专利名称：成像设备的曝光方法与成像设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及成像设备的曝光方法以及一种成像设备。例如，本发明可以用于激光打印机或数字复制机一类的电子摄影成像设备。
近年来，作为一种电子设备的激光打印机具有了较高的性能，需要提高它的打印速度和使之具有较高的分辨率，并要求能打印出较高质量的图像。作为提高上述打印速度技术的一种已知方法是去提高多角形扫描器的旋转速度。但是加大多角形扫描器转速的方法涉及到要大幅度增加成本。此外，从物理观点考虑，此转速的上限受到限制。于是，取代这种方法而提出一种应用多个光源的方法(多光束扫描法)。
在这种多光束扫描法中，一次扫描作业导致了一批扫描光束到达一光敏体，而得以同时形成由多条扫描线造成的静电潜像。在将来，通过采用多光束扫描法，可以指望能进一步提高激光打印机的打印速度。
传统的一种多光束扫描法的激光束打印机，已公开于日本专利申请(公开)61—261715号(1986)中。
图1示意地表明了这种传统激光束打印机80的构型。在图1中，激光束打印机80包括两个半导体激光器装置81与82、柱面透镜83a与83b、多角镜85、成像透镜86与87、光敏鼓88以及一传感器89。
从半导体激光器装置81与82发出的两束光BM11与BM12照射到以恒速转动的多角镜85上。然后，这两束光BM11与BM12在一个与多角镜85转动轴线平行的平面内相互平行，而从多角镜85反射器的光束也相互平行(见图3)。投射到一垂直于多角反射镜转动轴线的平面上上述两束光BM11与BM12的入射角是不同的，分别有角度值θ11与θ12。
在传统的激光束打印机80中，光束BM11与BM12的入射角θ11与θ12之差会干扰通过光敏鼓88表面的扫描束的间距，导致形成的图像的质量降低。
具体地说，从一个半导体激光器装置81发出的光束BM11的入射角θ11大于从另一半导体激光器装置82发出的光束BM12的入射角θ12。结果在光敏鼓88上使得光束BM11的射束点BS11出现在光束BM12的射束点BS12之前。
图2示明了在某一瞬间形成于光敏鼓88上的射束点BS11与BS12的位置。
如图2所示，两束光BM11与BM12的射束点BS11与BS12在某一瞬间出现于光敏鼓88上。射束点BS11与BS12在主扫描方向M1上因入射角θ11与θ12的差而相互分开一距离Ld，而在副扫描方向M2上则分开一与待形成之图像的分辨率相对应的预定间距LPt。于是，当相续的射束点BS12在主扫描方向上到达超前的射束点BS11所在位置EE并有一像素BS12X打印在位置EE上的瞬间，为超前射束点BS11打印出的像素BS11Z由于鼓88的转动而已然在副扫描方向移过一预定距离ΔL。这样一种现象存在于这两束光BM11与BM12造成的所有的射束点点BS11与BS12上。由于这两个射束BS11与BS12运动的结果，在光敏鼓88上实际上画出的扫描线S11与S12的间距LPa，要大于这两个射束点BS11与BS12在副扫描方向中的间距LPt。
与先有技术中的情形相同，当这两个射束点BS11与BS12在副扫描方向中的间距LPt等于原先将在光敏鼓88上形成的理论间距时，在鼓88上实际画出的扫描线SL11与SL12的间距LPa常常是不准确地，由此会降低最终图像的质量。
如图3所示，从半导体激光器装置81与82发射出的两束光BM11与BM12，它们在平行于多角镜85的转动轴线的平面中相互平行，而从多角镜85的反射表面85R所反射的两束光也将相互平行。因此不可能让这两光束BM11与BM12通过成像透镜88与87的光心。于是光束BM11与BM12便通过一个异于成像透镜86与87光心的位置，导致光束的扫描线弯曲。扫描线的这种弯曲形式有时称为“弓形”。扫描线是以这样一种方式弯曲的，即扫描线的弯曲方向在成像透镜86与87的光心之上的与在光心之下的相反。这样，由两光束BM11与BM12造成的两条扫描线SL11与SL12间的距离将随主扫描线的位置变化，使最终形成的图像质量降低。
本发明旨在解决上面论及的问题。本发明的主要目的在于为成像设备提供一种曝光方法，同时提供这样一种成像设备，它采用有一批光源的多光束扫描法，且其中可使形成在光敏体上的扫描线尽可能不受干扰，从而防止了图像质量降低并在同时提高了打印速度。
根据本发明的曝光方法与成橡设备，由借助一转动的反射面来反射和扫描一光束的扫描装置所产生的第一种扫描线弯曲，已为一成像透镜导致的第二种扫描线弯曲所抵消。上述这种反射面是平的，因而入射角随此扫描装置的转动而变化。也即在此反射面端部的入射角大于在反射面中心的入射角。于是，照射到此反射面端部因而是照射到光敏体一端的光束，即通过一与成像透镜光心相分开的位置。结果便产生了一种扫描线弯曲。当光束通过一与成像透镜光心相分开的位置时，此光束也在垂直于此扫描方向的方向上反射。随着上述位置从成像透镜扫描方向中心开始越靠近这两个端部之一，折射度也逐渐加大。在折射度较大或此位置较为靠近这两个端部之一时，结果将产生第二种扫描线弯曲。当将光束的光路设定成使第一与第二扫描线的弯曲在方向上相互相反，而在程度上基本上相等时，这两种弯曲就会互相抵消，而能在光敏体上形成一条没有扫描线弯曲的扫描线。
根据本发明的曝光方法与成像设备，此种光束相对于扫描装置的光轴角经校正成使光敏体上由一批光束形成的扫描线之间的距离通过副扫描方向中因入射角的差造成的位置偏差量来校正。在来自一批光源的光束以不同入射角投射到扫描装置时，这些入射角的差会在主扫描方向中导致将会在光敏体上射束点之间产生的时延。这种时延在光敏体上扫描线的间距中形成偏差。当由对应于这种偏差的度数事先对入射角作了调节之后，就能在光敏体上形成准确的间距，得以改进图像的质量。
当把上述方法或设备相互结合，还能取得更多的效果。
通过下面结合附图所作的描述，将可更全面地理解本发明上述的以及其它的目的与特点。
图1示意地给出了一种传统的激光束打印机的构型，
图2示意地表明了射束点在某些瞬间于光敏鼓上的位置；图3是展开图，示明光束投射到与一多角镜转动轴线平行之平面上的状态；图4是透视图，示意地表明本发明的一种激光束打印机的构型；图5示意地表明一种光学装置的作业；图6是展开图，示明光束投射到与一多角镜转动轴线平行之平面上的状态；图7是示明一控制装置的部分电路的框图；图8是示明此控制装置的部分电路工作状态的时间图；图9示意地表明光敏鼓上扫描线的间距；图10示意地表明半导体激光装置的位置关系；图11A示意地表明光束扫描线的弯曲态；图11B示意地表明光束扫描线的弯曲态；图12示意地表明由于多角镜反射面的旋转角位置造成的入射角差；而图13是一展开图，示明另一实施例中光束投射到与多角镜转动轴线相平行之平面上的状态。
下面参看附图详述本发明的最佳实施例。
图4是透射图，示意地表明了本发明的激光束打印机1的构型；图5示意地表明一种光学装置11的作业；图7是示明一种控制装置20的部分电路的框图，而图8是示明此控制装置的部分电路工作状态的时间图。
在图4与5中，激光束打印机1包括光学装置11、光敏鼓12、充电器13、显影器16、转印装置15、清洁器14、定影器17与控制装置20。
光学装置11反射两束已作过亮度调制的光BM1与BM2，并通过一次扫描操作在光敏鼓12表面上的主扫描方向(箭头M1的方向)中画出两条扫描线SL1与SL2，在此同时形成了两条线的图像。
光学装置11包括两台半导体激光装置21与22、多角镜23、fθ透镜24、反射镜25、小反射镜26以及传感器27。
每台半导体激光器装置21与22包括一个半导体激光二极管、一个准直透镜以及一个柱面透镜，同时还分别有用来调节光轴的调节装置21a与22a。半导体激光器装置21与22根据控制装置20发出的信号，发射出经过了亮度调制的光束BM1与SM2。
多角镜23借助马达DM1以恒速转动，偏转此由半导体激光器装置21与22发射出的光束BM1与BM2，而得以在主扫描方向中扫描光敏鼓。
fθ透镜使偏转的光束BM1与BM2变换，通过多角镜23获得一恒定的角速度，以实现一常线性速度。
反射镜25反射光束BM1与BM2，将它们导引到光敏鼓21的表面上。小反射镜26在各扫描作业的开始位置反射光束BM1与BM2，把它们导引到传感器27。当光束BM1与BM2射到传感器27上，传感器27对它们进行光电变换，输出一个用来使各个扫描作业达到同步的信号S1。
光敏鼓12以恒速沿箭头M3的示向转动，使此鼓的上侧表面在与副扫描方向(箭头M2的方向)相反的方向中以恒速运动。在光敏鼓12的表面上由来自光学装置11的扫描光束BM1与BM2形成静电潜像。
充电器13用来给鼓12的表面预先充电，使之具有一个恒定的电位。显影器16用来使色粉附着到形成在鼓12表面的静电潜像上，由此使潜像显影。转印装置15使形成在鼓12表面上的色粉像转印到纸PP上。清洁器14清除鼓面上残留的色粉，保持鼓面清洁。
控制装置20接收来自传感器27的信号S1，根据此信号同步地驱动半导体激光器装置21与22。控制装置20还控制多角镜23的马达DM1、转动着鼓12的马达、以及其它装置。
在图5中，从半导体激光器装置21与22发出的两束光BM1与BM2照射到以恒速转动的多角镜23上。在平行于多角镜23转动轴线的平面内，如图6所示，这两束光BM1与BM2是斜射到多角镜23上的。这两束光BM1与BM2从多角镜23上反射，然后横切一包括fθ透镜24光心的平面。这两束光BM1与BM2通过异于fθ透镜24光心的位置，到达光敏鼓12的表面上。投射到垂直于多角镜23转动轴线的平面上的光束BM1与BM2，它们的入射角不同，分别具有值θ1与θ2。
来自激光器装置21的光束BM1的入射角θ1大于来自另一激光器装置22的光束BM2的入射角θ2。于是在鼓12上，由光束BM1产生的射束点BS1位于光束BM2产生的射束点BS2，使得射束点BS1与BS2依此顺序照射到传感器27上。结果使传感器27响应于一个扫描作业而相继地输出两个脉冲。
在图7中，控制装置20包括缓冲存储器41、四个行式存储器42a至42d、一个存储器控制装置43、并行—串行变换器44与45，以及驱动器46与47。
缓冲存储器41存储从外面发射来的图像数据DF。缓冲存储器41的写入操作是响应—写入信号SDWV进行的。
每个行式存储器42存储着从缓冲存储器41逐行读出的一行中的图像数据DF。
存储器控制装置43控制着依据读出信号RD从缓冲存储器41的读出数据的操作，同时控制着依据—写入信号WR将数据写入行式存储器42中的操作。
并行—串行变换器44与45将从行式存储器42中逐行读出的并行图像数据DF变换为串行数据。
根据并行—串行变换器44与45的串行数据，驱动器46与47控制着激光器装置21与22的开/关操作，发射出亮度已调制过的光束BM1与BM2。
在四个行式存储器42a至42d中，存储器42a与42b存储奇数行的图像数据DF。而另两个行式存储器43c与42d存储偶数行的图像数据DFe。在存储器42a与42b和42c与42d的每一组中，图像数据DFo与DFe是交替地从这两个组中写入和读出的。
如图8所示，在从传感器27输出的信号S1出，相续地出现两个脉冲SP1和SP2。存储器控制装置43产生一个脉冲频率是先行脉冲SP1的频率两倍的信号S2，或者在其中于对应于脉冲SP1周期一半的位置处出现一个脉冲。脉冲SP1与SP2独立地取自信号S1，而得以在这两个脉冲基础上产生出信号S3与S4。
从缓冲存储器41中逐行地顺序读出图像数据DF，同时对信号S2的各脉冲存在一时延t1。在下一脉冲出现之前便完成了读出操作。换言之，与信号S2同步，按照奇数行的图像数据DFo、偶数行的图象数据DFe、下一个奇数行的图像数据DFe，等等这样的序列，交替地读出奇数与偶数行的图象数据。
所读出的奇数行的图像数据DFo交替地写入行式存储器42a与42b中，而读出的偶数行的图像数据DFe则交换地写入行式存储器42c与42d中。写入存储器42a至42d的图象数据DEo与DFe从对应信号S3与S4中的下一个脉冲以一时延t2读出。于是，从各个行式存储器42a至42d，前述各种行的图像数据DFo或DFe是以信号S1的脉冲SP1与SP2产生后的一个周期的时延而读出的。
时间t2是根据光敏鼓12与传感器27之间的位置关系以及扫描速度确定的，以使形成在鼓12上的静电潜像位于主扫描方向中的适当位置上。
下面描述从激光器装置21与22发射出的两光束BM1与BM2的光轴。
图9示意地表明了光敏鼓12上扫描线SL1与SL2的间距LPt。
激光器装置21与22的光轴为调节装置21a与22a所调节，使得鼓12上的射束点BS1与BS2相互在副扫描方向中分开一距离LPS。距离LPS有一个满足下式(1)的值LPS＝LPt－ΔL (1)式中LPt指扫描线SL1与SL2的理论间距，ΔL指由于鼓12转动所引致的移动距离。
从图像分辨率可以求出扫描线SL1与SL2的理论间距LPt。例如当分辨率为600dpi时，理论间距CPt为42.3μm。距离ΔL可据主扫描方向中两射束点BS1与BS2间的距离Ld、主扫描方向中的扫描速度Vh以及副扫描方向中的扫描速度Vv求得，即根据下式求得
ΔL＝(Ld/Vh)×Vv (2)从式(1)与(2)可以看到，移动距离ΔL是扫描线SL1与SL2的间距Lpt的修正量。设td＝Ld/Vh，这一值td指鼓12上的扫描时延，它是由入射角θ1与θ2的差造成。当利用扫描延时td改写式(2)，便得到下式(3)ΔL＝td×Vv(3)在图9例示的情形中，当射束点BS1位于射束点BS2之前，距离ΔL是一个正值，而能正向地校正或减小间距LPt。相反，当射束点BS2居于射束点BS1之前，距离ΔL是一负值，而能负向地校正或增加间距LPt。
从上面可以看到，鼓12上在扫描方向中的射束点BS1与BS2间的距离CPS是通过从扫描线SL1与SL2的理论间距LPt中减去距离ΔL而得以校正。作为这一校正结果，在鼓12上实际形成的扫描线SL1与SL2的间距便会严格地与理论间距LPt重合。于是，构成图像的像素将可正确地定位而防止了图像质量的下降，由此就获得了高质量的图像。
即使当扫描线SL1与SL2的间距不能包括地与理论间距LPt重合，但通过上述校正，也能防止图像质量下降而获得质量充分高的图像。在实际的校正操作中，光束BM1与BM2的方向为调节装置21a与22a所调节，使得导引的光敏鼓12上的扫描线SL1与SL2只表现出最小程度的扫描线弯曲。
从两台激光器装置21与22发射出的两束光BM1与BM2在一次扫描作业中引出了两条扫描线SL1与SL2，由此同时形成了两条线的图像。与只使用一束光的情形相比，打印速度因此增加了一倍。
当两束光BM1与BM2的入射角θ1与θ2相等，就不要求进行上述校正。但是，考虑到半导体激光器装置21与22的安装实现，是不可能有θ1＝θ2的，理由如下如图10所示，此激光器装置21与22的形式尺寸已给定。当两束光BM1与BM2在垂直方向上的发射距离Lb设有一预定值时，则这两个激光器装置必须在横向中位移一个距离LC。
下面描述由多角镜23与fθ透镜24在激光器装置21与22所发射出的光束BM1和BH2中，产生的扫描线弯曲。
图6是一展开图，示明光束BM1与BM2投射到一与多角镜23的转动轴线平行之平面上的状态。图11A、11B与11C则示意地说明了光束BM1与BM2的扫描线弯曲情形。图12示明入射到与上述转动轴线相平行的平面上的入射角的差，它是由多角镜23的反射面23R的转动角位置所造成的。
图6中，光束BM1与BM2是依斜向并在垂直方向中对称地照射到多角镜23的反射面23R上，它们为此反射面23R反射，然后交叉构成一平面，此平面包括fθ透镜24的在多角镜23与fθ透镜24之间的一个位置PA处的光心。之后，光束BM1与BM2在一个异于此光心的位置斜向地进入fθ透镜24，再行通过此透镜24。在此过程中，由于多角镜23与fθ透镜24，在两束光BM1与BM2中产生了扫描线弯曲。
当光束BM1与BM2由反射面23R反射时，形成了图11A中所示的第一种扫描线弯曲。具体地说，光束BM1的扫描轨线呈一种中心部位高过而两端部分低于入射位置的弧形。相反，光束BM2则是一种中心部位低于而两端部分高出入射位置的弧形。
据认为，此第一种扫描线弯曲的起因如下。在图12中，光束BM1的轨迹分别由三个三角形指明。最上面的三角形指光束BM1投射到垂直于多角镜23的转动轴线的平面上的轨迹，而第二与第三个三角形指投射到平行于多角镜23的转动轴线且垂直于反射面23R的平面上的光束BM1的轨迹。点B是反射面23R在转动方向中的中心位置，而点Ba是由于多角镜23转动的结果移向反射面23R一端的一个位置。直线OB与OaBa垂直于反射面23R的入射点。
在图12中，当从点A发射出的光束BM1照射到反射面23R的中心部(点B)时，将投射到平行于前述转动轴线的平面上的入射与反射角记为θ2。当从点A发射出的光束BM1照射到反射面23R的端部(点Ba)时，将投射到平行于前述转动轴线的平面上的入射与反射角记为θβ。于是，下述公式(4)成立θa＜θβ (4)换言之，光束照射到反射面23R端部(点Ba)上时的入射角θβ大于光束照射到反射面23R中央部位(点B)时的入射角θα。理由如下由于点A距扫描平面(此平面包括反射面23R的法线并垂直于前述转动轴线)的高度不变，直线AO与AOa在长度上相等。各自从点B与Ba延伸到入射光起点的法线的长度BO与BaOa的关系是BO＞BaOa。因而(4)式成立。
结果，照射到反射表面23R一端的因而是照射到光敏鼓12一端上的光束BM1(BM2)便经过一个不同于fθ透镜24的位置。于是便出现用11A所示的扫描线弯曲。
当光束BM1与BM2通过fθ透镜24，便产生了图11B所示的第二种扫描线弯曲。具体地说，光束BM1的扫描轨迹是一种中心部低于而两端高出入射位置的弧形。相反，光束BM2的扫描轨迹则是一种中心部高出而两端部低于入射位置的弧形。
据认为，第二种扫描线弯曲源于以下理由。当光束BM1与BM2通过fθ透镜24且与光心分开时，它们被反射。随着从fθ透镜24的中心沿扫描方向移出一端时，折射程度便逐渐加大。随着折射程度加大或光束BM1与BM2通过一个较接近两端之一的一个位置，这两束光便渐渐接近光心。
亦即由于光束BM1通过fθ透镜24下面的部分，光束BM1的扫描轨迹便具有一种中心部位低于而两端高出入射位置的形状。由于光束BM2通过fθ透镜24光心的上方部分，光束BM2的扫描轨迹便具有一种中心部位高出而两端低于入射位置的形状。
于是，此第一与第二种扫描线弯曲便相对于各光束BM1与BM2指向互反的方向，从而这样两种扫描线的弯曲便相互抵销。结果，光束BM1与BM2间的距离稳定，而使扫描线SL1与SL2在光敏鼓12上所描绘出的扫描线弯曲程度减少了。于是防止了同扫描线弯曲造成的像质下降，而求得了高质量的图像。
下面描述减少扫描线弯曲程度的另一实施例。
图13是一展开图，示明了另一实施例中，光束BM1与BM2投射到平行于多角镜23的转动轴线平面上的状态。如图13所示，从半导体激光器装置21与22发出的两束光BM1与BM2的发射位置，是处于沿多角镜23转动轴线方向上的同一高度上。这两束光BM1与BM2为反射面23R所反射，然后斜向地进入fθ透镜偏离光心的位置，再通过此透镜24。
当这两束光为反射面23R反射时，产生出如图11B所示的第一种扫描线弯曲；而当它们通过fθ透镜24时，产生出如图11A所示的第二种扫描线弯曲。这第一与第二种扫描线弯曲相对于光束BM1与BM2指向互反的方向，从而此第一与第二扫描线的弯曲被相互抵消。因此，扫描线SL1与SL2给出在光鼓12上时减少了扫描线的弯曲程度。
在以上所述的这些实施例中，是把半导体激光装置21与22用作光源。但是也可采用气体激光器装置的。至于扫描装置，除多角镜23外也可采用包括电流计在内的其它装置。对于用作成像透镜的fθ透镜，也可置换此fθ透镜，或与此fθ透镜在一起而采用另一种透镜，例如柱面透镜，球面透镜，用来校正倒像的透镜或其它透镜。当采用一批透镜组成的成像透镜时，可把一合成的光心用作这种成像透镜的光心。至于所用的光敏体，也可取代上述光敏鼓12而采用一种平面状的光敏体。此外，光学装置11、控制装置20或激光束打印机1，它们的构造、外形与操作等等都可以根据本发明的精神，按合适的方式部分或全部修正。另外，本发明也可用于不同于激光打印机的其它成像设备。
由于本发明在不脱离其基本特征的精神T可以由种种形式体现，因而所提供的实施例是解释性而非限制性的，既然本发明的范围是由后附权利要求书而不是由此前的描述来限定，因而所有属于权利要求书限定范围内的变更或与这类限定范围等价的内容都应视作为在权利要求书所概括的范畴之内。
权利要求
1.由一批光束来扫描一光敏体的曝光方法，它包括以下步骤将一批光束按不同角度入射到一具有旋转反射面的扫描装置上；在由于上述反射面反射而产生第一种扫描线弯曲的状态下，在一主扫描方向中扫载此光束；让这批扫描的光束通过一成像透镜上这样一些位置上，使得能产生可抵消上述第一种扫描线弯曲的第二种扫描线弯曲，上述这些位置不包括此成像透镜的光心；以及将此光敏体的一个表面暴露于已然通过上述成像透镜的光束之下，而此表面则沿一副扫描方向运动。
2.如权利要求1所述的暴光方法，特征在于上述这批光束是在所说扫描装置转动轴线方向上相互不同的位置上发射，而当于所说反射面上反射回后，便相互交叉在一包括此成像透镜中心且与上述转动轴线垂直的平面内。
3.如权利要求1所述的曝光方法，特征在于上述这批光束是在所说扫描装置的转动轴线的方向上的同一个位置上，以相对于此转动轴线的不同角度发射出。
4.用来由一批光束扫描一光敏体来形成图像的成像设备，它包括一种扫描装置，用来在有第一种扫描线弯曲的状态下于一主扫描方向中扫描光束，此扫描装置具有旋转的反射面；一批光源，用来将一批光束按不同的入射角度发射向上述反射面上；一个成像透镜，通过此透镜，使得为所说扫描装置扫描的前述这批光束通过异于光心的位置，由此而产生出第二种扫描线弯曲来抵消前述第一种扫描线弯曲；以及一种光敏体，它有一个沿副扫描方向移动的表面，在此表面上由通过了上述成像透镜的光束来形成图像。
5.如权利要求4所述的成像设备，特征在于所说的一批光源排列成使得这批光束是在前述扫描装置转动轴线方向上相互不同的位置上发射出，它们相互在一个包括该成像透镜的光心且垂直于此转动轴线的平面内交叉。
6.如权利要求4所述的成像设备，特征在于所说的一批光源排列成使得这批光束是在前述扫描装置转动轴线方向上向一个位置处，按相对于此转动轴线的不同角度发射出。
7.如权利要求4所述的成像设备，特征在于上述这批光束入射到所说扫描装置上的入射角度在一垂直于此扫描装置转动轴线的平面上是相互不同的。
8.如权利要求7所述的成像设备，特征在于它还包括有用来校正光束光轴角的校正装置，使得能根据副扫描方向中因入射角度之差造成的偏差量来校正所说光敏体上扫描线之间的距离。
9.如权利要求8所述的成像设备，特征在于上述校正装置进行一种校正，使得在所说扫描线之间的距离的校正量ΔL满足下式ΔL＝td×Vv式中td由于所说入射角度间的差在前述光敏体上引致的扫描时延，而Vv指所说光敏体在副扫描方向上的移动速度。
10.一种由一批光源来扫描其中一光敏体来形成图像的成像设备，它包括扫描装置，用来在主扫描方向中扫描光束，此扫描装置具有通过转动而运动的反射面；一批光源，用来将按不同入射角度投射到垂直于此扫描装置转动轴线的平面上的光束，发射到此扫描装置上；校正装置，用来校正这批光束的光轴角，使得能根据副扫描方向中因入射角度差造成的偏差量来校正所说光敏体上扫描线之间的距离；以及一光敏体，它有一个在副扫描方向中运动的表面，在此表面上通过上述扫描装置扫描的光束而形成一图像。
11.如权利要求10所述的成像设备，特征在于上述校正装置进行一种校正，使得在所说扫描线之间的距离的校正量ΔL满足下式ΔL＝td×Vv式中td指由于所说入射角度间的差在前述光敏体上引致的扫描时延，而Vv指所说光敏体在副扫描方向上的移动速度。
全文摘要
一种曝光方法，能由成像透镜形成的第二种扫描线弯曲来抵消扫描装置的第一种扫描线弯曲，和/或根据副扫描方向因入射角差造成的偏差量来校正一批光束的光轴角，以校正光敏体上由这批光束造成的扫描线间的距离。一种成像设备，它有成像透镜来产生第二种扫描线弯曲来抵消扫描装置的第一种扫描线弯曲，和/或校正装置，用来根据副扫描方向因入射角差造成的偏差量来校正一批光束的光轴角，以校正光敏体上由这批光束造成的扫描线间的距离。
文档编号H04N1/113GK1122547SQ95109700
公开日1996年5月15日 申请日期1995年7月31日 优先权日1994年10月25日
发明者菅野隆夫, 岩佐正之, 尾川和城 申请人:富士通株式会社