一种SFP接口转9针接口的电路结构的制作方法

文档序号:33452039发布日期:2023-03-15 01:10阅读:96来源:国知局
一种SFP接口转9针接口的电路结构的制作方法
一种sfp接口转9针接口的电路结构
技术领域
1.本实用新型涉及通讯设备领域,尤其涉及一种sfp接口转9针接口的电路结构。


背景技术:

2.现有技术中,sfp模块在测试时,只能用sfp接口测试板,而1*9针模块在测试时,只能用1*9针接口的测试板,一种测试板无法实现两种测试模块的兼容测试,导致测试不便。此外,sfp模块在测试时,测试板上的sfp接口的收发模块设置在一起,收发同时进行,当存在问题时,无法快速查找出是接收端存在问题还是发送端存在问题,降低测试效率。
3.因此,现有技术存在缺陷,需要改进。


技术实现要素:

4.本实用新型的目的是克服现有技术的不足,提供一种sfp接口转9针接口的电路结构,解决现有技术中,测试板无法实现sfp模块、1*9针模块测试的兼容的问题;解决sfp模块测试时,无法快速判断出问题在接收端还是发送端上,导致测试效率较低的问题。
5.本实用新型的技术方案如下:一种sfp接口转9针接口的电路结构,包括:sfp接口模块、与所述sfp接口模块的发射端连接的sfp发射测试端、与所述sfp接口模块的接收端连接的sfp接收测试端、与所述sfp接口模块电连接的9针接口模块,所述sfp接口模块用于与外设的测试设备电连接,所述sfp发射测试端用于与待测sfp模块的接收端电连接,所述sfp接收测试端用于与待测sfp模块的发射端电连接;所述9针接口模块用于与待测1*9针模块电连接。
6.进一步地,所述sfp接口模块的rd-引脚与所述sfp发射测试端的rd-引脚连接,所述sfp接口模块的rd+引脚与所述sfp发射测试端的rd+引脚连接。
7.进一步地,所述sfp接口模块的td-引脚与所述sfp接收测试端的td-引脚连接,所述sfp接口模块的td+引脚与所述sfp接收测试端的td+引脚连接。
8.进一步地,所述9针接口模块包括:与所述sfp接口模块电连接的j1测试端、与所述j1测试端电连接的sd转换模块,所述sd转换模块用于与待测1*9针模块电连接。
9.进一步地,所述sfp接口模块的rd-引脚与所述j1测试端的rd-引脚连接;所述sfp接口模块的rd+引脚与所述j1测试端的rd+引脚连接。
10.进一步地,所述sfp接口模块的td-引脚与所述j1测试端的td+引脚连接,所述sfp接口模块的td+引脚与所述j1测试端的td-引脚连接。
11.采用上述方案,本实用新型提供一种sfp接口转9针接口的电路结构,具有以下有益效果:
12.1、可将待测sfp模块的发射端与接收端区别开,当检测出存在问题时,可快速查找出问题是出现在sfp模块的发射端还是其接收端,因此可有效提高测试效率,降低测试难度。
13.2、不仅可以实现待测sfp模块的测试,还可实现待测1*9针模块的测试,兼容性强,
无需在更换测试模块时,更换对应的测试板,有效简化测试过程,提高测试效率,同时降低测试过程的降低生产投入成本,实用性强。
附图说明
14.图1为本实用新型的原理框图;
15.图2为本实用新型的sfp接口模块的电路图;
16.图3为本实用新型的sfp发射测试端的电路图;
17.图4为本实用新型的sfp接收测试端的电路图;
18.图5为本实用新型的j1测试端的电路图;
19.图6为本实用新型的sd转换模块的电路图。
20.其中:sfp接口模块1、sfp发射测试端2、sfp接收测试端3、9针接口模块4、j1测试端40、sd转换模块41、待测sfp模块5、待测1*9针模块6。
具体实施方式
21.以下结合附图和具体实施例,对本实用新型进行详细说明。
22.请参照图1-图6,本实用新型提供一种sfp接口转9针接口的电路结构,包括:sfp接口模块1、与所述sfp接口模块1的发射端连接的sfp发射测试端2、与所述sfp接口模块1的接收端连接的sfp接收测试端3、与所述sfp接口模块1电连接的9针接口模块4;sfp接口模块1、sfp发射测试端2、sfp接收测试端3、9针接口模块4设置在同一测试板上,用于进行待测sfp模块5或待测1*9针模块6的测试。
23.具体地,在本实施例中,所述sfp接口模块1用于与外设的测试设备电连接,所述sfp发射测试端2用于与待测sfp模块5的接收端电连接,所述sfp接收测试端3用于与待测sfp模块5的发射端电连接;所述9针接口模块4用于与待测1*9针模块6电连接。在进行待测sfp模块5的测试时,将sfp接口模块1与外设的测试设备连接,通过sfp发射测试端2、sfp接收测试端3分别实现与待测sfp模块5的接收端、发射端的连接,测试时,收发同时进行,但测试过程中的接收端、发射端的数据信息分别通过sfp发射测试端2、sfp接收测试端3实现数据传输,将其发射端与接收端区别开,因此,当检测出存在问题时,可快速查找出问题所在,有效提高测试效率,降低测试难度;在进行待测1*9针模块6的检测时,将sfp接口模块1与外设的测试设备连接,通过9针接口模块4与待测1*9针模块6电连接,此时可直接进行待测1*9针模块6的测试;因此,本实用新型中的一种sfp接口转9针接口的电路结构可实现待测sfp模块5、待测1*9针模块6的测试,兼容性、实用性强,降低生产投入成本,同时在更换测试模块时,无需进行更换对应测试板的操作,有效简化测试过程,提高测试效率。
24.具体地,在本实施例中,所述sfp接口模块1的rd-引脚与所述sfp发射测试端2的rd-引脚连接,所述sfp接口模块1的rd+引脚与所述sfp发射测试端2的rd+引脚连接;所述sfp接口模块1的td-引脚与所述sfp接收测试端3的td-引脚连接,所述sfp接口模块1的td+引脚与所述sfp接收测试端3的td+引脚连接。因此,可将sfp接口模块1的发射端和接收端区分开,保证数据发射和接收分别经过sfp发射测试端2、sfp接收测试端3传输,即一个sfp接口模块1转换出两个sfp测试端(sfp发射测试端2、sfp接收测试端3),针对性更强。
25.具体地,在本实施例中,所述9针接口模块4包括:与所述sfp接口模块1电连接的j1
测试端40、与所述j1测试端40电连接的sd转换模块41,所述sd转换模块41用于与待测1*9针模块6电连接。需要说明的是,待测sfp模块5与待测1*9针模块6的sd是反相的(例如,待测sfp模块5的sd是低电平有效的,那么待测1*9针模块6的sd就是高电平有效),因此需通过sd转换模块41进行sd的转换,进一步将转换后的sd传输给待测1*9针模块6,保证测试过程的正常进行。
26.具体地,在本实施例中,所述sfp接口模块1的rd-引脚与所述j1测试端40的rd-引脚连接;所述sfp接口模块1的rd+引脚与所述j1测试端40的rd+引脚连接;需要说明的是,j1测试端40在与sfp接口模块1连接,由于测试的为待测1*9针模块6,因此1测试端需与td+引脚、td-引脚处于反连状态,具体地,所述sfp接口模块1的td-引脚与所述j1测试端40的td+引脚连接,所述sfp接口模块1的td+引脚与所述j1测试端40的td-引脚连接。
27.综上所述,本实用新型提供一种sfp接口转9针接口的电路结构,具有以下有益效果:
28.1、可将待测sfp模块的发射端与接收端区别开,当检测出存在问题时,可快速查找出问题是出现在sfp模块的发射端还是其接收端,因此可有效提高测试效率,降低测试难度。
29.2、不仅可以实现待测sfp模块的测试,还可实现待测1*9针模块的测试,兼容性强,无需在更换测试模块时,更换对应的测试板,有效简化测试过程,提高测试效率,同时降低测试过程的降低生产投入成本,实用性强。
30.以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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