1.本发明涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种隔离器的测试方法、设备、装置、计算机可读存储介质和电子装置。
背景技术：
2.隔离器作为一种无源器件，具有非线性特性。随着隔离器生产技术的不断进步，其各项指标也越来越高，在隔离器测试过程中产生的互调产物主要为三阶互调，隔离器的三阶互调较弱，而主信号很强，两者的频率间隔也从通常的5mhz缩小到1mhz，这也对隔离器测试提出了更高的要求。
3.目前，为了提高隔离器测试的准确性、减少互调产物的影响，主要采用选用高质量信号源、线性好的功率放大器、动态范围大的频谱仪等办法，这些方法都是通过硬件设备的选型实现的，对硬件资源的限制较高，也只能消减一小部分互调失真，导致对隔离器进行解调测试的精确度较低、系统的残余互调值较高。
4.针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现要素：
5.本发明实施例提供了一种隔离器的测试方法、设备、装置、存储介质和电子装置，以至少解决相关技术中对隔离器进行测试的精确度较低的问题。
6.根据本发明实施例的一个方面，提供了一种隔离器的测试方法，包括：将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器，所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号；根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪，得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。
7.可选的，在一个示例性实施例中，将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，包括：对所述测试信号进行分路，得到所述第一部分信号和剩余信号；对所述剩余信号进行分路，得到所述第二部分信号和第三部分信号；将所述第三部分信号输入功率计，得到功率参数，其中，所述功率参数用于对所述隔离器的器件性能进行测试。
8.可选的，在一个示例性实施例中，根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，包括：根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数，其中，所述目标调整参数用于指示所述第二部分信号待调整的参数类型以及参数值，所述参数类型包括：幅度，和/或，相位；按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号，其中，所述第二目标信号与所述测试信号幅度相等，相位相反。
9.可选的，在一个示例性实施例中，根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数，包括：检测所述测试信号的第一幅度值和第一相位角，以及所述第二部分信号
的第二幅度值和第二相位角；根据所述第一幅度值与所述第二幅度值之间的幅度差，以及所述第一相位角与所述第二相位角之间的角度差，确定所述第二部分信号的目标调整参数。
10.可选的，在一个示例性实施例中，按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号，包括：生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据；通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行，得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号，其中，所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件中，所述参数调整器件包括：数控衰减器件，和/或，数控移相器件。
11.可选的，在一个示例性实施例中，通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行，包括：在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下，通过所述目标串行数据控制所述数控衰减器件按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值；在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下，通过所述目标串行数据控制所述数控移相器件按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。
12.根据本发明的又一个实施例，还提供了一种隔离器的测试设备，包括：信号源，处理器和器件性能测试仪，其中，所述信号源与所述处理器连接，所述处理器与所述器件性能测试仪连接，所述信号源，用于输出所述测试信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试；所述处理器，用于将所述测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器，所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号；根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路，得到合路信号；所述器件性能测试仪，用于根据所述合路信号输出的所述隔离器的目标器件性能。
13.可选的，在一个示例性实施例中，所述设备还包括：功率计，其中，所述功率计与所述处理器连接，所述处理器，用于对所述测试信号进行分路，得到所述第一部分信号和剩余信号；对所述剩余信号进行分路，得到所述第二部分信号和第三部分信号；将所述第三部分信号输入功率计；根据功率参数对所述隔离器的器件性能进行测试；所述功率计，用于根据所述第三部分信号输出所述功率参数。
14.可选的，在一个示例性实施例中，所述处理器，包括：控制板和参数调整器件，其中，所述控制板与所述参数调整器件连接，所述参数调整器件连接在所述信号源与所述器件性能测试仪之间，所述控制板，用于生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据；并通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行，得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号；所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件中，所述参数调整器件包括：数控衰减器件，和/或，数控移相器件。
15.可选的，在一个示例性实施例中，所述参数调整器件包括：所述数控衰减器件，和/或，所述数控移相器件，其中，所述数控衰减器件与所述数控移相器件串联，所述数控衰减器件，用于在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下，按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值；所述
数控移相器件，用于在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下，按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。
16.根据本发明的又一个实施例，还提供了一种隔离器的测试装置，包括：划分模块，用于将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器，所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号；调整模块，用于根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；合路模块，用于将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪，得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。
17.根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述隔离器的测试方法。
18.根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种电子装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，上述处理器通过计算机程序执行上述的隔离器的测试方法。
19.在本发明实施例中，对待测试的隔离器的器件性能进行测试的测试信号中的第一部分信号用于传输至被测试的隔离器，从而使得隔离器响应该第一部分信号返回第一目标信号，依据测试信号对测试信号中的第二部分信号进行调整，得到能够消减第一目标信号中存在的互调失真的第二目标信号，将第一目标信号和第二目标信号合路共同输入到器件性能测试仪中，从而得到器件性能测试仪输出的隔离器的目标器件性能，达到了消减隔离器返回的第一目标信号中存在的互调失真、降低系统的残余互调值的目的，使得器件性能测试仪能够对隔离器进行更加准确的测试，进而解决了相关技术中对隔离器进行测试的精确度较低的问题，从而实现了提高隔离器测试的精确度的技术效果。
附图说明
20.此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本技术的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：图1是根据本技术实施例的一种隔离器的测试方法的硬件环境示意图；图2是根据本技术实施例的一种隔离器的测试方法的流程图；图3是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图一；图4是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图二；图5是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图三；图6是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图四；图7是根据本技术可选实施例的一种可选的隔离器的测试设备的示意图；图8是根据本技术实施例的一种隔离器的测试装置的结构框图。
具体实施方式
21.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的
附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
22.需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
23.本技术实施例所提供的方法实施例可以在计算机终端、设备终端或者类似的运算装置中执行。以运行在计算机终端上为例，图1是根据本技术实施例的一种隔离器的测试方法的硬件环境示意图。如图1所示，计算机终端可以包括一个或多个（图1中仅示出一个）处理器102（处理器102可以包括但不限于微处理器mcu或可编程逻辑器件fpga等的处理装置）和用于存储数据的存储器104，在一个示例性实施例中，上述计算机终端还可以包括用于通信功能的传输设备106以及输入输出设备108。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述计算机终端的结构造成限定。例如，计算机终端还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示等同功能或比图1所示功能更多的不同的配置。
24.存储器104可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的消息推送的发送方法对应的计算机程序，处理器102通过运行存储在存储器104内的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至计算机终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
25.传输设备106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括计算机终端的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输设备106包括一个网络适配器（network interface controller，简称为nic），其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输设备106可以为射频（radio frequency，简称为rf）模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。
26.在本实施例中提供了一种隔离器的测试方法，应用于上述计算机终端，图2是根据本技术实施例的一种隔离器的测试方法的流程图，该流程包括如下步骤：步骤s202，将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器，所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号；步骤s204，根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；
步骤s206，将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪，得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。
27.通过上述步骤，对待测试的隔离器的器件性能进行测试的测试信号中的第一部分信号用于传输至被测试的隔离器，从而使得隔离器响应该第一部分信号返回第一目标信号，依据测试信号对测试信号中的第二部分信号进行调整，得到能够消减第一目标信号中存在的互调失真的第二目标信号，将第一目标信号和第二目标信号合路共同输入到器件性能测试仪中，从而得到器件性能测试仪输出的隔离器的目标器件性能，达到了消减隔离器返回的第一目标信号中存在的互调失真、降低系统的残余互调值的目的，使得器件性能测试仪能够对隔离器进行更加准确的测试，进而解决了相关技术中对隔离器进行测试的精确度较低的问题，从而实现了提高隔离器测试的精确度的技术效果。
28.在上述步骤s202提供的技术方案中，测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试，其可以但不限于包括一路或者多路信号，测试信号可以但不限于是多路载波信号。比如：测试信号可以但不限于包括f1和f2双路载波。
29.可选的，在本实施例中，对测试信号的划分可以但不限于包括对测试信号所包括的每路信号进行相同或者相应的划分。比如：测试信号包括f1和f2双路载波，将f1划分为f11和f12，将f2划分为f21和f22，那么第一部分信号包括f11和f21，第二部分信号包括f12和f22，f11和f21用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试。
30.可选的，在本实施例中，对待测试的隔离器的器件性能的测试可以但不限于包括隔离器的无源互调测试。
31.在一个示例性实施例中，可以但不限于采用以下方式将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号：对所述测试信号进行分路，得到所述第一部分信号和剩余信号；对所述剩余信号进行分路，得到所述第二部分信号和第三部分信号；将所述第三部分信号输入功率计，得到功率参数，其中，所述功率参数用于对所述隔离器的器件性能进行测试。
32.可选的，在本实施例中，在测试信号中还可以划分出一部分信号作为第三部分信号传输至功率计，从而利用功率计输出的功率参数对隔离器的器件性能进行测试。
33.可选的，在本实施例中，测试信号被划分为第一部分信号，第二部分信号和第三部分信号，其中的第一部分信号传输至隔离器，隔离器响应第一部分信号输出第一目标信号，第二部分信号用于基于测试信号调整得到第二目标信号，从而对第一目标信号中存在的互调失真进行消减，消减后的信号用于通过器件性能测试仪对隔离器的目标器件性能进行测试。
34.在上述步骤s204提供的技术方案中，参考测试信号对第二部分信号进行调整，从而得到用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真的第二目标信号，使得在隔离器的器件性能阶段中的互调失真被滤除。
35.可选的，在本实施例中，第二目标信号可以但不限于用于滤除第一目标信号中存在的测试信号的成分，比如：测试信号的主频率等等。
36.在一个示例性实施例中，可以但不限于采用以下方式根据测试信号对第二部分信号进行调整，得到第二目标信号：根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数，其中，所述目标调整参数用于指示所述第二部分信号待调整的参数类型以及参数值，所述参数类型包括：幅度，和/或，相位；按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所
述第二目标信号，其中，所述第二目标信号与所述测试信号幅度相等，相位相反。
37.可选的，在本实施例中，对第二部分信号的调整可以但不限于包括幅度的调整和相位的调整两方面或者其中之一。首先可以根据测试信号的情况确定出从哪个或者哪些方面调整第二部分信号（即上述参数类型）以及各个方面需要调整的量（即上述参数值），得到目标调整参数。再依据确定出的目标调整参数对第二部分信号进行调整，使得第二目标信号与测试信号幅度相等，相位相反，从而起到消减第一目标信号中由于测试信号的混入所产生的互调失真的作用。
38.可选的，在本实施例中，第二目标信号可以但不限于与测试信号的主频率幅度相等，相位相反。
39.在一个示例性实施例中，可以但不限于采用以下方式根据测试信号确定第二部分信号的目标调整参数：检测所述测试信号的第一幅度值和第一相位角，以及所述第二部分信号的第二幅度值和第二相位角；根据所述第一幅度值与所述第二幅度值之间的幅度差，以及所述第一相位角与所述第二相位角之间的角度差，确定所述第二部分信号的目标调整参数。
40.可选的，在本实施例中，可以但不限于依据信号之间幅度值的差距以及相位角的差距来确定目标调整参数。例如：如果幅度差为零，角度差不为零，则目标调整参数所指示的参数类型为相位，参数值为该角度差。如果幅度差不为零，角度差为零，则目标调整参数所指示的参数类型为幅度，参数值为该幅度差。如果幅度差和角度差均不为零，则目标调整参数所指示的参数类型为相位和幅度，参数值为该角度差和幅度差。
41.在一个示例性实施例中，可以但不限于采用以下方式按照目标调整参数将第二部分信号调整为所述第二目标信号：生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据；通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行，得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号，其中，所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件中，所述参数调整器件包括：数控衰减器件，和/或，数控移相器件。
42.可选的，在本实施例中，可以但不限于通过串行数据控制的方式来控制第二部分信号的调整过程。
43.可选的，在本实施例中，通过目标串行数据控制数控衰减器件和数控移相器件中与目标调整参数匹配的参数调整器件的运行来调整第二部分信号，使得第二目标信号与测试信号幅度相等，相位相反。
44.在一个示例性实施例中，可以但不限于采用以下方式通过目标串行数据控制与目标调整参数匹配的参数调整器件的运行：情况一，在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下，通过所述目标串行数据控制所述数控衰减器件按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值；情况二，在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下，通过所述目标串行数据控制所述数控移相器件按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。
45.可选的，在本实施例中，数控衰减器件和数控移相器件均可以按照一定的步进逐
步对输入的信号进行调整。
46.可选的，在本实施例中，上述衰减步进可以但不限于选择0.25db的步进。
47.可选的，在本实施例中，数控移相器件可以支持多个移相步进，比如：1.4度，5.6度等等。在调整的过程中可以采用与目标角度值匹配的目标移相步进来调整信号，比如：目标角度值较小时可以采用小步进，目标角度值较大时，可以采用大步进。也可以在信号调整的过程中自适应的对采用的目标移相步进进行调整，例如：先采用大步进快速调整到一定程度后再采用小步进进行精调，从而保证信号调整过程的快速和准确。
48.在上述步骤s206提供的技术方案中，将第一目标信号和第二目标信号合路输入到器件性能测试仪中，从而利用第二目标信号消除第一目标信号中存在的互调失真，使得器件性能测试仪输出的隔离器的目标器件性能更加准确。
49.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质（如rom/ram、磁碟、光盘）中，包括若干指令用以使得一台终端设备（可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述的方法。
50.在本实施例中还提供了一种隔离器的测试设备，图3是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图一，如图3所示，该设备包括：信号源32，处理器34和器件性能测试仪36，其中，所述信号源32与所述处理器34连接，所述处理器34与所述器件性能测试仪36，所述信号源32，用于输出所述测试信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试；所述处理器34，用于将所述测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器；根据第一目标信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第一目标信号是所述隔离器响应所述第一部分信号输出的信号，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路，得到合路信号；所述器件性能测试仪36，用于根据所述合路信号输出的所述隔离器的目标器件性能。
51.通过上述设备，对待测试的隔离器的器件性能进行测试的测试信号中的第一部分信号用于传输至被测试的隔离器，从而使得隔离器响应该第一部分信号返回第一目标信号，依据测试信号对测试信号中的第二部分信号进行调整，得到能够消减第一目标信号中存在的互调失真的第二目标信号，将第一目标信号和第二目标信号合路共同输入到器件性能测试仪中，从而得到器件性能测试仪输出的隔离器的目标器件性能，达到了消减隔离器返回的第一目标信号中存在的互调失真、降低系统的残余互调值的目的，使得器件性能测试仪能够对隔离器进行更加准确的测试，进而解决了相关技术中对隔离器进行测试的精确度较低的问题，从而实现了提高隔离器测试的精确度的技术效果。
52.在一个示例性实施例中，所述处理器还用于：根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数，其中，所述目标调整参数用于指示所述第二部分信号待调整的参
数类型以及参数值，所述参数类型包括：幅度，和/或，相位；按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号，其中，所述第二目标信号与所述测试信号幅度相等，相位相反。
53.在一个示例性实施例中，所述处理器还用于：检测所述测试信号的第一幅度值和第一相位角，以及所述第二部分信号的第二幅度值和第二相位角；根据所述第一幅度值与所述第二幅度值之间的幅度差，以及所述第一相位角与所述第二相位角之间的角度差，确定所述第二部分信号的目标调整参数。
54.在一个示例性实施例中，图4是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图二，如图4所示，所述处理器34包括：控制板42和参数调整器件44，其中，所述控制板42与所述参数调整器件44连接，所述参数调整器件44连接在所述信号源32与所述器件性能测试仪36之间，所述控制板42，用于生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据；并通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行，得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号；所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件44中，所述参数调整器件包括：数控衰减器件44-2，和/或，数控移相器件44-4。
55.在一个示例性实施例中，图5是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图三，如图5所示，所述参数调整器件44包括：所述数控衰减器件44-2，和，所述数控移相器件44-4，其中，所述数控衰减器件44-2与所述数控移相器件44-4串联，所述数控衰减器件44-2，用于在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下，按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值；所述数控移相器件44-4，用于在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下，按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。
56.可选的，在本实施例中，数控衰减器件可以但不限于具有0.25db的步进，采用串行调整方式，且部署在一路通讯线上，通过硬件区分，可以同时挂载8个数控衰减器件，本实施例中挂载两个，减少了控制线，也让结构布局更简单。数控衰减器件因为具有大带宽，dc-6000m（零赫兹到6000兆赫兹）都是可以覆盖到的，所以数控衰减器件具有通用性。
57.可选的，在本实施例中，因为移相要确保360度全调相，所以调相芯片需要应用于相对窄带，低频约200m，高频约400m的范围，在360度的调相范围内，根据器件选型，数控移相器件可以但不限于具有1.4度，5.6度不同的移相步进，上述数控移相器件可以选用更精密的8位，1.4度步进，可以最大程度的消减主峰频率，使其以最小幅度进入频谱仪，减小频谱仪的非线性，即可减少系统的残余互调值。
58.在一个示例性实施例中，图6是根据本技术实施例的一种隔离器的测试设备的结构框图四，如图6所示，所述设备包括：功率计62，其中，所述功率计62与所述处理器34连接，所述处理器34，用于对所述测试信号进行分路，得到所述第一部分信号和剩余信号；对所述剩余信号进行分路，得到所述第二部分信号和第三部分信号；将所述第三部分信号输入功率计；根据功率参数对所述隔离器的器件性能进行测试；
所述功率计62，用于根据所述第三部分信号输出所述功率参数。
59.在一个可选实施例中，提供了一种可选的隔离器的测试设备，图7是根据本技术可选实施例的一种可选的隔离器的测试设备的示意图，如图7所示，信号源1产生测试信号f1（相当于上述测试信号），信号源2产生测试信号f2（相当于上述测试信号），f1经过放大器后进入耦合器1被划分为两部分信号f11（相当于上述第一部分信号）和f10（相当于上述剩余信号），f2经过放大器后进入耦合器2被划分为两部分信号f21（相当于上述第一部分信号）和f20（相当于上述剩余信号），f11经过隔离器1并且f21经过隔离器2均传输到合路单元1，合路单元1的输出经过端口1传输到被测件（即待测试的隔离器）。
60.f10经过分配单元被划分为f12（相当于上述第二部分信号）和f13（相当于上述第三部分信号），f20经过分配单元被划分为f22（相当于上述第二部分信号）和f23（相当于上述第三部分信号），f13和f23被传输至功率计进行功率参数的测试。f12依次经过移相组件中的数控衰减1和数控移相1，得到的信号（相当于上述第二目标信号）传输至合路单元2，f22依次经过移相组件中的数控衰减2和数控移相2，得到的信号（相当于上述第二目标信号）传输至合路单元2，被测件输出的信号（相当于上述第一目标信号）经过耦合器3传输至合路单元2，合路单元2输出的信号传输至频谱仪进行器件性能测试。控制板根据网络通信口的指示对移相组件进行控制。
61.通过上述设备的处理，移相组件对进入合路单元2的f12和f22信号作适当的幅度控制和移相处理，则会形成削减主峰的效果，类似于一个可控的有源滤波器，其受控于系统，由系统根据用户设定的f1和f2的主频率，通过网络通信口发指令给控制板，控制板再将相应的串行数据送入移相组件，移相组件滤除相应频率，无论这个频率距离如何接近，都可以抵消，以产生滤除（消减）互调失真的效果。
62.在本实施例中还提供了一种隔离器的测试装置，图8是根据本技术实施例的一种隔离器的测试装置的结构框图，如图8所示，该装置包括：划分模块82，用于将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器，所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号；调整模块84，用于根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；合路模块86，用于将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪，得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。
63.通过上述装置，对待测试的隔离器的器件性能进行测试的测试信号中的第一部分信号用于传输至被测试的隔离器，从而使得隔离器响应该第一部分信号返回第一目标信号，依据测试信号对测试信号中的第二部分信号进行调整，得到能够消减第一目标信号中存在的互调失真的第二目标信号，将第一目标信号和第二目标信号合路共同输入到器件性能测试仪中，从而得到器件性能测试仪输出的隔离器的目标器件性能，达到了消减隔离器返回的第一目标信号中存在的互调失真、降低系统的残余互调值的目的，使得器件性能测试仪能够对隔离器进行更加准确的测试，进而解决了相关技术中对隔离器进行测试的精确度较低的问题，从而实现了提高隔离器测试的精确度的技术效果。
64.在一个示例性实施例中，所述调整模块，包括：
确定单元，用于根据所述测试信号确定所述第二部分信号的目标调整参数，其中，所述目标调整参数用于指示所述第二部分信号待调整的参数类型以及参数值，所述参数类型包括：幅度，和/或，相位；调整单元，用于按照所述目标调整参数将所述第二部分信号调整为所述第二目标信号，其中，所述第二目标信号与所述第一目标信号幅度相等，相位相反。
65.在一个示例性实施例中，所述确定单元，用于：检测所述测试信号的第一幅度值和第一相位角，以及所述第二部分信号的第二幅度值和第二相位角；根据所述第一幅度值与所述第二幅度值之间的幅度差，以及所述第一相位角与所述第二相位角之间的角度差，确定所述第二部分信号的目标调整参数。
66.在一个示例性实施例中，所述调整单元，用于：生成与所述目标调整参数匹配的目标串行数据；通过所述目标串行数据控制与所述目标调整参数匹配的参数调整器件的运行，得到所述参数调整器件输出的所述第二目标信号，其中，所述第二部分信号被输入到所述参数调整器件中，所述参数调整器件包括：数控衰减器件，和/或，数控移相器件。
67.在一个示例性实施例中，所述调整单元，用于：在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的幅度调整目标幅度值的情况下，通过所述目标串行数据控制所述数控衰减器件按照衰减步进将输入至所述数控衰减器件的信号的幅度调整所述目标幅度值；用于在所述目标调整参数用于指示对所述第二部分信号的相位调整目标角度值的情况下，通过所述目标串行数据控制所述数控移相器件按照多个移相步进中与所述目标角度值匹配的目标移相步进将输入至所述数控衰减器件的信号的相位调整所述目标角度值。
68.在一个示例性实施例中，所述划分模块，包括：第一分路单元，用于对所述测试信号进行分路，得到所述第一部分信号和剩余信号；第二分路单元，用于对所述剩余信号进行分路，得到所述第二部分信号和第三部分信号；输入单元，用于将所述第三部分信号输入功率计，得到功率参数，其中，所述功率参数用于对所述隔离器的器件性能进行测试。
69.需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，对于后者，可以通过以下方式实现，但不限于此：上述模块均位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。
70.本技术的实施例还提供了一种存储介质，该存储介质包括存储的程序，其中，上述程序运行时执行上述任一项的方法。
71.可选地，在本实施例中，上述存储介质可以被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：s1，将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器，所述隔
离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号；s2，根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；s3，将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪，得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。
72.在一个示例性实施例中，上述计算机可读存储介质可以包括但不限于：u盘、只读存储器（read-only memory，简称为rom）、随机存取存储器（random access memory，简称为ram）、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。
73.本技术的实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
74.可选地，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。
75.可选地，在本实施例中，上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以下步骤：s1，将测试信号划分为第一部分信号和第二部分信号，其中，所述测试信号用于对待测试的隔离器的器件性能进行测试，所述第一部分信号用于传输至所述隔离器，所述隔离器用于响应所述第一部分信号输出第一目标信号；s2，根据所述测试信号对所述第二部分信号进行调整，得到第二目标信号，其中，所述第二目标信号用于消减所述第一目标信号中存在的互调失真；s3，将所述第一目标信号和所述第二目标信号合路输入器件性能测试仪，得到所述器件性能测试仪输出的所述隔离器的目标器件性能。
76.可选地，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。
77.显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
78.以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。