一种光模块测试耦合系统、方法、控制装置及存储介质与流程

文档序号:34161425发布日期:2023-05-14 20:23阅读:56来源:国知局
一种光模块测试耦合系统、方法、控制装置及存储介质与流程

本发明属于光模块(optical module)领域,尤其涉及一种光模块测试耦合系统、方法、控制装置及存储介质。


背景技术:

1、现有的多模光模块主要以激光器为光源,以光纤为波导介质。多模光模块协议中除了对发射光功率(output optical power,oop)有要求外,还对光源的环形通量(encircled flux,ef)进行约束。ef用于表征光源发出的光信号的光能量分布情况,注入光纤中的光信号的ef的大小会影响光通信系统的差分模式延迟(differential mode delay,dmd)。对于一般速率(例如,10gbps/25gbps)的光通信系统,要求小于30%的光能量分布在9um直径的光纤圆圈内,大于86%的光能量分布在38um直径的光纤圆圈内。环形通量指标不良可能会造成多模光模块的光功率、光眼图、误码等指标不良。

2、多模光模块中光源与发射透镜等光组件之间的耦合通常是基于光功率的有源耦合。常规的耦合平台不具备环形通量测试能力,通常是在多模光模块封装完成后再接入环形通量测试仪进行环形通量测试,此时若出现指标不良需对多模光模块进行返工,返工会降低生产效率和良率。


技术实现思路

1、有鉴于此,本发明实施例提供了一种光模块测试耦合系统、方法及存储介质,旨在解决常规的耦合平台不具备环形通量测试能力的问题。

2、本发明实施例的第一方面提供一种光模块测试耦合系统,包括光开关模块和控制装置;

3、所述光开关模块与所述控制装置电性连接;

4、在第一测试过程中,所述光开关模块被配置为:

5、与第一光模块的m个发射通道的发射透镜、光功率计及环形通量测试仪物理连接;

6、在所述第一测试过程中,所述控制装置被配置为:

7、与所述光功率计和所述环形通量测试仪电性连接;

8、控制所述光开关模块将透过所述m个发射通道的发射透镜的光信号分别传输至所述光功率计和所述环形通量测试仪;

9、获取所述光功率计检测的所述m个发射通道的发射光功率,以及所述环形通量测试仪检测的所述m个发射通道的环形通量;

10、其中,m为所述第一光模块的发射通道的总数量。

11、在一个实施例中,所述光开关模块包括第一光开关和第一光分路器;

12、所述第一光开关的受控端与所述控制装置电性连接,所述第一光开关的输出端与所述第一光分路器的输入端物理连接;

13、在所述第一测试过程中,所述第一光开关被配置为:

14、所述第一光开关的m个输入端分别与所述m个发射通道的发射透镜一一对应物理连接;

15、在所述第一测试过程中,所述第一光分路器被配置为:

16、所述第一光分路器的第一输出端与所述光功率计的一个输入端物理连接,所述第一光分路器的第二输出端与所述环形通量测试仪的输入端物理连接;

17、在所述第一测试过程中,所述控制装置具体被配置为:

18、与所述m个发射通道的激光器电性连接;

19、控制第i个发射通道的激光器发射光信号;

20、接通所述第一光开关的第i个输入端与输出端之间的光通路,断开所述第一光开关的剩余m-1个输入端与输出端之间的光通路,以使透过所述第i个发射通道的发射透镜的光信号经由所述第一光分路器分束后分别传输至所述光功率计和所述环形通量测试仪;

21、获取所述光功率计检测的所述第i个发射通道的发射光功率,以及所述环形通量测试仪检测的所述第i个发射通道的环形通量;

22、其中,i=1,2,…,m。

23、在一个实施例中,所述光开关模块包括第二光开关;

24、所述第二光开关的受控端与所述控制装置电性连接;

25、在所述第一测试过程中,所述第二光开关被配置为:

26、所述第二光开关的m个输入端分别与所述m个发射通道的发射透镜一一对应物理连接,所述第二光开关的第一输出端与所述光功率计的一个输入端物理连接,所述第二光开关的第二输出端与所述环形通量测试仪的输入端物理连接;

27、在所述第一测试过程中,所述控制装置具体被配置为:

28、与所述m个发射通道的激光器电性连接;

29、控制第i个发射通道和第j个发射通道的激光器发射光信号;

30、接通所述第二光开关的第i个输入端与第一输出端之间的光通路以及第j个输入端与第二输出端之间的光通路,断开所述第二光开关的剩余m-2个输入端与第一输出端和第二输出端之间的光通路,以使透过所述第i个发射通道的发射透镜的光信号传输至所述光功率计、透过所述第j个发射通道的发射透镜的光信号传输至所述环形通量测试仪;

31、获取所述光功率计检测的所述第i个发射通道的发射光功率,以及所述环形通量测试仪检测的所述第j个发射通道的环形通量;

32、其中,i=1,2,…,m,j=1,2,…,m,i≠j,m≥2。

33、在一个实施例中,所述光开关模块包括第三光开关;

34、所述第三光开关与所述控制装置电性连接;

35、在所述第一测试过程中,所述第三光开关被配置为:

36、所述第三光开关的m个输入端分别与所述m个发射通道的发射透镜一一对应物理连接,所述第三光开关的第1至第m个输出端分别与所述光功率计的第1至第m个输入端一一对应物理连接,所述第三光开关的第m+1个输出端与所述环形通量测试仪的输入端物理连接;

37、在所述第一测试过程中,所述控制装置具体被配置为:

38、接通所述第三光开关的第i个输入端与第m+1个输出端之间的光通路以及剩余m-1个输入端与对应的m-1个输出端之间的光通路,以使透过第i个发射通道的发射透镜的光信号传输至所述环形通量测试仪、透过剩余m-1个发射通道的发射透镜的光信号一一对应的传输至所述光功率计的m-1个输入端;

39、获取所述环形通量测试仪检测的所述第i个发射通道的环形通量,以及所述光功率计检测的所述剩余m-1个发射通道的发射光功率;

40、其中,i=1,2,…,m,m≥2。

41、在一个实施例中,所述光开关模块包括第四光开关和第二光分路器;

42、所述第四光开关与所述控制装置电性连接,所述第四光开关的第m+1个输出端与所述第二光分路器的输入端物理连接;

43、在所述第一测试过程中,所述第四光开关被配置为:

44、所述第四光开关的m个输入端分别与所述m个发射通道的发射透镜一一对应物理连接,所述第四光开关的第1至第m个输出端分别与所述光功率计的第1至第m个输入端一一对应物理连接;

45、在所述第一测试过程中,所述第二光分路器被配置为:

46、所述第二光分路器的第一输出端与所述光功率计的第m+1个输入端物理连接,所述第二光分路器的第二输出端与所述环形通量测试仪的输入端物理连接;

47、在所述第一测试过程中,所述控制装置具体被配置为:

48、接通所述第四光开关的第i个输入端与第m+1个输出端之间的光通路以及剩余m-1个输入端与对应的m-1个输出端之间的光通路,以使透过第i个发射通道的发射透镜的光信号经由所述第二光分路器分束后分别传输至所述光功率计的第m+1个输入端和所述环形通量测试仪、透过剩余m-1个发射通道的发射透镜的光信号一一对应的传输至所述光功率计的m-1个输入端;

49、获取所述光功率计检测的所述m个发射通道的发射光功率,以及所述环形通量测试仪检测的所述第i个发射通道的环形通量;

50、其中,i=1,2,…,m,m≥2。

51、在一个实施例中,m≥2,所述第一光模块未封装,所述m个发射通道的发射透镜一体化设置;

52、基于所述第一测试过程,在第一耦合调试过程中,所述控制装置还被配置为:

53、与位移系统电性连接;

54、分别根据第1个发射通道和第m个发射通道的发射光功率,控制所述位移系统调节所述m个发射通道的发射透镜相对于激光器的位置,以使所述第1个发射通道和所述第m个发射通道的发射光功率最大;

55、在所述第1个发射通道和所述第m个发射通道的发射光功率最大的情况下,若剩余发射通道的发射光功率合格,则输出表征所述m个发射通道的发射光功率合格的耦合调试结果;否则,输出表征所述剩余发射通道的发射光功率不合格的耦合调试结果。

56、在一个实施例中,在第二测试过程中,所述控制装置被配置为:

57、与第二光模块的内置寄存器电性连接;

58、从所述内置寄存器获取所述第二光模块的n个接收通道的接收参数;

59、根据所述接收参数获取所述n个接收通道的接收指标;

60、其中,所述接收参数包括所述n个接收通道的正射极耦合逻辑电平和接收信号强度中的至少一种,所述接收指标包括接收光功率和接收灵敏度中的至少一种,n为所述第二光模块的接收通道的总数量,n≤m。

61、在一个实施例中,n≥2,所述第二光模块未封装,所述n个接收通道的接收透镜一体化设置;

62、基于所述第二测试过程,在第二耦合调试过程中,所述控制装置还被配置为:

63、与位移系统电性连接;

64、分别根据第1个接收通道和第n个接收通道的接收指标,控制所述位移系统调节所述n个接收通道的接收透镜相对于光探测器的位置,以使所述第1个接收通道和所述第n个接收通道的接收指标最大;

65、在所述第1个接收通道和所述第n个接收通道的接收指标最大的情况下,若剩余接收通道的接收指标合格,则输出表征所述n个接收通道的接收指标合格的耦合调试结果;否则,输出表征所述剩余接收通道的接收指标不合格的耦合调试结果。

66、在一个实施例中,所述光模块测试耦合系统还包括光功率计、环形通量测试仪、位移系统及光源设备中的至少一种。

67、本发明实施例的第三方面提供一种光模块测试耦合方法,应用于本发明实施例的第一方面提供的光模块测试耦合系统中的控制装置,所述方法包括:

68、控制所述光开关模块将透过所述m个发射通道的发射透镜的光信号分别传输至所述光功率计和所述环形通量测试仪;

69、获取所述光功率计检测的所述m个发射通道的发射光功率,以及所述环形通量测试仪检测的所述m个发射通道的环形通量。

70、本发明实施例的第三方面提供一种控制装置,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,还包括输入输出设备或与输入输出设备电性连接,所述处理器执行所述计算机程序时实现本发明实施例的第二方面提供的光模块测试耦合方法的步骤。

71、本发明实施例的第四方面提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例的第二方面提供的光模块测试耦合方法的步骤。

72、本发明实施例的第一方面提供的光模块测试耦合系统,包括光开关模块和控制装置;光开关模块与控制装置电性连接;通过在第一光模块的光功率和环形通量的第一测试过程中,将光开关模块配置为与第一光模块的所有发射通道的发射透镜、光功率计及环形通量测试仪物理连接,将控制装置配置为光功率计和环形通量测试仪电性连接,使得控制装置可以控制光开关模块将透过所有发射通道的发射透镜的光信号分别传输至光功率计和环形通量测试仪,获取光功率计检测的所有发射通道的发射光功率以及环形通量测试仪检测的所有发射通道的环形通量,从而使得光模块测试耦合系统具备同时测试第一光模块的光功率和环形通量的能力,测试效率高,在应用于未封装的第一光模块时,可以有效降低第一光模块封装完成后出现指标不良导致需要返工的概率,从而提高生产效率和良率。

73、可以理解的是,上述第二至第四方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述,在此不再赘述。

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