调零装置的制作方法

文档序号:16869345发布日期:2019-02-15 20:28阅读:482来源:国知局
一种产品在线回波损耗监控及回波损耗光路调零装置的制作方法

本实用新型涉及光通信领域,尤其涉及一种产品在线回波损耗监控及回波损耗光路调零装置。



背景技术:

随着通信行业的不断发展,光无源器件的种类也是越来越多,特别是不同元件的集成器件及阵列型器件得到了很大的推广及运用;但由于元器件集成太多,中间反光面也是越来越多,这样多的反光面也使得这种集成器件的回波损耗很不稳定,产品回波损耗参数的良率波动较大;本专利主要是在对效率影响极低、投入成本较低、测试准确性高的情况下通过在线监控回波损耗的方式提高此类产品回波损耗参数的良率。

如图1所示,现有市面上回波损耗测试比较准确的是回波损耗测试仪,同时此类设备测试量程也很高,但设备成本较高一般用于产品出货前的性能测试,但在生产过程中采用此种设备进行回波损耗监控,由于产品调试效率较低此类成本较高的设备利用率较低,投入太大不适合批量生产使用;

如图3所示,另外一种回波损耗测试是采用2×2的50/50的耦合器搭建回波损耗测试光路进行回波损耗测试,但此类测试光路由于光路中本身存在3~4dB的损耗,而不同耦合器的损耗也有一定的差别,同时由于整个光路还需要熔接光源线等,同样会导致光路损耗变大,而一般运用中实际不会测试整个光路的损耗,只是把预估的3dB损耗减去,这样测试出来的回波损耗准确性太低,员工的操作问题更是有可能产生不良品流出。

如图2所示的现有调零方式存在耦合器本身的损耗及光路中其他损耗没有清掉,导致整个测试产品偏大,并需要人为预估损耗值,并在测试的参数上减掉这个预估的损耗。

在图1中,1是插回损测试仪、2是熔接点、3是待测器件、4是光源线。

在图2中,1是单点光源、2是50/50 2×2耦合器、3是功率计。

在图3中,1是单点光源、2是50/50 2×2耦合器、3是熔接点、4是待测器件、5和6是功率计。



技术实现要素:

本实用新型提供了一种产品在线回波损耗监控及回波损耗光路调零装置,包括单点光源、2×2耦合器、光全反射器件、光功率计,所述单点光源、所述2×2耦合器、所述光全反射器件依次相连,所述2×2耦合器输出端与所述光功率计输入端相连。

作为本实用新型的进一步改进,所述2×2耦合器输出端与所述光全反射器件输入端通过光纤熔接相连。

作为本实用新型的进一步改进,所述2×2耦合器输出端与所述光全反射器件输入端之间构成熔接点。

本实用新型的有益效果是:1、通过耦合器搭建回波损耗测试光路,节约了设备成本;2、通过一种光全反射器件对搭建光路进行归零,大大提高了测试准确性并使测试参数更明确;3、通过耦合器进行回波损耗,插入损耗光源线与回波损耗测试光源线为一条光纤,免去了测试回波损耗需要重新熔接的步骤,大大提高了产品的调试效率。

附图说明

图1是背景技术的插回损仪测试产品结构图;

图2是背景技术的调零光路产品结构图;

图3是背景技术的回波损耗测试光路产品结构图;

图4是本实用新型产品结构图。

具体实施方式

如图4所示,本实用新型公开了一种产品在线回波损耗监控及回波损耗光路调零装置,其特征在于:包括单点光源1、2×2耦合器2、光全反射器件4、光功率计5,所述单点光源1、所述2×2耦合器2、所述光全反射器件4依次相连,所述2×2耦合器2输出端与所述光功率计5输入端相连。

所述2×2耦合器2输出端与所述光全反射器件4输入端通过光纤熔接相连。

所述2×2耦合器2输出端与所述光全反射器件4输入端之间构成熔接点3。

如图4所示,光从单点光源1输出进入2×2耦合器2的一条输入端进入并经过耦合区进行分光,其中50%的光通过一条输出损耗掉,另外50%的光通过另一条输出,另一条输出末端与光全反射器件4的输入光纤熔接,50%光经过熔接点4进入到光全反射器件4中,由于光全反射器件4对光有全反射作用,光经过光全反射器件4在反射界面上全部返回进入到50/50耦合器中,再经过耦合区进行分光,25%光进入光源1损耗掉,另外25%的光进度到光率计5中,此时功率计5所接受的整个光路返回的光,此时对光功率计进行清零,也是对整个回波损耗测试光路进行了归零;归零之后可直接通过如图3所示的测试光路进行测试,测试结果更准确真实。

本发明通过一种光全反射器件对2×2 50/50耦合器搭建的回波损耗测试光路进行归零,提高了整个测试光路的准确性;

本发明通过2×2 50/50耦合器搭建的回波损耗监控光路其中插入损耗测试光源线与回波损耗测试光源线为同一条光纤,免去了测试回波损耗需要重新熔接的步骤,大大提高了产品的调试效率,如上图3所示,通过功率计5监控回波损耗,通过功率计6监控插入损耗。

本实用新型的有益效果是:1、通过耦合器搭建回波损耗测试光路,节约了设备成本;2、通过一种光全反射器件对搭建光路进行归零,大大提高了测试准确性并使测试参数更明确;3、通过耦合器进行回波损耗,插入损耗光源线与回波损耗测试光源线为一条光纤,免去了测试回波损耗需要重新熔接的步骤,大大提高了产品的调试效率。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明,不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本实用新型的保护范围。

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