1.一种有源天线的抗干扰性能测试装置，其特征在于，包括：
干扰脉冲信号源，用于提供干扰脉冲信号；
第一滤波器，用于对所述干扰脉冲信号进行滤波，得到脉冲滤波信号；
射频信号源，用于提供目标射频信号；
第一分路器，用于对所述目标射频信号进行分路，得到第一射频信号和第二射频信号；
合路器，用于将所述脉冲滤波信号和所述第一射频信号进行合路，得到合路信号；
标准天线，用于接收所述合路信号，并利用所述合路信号激励待测有源天线，以使所述待测有源天线产生目标测试信号；
第二滤波器，用于对所述目标测试信号进行滤波，得到滤波测试信号；
移相器，用于对所述第二射频信号进行移相，得到移相射频信号；
鉴相器，用于检测所述滤波测试信号和所述移相射频信号之间的相位差，并通过检测所述相位差恢复到所述目标射频信号时所需要的目标时间评估所述待测有源天线的抗干扰性能。
2.根据权利要求1所述的抗干扰性能测试装置，其特征在于，还包括：
高频功率放大器，用于对所述干扰脉冲信号进行功率放大。
3.根据权利要求1所述的抗干扰性能测试装置，其特征在于，所述第一滤波器具体为带通滤波器或带阻滤波器。
4.根据权利要求1所述的抗干扰性能测试装置，其特征在于，所述合路器具体为耦合器。
5.根据权利要求1所述的抗干扰性能测试装置，其特征在于，还包括：
示波器，用于显示所述鉴相器的输出信号。
6.根据权利要求1所述的抗干扰性能测试装置，其特征在于，所述第二滤波器具体为带通滤波器。
7.根据权利要求1至6任一项所述的抗干扰性能测试装置，其特征在于，还包括：
第二分路器，用于对所述目标测试信号进行分路，得到分路测试信号；
频谱仪，用于将所述干扰脉冲信号和/或所述目标射频信号与所述分路测试信号进行比较，以判断所述干扰脉冲信号和/或所述目标射频信号是否满足预设测试条件。
8.一种有源天线的测试系统，其特征在于，包括权利要求1至7任一项所述的一种有源天线的抗干扰性能测试装置。