基色校正方法、装置、投影设备及存储介质与流程

1.本技术涉及投影技术领域，更具体地，涉及一种基色校正方法、装置、投影设备及存储介质。


背景技术：

2.随着科技水平的进步，投影设备(例如投影机、激光投影电视等)被人们广泛使用于生活和工作中。相关技术中，投影设备在成像时，通过驱动电路驱动三种颜色的激光器或者led产生三基色，并且经过一定比例的混合形成彩色图像。但投影设备实际工作时会受到驱动电路、光源等器件的影响，而导致显示出的基色灰阶与实际所要显示的基色灰阶不同，使基色的灰阶过渡不平滑，进而出现显示问题。


技术实现要素：

3.鉴于上述问题，本技术提出了一种基色校正方法、装置、投影设备及存储介质。
4.第一方面，本技术实施例提供了一种基色校正方法，应用于投影设备，所述方法包括：获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度；基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的待投射时长，所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关；将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长。
5.第二方面，本技术实施例提供了一种基色校正装置，应用于投影设备，所述装置包括：亮度获取模块、时长确定模块以及时长校正模块，其中，所述亮度获取模块用于获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度；所述时长确定模块用于基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的待投射时长，所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关；所述时长校正模块用于将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长。
6.第三方面，本技术实施例提供了一种投影设备，包括：一个或多个处理器；存储器；一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序配置用于执行上述第一方面提供的基色校正方法。
7.第四方面，本技术实施例提供了一种计算机可读取存储介质，所述计算机可读取存储介质中存储有程序代码，所述程序代码可被处理器调用执行上述第一方面提供的基色校正方法。
8.本技术提供的方案，通过获取投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度，基于获取到的每个比特平面的投射亮度，确定每个比特平面对应的待投射时长，其中每个比特平面的待投射时长与每个比特平面的投射亮度呈正相关，然后将投影设备投影内容时每个比特平面的投射时长校准为每个比特平面的待投射时长。从而可以
实现基于投影设备投影测试图像时各个基色对应的每个比特平面实际的投射亮度，对各个基色对应的每个比特平面的投射时长进行校准，使每个比特平面的投射时长与其在校正前实际的投射亮度呈正相关，因此，在校正比特平面的投射时长后，能够保证投影设备在投影内容时，可以通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色，使基色的灰阶过渡平滑，保证投影设备所投影的内容的显示效果。
附图说明
9.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
10.图1示出了本技术实施例提供的投影设备的一种结构示意图。
11.图2示出了根据本技术一个实施例的基色校正方法流程图。
12.图3示出了本技术实施例提供的投影设备的投影原理示意图。
13.图4示出了根据本技术另一个实施例的基色校正方法流程图。
14.图5示出了本技术另一个实施例提供的基色校正方法中步骤s220的一种流程示意图。
15.图6示出了本技术另一个实施例提供的基色校正方法中步骤s220的另一种流程示意图。
16.图7示出了根据本技术又一个实施例的基色校正方法流程图。
17.图8示出了根据本技术再一个实施例的基色校正方法流程图。
18.图9示出了根据本技术一个实施例的基色校正装置的一种框图。
19.图10是本技术实施例的用于执行根据本技术实施例的基色校正方法的投影设备的框图。
20.图11是本技术实施例的用于保存或者携带实现根据本技术实施例的基色校正方法的程序代码的存储单元。
具体实施方式
21.为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
22.随着科技水平的进步，投影设备被人们广泛使用，人们可以在工作和生活中使用投影设备投影相应的内容，以查看和分享所需的内容。目前的投影设备，大部分采用数字光处理(digital light processing，dlp)的投影技术，该技术是通过投影设备内部的数字显微镜器件(digital micromirror device，dmd)控制光线的反射方向来实现工作的。
23.其中，请参阅图1，投影设备主要包括光源、色轮、dmd、分色棱镜和投影屏幕。dmd芯片是一种复杂的光开关器件，有大量铰接安装的微镜组成的矩形阵列，一个微镜对应一个像素，当微镜向光源倾斜时，光反射到镜头上，相当于光开关的“开”状态；当微镜向光源反方向倾斜时，光反射不到镜头上，相当于光开关的“关”状态。另外，投影设备在dmd芯片前还设置有一个多色的色轮，该多色包括构成颜色的所有基色，例如三基色中的红色(red)、绿
色(green)和蓝色(blue)。在投影设备工作时，光源发出的光透过色轮投射到dmd芯片上，dmd芯片上的所有微镜，根据自身对应的像素中该颜色的灰阶，决定了其对这种色光处于开位置的次数，也即决定了反射后通过分色棱镜投射到投影屏幕上各个像素的相应基色的灰阶。对于一帧投影画面而言，当所有基色的光依次照射到dmd表面时，dmd表面中的所有微镜将极快地重复上面的动作，最终表现出来的结果就是在投影屏幕上呈现出彩色的投影画面。
24.发明人经过长时间的研究发现，由于驱动的一致性问题，会导致驱动光源的电流产生小的波动，或者光源的启动响应时间不同，会导致光的能量不均匀，使一些像素实际表现出的基色的灰阶与想要表现的灰阶不同，从而导致基色的灰阶范围里一些灰阶值无法正常表达，即导致基色的灰阶过渡不平滑，呈现出的像素颜色不准确，进而出现显示问题。
25.针对上述问题，发明人提出了本技术实施例提供的基色校正方法、装置、投影设备及存储介质，通过基于投影设备投影测试图像时各个基色对应的每个比特平面实际的投射亮度，对各个基色对应的每个比特平面的投射时长进行校准，使每个比特平面的投射时长与其在校正前实际的投射亮度呈正相关，因此，在校正比特平面的投射时长后，能够保证投影设备在投影内容时，可以通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色，使基色的灰阶过渡平滑，保证投影设备所投影的内容的显示效果。其中，具体的基色校正方法在后续的实施例中进行详细说明。
26.请参阅图1，图1示出了本技术一个实施例提供的基色校正方法的流程示意图。在具体的实施例中，所述基色校正方法应用于如图9所示的基色校正装置400以及配置有所述基色校正装置400的投影设备100(图10)。下面将以投影设备为例，说明本实施例的具体流程，当然，可以理解的，本实施例所应用的投影设备可以为投影机、投影电视、投影显示器等，在此不做限定。下面将针对图1所示的流程进行详细的阐述，所述基色校正方法具体可以包括以下步骤：
27.步骤s110：获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度。
28.由于投影设备在显示内容时，为了显示出正常的灰阶，会将构成像素的颜色的每个基色分为多个比特平面(bitplane)，每个比特平面都对应一定的显示时长，并且投影设备中存储有各个比特平面的显示时长。其中，比特平面的显示时长越长，则该比特平面能够达到的灰阶也越大，在投射基色的比特平面时，各个像素点对应的微镜可以被打开或者关闭，从而在基色的所有比特平面投射完成时，各个像素点对应的微镜打开时所投射的比特平面可以累加形成不同的灰阶。
29.示例性地，请参阅图3，投影设备的基色包括红色(r)、绿色(g)和蓝色(b)，对于红色基色而言，其包括序号0～6的比特平面，并且每个比特平面对应的投射时长分别为：t0、t1、t2、t3、t4、t5和t6，并且每个比特平面对应的投射时长不同，每个比特平面输出的灰阶值也不同；在投射一帧画面时，每个像素对应的微镜可以根据其所要呈现的红色的灰阶值，确定在哪些比特平面投射时进行打开，以呈现各个像素对应该基色的灰阶值，例如，若投射红色对应的所有比特平面的过程中，投射序号0、6和7的比特平面时，某个像素对应的微镜处于打开状态，则该像素对应红色的灰阶值为序号0、6和7的比特平面输出的灰阶值的叠加。但是，由于投影设备出厂后各个比特平面的投射时长是固定的，而其光源的驱动器件、
dmd器件等会老化，导致实际各个比特平面能够达到的灰阶与预先测得的灰阶不同，从而导致基色的部分灰阶不能正常表达，即灰阶过渡不平滑，无法正常显示内容。因此，在本技术实施例中，可以测试投影设备投影各个基色的比特平面时，其能够达到的实际投射亮度，以根据各个比特平面的实际投射亮度，对投影设备投射的基色进行校正。
30.在本技术实施例中，投影设备可以对测试图像进行投射，并获取投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度。其中，投射亮度指的是在按照预先设定的各个比特平面的投射时长，对各个比特平面投射后，检测到的各个比特平面所能达到的亮度；基色指的是投影设备所采用的颜色模式对应的基色，例如，投影设备采用的是rgb颜色模式，则基色包括红色、绿色和蓝色三种基色。
31.在一些实施方式中，投影设备中可以设置有亮度传感器。亮度传感器可以在投射光线进入dmd器件之前的光路上，由此，投影设备在对测试图像进行投影，而投射各个基色对应的比特平面的情况下，可以控制亮度传感器检测各个基色对应的比特平面的投射亮度，从而得到投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度。该实施方式中，测试图像可以为任意的图像，具体的图像内容可以不做限定。
32.在本技术实施例中，投影设备触发基色校正的方式可以有多种。可选地，投影设备可以响应于用户输入的基色校正操作，执行获取投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度，以及后续的步骤s120和s130，从而完成基色校正的过程；可选地，投影设备在出厂前可以存储有投射各个基色的比特平面时的投射亮度，投影设备使用过程中，可以每隔预设周期，获取投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度，若存在比特平面的投射亮度与预先存储的其对应的投射亮度不同，即产生差异，则可以执行后续步骤；可选地，投影设备也可以响应于其他终端发射的校正指令，执行步骤s110至步骤s130的过程，以完成基色校正，例如，投影设备投影内容时，移动终端可以对其投影画面进行拍摄，然后将拍摄的画面与实际投射的画面本身进行比对，若两者的匹配度小于预设匹配度，则移动终端可以发送校正指令至投影设备，相应地，投影设备响应该校正指令，执行基色校正的过程。当然，投影设备触发基色校正的具体方式可以不做限定。
33.步骤s120：基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的待投射时长，所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关。
34.在本技术的实施例中，在获取了每个基色对应的每个比特平面的投射亮度后，则可以基于获取到的每个比特平面的投射亮度进行基色的校正。其中，投影设备可以根据每个比特平面的投射亮度，确定每个比特平面的待投射时长，以对投影设备实际投影内容时的各个比特平面的投射时长进行校正，使各个比特平面实际能够输出的灰阶得到校正。
35.另外，投影设备所确定的每个比特平面的待投射时长与每个比特平面的投射亮度呈正相关。也就是说，确定的每个比特平面的待投射时长与校正前的每个比特平面的实际投射亮度(能够表达的灰阶)成正相关，以达到对每个比特平面输出的灰阶的校正。可以理解地，由于确定的每个比特平面的待投射时长与校正前的每个比特平面的实际投射亮度(能够表达的灰阶)成正相关，这样的话，若某个比特平面实际的投射亮度(能够输出的灰阶)产生变化，则后续根据确定的待投射时长对实际的投射时长进行校正后，投射时长也会相应变化，即能够输出的灰阶也产生变化。并且，由于各个基色的总投射时长是固定的，因
此，其他比特平面的投射时长会产生相反的变化，例如，若其中一个比特平面的投射亮度由于驱动电流波动，导致其投射亮度变小，则后续校正后，其投射时长会变小，即灰阶变小，而其他比特平面的投射时长则会增加，由此其他正常的比特平面的灰阶能够相应地增加，以削减由于器件原因导致的某个比特平面的灰阶变化带来的影响，从而使投影设备能够正常呈现基色的灰阶。
36.在一些实施方式中，投影设备基于每个比特平面的投射亮度，确定每个比特平面对应的待投射时长，并且使每个比特平面对应的待投射时长与每个比特平面的投射亮度呈正相关时，可以通过多种方式确定每个比特平面对应的待投射时长。可选地，投影设备中可以预先存储有出厂前各个比特平面的投射亮度，在进行基色校正时，可以将获取到的每个比特平面的投射亮度，与存储的每个比特平面的投射亮度进行比较，并根据比较结果，确定出产生变化的比特平面，然后基于该变化，对各个比特平面的投射亮度进行调整，并且使每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关，例如，基色为红色的所有比特平面包括序号0～3的比特平面，序号0～3的比特平面的投射时长依次增加，若序号为0的比特平面的投射亮度相对预先存储的投射亮度变小，则降低序号为0的比特平面的投射时长，而对应增加其他比特平面的投射时长，且序号的顺序越靠后，则增加的幅度越大，在调整后，各个基色的总投射时长保持不变，由此后续根据待投射时长对各个比特平面的投射时长校正后，能够削减由于器件原因导致的某个比特平面的灰阶变化带来的影响。可选地，电子设备中可以预先存储有待投射时长与投射亮度之间的对应关系，该对应关系中，待投射时长与投射亮度呈正相关，并且对于一个基色而言，所有比特平面的待投射时长的总和为固定值，由此基于该对应关系，可以获取到每个比特平面的投射亮度所对应的待投射时长。当然，具体基于每个比特平面的投射亮度确定比特平面对应的待投射时长的方式可以不做限定。
37.步骤s130：将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长。
38.在本技术的实施例中，在获取到各个基色对应的每个比特平面的待投射时长后，将投影设备投影内容时每个比特平面的投射时长校准为每个比特平面的待投射时长，由于此待投射时长与投影亮度正相关，所以最终投射画面各个比特平面的投射时长会与获取的各个比特平面的投射亮度呈正相关关系，由此实现对各个基色的每个比特平面的投射时长的校正，以削减由于器件原因导致的某个比特平面的灰阶变化带来的影响，从而使投影设备能够正常呈现基色的灰阶，进而可保证投影设备在后续投影内容时，通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色。
39.在一些实施方式中，投射设备投影内容时每个比特平面的投射时长为投影设备的投影参数，投影设备将投影设备投影内容时每个比特平面的投射时长校正为每个比特平面的待投射时长后，可以每个比特平面的投射时长进行存储。由此，后续投影设备在投影待投影内容时，可以基于存储的投影参数中每个基色对应的每个比特平面的投射时长，对每个比特平面进行投射，以正确地投影出待投影内容，保证投影设备的投影效果。
40.本技术实施例提供的基色校正方法，可以实现基于投影设备投影测试图像时各个基色对应的每个比特平面实际的投射亮度，对各个基色对应的每个比特平面的投射时长进行校准，使每个比特平面的投射时长与其在校正前实际的投射亮度呈正相关，因此，实现对
各个基色的每个比特平面的投射时长的校正，以削减由于器件原因导致的某个比特平面的灰阶变化带来的影响，从而使投影设备能够正常呈现基色的灰阶，进而可保证投影设备在后续投影内容时，通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色，使基色的灰阶过渡平滑，保证投影设备所投影的内容的显示效果。
41.请参阅图4，图4示出了本技术另一个实施例提供的基色校正方法的流程示意图。该基色校正方法应用于上述投影设备，下面将针对图4所示的流程进行详细的阐述，所述基色校正方法具体可以包括以下步骤：
42.步骤s210：获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度。
43.本技术的实施例中，步骤s210可以参阅其他实施例的内容，在此不再赘述。
44.步骤s220：基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的时长权重，所述每个比特平面对应的时长权重与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关。
45.在本技术实施例中，由于投影设备投影每一帧投影画面时，其每个基色的投射时长是固定的，其中，投影设备中存储有各个基色对应的时长比例(duty)，该时长比例即为光源投射各个基色的光的时长占一帧画面的总显示时长的比例。例如，显示帧率为60赫兹(hz)时，则一帧画面对应的投射时长为16.6毫秒(ms)，红、绿和蓝三种基色分别对应的比例为30％、40％、30％，则光源投射各个基色的光的时长分别为：4.98ms、6.67ms、4.98ms。因此，投影设备在基于每个比特平面的投射亮度，确定每个比特平面对应的时长时，由于各个基色对应的投射时长是固定的，因此可以先确定出各个比特平面在其对应的基色的投射时长中所占的时长权重，以便可以基于该时长权重，确定出各个比特平面对应的投射时长。
46.其中，投影设备可以通过将每个比特平面的时长权重与每个比特平面的投射亮度相关联，即每个比特平面的时长权重与每个比特平面的投射亮度成正相关，由于各个基色对应的投射时长是固定的，因此后续基于确定的每个比特平面的时长权重，确定出的各个比特平面对应的投射时长也是与每个比特平面的投射亮度呈正相关的。
47.在一些实施方式中，请参阅图5，基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的时长权重，可以包括：
48.步骤s221：获取所述每个基色的所有比特平面的投射亮度的亮度和，得到所述每个基色对应的亮度和；
49.步骤s222：获取所述每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与所述每个基色对应的亮度和的比值，得到所述每个比特平面对应的时长权重。
50.在该实施方式中，为了使每个比特平面的时长权重与每个比特平面的投射亮度呈正相关，且对于每个基色而言，每个比特平面对应的时长权重的和值为1(即保持各个基色对应的投射时长不变)，因此可以获取每个基色的所有比特平面的投射亮度的亮度和；然后，通过将每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与每个基色对应的亮度和进行比值，可以将该比值作为每个比特平面对应的时长权重，由此，利用该方式获得的每个比特平面对应的时长权重能够与每个比特平面的投射亮度呈正相关，并且能够保证每个基色对应的每个比特平面对应的时长权重的和值为1。
51.在另一些实施方式中，请参阅图6，基于每个比特平面的投射亮度，确定每个比特平面对应的时长权重，可以包括：
52.步骤s223：获取所述每个基色对应的预设亮度和；
53.步骤s224：获取所述每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与所述每个基色对应的预设亮度和的比值，得到所述每个比特平面对应的目标权重；
54.步骤s225：基于将所述每个比特平面对应的目标权重，对当前存储的所述每个比特平面对应的时长权重进行调整，得到调整后的所述每个比特平面对应的时长权重，其中，所述每个基色对应的每个比特平面对应的时长权重的和值为1。
55.在该实施方式中，预设亮度和可以为预先存储的投影设备出厂前或上一次进行校正时，每个基色对应的每个比特平面的投射亮度之和。投影设备在得到测试所得的每个基色的每个比特平面的投射亮度之后，则可以读取该预设亮度和，并将获取每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与每个基色对应的预设亮度和的比值，作为每个比特平面对应的目标权重。当前存储的每个比特平面对应的时长权重，可以为出厂前设置的每个比特平面的投射时长所占的时长权重，或者当前投影内容时每个比特平面的投射时长所占的时长权重，若某个比特平面的投射亮度(输出的灰阶)产生变化，则相应的目标权重也会产生变化，因此通过将获取的目标权重与存储的时长权重比较，可以确定产生变化的比特平面，然后基于该变化，对各个比特平面的时长权重进行相应调整，例如，若某个比特平面的目标权重变小，则该比特平面的时长权重相应减小，而其他比特平面的时长权重相应增加；若某个比特平面的目标权重变大，则该比特平面的时长权重相应增大，而其他比特平面的时长权重相应减小，并且在调整各个比特平面的时长时，保证每个基色对应的每个比特平面对应的时长权重的和值为1，即对于每个基色而言，其对应的每个比特平面对应的时长权重的和值为1。由此，可以实现每个比特平面对应的时长权重能够与每个比特平面的投射亮度呈正相关，并且能够保证每个基色对应的每个比特平面对应的时长权重的和值为1。
56.步骤s230：基于所述每个基色的投射时长，以及所述每个比特平面对应的时长权重，获取所述每个比特平面对应的待投射时长。
57.本技术实施例中，投影设备在得到每个比特平面对应的时长权重之后，由于每个基色的投射时长是固定的，因此，可以基于每个基色的投射时长，以及每个比特平面对应的时长权重，获取每个比特平面对应的待投射时长，由此获得的每个比特平面对应的待投射时长，由于每个比特平面的待投射时长与每个比特平面对应的时长权重呈正相关的关系，而每个比特平面的时长权重与每个比特平面获取的投射亮度呈正相关的关系，因此，每个比特平面的待投射时长也会与每个比特平面的投射亮度也呈正相关。其中，每个基色的投射时长，可以根据预先存储的每个基色的时长比例(duty)，以及当前所的显示帧率确定。例如，当前显示帧率为30赫兹(hz)时，则一帧画面对应的投射时长为33.33毫秒(ms)，红、绿和蓝三种基色分别对应的比例为30％、35％、35％，则光源投射各个基色的光的时长分别为：9.99ms、11.67ms、11.67ms。
58.在一些实施方式中，获取每个比特平面对应的待投射时长，可以通过获取每个基色的投射时长与每个基色对应的每个比特平面的时长权重的乘积，将此乘积结果作为每个比特平面对应的待投射时长，从而可以得到每个比特平面对应的待投射时长，能够与每个比特平面的时长权重成正相关，由此得到的每个比特平面的投射时长与其投射亮度呈正相关。
59.步骤s240：将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所
述每个比特平面的待投射时长。
60.本技术实施例中，步骤s240可以参阅其他实施例的内容，在此不再赘述。
61.本技术实施例提供的基色校正方法，通过获取每个基色对应的每个比特平面的投射亮度，并通过该投射亮度计算每个比特平面的待投射时长，并根据得到的每个比特平面的待投射时长，对投影设备投影内容时每个基色对应的每个比特平面的投射时长进行校正，可以使校正后的每个比特平面的投射时长成为与每个比特平面的投射亮度呈正相关的关系，由此可以使每个比特平面的投射时长跟随每个比特平面的投射亮度的变化而变化，实现对各个基色的每个比特平面的投射时长的校正，以削减由于器件原因导致的某个比特平面的灰阶变化带来的影响，从而使投影设备能够正常呈现基色的灰阶，进而可保证投影设备在后续投影内容时，通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色，使基色的灰阶过渡平滑，保证投影设备所投影的内容的显示效果。
62.请参阅图7，图7示出了本技术又一个实施例提供的基色校正方法的流程示意图。该基色校正方法应用于上述投影设备，下面将针对图7所示的流程进行详细的阐述，所述基色校正方法具体可以包括以下步骤：
63.步骤s310：获取每个基色对应的测试图像。
64.在本技术实施例中，投影设备在获取其投影测试图像时每个基色的比特平面的投射亮度时，可以通过设置亮度传感器以进行检测，而亮度传感器可能设置于dmd之后的光路上，例如，可以将亮度传感器设置于图1中所示的dmd与分色棱镜之间的光路。这种情况下，由于投影设备实际投射各个基色对应的比特画面时，各个像素点由于其实际要表达的基色的灰阶可能不同，因此各个像素点对应的微镜可能不是一直处于开启状态，这样的话，当亮度传感器检测每个基色的每个比特平面的投射亮度时，可能由于一些像素的微镜处于关闭状态，而无法检测到每个比特平面的投射亮度。因此在针对每个基色，获取其每个比特平面的投射亮度时，可以通过投射每个基色对应的测试图像，以便在投射每个基色对应的测试图像时，能够检测到相应基色对应的每个比特平面的投射亮度。
65.在一些实施方式中，每个基色对应的测试图像可以为每个基色对应的纯色图像，因此，在投射每个基色对应的测试图像时，对于该基色而言，每个像素点对应的微镜均处于开启状态，从而可以有效地获取到每个比特平面的投射亮度。其中，每个基色对应的测试图像可以预先存储于投影设备，也可以是，投影设备在进行基色校正时，从其他设备获取，在此不做限定。
66.步骤s320：对所述每个基色对应的测试图像依次进行投射。
67.本技术实施例中，投影设备在获取到每个基色对应的测试图像后，则可以依次对每个基色对应的测试图像进行投射，以便在投射每个基色对应的测试图像时，可以获取到相应基色的各个比特平面对应的投射亮度。
68.步骤s330：在所述投影设备投影所述每个基色对应的测试图像时，获取当前投影的测试图像对应的基色的每个比特平面的投射亮度。
69.本技术实施例中，在投影设备投影每个基色对应的测试图像时，则可以通过设置于dmd与镜头(如图1中所示的棱镜)之间的亮度传感器，获取每个比特平面的投射亮度。也就是说，投影某个基色对应的测试图像时，则针对该基色，获取其对应的每个比特平面的投射亮度。例如，投影设备的基色包括红色、绿色和蓝色，并且分别将红色、绿色和蓝色对应的
纯色图像进行投影，在投影红色纯色图像时，各个像素的像素值为(255,0,0)，即红色灰阶值为255，绿色灰阶值和蓝色灰阶值为0，因此，可以获取到红色基色对应的每个比特平面对应的投射亮度；同样的，对于投影绿色纯色图像时，各个像素的像素值为(0,255,0)，即绿色灰阶值为255，其他两种基色的灰阶值为0，因此可以获取到绿基色对应的每个比特平面对应的投射亮度；同理，可以获取到蓝色基色对应的每个比特平面对应的投射亮度。
70.步骤s340：基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的待投射时长，所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关。
71.步骤s350：将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长。
72.本技术的实施例中，步骤s340以及步骤s350可以参阅其他实施例的内容，在此不再赘述。
73.在一些实施方式中，由于在校正每个基色对应的每个比特平面的投射时长后，各个比特平面的投射时长相对此前发生变化，其输出的灰阶也会产生变化。因此，投影设备还可以基于投射时长与输出灰阶的对应关系，确定出校正后，每个基色的每个比特平面所能够输出的灰阶，并将存储的各个比特平面对应输出的灰阶进行更新。由此，投影设备在投影内容时，可以根据各个像素点实际要呈现的灰阶值，选择在不同比特平面投射时，控制像素点对应的微镜打开，以准确显示出投影内容各个像素点的像素值保证了投影效果。
74.本技术实施例提供的基色校正方法，通过获取各个基色对应的测试图像，并通过投影设备投影各个基色的测试图像，可以获取各个基色对应的各个比特平面的亮度信息，然后通过获取的各个基色对应各个比特平面的亮度信息，计算得到各个基色对应的各个比特平面的待投射时长，再通过待投射时长对投影设备投影内容时各个基色对应的各个比特平面的投射时长进行校正，如此可以将各个比特平面的投射时长与获取的各个比特平面的投射亮度呈正相关。从而使投影设备能够正常呈现基色的灰阶，进而可保证投影设备在后续投影内容时，通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色，使基色的灰阶过渡平滑，保证投影设备所投影的内容的显示效果。
75.请参阅图8，图8示出了本技术再一个实施例提供的基色校正方法的流程示意图。该基色校正方法应用于上述投影设备，下面将针对图8所示的流程进行详细的阐述，所述基色校正方法具体可以包括以下步骤：
76.步骤s410：获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度。
77.步骤s420：基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的待投射时长，所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关。
78.步骤s430：将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长。
79.本技术的实施例中，步骤s410、步骤s420以及步骤s430可以参阅其他实施例的内容，在此不再赘述。
80.步骤s440：每间隔预设时长执行所述获取所述投影设备投影测试图像时每个基色
对应的每个比特平面的投射亮度的步骤，至所述将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长的步骤。
81.本技术实施例中，鉴于投影设备的实际设备状况可能会不断变化，例如，投影设备的光源的驱动电路、dmd等器件发生老化，则投影设备在投影内容时输出各个基色的灰阶值也会发生变化。因此，投影设备可以每个间隔预设时长，执行上述步骤s410至步骤s430，即每个预设时长执行本技术实施例提供的基色校正方法的校正过程，由此可以进一步保证投影设备的投影内容时的准确性，提升投影效果。其中，预设时长的具体数值可以不做限定，可选地，预设时长可以根据用户使用投影设备的使用习惯和规律确定，例如，预设时长可以与用户使用投影设备投影内容的使用频率呈负相关，即用户对投影设备的使用频率越高，则预设时长可以相对设置地越小，反之，用户对投影设备的使用频率越低，则预设时长可以相对设置地越大。
82.本技术实施例提供的基色校正方法，通过投影设备投影测试图像时获取各个比特平面的亮度信息，进而计算得到各个比特平面的待投射时长，并将投影设备投影内容时的投射时长校正为各个比特平面的待投射时长，并且，每间隔预设时长就重复执行上述步骤，以避免投影设备的设备状况发生改变，而其输出的各个比特平面的灰阶值没有进行校正所导致的显示问题。因此，通过定时执行基色校正的过程，可以有效保证投影设备在投影内容时的投影效果。
83.请参阅图9，其示出了本技术实施例提供的一种基色校正装置400的结构框图。该基色校正装置400应用上述的投影设备，该基色校正装置400包括：亮度获取模块410、时长确定模块420以及时长校正模块430。其中，所述亮度获取模块410用于获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度；所述时长确定模块420用于基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的待投射时长，所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关；所述时长校正模块430用于将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长。
84.在一些实施方式中，时长确定模块420可以包括权重确定单元以及时长获取单元。其中，权重确定单元用于基于所述每个比特平面的投射亮度，确定所述每个比特平面对应的时长权重，所述每个比特平面对应的时长权重与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关；时长获取单元用于基于所述每个基色的投射时长，以及所述每个比特平面对应的时长权重，获取所述每个比特平面对应的待投射时长。
85.在一种可能的实施方式中，权重确定单元可以具体用于：获取所述每个基色的所有比特平面的投射亮度的亮度和，得到所述每个基色对应的亮度和；获取所述每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与所述每个基色对应的预设亮度和的比值，得到所述每个比特平面对应的目标权重；基于将所述每个比特平面对应的目标权重，对当前存储的所述每个比特平面对应的时长权重进行调整，得到调整后的所述每个比特平面对应的时长权重，其中，所述每个基色对应的每个比特平面对应的时长权重的和值为1。
86.在一种可能的实施方式中，权重确定单元可以具体用于：获取所述每个基色对应的预设亮度和；获取所述每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与所述每个基色对应的预设亮度和的比值，得到所述每个比特平面对应的时长权重。
87.在一种可能的实施方式中，时长获取单元可以具体用于：获取所述每个基色的投射时长与所述每个基色对应的每个比特平面的时长权重的乘积，得到所述每个比特平面对应的待投射时长。
88.在一些实施方式中，亮度获取模块410可以包括：图像获取单元、图像投射单元以及亮度检测单元。图像获取单元用于获取每个基色对应的测试图像；图像投射单元用于对所述每个基色对应的测试图像依次进行投射；亮度检测单元用于在所述投影设备投影所述每个基色对应的测试图像时，获取当前投影的测试图像对应的基色的每个比特平面的投射亮度。
89.在一种可能的实施方式中，所述投影设备包括亮度传感器。亮度检测单元可以具体用于：在所述投影设备投影所述每个基色对应的测试图像时，通过所述亮度传感器，获取当前投影的测试图像对应的基色的每个比特平面的投射亮度。
90.在一些实施方式中，该基色校正装置400还包括：时长存储模块以及时长控制模块。时长存储模块用于将校正后的所述每个比特平面的投射时长进行存储；时长控制模块用于在投影待投影内容时基于存储的所述每个比特平面的投射时长，对所述每个比特平面进行投射。
91.在一些实施方式中，该基色校正装置400还包括重复执行模块。重复执行模块用于每间隔预设时长执行所述获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度的步骤，至所述将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长，校正为所述每个比特平面的待投射时长的步骤。
92.所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
93.在本技术所提供的几个实施例中，模块相互之间的耦合可以是电性，机械或其它形式的耦合。
94.另外，在本技术各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
95.综上所述，本技术提供的方案，通过获取投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度，基于获取到的每个比特平面的投射亮度，确定每个比特平面对应的待投射时长，其中每个比特平面的待投射时长与每个比特平面的投射亮度呈正相关，然后将投影设备投影内容时每个比特平面的投射时长校准为每个比特平面的待投射时长。从而可以实现基于投影设备投影测试图像时各个基色对应的每个比特平面实际的投射亮度，对各个基色对应的每个比特平面的投射时长进行校准，使每个比特平面的投射时长与其在校正前实际的投射亮度呈正相关，因此，在校正比特平面的投射时长后，能够保证投影设备在投影内容时，可以通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色，使基色的灰阶过渡平滑，保证投影设备所投影的内容的显示效果。
96.请参考图10，其示出了本技术实施例提供的一种投影设备的结构框图。该投影设备100可以是投影机、投影电视、投影显示器等能够运行应用程序的投影设备。本技术中的投影设备100可以包括一个或多个如下部件：处理器110、存储器120、以及一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序可以被存储在存储器120中并被配置为由一个或多个处理
器110执行，一个或多个程序配置用于执行如前述方法实施例所描述的方法。
97.处理器110可以包括一个或者多个处理核。处理器110利用各种接口和线路连接整个投影设备100内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器120内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器120内的数据，执行投影设备100的各种功能和处理数据。可选地，处理器110可以采用数字信号处理(digital signal processing，dsp)、现场可编程门阵列(field－programmable gate array，fpga)、可编程逻辑阵列(programmable logic array，pla)中的至少一种硬件形式来实现。处理器110可集成中央处理器(central processing unit，cpu)、图形处理器(graphics processing unit，gpu)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，cpu主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；gpu用于负责显示内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器110中，单独通过一块通信芯片进行实现。
98.存储器120可以包括随机存储器(random access memory，ram)，也可以包括只读存储器(read-only memory)。存储器120可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器120可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现下述各个方法实施例的指令等。存储数据区还可以存储投影设备100在使用中所创建的数据(比如电话本、音视频数据、聊天记录数据)等。
99.请参考图11，其示出了本技术实施例提供的一种计算机可读存储介质的结构框图。该计算机可读介质800中存储有程序代码，所述程序代码可被处理器调用执行上述方法实施例中所描述的方法。
100.计算机可读存储介质800可以是诸如闪存、eeprom(电可擦除可编程只读存储器)、eprom、硬盘或者rom之类的电子存储器。可选地，计算机可读存储介质800包括非易失性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。计算机可读存储介质800具有执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码810的存储空间。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读出或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。程序代码810可以例如以适当形式进行压缩。
101.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不驱使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围。